專利名稱：主動元件陣列以及檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種主動元件陣列及檢測方法，且特別是有關(guān)于一種可有效檢出 短路缺陷的主動元件陣列及檢測方法。
背景技術(shù)：
一般而言，液晶顯示面板包括一主動元件陣列基板、一對向基板及夾于兩基板間 的液晶層。主動元件陣列基板在制造完成之后必須對其主動元件陣列進行檢測，以確定主 動式液晶顯示面板能正常地進行顯示。目前，主動元件陣列的檢測多著眼于像素結(jié)構(gòu)能否正常的進行顯示。若主動元件 陣列的其他線路出現(xiàn)缺陷，例如是短路或斷路，往往會在液晶顯示器或液晶顯示面板組裝 完成后才會進一步被檢測出來。換言之，目前的檢測方法中，主動元件陣列中某些傳輸線路上的缺陷是在液晶顯 示面板組裝完成后才被檢測出來。因此，這樣的缺陷若使得產(chǎn)品無法正常運作則整個液晶 顯示面板必須報廢，而浪費許多成本。特別是，在主動元件陣列的線路布局中，為了節(jié)省布 線面積，傳輸線路必須緊密地排列。此時，線路之間的短路缺陷更容易出現(xiàn)而液晶顯示面板 的報廢率以及成本的浪費也可能隨之提升。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種主動元件陣列，其檢測線路設(shè)計可有效檢測出線路間的缺陷。本發(fā)明提供一種檢測方法，可有效檢測出主動元件陣列中的短路缺陷。本發(fā)明提供一種主動元件陣列，其包括多條掃描線、多條數(shù)據(jù)線、多個像素結(jié)構(gòu)、 一第一檢測線路、一第二檢測線路、一第三檢測線路以及一第四檢測線路。掃描線彼此平行 排列，以在掃描線的延伸方向上定義出相對的一第一區(qū)以及一第二區(qū)。數(shù)據(jù)線的延伸方向 與掃描線的延伸方向相交，且數(shù)據(jù)線位于第一區(qū)以及第二區(qū)之間。像素結(jié)構(gòu)位于第一區(qū)以 及第二區(qū)之間，且各像素結(jié)構(gòu)由其中一條掃描線與其中一條數(shù)據(jù)線驅(qū)動。第一檢測線路位 于第一區(qū)，并電連接奇數(shù)條的掃描線。第二檢測線路位于第一區(qū)，并電連接第如+1條的掃 描線，在此，η為0或正整數(shù)。第三檢測線路位于第二區(qū)，并電連接偶數(shù)條的掃描線。第四 檢測線路位于第二區(qū)，并電連接第如+2條的掃描線。本發(fā)明另提出一種檢測方法，以檢測如前所述的主動元件陣列。檢測方法包括有 以下步驟。由第一檢測線路輸入第一檢測信號于奇數(shù)條的掃描線中，并判斷與奇數(shù)條的掃 描線連接的部分像素結(jié)構(gòu)是否被點亮。由第二檢測線路輸入第二檢測信號于第如+1條的 掃描線中，而與第如+3條的掃描線連接的部分像素結(jié)構(gòu)被點亮?xí)r，視為缺陷產(chǎn)生。由第三 檢測線路輸入第三檢測信號于偶數(shù)條的掃描線中，并判斷與偶數(shù)條的掃描線連接的部分像 素結(jié)構(gòu)是否被點亮。由第四檢測線路輸入第四檢測信號于第如+2條的掃描線中，而與第 如+4條的掃描線連接的部分像素結(jié)構(gòu)被點亮?xí)r，視為缺陷產(chǎn)生?；谏鲜觯景l(fā)明的主動元件陣列及檢測方法可以有效地檢測出線路中的缺陷，而有助于提升主動元件陣列的成品率。


圖1所示為本發(fā)明的附圖標(biāo)號100:主動元件陣列120:數(shù)據(jù)線124:第二數(shù)據(jù)線檢測132:主動元件140:第一檢測線路144:第一檢測墊150:第二檢測線路154:第二檢測墊160 第三檢測線路164:第三檢測墊170:第四檢測線路174:第四檢測墊180 第一傳輸線路com 共用線路Ge 第三檢測信號Go 第一檢測信號Rl 第一區(qū)SW:開關(guān)線路一實施例的主動元件陣列。 110:掃描線122 第一數(shù)據(jù)線檢測線路 線路 130 像素結(jié)構(gòu) 134 像素電極 142 第一檢測線 146 第一檢測開關(guān) 152 第二檢測線 156 第二檢測開關(guān) 162 第三檢測線 166 第三檢測開關(guān) 172 第四檢測線 176 第四檢測開關(guān) 190 第二傳輸線路 Cs 儲存電容 Geh 第四檢測信號 Goh 第二檢測信號 R2 第二區(qū)
