促進(jìn)多個時分雙工(tdd)數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器的測試的方法
【專利說明】
【背景技術(shù)】
[0001]本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器的測試，并且具體地講，涉及用于多個此類裝置的并行測試的系統(tǒng)和方法。
[0002]許多當(dāng)前電子裝置使用無線技術(shù)以用于連接和通信目的。因?yàn)闊o線裝置發(fā)射和接收電磁能量，并且因?yàn)閮蓚€或更多個無線裝置在因其信號頻率和功率譜密度而具有干擾彼此操作的可能性，所以這些裝置及其無線技術(shù)必須遵守各種無線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范。
[0003]當(dāng)設(shè)計此類裝置時，工程師需特別注意確保此類裝置滿足或超過其基于所包括的無線技術(shù)所規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)范中的每一個。此外，當(dāng)稍后大批量制造這些裝置時，需要對這些裝置進(jìn)行測試，確保制造缺陷不會造成不當(dāng)操作，其中包括測試裝置是否遵守基于所包括的無線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)范。
[0004]對于在制造和組裝之后測試這些裝置的情形，當(dāng)前無線裝置測試系統(tǒng)采用子系統(tǒng)來分析從每個裝置接收的信號。此類子系統(tǒng)通常至少包括用于分析由裝置產(chǎn)生的信號的矢量信號分析器(VSA)和用于生成將由裝置接收的信號的矢量信號生成器(VSG)。由VSA執(zhí)行的分析和由VSG生成的信號通常為可編程的，以便使得每一者都可用于測試多種裝置是否遵守具有不同頻率范圍、帶寬和信號調(diào)制特性的多種無線技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
[0005]在被測試的無線技術(shù)當(dāng)中，存在裝置的發(fā)射器和接收器以相同頻率操作的無線技術(shù)。一個此類操作是時分雙工(TDD)，其中一個已知的越來越常見的例子為藍(lán)牙。當(dāng)對采用TDD技術(shù)的兩個或更多個此類裝置執(zhí)行同時測試時，在測試期間可能會由于裝置的開始時間的變化而導(dǎo)致錯誤。例如，在一種情形中，一個或多個裝置可與另一個待測裝置(DUT)生成的響應(yīng)數(shù)據(jù)包同步，而非對測試儀(例如，VSG)生成的預(yù)期測試數(shù)據(jù)包作出響應(yīng)。因而，變得與錯誤信號同步的DUT將保持這樣，并且因此產(chǎn)生錯誤或無效的測試結(jié)果。
[0006]因此，如果用于同步多個TDD DUT的方法可避免此類不當(dāng)同步情形，則將有利地減少錯誤裝置同步和測試時間，并且從而在每個裝置的基礎(chǔ)上減少總測試成本。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]根據(jù)受權(quán)利要求書保護(hù)的本發(fā)明，提供一種用于促進(jìn)多個時分雙工(TDD)數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器的測試的方法和系統(tǒng)。由測試儀向多個TDD待測裝置(DUT)發(fā)射復(fù)制的數(shù)據(jù)包信號，其中復(fù)制信號為空數(shù)據(jù)包信號或TDD數(shù)據(jù)包信號。在一個實(shí)施例中，以足以使DUT與測試儀同步的預(yù)定時間間隔發(fā)射復(fù)制空數(shù)據(jù)包信號。在另一個實(shí)施例中，在成功接收和未成功接收來自相應(yīng)DUT的響應(yīng)信號(其中響應(yīng)信號指示相應(yīng)復(fù)制TDD數(shù)據(jù)包信號的成功接收)并且因此與測試儀同步之后，提供對應(yīng)復(fù)制TDD數(shù)據(jù)包信號，并且其數(shù)據(jù)包信號特性致使此類復(fù)制數(shù)據(jù)包信號分別未能符合或能夠符合預(yù)定數(shù)據(jù)包信號標(biāo)準(zhǔn)。在同步之后，可在測試儀與DUT之間交換測試數(shù)據(jù)包信號和響應(yīng)數(shù)據(jù)包信號。
