技術(shù)編號(hào)：9808784
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。集成電路芯片成品生產(chǎn)后，要對(duì)芯片進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)內(nèi)容包括物理缺陷檢測(cè)、磁感應(yīng)檢測(cè)等等，檢測(cè)后的合格芯片要進(jìn)行封裝，不合格芯片要進(jìn)行回收?，F(xiàn)有的操作流程中，這一系列動(dòng)作均通過(guò)人工完成，個(gè)別工步通過(guò)自動(dòng)化操作實(shí)現(xiàn)，但總體來(lái)說(shuō)，人工干預(yù)大，效率低，給芯片造成的污染大。發(fā)明內(nèi)容為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供一種，通過(guò)全自動(dòng)化流程，實(shí)現(xiàn)芯片的快速檢測(cè)。本發(fā)明采取的技術(shù)方案是 一種，通過(guò)芯片自動(dòng)檢測(cè)裝置實(shí)現(xiàn)，所述芯片自動(dòng)檢測(cè)裝置包括工作臺(tái)、機(jī)器人、控制模塊、上下料倉(cāng)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。