外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置的制造方法
【專利說明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及接觸阻抗的測(cè)試技術(shù)，具體涉及一種外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置。
【【背景技術(shù)】】
[0002]在印刷電路板(PCB)制造完成后，需要測(cè)試外置接口的性能，而外置接口的接觸阻抗是重要的檢測(cè)項(xiàng)目之一，通過配合公頭端連接接口測(cè)試外置接口的接觸阻抗，從而檢測(cè)外置接口與對(duì)接點(diǎn)間的電阻數(shù)值、導(dǎo)通性是否符合規(guī)范要求，有無過大的內(nèi)部干涉或空隙。
[0003]例如，請(qǐng)參閱圖1所示，其為現(xiàn)有技術(shù)外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置示意圖，在測(cè)試HDM1、Video、e SATA等外置接口 10時(shí)，需要配合通用型公頭端連接接口 20進(jìn)行接觸阻抗測(cè)試，而通用型公頭端連接接口 20 —般都是帶線纜22的。適配后，使用微歐姆測(cè)試儀的一探針測(cè)試外置接口 10的引腳11，另一探針測(cè)試公頭端連接接口 20對(duì)應(yīng)的端子21，得到外置接口 10引腳11的接觸阻抗，通過判斷接觸阻抗是否超過最大接觸阻抗值，從而判斷外置接口是否符合規(guī)格。
[0004]然而，現(xiàn)有技術(shù)測(cè)試時(shí)，通用型的公頭端連接接口 20 —般都會(huì)有線纜22，而線纜22本身存在較大的阻抗，阻抗達(dá)30mΩ以上，使測(cè)試結(jié)果增大，因此需要估算線纜22本身的阻抗，然后計(jì)算出外置接口 10各引腳11的接觸阻抗，測(cè)試準(zhǔn)確度不高；而且由于外置接口10各引腳11和公頭端連接接口 20的各端子21不對(duì)稱，不容易準(zhǔn)確找到外置接口 10各引腳11所對(duì)應(yīng)的各個(gè)端子21，會(huì)有漏測(cè)的引腳11。
[0005]有鑒于此，實(shí)有必要開發(fā)一種外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置，以解決上述問題。【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0006]因此，本實(shí)用新型的目的是提供一種外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置，該外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置能夠準(zhǔn)確測(cè)出外置接口的接觸阻抗，且不會(huì)有漏測(cè)引腳的現(xiàn)象。
[0007]為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置，其包括:
[0008]印刷電路治具板；
[0009]若干個(gè)焊盤，其按順序排列設(shè)于所述印刷電路治具板上；
[0010]至少一個(gè)公頭端連接接口，其固定于所述印刷電路治具板上，所述公頭端連接接口的各個(gè)端子與待測(cè)外置接口的各個(gè)引腳相適配；
[0011]若干條銅導(dǎo)線，各該銅導(dǎo)線一端電性連接所述焊盤，另一端電性連接所述公頭端連接接口的端子。
[0012]較佳地，所述焊盤的數(shù)量為19個(gè)。
[0013]較佳地，不同的公頭端連接接口所對(duì)應(yīng)的銅導(dǎo)線設(shè)于所述印刷電路治具板不同的絕緣層上。
[0014]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型的外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置，通過將公頭端連接接口固定在印刷電路治具板上，將公頭端連接接口的端子使用低阻抗的銅導(dǎo)線連接至焊盤上，銅導(dǎo)線阻抗只有幾微歐姆，阻抗小，誤差小，測(cè)試準(zhǔn)確；在測(cè)試時(shí)，只需使用微歐姆測(cè)試儀的一探針測(cè)試外置接口引腳，另一探針測(cè)試引腳對(duì)應(yīng)的焊盤即可，不需要重新尋找引腳所對(duì)應(yīng)的端子，因此不會(huì)有漏測(cè)的引腳。
【【附圖說明】】
[0015]圖1繪示現(xiàn)有技術(shù)外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置示意圖。
[0016]圖2繪示本實(shí)用新型外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置示意圖。
