本公開(kāi)涉及終端技術(shù)，特別涉及一種終端的測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

隨著用戶(hù)需求的不斷提升，以及，移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)的興起，終端成為用戶(hù)生活中必不可少的日常工具。用戶(hù)可以使用終端撥打電話、發(fā)送短信、上網(wǎng)、拍照、定位等。

目前，終端生產(chǎn)商在將所生產(chǎn)的終端出廠之前，都會(huì)投入很多的測(cè)試人員對(duì)終端的功能進(jìn)行測(cè)試，以確保出廠的終端功能正常。例如：在測(cè)試終端的客戶(hù)識(shí)別模塊(subscriberidentificationmodule，sim)卡功能時(shí)，測(cè)試人員需要將sim卡安裝在終端的卡托上，然后將sim卡托插入終端的卡槽，以測(cè)試終端的sim卡功能是否正常。當(dāng)終端設(shè)置的是采用取卡針取卡的卡托時(shí)，測(cè)試人員在測(cè)試完終端的sim卡功能之后，還需要借助取卡針將sim卡從終端中取出，使得測(cè)試效率較低，測(cè)試成本較高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

為克服相關(guān)技術(shù)中存在的問(wèn)題，本公開(kāi)提供一種終端的測(cè)試裝置。技術(shù)方案如下：

根據(jù)本公開(kāi)實(shí)施例的第一方面，提供一種終端的測(cè)試裝置，包括：印刷電路板pcb，設(shè)置在所述pcb上的第一卡托、用于安裝客戶(hù)識(shí)別模塊sim卡的至少一個(gè)第一卡座；其中，

所述第一卡托與所述至少一個(gè)第一卡座電連接，所述第一卡托上設(shè)置有至少一個(gè)第一電連接端，在所述第一卡托插入終端的卡槽時(shí)，所述終端通過(guò)所述至少一個(gè)第一電連接端，讀取安裝在每個(gè)所述第一卡座上的sim卡。

本公開(kāi)的實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果：通過(guò)測(cè)試裝置上的第一卡托和第一卡座，可以將待測(cè)試終端的卡槽的內(nèi)部sim卡卡座上用于讀取sim卡的pin針引至終端的外部，以使得測(cè)試人員將測(cè)試裝置的第一卡托插入終端的卡槽中時(shí)，可以模擬在終端的卡槽中插入sim卡的場(chǎng)景，從而可以對(duì)終端的sim卡功能進(jìn)行測(cè)試。由于測(cè)試人員在完成終端的sim功能的測(cè)試后，可以直接將測(cè)試裝置從終端的卡槽中拔出，不需要借助任何的工具，因此，能夠提高測(cè)試終端的sim卡功能的測(cè)試效率，進(jìn)而能夠提高測(cè)試成本提高了測(cè)試效率，進(jìn)而能夠減少測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試成本。進(jìn)一步地，當(dāng)測(cè)試人員在使用上述測(cè)試裝置，對(duì)同一型號(hào)的多個(gè)終端的sim卡功能進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試人員只需要將上述測(cè)試裝置分別插入每個(gè)終端的卡槽即可，不需要對(duì)每個(gè)終端進(jìn)行插卡和取卡的操作，可以大幅度的提高測(cè)試效率，進(jìn)一步地降低了測(cè)試成本。

可選的，每個(gè)所述第一卡座設(shè)置有至少一個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)。

本公開(kāi)的實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果：在將測(cè)試裝置的第一卡托插入終端的卡槽時(shí)，可以通過(guò)檢測(cè)測(cè)試裝置上的第一卡座上的第一測(cè)試點(diǎn)，來(lái)確定終端卡槽中sim卡座的pin針是否損壞，提高檢測(cè)終端卡槽中的sim卡卡座的pin針是否損壞的效率，進(jìn)一步地減少了測(cè)試時(shí)間，降低了測(cè)試成本。

可選的，所述卡槽為sim卡和快閃存儲(chǔ)tf卡共用的卡槽，所述測(cè)試裝置還包括：設(shè)置在所述pcb上用于安裝tf卡的第二卡座；

所述第一卡托與所述第二卡座電連接，所述第一卡托上設(shè)置有第二電連接端，在所述第一卡托插入所述卡槽時(shí)，所述終端通過(guò)所述第二電連接端，讀取安裝在所述第二卡座上的tf卡。

本公開(kāi)的實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果：通過(guò)測(cè)試裝置上的第一卡托和第二卡座，可以將待測(cè)試終端的卡槽的內(nèi)部集成卡座上用于讀取tf卡的pin針引至終端的外部，以使得測(cè)試人員將測(cè)試裝置的第一卡托插入終端的卡槽中時(shí)，可以模擬在終端的卡槽中插入tf卡的場(chǎng)景，從而可以對(duì)終端的tf功能進(jìn)行測(cè)試。由于測(cè)試人員在完成終端的tf功能的測(cè)試后，可以直接將測(cè)試裝置從終端的卡槽中拔出，不需要借助任何的工具，因此，能夠提高測(cè)試終端的tf功能的測(cè)試效率，進(jìn)而能夠提高測(cè)試成本提高了測(cè)試效率，進(jìn)而能夠減少測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試成本。進(jìn)一步地，當(dāng)測(cè)試人員在使用上述測(cè)試裝置，對(duì)同一型號(hào)的多個(gè)終端的tf功能進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試人員只需要將上述測(cè)試裝置分別插入每個(gè)終端的卡槽即可，不需要對(duì)每個(gè)終端進(jìn)行插卡和取卡的操作，可以大幅度的提高測(cè)試效率，進(jìn)一步地降低了測(cè)試成本。