具體實施例方式為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合所附附圖 作詳細說明如下。圖1所示為本發(fā)明的一實施例的主動元件陣列。請參照圖1，主動元件陣列100包 括多條掃描線110、多條數(shù)據(jù)線120、多個像素結(jié)構(gòu)130、一第一檢測線路140、一第二檢測線 路150、一第三檢測線路160以及一第四檢測線路170。掃描線110彼此平行排列，以在掃 描線110的延伸方向上定義出相對的一第一區(qū)Rl以及一第二區(qū)R2。換言之，第一區(qū)Rl與 第二區(qū)R2分別地位于掃描線110延伸方向上相對的兩端。數(shù)據(jù)線120的延伸方向與掃描 線110的延伸方向相交，且數(shù)據(jù)線120位于第一區(qū)Rl以及第二區(qū)R2之間。像素結(jié)構(gòu)130 也是位于第一區(qū)Rl以及第二區(qū)R2之間，且各像素結(jié)構(gòu)130由其中一條掃描線110與其中 一條數(shù)據(jù)線120驅(qū)動。當(dāng)主動元件陣列100應(yīng)用于顯示面板時，像素結(jié)構(gòu)130是進行顯示的主要元件。所 以，像素結(jié)構(gòu)130所在區(qū)域例如為顯示區(qū)(未標(biāo)示)，而第一區(qū)Rl以及第二區(qū)R2則為不顯 示畫面的非顯示區(qū)(未標(biāo)示)。實際上，像素結(jié)構(gòu)130例如包括有主動元件132以及像素電 極 134。
第一檢測線路140位于第一區(qū)R1，并電連接奇數(shù)條的掃描線110。第二檢測線路 150位于第一區(qū)R1，并電連接第如+1條的掃描線110。第三檢測線路160位于第二區(qū)R2， 并電連接偶數(shù)條的掃描線110。第四檢測線路170位于第二區(qū)R2，并電連接第如+2條的掃 描線110。在此，η為0或正整數(shù)。在本實施例中，第一檢測線路140與第三檢測線路160例如由相似的構(gòu)件所組成。 第一檢測線路140包括一第一檢測線142、一第一檢測墊144以及多個第一檢測開關(guān)146。 第一檢測墊144位于第一檢測線142的一端。第一檢測開關(guān)146連接于奇數(shù)條的掃描線 110與第一檢測線142之間，以使第一檢測信號Go由第一檢測墊144經(jīng)由第一檢測線142 以及第一檢測開關(guān)146傳送至奇數(shù)條的掃描線110。第三檢測線路160則包括一第三檢測線162、一第三檢測墊164以及多個第三檢測 開關(guān)166。第三檢測線路160的各構(gòu)件的連接關(guān)系與第一檢測線路140相似，不過第三檢 測線路160是與偶數(shù)條的掃描線110電連接。也就是說，第三檢測信號Ge是由第三檢測墊 164經(jīng)由第三檢測線162以及第三檢測開關(guān)166傳送至偶數(shù)條的掃描線110。在本實施例中，第一檢測開關(guān)146與第三檢測開關(guān)166可以控制第一檢測信號Go 與第三檢測信號Ge傳送至對應(yīng)的掃描線110與否。第一檢測開關(guān)146與第三檢測開關(guān)166 例如都是由多個晶體管元件所組成。當(dāng)然，在其他的實施例中，第一檢測開關(guān)146與第三檢 測開關(guān)166也可以由其他可提供開關(guān)作用的元件所組成。另外，第二檢測線路150與第四檢測線路170則例如是相似的設(shè)計。詳言之，第二 檢測線路150包括一第二檢測線152、一第二檢測墊154以及多個第二檢測開關(guān)156。