專利名稱：電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是關(guān)于一種電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱，尤指一種可容納不同類型的電源供應(yīng)器進(jìn)行燒機(jī)測(cè)試的電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱。
背景技術(shù)：
電源供應(yīng)器在計(jì)算機(jī)中為主板提供電能，是計(jì)算機(jī)不可缺少的部分，通常計(jì)算機(jī)主板和電源有著統(tǒng)一的結(jié)構(gòu)規(guī)范。
早期計(jì)算機(jī)386、486運(yùn)用的電源供應(yīng)器是AT(Advanced Technology，先進(jìn)技術(shù))結(jié)構(gòu)，到了多功能奔騰擴(kuò)展型主板時(shí)代，AT結(jié)構(gòu)的電源供應(yīng)器開(kāi)始向ATX(Advanced Technology Extended，擴(kuò)展型先進(jìn)技術(shù))結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)型。ATX結(jié)構(gòu)的電源供應(yīng)器與AT結(jié)構(gòu)的電源供應(yīng)器之間有著本質(zhì)的差別第一是電源提供的主板電源線，AT結(jié)構(gòu)的6芯分離式電源插頭在ATX結(jié)構(gòu)中被一個(gè)20芯的雙列插頭所代替，故該類電源供應(yīng)器也被稱為“20芯ATX電源供應(yīng)器”；第二是ATX電源供應(yīng)器輸出電壓組除AT電源供應(yīng)器的正負(fù)12伏和正負(fù)5伏外還提供了一正負(fù)3.3伏電壓輸出，直接為部分所需電壓為3.3伏的設(shè)備供電。目前，為了滿足高功耗的需要，ATX電源供應(yīng)器的電源插頭也做成了24芯的雙列插頭，稱“24芯ATX電源供應(yīng)器”。
經(jīng)過(guò)近十年的發(fā)展，為了滿足計(jì)算機(jī)的處理器、內(nèi)存、顯卡、以及主板芯片的工作時(shí)的高速度和高功耗的要求，英特爾推出了BTX(BalancedTechnology Extended，擴(kuò)展型平衡技術(shù))規(guī)范，因此，電源供應(yīng)器開(kāi)始走向BTX結(jié)構(gòu)。與ATX電源供應(yīng)器相比，BTX電源供應(yīng)器的輸出接口全面采用了24芯主供電接口以提供更為強(qiáng)勁的電力供應(yīng)。
由于電源供應(yīng)器擔(dān)負(fù)著為計(jì)算機(jī)主板提供電能的任務(wù)，所以電源供應(yīng)器品質(zhì)的好壞直接影響電腦的安全運(yùn)行及性能的充分發(fā)揮，在電源供應(yīng)器的生產(chǎn)制造中為了識(shí)別并消除不良品，對(duì)電源供應(yīng)器的老化測(cè)試是保證電源供應(yīng)器品質(zhì)的一個(gè)必不可少的環(huán)節(jié)。
電源供應(yīng)器的生產(chǎn)中，對(duì)其進(jìn)行老化測(cè)試一般將電源供應(yīng)器裝入電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱，在高于正常工作時(shí)的溫度下觀測(cè)待測(cè)電源供應(yīng)器能否正常運(yùn)行。所述電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱內(nèi)包括與待測(cè)電源供應(yīng)器相對(duì)應(yīng)的測(cè)試背板以及相應(yīng)的信號(hào)指示燈。將電源供應(yīng)器的連接端口與所述測(cè)試背板連接后接入模擬負(fù)載，并將箱內(nèi)溫度控制在一定的范圍之內(nèi)。
現(xiàn)有的電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱僅為早期的20芯ATX電源供應(yīng)器提供了測(cè)試背板，而該測(cè)試背板不適用于因特爾后來(lái)推出的BTX電源供應(yīng)器以及惠普公司推出的新型24芯的ATX電源供應(yīng)器，因此，有必要對(duì)現(xiàn)有電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱進(jìn)行改良，以滿足現(xiàn)行測(cè)試的需要同時(shí)適應(yīng)新技術(shù)的發(fā)展方向。

