技術編號：6518726
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開了一種用于集成電路封裝中的X射線圖像模糊增強方法，包括以下步驟（1）采集被封裝元器件的X射線圖像，得到X射線圖像f(x,y)；（2）對所述X射線圖像f(x,y)進行高斯去噪處理，得到去噪后的X射線圖像g(x,y)；（3）對去噪后的X射線圖像g(x,y)進行模糊增強先提取圖像中的模糊特征；然后，對模糊特征進行隸屬度函數(shù)修正；最后，進行模糊域反變換；（4）對模糊增強后的圖像進行圖像質量評價。本發(fā)明能夠使X射線圖像得到有效增強，且具有簡單、快捷的優(yōu)點，...
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