技術(shù)編號(hào)：10660366
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。采樣保持(Sample-and-hold，S/H)電路對(duì)于模擬信號(hào)處理是一個(gè)重要的功能塊。 一個(gè)典型的S/H電路包含一個(gè)作為模擬開關(guān)使用的M0SFET和一個(gè)采樣電容，如圖1所示。模擬開關(guān)并不是理想的，由于該開關(guān)具有幾條漏電路徑，導(dǎo)致采樣電容中保持的電壓可能會(huì)上升或下降。在一個(gè)關(guān)斷狀態(tài)的模擬開關(guān)中，漏電流包括PN結(jié)反向偏置電流，亞閾值漏電流和柵極漏電流。泄漏電流的大小和相對(duì)貢獻(xiàn)強(qiáng)烈依賴于制造過程。在非常低的采樣率(大約 1?1kHz)，如超低功耗的溫度傳感器...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無(wú)完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。