技術(shù)編號(hào)：40606676
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本技術(shù)涉及集成電路測(cè)試載板，尤其涉及一種集成電路測(cè)試載板。背景技術(shù)、集成電路測(cè)試載板是用于測(cè)試集成電路的一種特殊載具，在ic生產(chǎn)過(guò)程中，為了確保電路的正常工作和質(zhì)量可靠性，需要進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試，而測(cè)試載板就是用來(lái)連接測(cè)試設(shè)備和ic芯片的接口，以提供測(cè)試信號(hào)和采集測(cè)試結(jié)果，測(cè)試載板通常由pcb制成，其上布局了與待測(cè)試的ic芯片相匹配的引腳，在測(cè)試過(guò)程中，ic芯片被固定在測(cè)試載板上，通過(guò)測(cè)試設(shè)備向ic芯片提供電源、信號(hào)和時(shí)鐘等必要的測(cè)試條件，并采集ic芯片的輸出信號(hào)，以驗(yàn)證其功能和性能是否符合設(shè)計(jì)要...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。