技術(shù)編號：6089444
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明是有關(guān)于一種半導(dǎo)體測試裝置。本申請案是關(guān)連于下述的日本專利申請。對于認(rèn)定可由參照文獻加以編入而有所認(rèn)定的國家，藉由參照下述專利申請案所述的內(nèi)容加以編入于本申請案作為本申請案的一部分。1.日本專利申請?zhí)?003-322095申請日期2003年09月12日背景技末半導(dǎo)體測試裝置是將測試圖案(test pattern)給與被測試的半導(dǎo)體元件(semiconductor device)，依據(jù)該測試圖案接受半導(dǎo)體元件所輸出的輸出信號，藉由所接受的輸出信號與期待...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。