技術(shù)編號(hào)：6206617
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型公開了一種高功率芯片老化驗(yàn)證裝置，包括一測(cè)試插座，所述測(cè)試插座連接所述芯片的測(cè)試端，所述芯片上連接有一溫度控制裝置，所述溫度控制裝置包括一控制單元以及連接所述控制單元的加熱器和散熱器，所述控制單元連接所述芯片本實(shí)用新型的高功率芯片老化驗(yàn)證裝置通過在芯片上連接一溫度控制裝置，對(duì)芯片的溫度進(jìn)行監(jiān)控，當(dāng)芯片溫度低于設(shè)定溫度時(shí)，加熱器工作，風(fēng)扇不工作，起到單獨(dú)加熱的作用；當(dāng)芯片溫度高于設(shè)定溫度時(shí)，加熱器停止工作，風(fēng)扇工作，起到單獨(dú)散熱作用。從而使得具有功...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。