可選的，所述第二卡座設(shè)置有至少一個(gè)第二測(cè)試點(diǎn)。

本公開(kāi)的實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果：在將測(cè)試裝置的第一卡托插入終端的卡槽時(shí)，可以通過(guò)檢測(cè)測(cè)試裝置上的第二卡座上的第二測(cè)試點(diǎn)，來(lái)確定終端卡槽中卡座用于讀取tf卡的pin針是否損壞，提高檢測(cè)終端卡槽中的pin針是否損壞的效率，進(jìn)一步地減少了測(cè)試時(shí)間，降低了測(cè)試成本。

可選的，所述裝置還包括：設(shè)置在所述pcb上的通用串行總線usb接口、otg模塊、用于安裝快閃存儲(chǔ)tf卡的第三卡座；

所述otg模塊分別與所述usb接口和所述第三卡座電連接，在所述usb接口插入所述終端的usb接口時(shí)，所述otg模塊根據(jù)所述終端的讀寫(xiě)指令，向安裝在所述第三卡座上的tf卡執(zhí)行讀寫(xiě)操作。

本公開(kāi)的實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果：通過(guò)測(cè)試裝置上的usb接口、otg模塊和第三卡座，可以使測(cè)試人員將測(cè)試裝置的usb接口插入終端的接口后，即可對(duì)終端的otg功能進(jìn)行測(cè)試，不需要再單獨(dú)準(zhǔn)備otg轉(zhuǎn)接線和otg工具，提高了測(cè)試效率，減少了測(cè)試時(shí)間，進(jìn)而降低了測(cè)試成本。

可選的，所述裝置還包括：設(shè)置在所述pcb上的指示燈，所述指示燈與所述otg模塊電連接。

本公開(kāi)的實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果：通過(guò)設(shè)置指示燈，可以在終端的otg功能測(cè)試不合格時(shí)，通過(guò)指示燈是否點(diǎn)亮判斷otg功能不合格的原因是否由于未能向tf卡供電所導(dǎo)致的，進(jìn)一步提高了測(cè)試效率。

可選的，設(shè)置在所述pcb上的usb接口為usb公口。

可選的，所述pcb上的usb接口設(shè)置有至少一個(gè)第三測(cè)試點(diǎn)。

本公開(kāi)的實(shí)施例提供的技術(shù)方案可以包括以下有益效果：在將測(cè)試裝置的usb接口插入終端的usb接口時(shí)，可以通過(guò)檢測(cè)測(cè)試裝置上的usb接口上的第三測(cè)試點(diǎn)，來(lái)確定終端的usb接口的pin針是否損壞，提高檢測(cè)終端的usb接口的pin針是否損壞的效率，進(jìn)一步地減少了測(cè)試時(shí)間，降低了測(cè)試成本。

可選的，在所述終端的卡槽為兩個(gè)sim卡共用的卡槽時(shí)，所述pcb上設(shè)置有兩個(gè)第一卡座；

所述第一卡托與所述兩個(gè)第一卡座電連接，所述第一卡托上設(shè)置有兩個(gè)第一電連接端，在所述第一卡托插入終端的卡槽時(shí)，所述終端通過(guò)所述兩個(gè)第一電連接端，讀取安裝在所述兩個(gè)第一卡座上的sim卡。

應(yīng)當(dāng)理解的是，以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的，并不能限制本公開(kāi)。

附圖說(shuō)明

此處的附圖被并入說(shuō)明書(shū)中并構(gòu)成本說(shuō)明書(shū)的一部分，示出了符合本公開(kāi)的實(shí)施例，并與說(shuō)明書(shū)一起用于解釋本公開(kāi)的原理。

圖1是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種終端的測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種終端的測(cè)試裝置第一面的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種終端的測(cè)試裝置第二面的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種第一卡座sim1的電路示意圖；

圖5是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種第一卡座sim2的電路示意圖；

圖6是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種第一卡托j1的的電路示意圖；

圖7是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種第二卡座j3的電路示意圖；

圖8是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種第三卡座j2的電路示意圖；

圖9是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種usb接口j4的電路示意圖；

圖10是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種otg模塊u1的電路示意圖；

圖11是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種指示燈d1的電路示意圖。

通過(guò)上述附圖，已示出本公開(kāi)明確的實(shí)施例，后文中將有更詳細(xì)的描述。這些附圖和文字描述并不是為了通過(guò)任何方式限制本公開(kāi)構(gòu)思的范圍，而是通過(guò)參考特定實(shí)施例為本領(lǐng)域技術(shù)人員說(shuō)明本公開(kāi)的概念。

具體實(shí)施方式

這里將詳細(xì)地對(duì)示例性實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明，其示例表示在附圖中。下面的描述涉及附圖時(shí)，除非另有表示，不同附圖中的相同數(shù)字表示相同或相似的要素。以下示例性實(shí)施例中所描述的實(shí)施方式并不代表與本公開(kāi)相一致的所有實(shí)施方式。相反，它們僅是與如所附權(quán)利要求書(shū)中所詳述的、本公開(kāi)的一些方面相一致的裝置和方法的例子。

下面以具體地實(shí)施例對(duì)本公開(kāi)的技術(shù)方案進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。下面這幾個(gè)具體的實(shí)施例可以相互結(jié)合，對(duì)于相同或相似的概念或過(guò)程可能在某些實(shí)施例不再贅述。

圖1是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種終端的測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種終端的測(cè)試裝置第一面的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種終端的測(cè)試裝置第一面的結(jié)構(gòu)示意圖。當(dāng)?shù)谝幻鏋榻K端的測(cè)試裝置的正面時(shí)，第二面即為終端的測(cè)試裝置的背面，當(dāng)?shù)谝幻鏋榻K端的測(cè)試裝置的背面時(shí)，第二面即為終端的測(cè)試裝置的正面。