發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱，用以對(duì)多種類型電源供應(yīng)器進(jìn)行燒機(jī)測(cè)試。
一種電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱，包括若干測(cè)試層，若干測(cè)試背板，若干電子模擬功率負(fù)載以及一控制單元，所述測(cè)試層各包括若干電源供應(yīng)器安裝區(qū)，所述若干測(cè)試背板分別置于所述測(cè)試層上，并與所述若干電子模擬功率負(fù)載耦接形成電性通路，所述測(cè)試背板分別對(duì)應(yīng)連接待測(cè)電源供應(yīng)器，所述控制單元包括一溫度控制器和一交流電源通路，所述溫度控制器用以控制所述電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱內(nèi)的溫度，所述交流電源用于為電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試時(shí)提供電能，其特征在于所述測(cè)試背板包括至少兩種電源供應(yīng)器測(cè)試背板。
所述電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱有益效果在于能夠?yàn)槎喾N電源供應(yīng)器提供測(cè)試環(huán)境，滿足現(xiàn)行測(cè)試的需要。

下面參照附圖結(jié)合實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的描述。
圖1是本實(shí)用新型電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱的較佳實(shí)施例的立體示意圖。
圖2是本實(shí)用新型電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱的較佳實(shí)施例的測(cè)試層下表面示意圖。
圖3是本實(shí)用新型電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱較佳實(shí)施例內(nèi)適用于20芯ATX電源供應(yīng)器的測(cè)試背板示意圖。
圖4是本實(shí)用新型電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱較佳實(shí)施例內(nèi)適用于BTX電源供應(yīng)器的測(cè)試背板示意圖。
圖5是本實(shí)用新型電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱較佳實(shí)施例內(nèi)適用于24芯ATX電源供應(yīng)器的測(cè)試背板示意圖。
具體實(shí)施方式請(qǐng)參閱圖1以及圖2，本實(shí)用新型電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱較佳實(shí)施例包括第一組測(cè)試層100、第二組測(cè)試層200以及第三組測(cè)試層300，第一組測(cè)試背板110、第二組測(cè)試背板210以及第三組測(cè)試背板310，若干電子模擬功率負(fù)載400、一控制單元500以及一箱門(圖未示)。
所述第一組測(cè)試層100、第二組測(cè)試層200以及第三組測(cè)試層300均具有兩個(gè)層面，各層面均包括一上表面10和一下表面20。所述各上表面10均具有電源供應(yīng)器安裝區(qū)120、220以及320，且所述第一組測(cè)試層100、第二組測(cè)試層200以及第三組測(cè)試層300的上表面10上分別相應(yīng)的設(shè)有第一組測(cè)試背板110、第二組測(cè)試背板210以及第三組測(cè)試背板310。
所述第一組測(cè)試背板110為20芯ATX電源供應(yīng)器測(cè)試背板如圖3所示，其裝設(shè)于所述第一組測(cè)試層100上。所述第一組測(cè)試背板110包括若干不同類型的電源接口111～116、若干電源指示燈117以及一電源開(kāi)關(guān)118。所述電源接口111～116分別用于與所述20芯ATX電源供應(yīng)器的相應(yīng)電源插座連接，其中，所述電源接口111為一20針腳插頭，所述電源接口112為一方形4針腳插頭，所述電源接口113為一6針腳插頭，所述電源接口114為一小型4針腳長(zhǎng)形插頭，所述電源接口115為一15針腳SATA插頭，所述電源接口116為一大型4針腳長(zhǎng)形插頭。
所述電源指示燈117分別與各電源接口連接，可分別指示出對(duì)應(yīng)電源電壓是否導(dǎo)通。