【【具體實(shí)施方式】】
[0017]請(qǐng)參閱圖2所示，其繪示了本實(shí)用新型外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置示意圖。
[0018]于本實(shí)施例中，本實(shí)用新型外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置，用于測(cè)試外置接口 10各個(gè)引腳11的接觸阻抗，所述外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置包括:
[0019]印刷電路治具板100 ；
[0020]若干個(gè)焊盤101，其按順序排列設(shè)于所述印刷電路治具板100上，為了方便測(cè)試，所述焊盤101為較大的焊盤點(diǎn)；
[0021]至少一個(gè)公頭端連接接口 102，其固定于所述印刷電路治具板100上，所述公頭端連接接口 102的各個(gè)端子103與待測(cè)外置接口 10的各個(gè)引腳11相適配；
[0022]若干條銅導(dǎo)線104，各該銅導(dǎo)線104 —端電性連接所述焊盤101，另一端電性連接所述公頭端連接接口 102的端子103。
[0023]其中，為了測(cè)試不同的外置接口 10，例如HDMI為19個(gè)引腳，Video為15個(gè)引腳，USB3.0為9個(gè)引腳，因此所述焊盤101的數(shù)量設(shè)為19個(gè)。
[0024]其中，為了方便在印刷電路治具板100上排線，不同的公頭端連接接口 102所對(duì)應(yīng)的銅導(dǎo)線104設(shè)于所述印刷電路治具板100不同的絕緣層上。
[0025]本實(shí)用新型的外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置，將常用的公頭端連接接口 102焊接固定在印刷電路治具板100上，將被固定的公頭連接接口 100的各端子103使用低阻抗的銅導(dǎo)線104引延至焊盤101上。在測(cè)試時(shí)，只需使用微歐姆測(cè)試儀的一探針測(cè)試外置接口10的引腳11，另一探針測(cè)試引腳11對(duì)應(yīng)的焊盤101即可。
[0026]本實(shí)用新型的外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置，因公頭端連接接口 102的端子103使用銅導(dǎo)線104連接至焊盤101上，銅導(dǎo)線104阻抗只有幾πιΩ，阻抗小，誤差小，測(cè)試準(zhǔn)確；而且在測(cè)試時(shí)，不需要重新尋找外置接口 10的引腳11所對(duì)應(yīng)的端子103，因此不會(huì)有漏測(cè)的引腳11。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置，其特征在于，所述外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置包括: 印刷電路治具板； 若干個(gè)焊盤，其按順序排列設(shè)于所述印刷電路治具板上； 至少一個(gè)公頭端連接接口，其固定于所述印刷電路治具板上，所述公頭端連接接口的各個(gè)端子與待測(cè)外置接口的各個(gè)引腳相適配； 若干條銅導(dǎo)線，各該銅導(dǎo)線一端電性連接所述焊盤，另一端電性連接所述公頭端連接接口的端子。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置，其特征在于，所述焊盤的數(shù)量為19個(gè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置，其特征在于，不同的公頭端連接接口所對(duì)應(yīng)的銅導(dǎo)線設(shè)于所述印刷電路治具板不同的絕緣層上。
【專利摘要】一種外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置，其包括：印刷電路治具板；若干個(gè)焊盤，其按順序排列設(shè)于所述印刷電路治具板上；至少一個(gè)公頭端連接接口，其固定于所述印刷電路治具板上，所述公頭端連接接口的各個(gè)端子與待測(cè)外置接口的各個(gè)引腳相適配；若干條銅導(dǎo)線，各該銅導(dǎo)線一端電性連接所述焊盤，另一端電性連接所述公頭端連接接口的端子。本實(shí)用新型的外置接口接觸阻抗的測(cè)試裝置能夠準(zhǔn)確測(cè)出外置接口的接觸阻抗，且不會(huì)有漏測(cè)引腳的現(xiàn)象。
【IPC分類】G01R27-02
【公開號(hào)】CN204302384
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201420679408
【發(fā)明人】張榮斌
【申請(qǐng)人】神訊電腦(昆山)有限公司
【公開日】2015年4月29日
【申請(qǐng)日】2014年11月14日