如圖1至圖3所示，該終端的測(cè)試裝置(簡(jiǎn)稱(chēng)：測(cè)試裝置)包括：印刷電路板(printedcircuitboard，pcb)，設(shè)置在pcb上的、且與終端的卡槽適配的第一卡托、用于安裝sim卡的至少一個(gè)第一卡座。

其中，第一卡托與至少一個(gè)第一卡座電連接，第一卡托上設(shè)置有至少一個(gè)第一電連接端，在第一卡托插入終端的卡槽時(shí)，終端通過(guò)至少一個(gè)第一電連接端，讀取安裝在每個(gè)第一卡座上的sim卡。

在本實(shí)施例中，上述測(cè)試裝置可以用于測(cè)試終端的sim卡功能。其中，第一電連接端的結(jié)構(gòu)具體可以根據(jù)卡槽中sim卡卡座的pin針的排列方式確定。第一電連接端在第一卡托上的位置具體可以根據(jù)卡槽中sim卡卡座的pin針在卡槽中的位置確定。第一電連接端的數(shù)量，以及第一卡座的數(shù)量，具體可以根據(jù)卡槽中sim卡卡座的數(shù)量確定。在本實(shí)施例中，第一卡座與卡槽中sim卡卡座的結(jié)構(gòu)可以一致。

例如，當(dāng)終端的卡槽中只有一個(gè)sim卡卡座時(shí)，上述測(cè)試裝置的pcb上可以設(shè)置有一個(gè)第一卡座。該第一卡座可以與第一卡托電連接。相應(yīng)地，上述第一卡托上可以設(shè)置有一個(gè)與該sim卡卡座的pin針適配的第一電連接端。在第一卡托插入終端的卡槽時(shí)，該sim卡卡座的pin針通過(guò)該第一電連接端與第一卡座電連接。因此，終端可以讀取安裝在該第一卡座上的sim卡。此時(shí)，第一卡座上安裝的sim卡具體可以根據(jù)卡槽中的sim卡卡座支持的sim卡確定。示例性的，在卡槽中的sim卡卡座支持微型(micro)sim卡時(shí)，第一卡座上安裝的是microsim卡。在卡槽中的sim卡卡座支持納米技術(shù)(nano)sim卡時(shí)，第一卡座上安裝的是nanosim卡。

當(dāng)終端的卡槽中具有兩個(gè)sim卡卡座時(shí)，即終端的卡槽為兩個(gè)sim卡共用的卡槽時(shí)，上述測(cè)試裝置的pcb上可以設(shè)置有兩個(gè)第一卡座。該兩個(gè)第一卡座均可以與第一卡托電連接。其中，第一卡托上可以設(shè)置有兩個(gè)第一電連接端，每個(gè)第一電連接端對(duì)應(yīng)一個(gè)第一卡座、且每個(gè)第一電連接端與卡槽中一個(gè)sim卡卡座的pin針對(duì)應(yīng)。即，終端的卡槽中某一sim卡卡座的pin針通過(guò)與其對(duì)應(yīng)的第一電連接端，與其對(duì)應(yīng)的第一卡座電連接。

相應(yīng)地，每個(gè)第一卡座上安裝的sim卡可以根據(jù)卡槽中該位置的sim卡卡座的所允許安裝的sim卡確定。示例性的，以終端的卡槽中具有兩個(gè)sim卡卡座，分別為sim卡卡座1和sim卡卡座2，其中，sim卡卡座1允許插入sim卡1，sim卡卡座2允許插入sim卡2為例，測(cè)試裝置的pcb上設(shè)置有第一卡座1和第一卡座2，其中，第一卡托上設(shè)置有第一電連接端1和第一電連接端2。第一電連接端1與卡槽中sim卡卡座1的pin針對(duì)應(yīng)，用于將sim卡卡座1的pin針與第一卡座1電連通，第一電連接端2與卡槽中sim卡卡座2的pin針對(duì)應(yīng)，用于將sim卡卡座2的pin針與第一卡座2連通。即，終端的卡槽中sim卡卡座1的pin針通過(guò)與其對(duì)應(yīng)的第一電連接端1，與第一卡座1電連接，終端的卡槽中sim卡卡座2的pin針通過(guò)與其對(duì)應(yīng)的第一電連接端2，與第一卡座2電連接。因此，上述第一卡座1對(duì)應(yīng)sim卡1、第一卡座2對(duì)應(yīng)sim卡2。

在該場(chǎng)景下，當(dāng)sim卡1和sim卡2均為microsim卡時(shí)，第一卡座1和第一卡座2上安裝的均是microsim卡。當(dāng)sim卡1為microsim卡、sim卡2為nanosim時(shí)，第一卡座1上安裝的是microsim卡、第一卡座2上安裝的是nanosim卡。當(dāng)sim卡1為nanosim卡、sim卡2為microsim時(shí)，第一卡座1上安裝的是nanosim卡、第一卡座2上安裝的是microsim卡。

這樣，在第一卡托插入終端的卡槽時(shí)，終端可以通過(guò)兩個(gè)第一電連接端，讀取安裝在兩個(gè)第一卡座上的sim卡。即，終端通過(guò)每個(gè)第一電連接端，讀取安裝在該第一電連接端對(duì)應(yīng)的第一卡座上的sim卡。

