技術(shù)編號：40603429
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及檢測設(shè)備，具體為一種外觀檢測的線掃平臺。背景技術(shù)、線掃技術(shù)在現(xiàn)代光學(xué)檢測中有著廣泛的應(yīng)用，尤其在表面檢測、缺陷檢測等領(lǐng)域具有顯著優(yōu)勢。、線掃實驗平臺主要涉及一種用于圖像采集和處理的系統(tǒng)，通常用于工業(yè)檢測、醫(yī)學(xué)成像、航天遙感等領(lǐng)域。線掃相機是一種特殊的成像設(shè)備，采用逐行掃描的方式捕捉目標(biāo)物的圖像。其核心原理是通過光學(xué)鏡頭將光信號投射到線性陣列傳感器上，再將連續(xù)的線性圖像拼接成完整的二維圖像。線掃相機的優(yōu)點包括高分辨率、高速度和穩(wěn)定的成像質(zhì)量，特別適合于需要長時間、高精度的成像任務(wù)。...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。