技術(shù)編號(hào)：9909069
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。目前，液晶玻璃基板表面顆粒的檢測(cè)，通常采用的是光的散射法，且當(dāng)前液晶玻璃基板生產(chǎn)廠家所使用的檢測(cè)設(shè)備均采用光的散射法測(cè)量。采用光的散射法測(cè)量時(shí)，最靈敏的是可以檢測(cè)出Ium的顆粒物。實(shí)際應(yīng)用中發(fā)現(xiàn)，Ium顆粒物散射的光線極少，需要非常高靈敏度的攝像機(jī)才能滿足要求。同時(shí)，上述方法雖然可以識(shí)別Ium的顆粒物，但對(duì)尺寸的檢測(cè)精度極差。同時(shí)，隨著技術(shù)的進(jìn)步，液晶玻璃基板向著更薄的方向發(fā)展，由于分辨率的提高，用戶對(duì)于玻璃基板表面顆粒的容忍度在降低，當(dāng)顆粒物的尺寸低于I...
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