也就是說(shuō)，上述測(cè)試裝置通過(guò)第一卡托和第一卡座，可以將待測(cè)試終端的卡槽的內(nèi)部sim卡卡座上用于讀取sim卡的pin針引至終端的外部。因此，在本實(shí)施例中，測(cè)試人員在測(cè)試終端的sim卡功能時(shí)，測(cè)試人員可以根據(jù)終端的卡槽中每個(gè)位置所允許安裝的sim卡，確定與該位置對(duì)應(yīng)的第一卡座上適配的sim卡，并在該第一卡座上安裝該適配的sim卡。同時(shí)，測(cè)試人員可以將待測(cè)試的終端的原裝卡托從卡槽中取出，并將上述測(cè)試裝置的第一卡托插入終端的卡槽中，以模擬在終端的卡槽中插入sim卡的場(chǎng)景。

然后，測(cè)試人員可以在終端上運(yùn)行用于測(cè)試sim卡功能的測(cè)試軟件，以測(cè)試終端的sim卡功能是否正常。例如：測(cè)試人員可以通過(guò)終端是否可以讀取sim卡，確定終端的sim卡功能是否正常。測(cè)試人員還可以通過(guò)終端是否可以通過(guò)sim卡連入相應(yīng)的運(yùn)營(yíng)商網(wǎng)絡(luò)，確定終端的sim卡功能是否正常等，具體可以根據(jù)測(cè)試人員所使用的測(cè)試軟件確定，本實(shí)施例對(duì)此不進(jìn)行限定。

在完成sim卡功能的測(cè)試后，測(cè)試人員可以不需要借助任何的工具(例如：取卡針等)，將上述測(cè)試裝置直接從終端的卡槽中拔出，提高了測(cè)試效率，減少了測(cè)試時(shí)間，進(jìn)而降低了測(cè)試成本。進(jìn)一步地，當(dāng)測(cè)試人員在使用上述測(cè)試裝置，對(duì)同一型號(hào)的多個(gè)終端的sim卡功能進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試人員只需要將上述測(cè)試裝置分別插入每個(gè)終端的卡槽即可，不需要對(duì)每個(gè)終端進(jìn)行插卡和取卡的操作，可以大幅度的提高測(cè)試效率，進(jìn)一步地降低了測(cè)試成本。

本公開(kāi)提供的終端的測(cè)試裝置，通過(guò)測(cè)試裝置上的第一卡托和第一卡座，可以將待測(cè)試終端的卡槽的內(nèi)部sim卡卡座上用于讀取sim卡的pin針引至終端的外部，以使得測(cè)試人員將測(cè)試裝置的第一卡托插入終端的卡槽中時(shí)，可以模擬在終端的卡槽中插入sim卡的場(chǎng)景，從而可以對(duì)終端的sim卡功能進(jìn)行測(cè)試。由于測(cè)試人員在完成終端的sim功能的測(cè)試后，可以直接將測(cè)試裝置從終端的卡槽中拔出，不需要借助任何的工具，因此，能夠提高測(cè)試終端的sim卡功能的測(cè)試效率，進(jìn)而能夠提高測(cè)試成本提高了測(cè)試效率，進(jìn)而能夠減少測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試成本。

繼續(xù)參照?qǐng)D2和圖3，當(dāng)終端的卡槽為兩個(gè)sim卡共用的卡槽時(shí)，即終端的卡槽中具有兩個(gè)sim卡卡座(以sim卡卡座1和sim卡卡座2為例)時(shí)，上述測(cè)試裝置的pcb上可以設(shè)置有兩個(gè)第一卡座。以第一卡座sim1和第一卡座sim2為例，第一卡座sim1和第一卡座sim2均可以與第一卡托j1電連接。其中，第一卡托j1上設(shè)置有兩個(gè)第一電連接端，分別為第一電連接端1、第一電連接端2。第一電連接端1與第一卡座sim1對(duì)應(yīng)、且第一電連接端1與sim卡卡座1的pin針對(duì)應(yīng)。即，sim卡卡座1的pin針通過(guò)與第一電連接端1，與第一卡座1電連接。第一電連接端2與第一卡座sim2對(duì)應(yīng)、且第一電連接端2與sim卡卡座2的pin針對(duì)應(yīng)。即，sim卡卡座2的pin針通過(guò)與第一電連接端2，與第一卡座2電連接。通過(guò)這種方式，可以將終端的卡槽的內(nèi)部sim卡卡座上用于讀取sim卡的pin針引至終端的外部。

相應(yīng)地，第一卡座sim1上安裝的sim卡可以根據(jù)sim卡卡座1的所允許安裝的sim卡確定，第一卡座sim2上安裝的sim卡可以根據(jù)sim卡卡座2的所允許安裝的sim卡確定。本示例以sim卡1為microsim卡、sim卡2為nanosim為例，即在該場(chǎng)景下，第一卡座sim1上安裝的是microsim卡、第一卡座sim2上安裝的是nanosim卡。

圖4是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種第一卡座sim1的電路示意圖。圖5是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種第一卡座sim2的電路示意圖。圖6是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種第一卡托j1的的電路示意圖。如圖4至圖6所示，當(dāng)?shù)谝豢ㄗ鵶im1用于安裝microsim卡時(shí)，第一卡座sim1的電路圖可以如圖4所示。當(dāng)?shù)谝豢ㄗ鵶im2用于安裝nanosim卡時(shí)，第一卡座sim2的電路圖可以如圖5所示。在該場(chǎng)景下，第一卡托j1的電路圖可以如圖6所示。

其中，圖4與圖6中引腳標(biāo)簽相同的引腳電連接。具體地，sim1的引腳1和2與j1的引腳5電連接，sim1的引腳3和4與j1的引腳6電連接，sim1的引腳5和6與j1的引腳7電連接，sim1的引腳9與j1的引腳1電連接。sim1的引腳10與j1的引腳2電連接，sim1的引腳11與j1的引腳3電連接。