第二 檢測墊巧4位于第二檢測線152的一端。第二檢測開關(guān)156連接于第如+1條的掃描線110 與第二檢測線152之間，以使第二檢測信號Goh由第二檢測墊巧4經(jīng)由第二檢測線152以 及第二檢測開關(guān)156傳送至第如+1條的掃描線110。相似地，第四檢測線路170包括一第四檢測線172、一第四檢測墊174以及多個第 四檢測開關(guān)176，且這些元件的連接關(guān)系近似于第二檢測線路150的設(shè)計。不過，第四檢測 線路170的設(shè)計使得第四檢測信號Geh由第四檢測墊174經(jīng)由第四檢測線172以及第四檢 測開關(guān)176傳送至第如+2條的掃描線110。在此，第二檢測開關(guān)156以及第四檢測開關(guān)176 例如為多個二極管元件，但本發(fā)明不限于此。第一檢測線路140與第三檢測線路160例如可以傳送適當(dāng)?shù)臋z測信號(Go與Ge) 來分別地檢測連接奇數(shù)行的像素結(jié)構(gòu)130與偶數(shù)行的像素結(jié)構(gòu)130。一但奇數(shù)行的像素結(jié) 構(gòu)130中發(fā)生斷線缺陷時，可以利用第一檢測線路140檢測出來。偶數(shù)行的像素結(jié)構(gòu)130若 發(fā)生斷線缺陷也可以利用第二檢測線路160檢測出來。另外，當(dāng)相鄰兩行像素結(jié)構(gòu)130間 發(fā)生短路缺陷時，也可以利用第一檢測線路140與第三檢測線路160檢測出來。舉例來說，使用第一檢測線路140進行檢測時，第一檢測信號Go應(yīng)該只會傳送至 奇數(shù)條的掃描線110。也就是說，奇數(shù)行的像素結(jié)構(gòu)130會被點亮。此時，奇數(shù)行的像素結(jié) 構(gòu)130若有任何一者未被點亮則表示斷線缺陷發(fā)生。若有任何一個偶數(shù)行的像素結(jié)構(gòu)130 也被點亮，則表示有短路缺陷發(fā)生。同樣的，使用第三檢測線路160進行檢測時，第三檢測 信號( 應(yīng)該只會使偶數(shù)行的像素結(jié)構(gòu)130被點亮，而不會使奇數(shù)行的像素結(jié)構(gòu)130被點 亮。若有奇數(shù)行的像素結(jié)構(gòu)130被點亮則表示有短路缺陷。
不過，第一檢測線路140會同時將第一檢測信號Go傳送至第一條與第三條掃描線110。所以第一條與第三條掃描線110之間，也就是奇數(shù)條的掃描線110之間，發(fā)生短路情 形，利用第一檢測線路140無法被檢測出來。同樣地，偶數(shù)條的掃描線110之間所發(fā)生短路， 也無法由第三檢測線路160檢測出來。因此，主動元件陣列100中，第二檢測線路150與第四檢測線路170分別地連接每 隔四條(every other four)的掃描線110。如此一來，奇數(shù)條的掃描線100之間若發(fā)生短 路的情形或是偶數(shù)條的掃描現(xiàn)110之間發(fā)生短路的情形，則可通過第二檢測線路150與第 四檢測線路170來進行檢測。舉例而言，利用第二檢測線路150進行檢測時，第二檢測信號Goh會被傳送至第 一、五……4n+l條掃描線110。因此，第一、五……4n+l行的像素結(jié)構(gòu)130會被點亮。此 時，若第一條與第三條掃描線110之間發(fā)生短路情形，則第三行的像素結(jié)構(gòu)130也會被點 亮。因此，奇數(shù)條掃描線110之間的短路缺陷可以有效率的被檢測出來。相同地，偶數(shù)條掃 描線110之間的缺陷也可以有效地利用第四檢測線路170進行檢測而檢測出來。在本實施 例中，第一檢測信號Go與第三檢測信號Ge可以相同，而第二檢測信號Goh與第四檢測信號 Geh可以相同。值得一提的是，受限于實際結(jié)構(gòu)的設(shè)計，奇數(shù)條掃描線110之間的短路與偶數(shù)條 掃描線110之間的短路往往不容易避免。