[0008]根據(jù)受權(quán)利要求書保護(hù)的本發(fā)明的示例性實(shí)施例，一種促進(jìn)多個時分雙工(TDD)數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器的測試的方法包括:
[0009]為多個TDD數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器提供多個傳出數(shù)據(jù)包信號，其中所述多個傳出數(shù)據(jù)包信號中的每一個對應(yīng)于包括以下至少一個的共用數(shù)據(jù)包信號：
[0010] 空數(shù)據(jù)包信號，以及
[0011 ] 具有數(shù)據(jù)包信號特性的TDD數(shù)據(jù)包信號；
[0012]當(dāng)所述共用數(shù)據(jù)包信號包括空數(shù)據(jù)包信號時，以預(yù)定時間間隔繼續(xù)提供所述多個傳出數(shù)據(jù)包信號；并且
[0013]當(dāng)所述共用數(shù)據(jù)包信號包括TDD數(shù)據(jù)包信號時，通過提供所述多個傳出數(shù)據(jù)包信號中的一個或多個，對來自所述多個TDD數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器的多個響應(yīng)信號中的相應(yīng)一個的成功接收和不成功接收作出響應(yīng)，其中
[0014]所述多個響應(yīng)信號中的每一個都指示所述多個TDD數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器中的對應(yīng)一個對有效數(shù)據(jù)包的成功接收，并且
[0015]在成功接收來自所述多個TDD數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器中的對應(yīng)一個的所述多個響應(yīng)信號之一之后，所述多個傳出數(shù)據(jù)包信號中的對應(yīng)一個提供有所述數(shù)據(jù)包信號特性，使得所述多個傳出數(shù)據(jù)包信號中的所述對應(yīng)一個未能符合預(yù)定數(shù)據(jù)包信號標(biāo)準(zhǔn)，并且
[0016]在未成功接收來自所述多個TDD數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器中的對應(yīng)一個的所述多個響應(yīng)信號之一之后，所述多個傳出數(shù)據(jù)包信號中的對應(yīng)一個提供有所述數(shù)據(jù)包信號特性，使得所述多個發(fā)出數(shù)據(jù)包信號中的所述對應(yīng)一個符合所述預(yù)定數(shù)據(jù)包信號標(biāo)準(zhǔn)。
【附圖說明】
[0017]圖I描繪了用于并行測試多個DUT的常規(guī)測試環(huán)境。
[0018]圖2描繪了根據(jù)受權(quán)利要求書保護(hù)的本發(fā)明的一個示例性實(shí)施例的用于并行測試多個DUT的測試環(huán)境。
[0019]圖3描繪了根據(jù)受權(quán)利要求書保護(hù)的本發(fā)明的另一個示例性實(shí)施例的用于并行測試多個DUT的測試環(huán)境。
[0020]圖4描繪了根據(jù)受權(quán)利要求書保護(hù)的本發(fā)明的另一個示例性實(shí)施例的用于并行測試多個DUT的測試環(huán)境。
[0021]圖5描繪了根據(jù)受權(quán)利要求書保護(hù)的本發(fā)明的另一個示例性實(shí)施例的用于并行測試多個DUT的測試環(huán)境。
[0022]圖6描繪了圖4和圖5的信號特性控制電路的一個示例性實(shí)施例。
[0023]圖7描繪了圖4和圖5的信號特性控制電路的另一個示例性實(shí)施例。
[0024]圖8描繪了圖4和圖5的信號特性控制電路的另一個示例性實(shí)施例。
[0025]圖9描繪了根據(jù)受權(quán)利要求書保護(hù)的本發(fā)明的一個示例性實(shí)施例的用于向DUT傳輸測試信號以及從DUT傳輸確認(rèn)信號的電路。
【具體實(shí)施方式】