圖5與圖6中引腳標(biāo)簽相同的引腳具有電連接關(guān)系。具體地，sim2的引腳1和2與j1的引腳19電連接，sim2的引腳3和4與j1的引腳18電連接，sim2的引腳5和6與j1的引腳17電連接，sim2的引腳9與j1的引腳24電連接，sim2的引腳10與j1的引腳23電連接，sim2的引腳11與j1的引腳22電連接。

繼續(xù)參照?qǐng)D1至圖3，進(jìn)一步地，在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，上述每個(gè)第一卡座上還可以設(shè)置有至少一個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)，該至少一個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)與該卡座對(duì)應(yīng)的sim卡卡座的pin針一一對(duì)應(yīng)。也就是說(shuō)，sim卡卡座有幾個(gè)pin針，就有幾個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)。這樣，在第一卡托插入終端的卡槽時(shí)，終端的卡槽中的sim卡卡座的pin針通過(guò)其對(duì)應(yīng)的第一電連接端，與其對(duì)應(yīng)的第一卡座電連接，并與該第一卡座上的至少一個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)連通。因此，通過(guò)該至少一個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)，可以測(cè)試卡槽中與該第一卡座電連接的sim卡卡座的pin針是否損壞(例如：塌陷或折損)。

繼續(xù)以測(cè)試裝置包括第一卡座sim1和第一卡座sim2為例，當(dāng)上述第一卡座sim1的電路圖如圖4所示時(shí)，說(shuō)明第一卡座sim1對(duì)應(yīng)的卡槽中的sim卡卡座1的電路圖也如圖4所示。因此，上述第一卡座sim1的至少一個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)可以如圖2所示。即sim卡卡座的每個(gè)引腳(即pin針)對(duì)應(yīng)一個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)。當(dāng)上述第一卡座sim2的電路圖如圖5所示時(shí)，說(shuō)明第一卡座sim2對(duì)應(yīng)的卡槽中的sim卡卡座2的電路圖也如圖5所示。因此，上述第一卡座sim2的至少一個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)可以如圖2所示。即sim卡卡座的每個(gè)引腳(即pin針)對(duì)應(yīng)一個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)。

其中，本實(shí)施例不限定測(cè)試人員通過(guò)第一測(cè)試點(diǎn)測(cè)試sim卡卡座的pin針是否損壞的方式。例如，測(cè)試人員可以在終端關(guān)機(jī)時(shí)，使用萬(wàn)用表檢測(cè)每個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)對(duì)地電阻值。然后，測(cè)試人員可以根據(jù)每個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)對(duì)地電阻值與該第一測(cè)試點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)取值的差值，來(lái)判定每個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的sim卡卡座的pin針是否損壞。當(dāng)某一第一測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的差值大于第一測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)閾值時(shí)，或者，無(wú)法檢測(cè)到某一第一測(cè)試點(diǎn)對(duì)地電阻值時(shí)，可以確定該第一測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的sim卡卡座的pin針損壞。上述所說(shuō)的每個(gè)第一測(cè)試點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)取值可以為同型號(hào)的終端的sim卡卡座的pin針在未損壞時(shí)，測(cè)試人員在該第一測(cè)試點(diǎn)檢測(cè)到的有效電阻值。其中，上述預(yù)設(shè)閾值可以根據(jù)終端的型號(hào)確定。

與相關(guān)技術(shù)中，測(cè)試人員需要將終端拆卸打開(kāi)，以從終端的主板上取下終端的sim卡座后，再檢測(cè)sim卡座的pin針對(duì)地電阻值與標(biāo)準(zhǔn)取值的差值，來(lái)判定卡槽中sim卡座的pin針是否損壞相比，本實(shí)施例的方法，可以提高檢測(cè)終端卡槽中的sim卡卡座的pin針是否損壞的效率，進(jìn)一步地減少了測(cè)試時(shí)間，降低了測(cè)試成本。進(jìn)一步地，通過(guò)在終端關(guān)機(jī)狀態(tài)下測(cè)試終端卡槽中sim卡卡座pin針的方式，能夠避免在檢測(cè)pin針過(guò)程中，因pin針損壞導(dǎo)致短路，燒毀終端主板的情況。

本公開(kāi)提供的終端的測(cè)試裝置，在將測(cè)試裝置的第一卡托插入終端的卡槽時(shí)，可以通過(guò)檢測(cè)測(cè)試裝置上的第一卡座上的第一測(cè)試點(diǎn)，來(lái)確定終端卡槽中sim卡座的pin針是否損壞，提高檢測(cè)終端卡槽中的sim卡卡座的pin針是否損壞的效率，進(jìn)一步地減少了測(cè)試時(shí)間，降低了測(cè)試成本。

終端生產(chǎn)商在將所生產(chǎn)的終端出廠之前，還會(huì)測(cè)試終端的快閃存儲(chǔ)(trans-flash，tf)功能是否正常。相關(guān)技術(shù)中，在終端的sim卡和tf卡共用同一卡槽時(shí)，測(cè)試人員需要在測(cè)試完sim卡功能之后，從卡槽中將sim卡取出。然后，測(cè)試人員再在原裝卡托上裝上tf卡，并將卡托插入終端的卡槽，以測(cè)試終端的tf功能是否正常。當(dāng)終端設(shè)置的是采用取卡針取卡的卡托時(shí)，測(cè)試人員在測(cè)試完終端的tf功能之后，還需要借助取卡針將tf卡從終端中取出，使得測(cè)試效率較低，測(cè)試成本較高。