主要是因為在結(jié)構(gòu)設(shè)計上，主動元件陣列100更 包括多條第一傳輸線路180以及多條第二傳輸線路190。第一傳輸線路180位于第一區(qū)Rl 中且連接奇數(shù)條的掃描線110。同時，第二傳輸線路190位于第二區(qū)R2中且連接偶數(shù)條的 掃描線110。第一傳輸線路180以及第二傳輸線路190會分別地連接至驅(qū)動主動元件陣列100 用的驅(qū)動芯片(未繪示)，并將驅(qū)動芯片所提供的驅(qū)動信號傳送至對應(yīng)的掃描線110中。因 此，各第一傳輸線路180應(yīng)該為彼此電性獨立的線路，且各第二傳輸線路190應(yīng)該為彼此電 性獨立的線路以使主動元件陣列110可以正常地運作。然而，第一區(qū)Rl以及第二區(qū)R2不提供顯示之用。在結(jié)構(gòu)設(shè)計上，第一區(qū)Rl以及 第二區(qū)R2的寬度會盡可能的被壓縮以減小非顯示區(qū)所占面積并增加顯示區(qū)的面積。因此， 第一傳輸線路180以及第二傳輸線路190必需緊密地排列，而使得第一傳輸線路180以及 第二傳輸線路190容易因為工藝上的誤差而產(chǎn)生短路缺陷。相鄰第一傳輸線路180之間發(fā)生短路表示奇數(shù)條掃描線110之間發(fā)生短路，而相 鄰第二輸線路190之間發(fā)生短路則表示偶數(shù)條掃描線110之間發(fā)生短路。這樣的短路缺陷 無法由第一檢測線路140與第三檢測線路160檢出。因此，本實施例的第二檢測線路150 與第四檢測線路170可以有效地將這樣的短路缺陷檢出而有助于提高主動元件陣列100的 工藝效率。除上述元件外，主動元件陣列100可以更包括有一第一數(shù)據(jù)線檢測線路122以及 一第二數(shù)據(jù)線檢測線路124，其分別地連接奇數(shù)條數(shù)據(jù)線120以及偶數(shù)條數(shù)據(jù)線120。第一 數(shù)據(jù)線檢測線路122以及第二數(shù)據(jù)線檢測線路IM用以傳送對應(yīng)的檢測信號于數(shù)據(jù)線120 中。另外，主動元件陣列100還設(shè)有共用線路com，其與像素電極134共同構(gòu)成儲存電容Cs。 此外，為了驅(qū)動這些檢測線路的檢測開關(guān)，主動元件陣列100還設(shè)有開關(guān)線路SW，以控制這 些檢測開關(guān)的開啟與關(guān)閉。綜上所述，本發(fā)明的主動元件陣列中設(shè)有第二檢測線路及第四檢測線路，以分別檢測奇數(shù)條的掃描線間、傳輸線間以及偶數(shù)條的掃描線間、傳輸線間是否有短路缺陷。因 此，本發(fā)明的主動元件陣列及檢測方法有助于降低因組裝后才檢測出線路缺陷而造成的成 本負擔(dān)。也因此，本發(fā)明的主動元件陣列具有相當(dāng)不錯的成品率。 雖然本發(fā)明已以實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何所屬技術(shù)領(lǐng)域 中的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動與潤飾，故本發(fā)明的保 護范圍當(dāng)以權(quán)利要求所界定范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種主動元件陣列，其特征在于，所述主動元件陣列包括多條掃描線，彼此平行排列，以在所述這些掃描線的延伸方向上定義出相對的一第一 區(qū)以及一第二區(qū)；多條數(shù)據(jù)線，所述這些數(shù)據(jù)線的延伸方向與所述這些掃描線的延伸方向相交，且所述 這些數(shù)據(jù)線位于所述第一區(qū)以及所述第二區(qū)之間；多個像素結(jié)構(gòu)，位于所述第一區(qū)以及所述第二區(qū)之間，且各所述像素結(jié)構(gòu)由其中一所 述掃描線與其中一所述數(shù)據(jù)線驅(qū)動；一第一檢測線路，位于所述第一區(qū)，并電連接奇數(shù)條的所述這些掃描線； 一第二檢測線路，位于所述第一區(qū)，并電連接第如+1條的所述這些掃描線，其中η為0 或正整數(shù)；一第三檢測線路，位于所述第二區(qū)，并電連接偶數(shù)條的所述這些掃描線；以及 一第四檢測線路，位于所述第二區(qū)，并電連接第如+2條的所述這些掃描線。