[0026]以下【具體實(shí)施方式】是結(jié)合附圖的受權(quán)利要求書保護(hù)的本發(fā)明的示例性實(shí)施例。相對于本發(fā)明的范圍，此類描述旨在進(jìn)行示例而非加以限制。對此類實(shí)施例加以詳盡的描述，使得本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以實(shí)施該主題發(fā)明，并且應(yīng)當(dāng)理解，在不脫離本主題發(fā)明的精神或范圍的前提下，可以實(shí)施具有一些變化的其他實(shí)施例。
[0027]在本發(fā)明全文中，在沒有明確指示與上下文相反的情況下，應(yīng)當(dāng)理解，所述單獨(dú)的電路元件可以是單數(shù)或復(fù)數(shù)。例如，術(shù)語“電路”可以包括單個部件或多個部件，所述部件為有源和/或無源，并且連接或換句話講耦合到一起（如成為一個或多個集成電路芯片），以提供所述功能。另外，術(shù)語“信號”可指一個或多個電流、一個或多個電壓、或數(shù)據(jù)信號。在圖中，相似或相關(guān)的元件將具有相似或相關(guān)的字母、數(shù)字或數(shù)字字母混合的指示。此外，雖然在具體實(shí)施的上下文中已討論了本發(fā)明使用分立的電子電路（優(yōu)選地為一個或多個集成電路芯片形式），但作為另一種選擇，根據(jù)待處理的信號頻率或數(shù)據(jù)速率，此類電路的任何部分的功能可使用一個或多個適當(dāng)編程的處理器進(jìn)行具體實(shí)施。此外，就示出各種實(shí)施例的功能區(qū)塊的示意圖的圖示來說，所述功能區(qū)塊未必表示硬件電路之間的分區(qū)。
[0028]根據(jù)受權(quán)利要求書保護(hù)的本發(fā)明的示例性實(shí)施例，提供一種用于在避免不當(dāng)測試儀與DUT同步的同時測試多個TDD裝置的方法。在一個示例性實(shí)施例中，使用能夠同時復(fù)制VSG信號以發(fā)送到多個TDD裝置的測試系統(tǒng)或測試儀，以及用于使用單個VSA從多個TDD裝置接收響應(yīng)信號的解復(fù)用子系統(tǒng)，VSG向多個TDD裝置發(fā)送多組空數(shù)據(jù)包，直到預(yù)定同步時間間隔已經(jīng)過去為止。這個同步時間間隔被選擇來允許正確操作TDD裝置，使其準(zhǔn)備好測試。一旦這個同步時間間隔已經(jīng)過去，測試儀就可開始向裝置發(fā)送多組預(yù)定義測試數(shù)據(jù)包并且開始從裝置接收響應(yīng)數(shù)據(jù)包，或另選地，TDD裝置可開始向測試儀發(fā)送多組預(yù)定義測試數(shù)據(jù)包并且從測試儀接收響應(yīng)數(shù)據(jù)包。
[0029]在另一個示例性實(shí)施例中，測試儀復(fù)制VSG信號以供同時發(fā)射到多個TDD裝置，并且賦予信號特性控制，使得可損壞個別數(shù)據(jù)包信號以便使其不能夠由其對應(yīng)TDD裝置接收，例如，通過將復(fù)制VSG信號的功率電平減小到低于閾值電平。此外，還包括復(fù)用子系統(tǒng)，其用于從多個TDD裝置接收響應(yīng)信號以供傳輸?shù)綔y試儀的VSA，并且用于檢測來自裝置的空數(shù)據(jù)包的接收，并與信號特性控制子系統(tǒng)通信，以控制相應(yīng)復(fù)制VSG信號的功率電平。
[0030]如下文較詳細(xì)的論述，測試儀向多個TDD裝置發(fā)送一組復(fù)制預(yù)定義同步數(shù)據(jù)包。準(zhǔn)備好接收此類數(shù)據(jù)包的那些裝置通過返回空數(shù)據(jù)包來作出響應(yīng)。測試儀檢測哪些裝置已經(jīng)返回此類空數(shù)據(jù)包，并且將返回和未返回的空數(shù)據(jù)包的狀態(tài)傳送到信號特性控制子系統(tǒng)。因此，像之前那樣將后續(xù)的多組預(yù)定義同步數(shù)據(jù)包發(fā)送到TDD裝置，但損壞被發(fā)送到已通過返回空數(shù)據(jù)包來確認(rèn)其準(zhǔn)備就緒進(jìn)行測試的TDD裝置的那些同步數(shù)據(jù)包（例如，通過在起始數(shù)據(jù)包發(fā)射之后并且在終止數(shù)據(jù)包發(fā)射之前顯著減小信號功率）。同時，根據(jù)適用信號標(biāo)準(zhǔn)發(fā)射發(fā)送到尚未通過發(fā)