繼續(xù)參照?qǐng)D2和圖3，當(dāng)終端的卡槽為sim卡和tf卡共用的卡槽時(shí)，即上述終端的卡槽中存在一個(gè)集成卡座，該集成卡座可以插sim卡也可以插tf卡時(shí)，上述測(cè)試裝置還可以包括：設(shè)置在pcb上用于安裝tf卡的第二卡座。其中，第一卡托與第二卡座電連接，第一卡托上設(shè)置有第二電連接端，在第一卡托插入卡槽時(shí)，終端通過(guò)第二電連接端，讀取安裝在第二卡座上的tf卡。其中，上述集成卡座不能同時(shí)插入sim卡和tf卡。在上述集成卡座插入sim卡時(shí)，該集成卡座用于讀取sim卡的pin針與第一卡座對(duì)應(yīng)，在上述集成卡座插入tf卡時(shí)，該集成卡座用于讀取tf卡的pin針與第二卡座對(duì)應(yīng)。

在本實(shí)施例中，上述測(cè)試裝置還可以用于測(cè)試終端的tf功能。其中，第二電連接端的結(jié)構(gòu)具體可以根據(jù)卡槽中集成卡座用于讀取tf卡的pin針的排列方式確定。第二電連接端在第一卡托上的位置具體可以根據(jù)卡槽中集成卡座用于讀取tf卡的pin針在卡槽中的位置確定。

也就是說(shuō)，上述測(cè)試裝置通過(guò)第一卡托和第二卡座，可以將待測(cè)試終端的卡槽的內(nèi)部集成卡座用于讀取tf卡的pin針引至終端的外部。因此，在本實(shí)施例中，測(cè)試人員在測(cè)試終端的tf功能時(shí)，測(cè)試人員可以在第二卡座上安裝tf卡。同時(shí)，測(cè)試人員可以將待測(cè)試的終端的原裝卡托從卡槽中取出，并將上述測(cè)試裝置的第一卡托插入終端的卡槽中，以模擬在終端的卡槽中插入tf卡的場(chǎng)景。

然后，測(cè)試人員可以在終端上運(yùn)行用于測(cè)試tf卡功能的測(cè)試軟件，以測(cè)試終端的tf功能是否正常。例如：測(cè)試人員可以通過(guò)終端是否可以讀取tf卡，確定終端的tf功能是否正常等，具體可以根據(jù)測(cè)試人員所使用的測(cè)試軟件確定，本實(shí)施例對(duì)此不進(jìn)行限定。

在完成tf功能的測(cè)試后，測(cè)試人員可以不需要借助任何的工具(例如：取卡針等)，將上述測(cè)試裝置直接從終端的卡槽中拔出，提高了測(cè)試效率，減少了測(cè)試時(shí)間，進(jìn)而降低了測(cè)試成本。進(jìn)一步地，當(dāng)測(cè)試人員在使用上述測(cè)試裝置，對(duì)同一型號(hào)的多個(gè)終端的tf功能進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試人員只需要將上述測(cè)試裝置分別插入每個(gè)終端的卡槽即可，不需要對(duì)每個(gè)終端進(jìn)行插卡和取卡的操作，可以大幅度的提高測(cè)試效率，進(jìn)一步地降低了測(cè)試成本。

本公開(kāi)提供的終端的測(cè)試裝置，通過(guò)測(cè)試裝置上的第一卡托和第二卡座，可以將待測(cè)試終端的卡槽的內(nèi)部集成卡座上用于讀取tf卡的pin針引至終端的外部，以使得測(cè)試人員將測(cè)試裝置的第一卡托插入終端的卡槽中時(shí)，可以模擬在終端的卡槽中插入tf卡的場(chǎng)景，從而可以對(duì)終端的tf功能進(jìn)行測(cè)試。由于測(cè)試人員在完成終端的tf功能的測(cè)試后，可以直接將測(cè)試裝置從終端的卡槽中拔出，不需要借助任何的工具，因此，能夠提高測(cè)試終端的tf功能的測(cè)試效率，進(jìn)而能夠提高測(cè)試成本提高了測(cè)試效率，進(jìn)而能夠減少測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試成本。

繼續(xù)參照?qǐng)D2和圖3，以第二卡座j3和第一卡托j1為例，第一卡托j1與第二卡座j3電連接，第一卡托j1上設(shè)置有第二電連接端，在第一卡托j1插入卡槽時(shí)，終端通過(guò)第二電連接端，讀取安裝在第二卡座j3上的tf卡。通過(guò)這種方式，可以將待測(cè)試終端的卡槽的內(nèi)部集成卡座用于讀取tf卡的pin針引至終端的外部。

圖7是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種第二卡座j3的電路示意圖。如圖6至圖7所示，上述第二卡座j3的電路圖可以如圖7所示。其中，圖6與圖7中引腳標(biāo)簽相同的引腳電連接。具體地，tf的引腳1與j1的引腳16電連接，tf的引腳2與j1的引腳15電連接，tf的引腳3與j1的引腳14電連接，tf的引腳4與j1的引腳13電連接，tf的引腳6與j1的引腳12電連接，tf的引腳7與j1的引腳11電連接，tf的引腳8與j1的引腳10電連接，tf的引腳9與j1的引腳9電連接。

繼續(xù)參照?qǐng)D2至圖3，進(jìn)一步地，在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，上述第二卡座上還可以設(shè)置有至少一個(gè)第二測(cè)試點(diǎn)，該至少一個(gè)第二測(cè)試點(diǎn)與卡槽中集成卡座用于讀取tf卡的pin針一一對(duì)應(yīng)。也就是說(shuō)，集成卡座有幾個(gè)用于讀取tf卡的pin針，就有幾個(gè)第二測(cè)試點(diǎn)。這樣，在第一卡托插入終端的卡槽時(shí)，終端的卡槽中集成卡座用于讀取tf卡的pin針通過(guò)其對(duì)應(yīng)的第二電連接端，與第二卡座電連接，并與第二卡座上的至少一個(gè)第二測(cè)試點(diǎn)連通。因此，通過(guò)該至少一個(gè)第二測(cè)試點(diǎn)，可以測(cè)試卡槽中集成卡座用于讀取tf卡的pin針是否損壞(例如：塌陷或折損)。

