技術(shù)編號(hào):5865520
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)(alignment system)、對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)的控制方法、程序以及測(cè)定裝置。背景技術(shù)專利文獻(xiàn)1在其圖10中公開(kāi)了一種對(duì)被檢查透鏡的透射波陣面進(jìn)行測(cè)定的斐索 (Fizeau)型干涉儀,記載了在測(cè)定之前為了得到干涉條紋而需要進(jìn)行其圖7 圖9所示的調(diào)整和反射型球面標(biāo)準(zhǔn)原器(prototype)的位置調(diào)整。另外,專利文獻(xiàn)2公開(kāi)了一種斐索干涉儀,在該斐索干涉儀中,在由操作者在三軸方向上手動(dòng)地將被檢查透鏡粗調(diào)到能夠看到干涉條紋的程度之后,計(jì)算機(jī)根據(jù)干...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。