技術(shù)編號(hào):5952867
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體測(cè)試的高頻測(cè)試訊號(hào),特別是指一種可調(diào)整測(cè)試裝置中高頻傳輸路徑的高頻訊號(hào)路徑調(diào)整方式及其測(cè)試裝置。背景技術(shù)隨著電子產(chǎn)品日趨高速運(yùn)行及整合處理的功能,半導(dǎo)體晶圓制作過(guò)程中,多為以高速及高頻傳遞的密集制程結(jié)構(gòu)所形成的數(shù)字芯片電路;故單一芯片電路往往具有多組的電路輸入,經(jīng)芯片內(nèi)部的多任務(wù)及同步處理后,即可使單一芯片電路的輸出整合有多種電子產(chǎn)品的功能需求。因此在通過(guò)探針卡對(duì)高速處理的數(shù)字芯片電路進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試時(shí),探針卡作為測(cè)試機(jī)臺(tái)與芯片電路之間的電路...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。