繼續(xù)以測(cè)試裝置包括第二卡座j3為例，當(dāng)上述第二卡座j3的電路圖如圖7所示時(shí)，說(shuō)明第二卡座j3對(duì)應(yīng)的卡槽中的集成卡座用于讀取tf卡的電路圖也如圖7所示。因此，上述第二卡座j3的至少一個(gè)第二測(cè)試點(diǎn)可以如圖2所示。即集成卡座用于讀取tf卡的每個(gè)引腳(即pin針)對(duì)應(yīng)一個(gè)第二測(cè)試點(diǎn)。

其中，本實(shí)施例不限定測(cè)試人員通過(guò)第二測(cè)試點(diǎn)測(cè)試集成卡座用于讀取tf卡的pin針是否損壞的方式。例如，測(cè)試人員可以在終端關(guān)機(jī)時(shí)，使用萬(wàn)用表檢測(cè)每個(gè)第二測(cè)試點(diǎn)對(duì)地電阻值。然后，測(cè)試人員可以根據(jù)每個(gè)第二測(cè)試點(diǎn)對(duì)地電阻值與該第二測(cè)試點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)取值的差值，來(lái)判定每個(gè)第二測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的集成卡座用于讀取tf卡的pin針是否損壞。當(dāng)某一第二測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的差值大于第二測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)閾值時(shí)，或者，無(wú)法檢測(cè)到某一第二測(cè)試點(diǎn)對(duì)地電阻值時(shí)，可以確定該第二測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的集成卡座用于讀取tf卡的pin針損壞。上述所說(shuō)的每個(gè)第二測(cè)試點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)取值可以為同型號(hào)的終端的集成卡座用于讀取tf卡的pin針在未損壞時(shí)，測(cè)試人員在該第二測(cè)試點(diǎn)檢測(cè)到的有效電阻值。其中，上述預(yù)設(shè)閾值可以根據(jù)終端的型號(hào)確定。

與相關(guān)技術(shù)中，測(cè)試人員需要將終端拆卸打開(kāi)，以從終端的主板上取下終端的集成卡座后，再檢測(cè)集成卡座用于讀取tf卡的pin針對(duì)地電阻值與標(biāo)準(zhǔn)取值的差值，來(lái)判定卡槽中集成卡座用于讀取tf卡的pin針是否損壞相比，本實(shí)施例的方法，可以提高檢測(cè)終端卡槽中的集成卡座用于讀取tf卡的pin針是否損壞的效率，進(jìn)一步地減少了測(cè)試時(shí)間，降低了測(cè)試成本。進(jìn)一步地，通過(guò)在終端關(guān)機(jī)狀態(tài)下測(cè)試終端卡槽中集成卡座用于讀取tf卡的pin針的方式，能夠避免在檢測(cè)pin針過(guò)程中，因pin針損壞導(dǎo)致短路，燒毀終端主板的情況。

本公開(kāi)提供的終端的測(cè)試裝置，在將測(cè)試裝置的第一卡托插入終端的卡槽時(shí)，可以通過(guò)檢測(cè)測(cè)試裝置上的第二卡座上的第二測(cè)試點(diǎn)，來(lái)確定終端卡槽中卡座用于讀取tf卡的pin針是否損壞，提高檢測(cè)終端卡槽中的pin針是否損壞的效率，進(jìn)一步地減少了測(cè)試時(shí)間，降低了測(cè)試成本。

終端生產(chǎn)商在將所生產(chǎn)的終端出廠之前，還會(huì)測(cè)試終端的otg(on-the-go)功能是否正常。相關(guān)技術(shù)中，在測(cè)試終端的otg功能時(shí)，測(cè)試人員需要使用otg轉(zhuǎn)接線將otg工具(例如：鼠標(biāo)、鍵盤(pán)等)與終端的通用串行總線(universalserialbus，usb)接口連接，以測(cè)試終端的otg功能是否正常。

繼續(xù)參照?qǐng)D2和圖3，上述測(cè)試裝置還可以包括：設(shè)置在pcb上的usb接口、otg模塊、用于安裝tf卡的第三卡座；其中，otg模塊分別與usb接口和第三卡座電連接，在usb接口插入終端的usb接口時(shí)，otg模塊根據(jù)終端的讀寫(xiě)指令，向安裝在第三卡座上的tf卡執(zhí)行讀寫(xiě)操作。其中，上述測(cè)試裝置的usb接口為與終端的usb接口適配的接口，例如，當(dāng)終端的usb接口為microusb接口時(shí)，上述測(cè)試裝置的usb接口也為microusb接口?？蛇x的，當(dāng)終端的usb接口為公口時(shí)，上述測(cè)試裝置的usb接口可以為母口，當(dāng)終端的usb接口為母口時(shí)，上述測(cè)試裝置的usb接口可以為公口。

