技術(shù)編號(hào)：8282173
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。隨著芯片設(shè)計(jì)和工藝的日益發(fā)展，接觸式CPU芯片的功能也越來越強(qiáng)大，隨之而來的高成本，使得后續(xù)測(cè)試成本的降低顯得尤為重要。因硅晶圓片測(cè)試均采用外部時(shí)鐘作為芯片測(cè)試的同步信號(hào)，而接觸式CPU芯片如果采用外部時(shí)鐘作為工作時(shí)鐘，將有可能引入干擾和攻擊，這對(duì)于芯片的安全性將帶來不可忽視的影響。因此接觸式CPU芯片無(wú)論在測(cè)試模式還是在應(yīng)用模式均采用內(nèi)部時(shí)鐘作為芯片的工作頻率；但是這樣將無(wú)法實(shí)現(xiàn)芯片測(cè)試的一致性，大大降低測(cè)試效率。如果在生產(chǎn)測(cè)試階段即能保證接觸式CPU芯...
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