所述電源開(kāi)關(guān)118用于控制所述第一組測(cè)試背板110中電性連接的通與斷。
所述第二組測(cè)試背板210為BTX電源供應(yīng)器測(cè)試背板如圖4所示，其裝設(shè)于所述測(cè)試層200上。所述第二組測(cè)試背板210包括若干不同類型的電源接口211～216、若干電源指示燈217以及一電源開(kāi)關(guān)218。所述電源接口211～216分別用于與所述BTX電源供應(yīng)器的相應(yīng)電源插座連接。其中，所述電源接口211為一24針腳插頭，所述電源接口212為一方形4針腳插頭，所述電源接口213為一6針腳插頭，所述電源接口214為一小型4針腳長(zhǎng)形插頭，所述電源接口215為一15針腳SATA插頭，所述電源接口216為一大型4針腳長(zhǎng)形插頭。
所述電源指示燈217分別與各電源接口連接，可分別指示出對(duì)應(yīng)電源電壓是否導(dǎo)通。
所述電源開(kāi)關(guān)218用于控制所述第二組測(cè)試背板210中電性連接的通與斷。
所述第三組測(cè)試背板310為24芯ATX電源供應(yīng)器測(cè)試背板如圖5所示，其裝設(shè)于所述測(cè)試層300上。所述第三組測(cè)試背板310包括若干不同類型的電源接口311～316、若干電源指示燈317以及一電源開(kāi)關(guān)318。所述電源接口311～316分別用于與所述BTX電源供應(yīng)器的相應(yīng)電源插座連接。其中，所述電源接口311為一24針腳插頭，所述電源接口312為一4針腳方形插頭，所述電源接口313為一6針腳插頭，所述電源接口314為一小型4針腳長(zhǎng)形插頭，所述電源接口315為一15針腳SATA插頭，所述電源接口316為一大型4針腳長(zhǎng)形插頭。
所述電源指示燈317分別與各電源接口連接，可分別指示出對(duì)應(yīng)電源電壓是否導(dǎo)通。
所述電源開(kāi)關(guān)318用于控制所述第三組測(cè)試背板310中電性連接的通與斷。
所述電子模擬功率負(fù)載400裝設(shè)于所述各組測(cè)試層100、200、300中各層的下表面20，所述各電子模擬功率負(fù)載400分別與所述測(cè)試背板110、210、310電連接。
所述控制單元500設(shè)于所述電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱的一側(cè)，其包括一安培表510、一伏特表520、一溫度控制器530以及若干電源指示燈540，所述控制單元500內(nèi)設(shè)有交流電源通路，用于測(cè)試時(shí)給所述電源供應(yīng)器提供電能。
進(jìn)行電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試時(shí)，將若干待測(cè)的20芯ATX電源供應(yīng)器分別安裝于所述第一組測(cè)試層100的各電源供應(yīng)器安裝區(qū)120，將若干待測(cè)的BTX電源供應(yīng)器分別安裝于所述第二組測(cè)試層200的各電源供應(yīng)器安裝區(qū)220，將若干待測(cè)的24芯ATX電源供應(yīng)器分別安裝于所述第三組測(cè)試層300的各電源供應(yīng)器安裝區(qū)320。將所述電源供應(yīng)器與所述第一組測(cè)試背板110、第二組測(cè)試背板210、第三組測(cè)試背板310分別對(duì)應(yīng)電連接，并與所述電子模擬功率負(fù)載400電性連接。將所述電源供應(yīng)器接入所述控制單元500內(nèi)的交流電源通路。然后關(guān)閉所述測(cè)試箱箱門并開(kāi)啟電源，調(diào)節(jié)所述溫度控制器530使所述電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱內(nèi)的溫度在42～48攝氏度的范圍內(nèi)，即可進(jìn)行電源供應(yīng)器的燒機(jī)測(cè)試，此時(shí)所述安培表510和所述伏特表520分別顯示工作時(shí)的電流和電壓值，所述電源指示燈540分別顯示各層的連接狀況。
運(yùn)用所述電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱消除了電源供應(yīng)器多種類型與單一類型的測(cè)試背板之間的矛盾，并能夠?yàn)槎喾N電源供應(yīng)器提供測(cè)試環(huán)境，滿足現(xiàn)行測(cè)試的需要。