2.如權(quán)利要求1所述的主動元件陣列，其特征在于，所述第一檢測線路包括 一第一檢測線；一第一檢測墊，所述第一檢測墊位于所述第一檢測線的一端；以及 多個第一檢測開關(guān)，連接于奇數(shù)條的所述這些掃描線與所述第一檢測線之間。
3.如權(quán)利要求2所述的主動元件陣列，其特征在于，所述這些第一檢測開關(guān)為多個晶 體管元件。
4.如權(quán)利要求1所述的主動元件陣列，其特征在于，所述第二檢測線路包括 一第二檢測線；一第二檢測墊，所述第二檢測墊位于所述第二檢測線的一端；以及 多個第二檢測開關(guān)，連接于第如+1條的所述這些掃描線與所述第二檢測線之間。
5.如權(quán)利要求4所述的主動元件陣列，其特征在于，所述這些第二檢測開關(guān)為多個二 極管元件。
6.如權(quán)利要求1所述的主動元件陣列，其特征在于，所述第三檢測線路包括 一第三檢測線；一第三檢測墊，所述第三檢測墊位于所述第三檢測線的一端；以及 多個第三檢測開關(guān)，連接于偶數(shù)條的所述這些掃描線與所述第三檢測線之間。
7.如權(quán)利要求6所述的主動元件陣列，其特征在于，所述這些第三檢測開關(guān)為多個晶 體管元件。
8.如權(quán)利要求1所述的主動元件陣列，其特征在于，所述第四檢測線路包括 一第四檢測線；一第四檢測墊，所述第四檢測墊位于所述第四檢測線的一端；以及 多個第四檢測開關(guān)，連接于第如+2條的所述這些掃描線與所述第四檢測線之間。
9.如權(quán)利要求8所述的主動元件陣列，其特征在于，所述這些第四檢測開關(guān)為多個二 極管元件。
10.一種檢測方法，其特征在于，所述檢測方法檢測如權(quán)利要求1所述的主動元件陣 列，所述檢測方法包括由所述第一檢測線路輸入所述第一檢測信號于奇數(shù)條的所述這些掃描線中，并判斷與奇數(shù)條的所述這些掃描線連接的部分所述這些像素結(jié)構(gòu)是否被點亮；由所述第二檢測線路輸入所述第二檢測信號于第如+1條的所述這些掃描線中，而與 第如+3條的所述這些掃描線連接的部分所述這些像素結(jié)構(gòu)被點亮?xí)r，視為缺陷產(chǎn)生；由所述第三檢測線路輸入所述第三檢測信號于偶數(shù)條的所述這些掃描線中，并判斷與 偶數(shù)條的所述這些掃描線連接的部分所述這些像素結(jié)構(gòu)是否被點亮；以及由所述第四檢測線路輸入所述第四檢測信號于第如+2條的所述這些掃描線中，而與 第如+4條的所述這些掃描線連接的部分所述這些像素結(jié)構(gòu)被點亮?xí)r，視為缺陷產(chǎn)生。
全文摘要
本發(fā)明提供一種主動元件陣列以及檢測方法，所述一種主動元件陣列包括多條掃描線、多條數(shù)據(jù)線、多個像素結(jié)構(gòu)、一第一檢測線路、一第二檢測線路、一第三檢測線路以及一第四檢測線路。各像素結(jié)構(gòu)電連接其中一條掃描線與其中一條數(shù)據(jù)線。第一檢測線路電連接奇數(shù)條的掃描線。第二檢測線路電連接第4n+1條的掃描線。在此，n為0或正整數(shù)。第三檢測線路電連接偶數(shù)條的掃描線。第四檢測線路電連接第4n+2條的掃描線。本發(fā)明的主動元件陣列及檢測方法可以有效地檢測出線路中的缺陷，而有助于提升主動元件陣列的成品率。
文檔編號G02F1/1362GK102043292SQ20091017848
公開日2011年5月4日 申請日期2009年10月13日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月13日
發(fā)明者吳俊杰, 張志銘, 王志昌 申請人:勝華科技股份有限公司