技術(shù)編號：6105056

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本發(fā)明涉及一種用于測試半導(dǎo)體器件的基于事件的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)，更具體地說，涉及一種基于事件數(shù)據(jù)而生成測試圖形和選通信號的方法和裝置，在這種方法和裝置中，一個延遲時間可以容易地被插入到一個特殊事件的事件數(shù)據(jù)中，而不影響其它事件。在由一個半導(dǎo)體測試系統(tǒng)(如一個IC測試儀)測試半導(dǎo)體器件(如IC和LSI)時，由IC(集成電路)測試儀在預(yù)定測試時間點，在其適當(dāng)?shù)牟遽樕舷蛞粋€被測半導(dǎo)體IC器件提供測試信號或測試圖形。IC測試儀響應(yīng)測試信號，從被測IC器件接收輸出信號。...
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