權(quán)利要求1.一種電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱，包括若干測(cè)試層，若干測(cè)試背板，若干電子模擬功率負(fù)載以及一控制單元，所述測(cè)試層各包括若干電源供應(yīng)器安裝區(qū)，所述若干測(cè)試背板分別置于所述測(cè)試層上，并與所述若干電子模擬功率負(fù)載耦接形成電性通路，所述測(cè)試背板分別對(duì)應(yīng)連接待測(cè)電源供應(yīng)器，所述控制單元包括一溫度控制器和一交流電源通路，所述溫度控制器用以控制所述電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱內(nèi)的溫度，所述交流電源用于為電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試時(shí)提供電能，其特征在于所述測(cè)試背板包括至少兩種電源供應(yīng)器測(cè)試背板。
2.如權(quán)利要求1所述的電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱，其特征在于所述測(cè)試背板還包括二十芯ATX電源供應(yīng)器測(cè)試背板、BTX電源供應(yīng)器測(cè)試背板及二十四芯ATX電源供應(yīng)器測(cè)試背板中至少兩種。
3.如權(quán)利要求1或2所述的電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱，其特征在于所述測(cè)試背板上設(shè)有電源指示燈，所述電源指示燈分別與各電源接口連接，可分別指示出對(duì)應(yīng)電源電壓是否導(dǎo)通。
4.如權(quán)利要求2所述的電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱，其特征在于所述二十芯ATX電源供應(yīng)器測(cè)試背板包括一個(gè)二十針腳插頭，一個(gè)四針腳方形插頭，一個(gè)六針腳插頭，兩個(gè)小型四針腳長(zhǎng)形插頭，一個(gè)十五針腳SATA插頭，及四個(gè)大型四針腳長(zhǎng)形插頭。
5.如權(quán)利要求1所述的電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱，其特征在于所述二十四芯ATX電源供應(yīng)器測(cè)試背板包括一個(gè)二十四針腳插頭，一個(gè)四針腳方形插頭，一個(gè)六針腳插頭，兩個(gè)小型四針腳長(zhǎng)形插頭，四個(gè)十五針腳SATA插頭，及六個(gè)大型四針腳長(zhǎng)形插頭。
6.如權(quán)利要求1所述的電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱，其特征在于所述BTX電源供應(yīng)器測(cè)試背板包括一個(gè)二十四針腳插頭，一個(gè)四針腳方形插頭，一個(gè)六針腳插頭，兩個(gè)小型四針腳長(zhǎng)形插頭，兩個(gè)十五針腳SATA插頭，及五個(gè)大型四針腳長(zhǎng)形插頭。
7.如權(quán)利要求1所述的電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱，其特征在于所述若干測(cè)試層分為三組，每組具有兩個(gè)測(cè)試層面。
專利摘要一種電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱，包括若干測(cè)試層，若干測(cè)試背板，若干電子模擬功率負(fù)載以及一控制單元，所述測(cè)試層各包括若干電源供應(yīng)器安裝區(qū)，所述若干測(cè)試背板分別置于所述測(cè)試層上，并與所述若干電子模擬功率負(fù)載耦接形成電性通路，所述測(cè)試背板分別對(duì)應(yīng)連接待測(cè)電源供應(yīng)器，所述控制單元包括一溫度控制器和一交流電源通路，所述溫度控制器用以控制所述電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試箱內(nèi)的溫度，所述交流電源用于為電源供應(yīng)器燒機(jī)測(cè)試時(shí)提供電能，其中所述測(cè)試背板包括至少兩種電源供應(yīng)器測(cè)試背板。
文檔編號(hào)G12B9/00GK2874518SQ20052013593
公開(kāi)日2007年2月28日 申請(qǐng)日期2005年10月28日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月28日
發(fā)明者肖人軍 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司