技術(shù)編號(hào):6029562
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及芯片測(cè)試,尤其涉及一種面向同構(gòu)多核處理器的可測(cè)性設(shè)計(jì)方法。 背景技術(shù)隨著芯片規(guī)模的增大和實(shí)時(shí)處理要求的提高,單核處理器能力已難以滿(mǎn)足要求。 微電子技術(shù)的發(fā)展使得在單一芯片上集成多個(gè)處理器成為可能。根據(jù)內(nèi)含處理器核的種 類(lèi),多核處理器可以分為同構(gòu)多核處理器和異構(gòu)多核處理器兩種。而且隨著集成度的提高, 給芯片測(cè)試帶來(lái)了很大的困難,其困難主要表現(xiàn)在大的測(cè)試向量和長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間上,使得 芯片的測(cè)試成本占據(jù)了整個(gè)芯片成本中很大的一部分。 為了縮短芯片的測(cè)試時(shí)...
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