在本實(shí)施例中，上述測(cè)試裝置還可以用于測(cè)試終端的otg功能。具體地，測(cè)試人員在測(cè)試終端的otg功能時(shí)，測(cè)試人員可以在第三卡座上安裝tf卡。同時(shí)，測(cè)試人員可以將測(cè)試裝置的usb接口插入終端的usb接口。然后，測(cè)試人員可以在終端上運(yùn)行用于測(cè)試otg功能的測(cè)試軟件，以測(cè)試終端的otg功能是否正常。例如：測(cè)試人員可以通過(guò)終端是否可以讀取第三卡座上的tf卡中的數(shù)據(jù)，或者是否可以向第三卡座上的tf卡寫(xiě)入數(shù)據(jù)，確定終端的otg功能是否正常等，具體可以根據(jù)測(cè)試人員所使用的測(cè)試軟件確定，本實(shí)施例對(duì)此不進(jìn)行限定。

通過(guò)上述測(cè)試裝置測(cè)試終端的otg功能時(shí)，測(cè)試人員可以不需要再單獨(dú)準(zhǔn)備otg轉(zhuǎn)接線和otg工具，提高了測(cè)試效率，減少了測(cè)試時(shí)間，進(jìn)而降低了測(cè)試成本。進(jìn)一步地，當(dāng)測(cè)試人員在使用上述測(cè)試裝置，對(duì)同一型號(hào)的多個(gè)終端的otg功能進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試人員只需要將上述測(cè)試裝置分別插入每個(gè)終端的usb接口即可，可以大幅度的提高測(cè)試效率，進(jìn)一步地降低了測(cè)試成本。

可選的，上述終端還可以通過(guò)測(cè)試裝置的otg模塊，向第三卡座上的tf卡供電，以使得tf可以正常工作。則在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，上述測(cè)試裝置還可以包括設(shè)置在pcb上的指示燈，指示燈與otg模塊電連接。在終端通過(guò)測(cè)試裝置的otg模塊，向第三卡座上的tf卡正常供電時(shí)，指示燈會(huì)發(fā)光。因此，測(cè)試人員可以通過(guò)指示燈是否點(diǎn)亮，來(lái)判斷終端是否向第三卡座上的tf卡正常供電。通過(guò)這種方式，可以在終端的otg功能測(cè)試不合格時(shí)，判斷otg功能不合格的原因是否由于未能向tf卡供電所導(dǎo)致的，進(jìn)一步提高了測(cè)試效率。其中，上述指示燈可以為任一能夠發(fā)光的指示燈，例如：二極管等。

本公開(kāi)提供的終端的測(cè)試裝置，通過(guò)測(cè)試裝置上的usb接口、otg模塊和第三卡座，可以使測(cè)試人員將測(cè)試裝置的usb接口插入終端的接口后，即可對(duì)終端的otg功能進(jìn)行測(cè)試，不需要再單獨(dú)準(zhǔn)備otg轉(zhuǎn)接線和otg工具，提高了測(cè)試效率，減少了測(cè)試時(shí)間，進(jìn)而降低了測(cè)試成本。

繼續(xù)參照?qǐng)D2，以第三卡座j2、usb接口j4、otg模塊u1為例，otg模塊u1分別與usb接口j4和第三卡座j2電連接，在usb接口j4插入終端的usb接口時(shí)，otg模塊u1根據(jù)終端的讀寫(xiě)指令，向安裝在第三卡座j2上的tf卡執(zhí)行讀寫(xiě)操作。

圖8是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種第三卡座j2的電路示意圖。圖9是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種usb接口j4的電路示意圖。圖10是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種otg模塊u1的電路示意圖。圖11是根據(jù)一示例性實(shí)施例示出的一種指示燈d1的電路示意圖。如圖8至圖11所示，上述第三卡座j2的電路圖可以如圖8所示。上述usb接口j4的電路圖可以如圖9所示。上述otg模塊u1的電路圖可以如圖10所示。當(dāng)上述指示燈d1為二極管時(shí)，上述指示燈d1的電路圖可以如圖11所示。

其中，圖8與圖10中引腳標(biāo)簽相同的引腳電連接。具體地，j2的引腳1與u1的引腳19電連接，j2的引腳2與u1的引腳18電連接，j2的引腳3與u1的引腳17電連接，j2的引腳5與u1的引腳13電連接，j2的引腳7與u1的引腳12電連接，j2的引腳8與u1的引腳11電連接，j2的引腳9與u1的引腳9電連接。圖9與圖10中引腳標(biāo)簽相同的引腳電連接。具體地，j4的引腳3與u1的引腳4電連接，j4的引腳4與u1的引腳3電連接。圖11與圖10中引腳標(biāo)簽相同的引腳電連接。具體地，d1可以與u1的引腳20電連接。

繼續(xù)參照?qǐng)D2，進(jìn)一步地，在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，上述pcb上的usb接口設(shè)置有至少一個(gè)第三測(cè)試點(diǎn)，該至少一個(gè)第三測(cè)試點(diǎn)與終端的usb接口中的pin針一一對(duì)應(yīng)。也就是說(shuō)，終端的usb接口有幾個(gè)pin針，就有幾個(gè)第三測(cè)試點(diǎn)。這樣，在測(cè)試裝置的usb接口插入終端的usb接口時(shí)，終端的usb接口中的pin針與測(cè)試裝置的usb接口電連接，并與usb接口的至少一個(gè)第三測(cè)試點(diǎn)連通。因此，通過(guò)該至少一個(gè)第三測(cè)試點(diǎn)，可以測(cè)試終端的usb接口的pin針是否損壞(例如：塌陷或折損)。

繼續(xù)以測(cè)試裝置包括usb接口j4為例，當(dāng)上述usb接口j4的電路圖如圖9所示時(shí)，說(shuō)明usb接口j4對(duì)應(yīng)的終端的usb接口的電路圖也如圖9所示。因此，上述usb接口j4的至少一個(gè)第三測(cè)試點(diǎn)可以如圖2所示。即終端的usb接口的每個(gè)引腳(即pin針)對(duì)應(yīng)一個(gè)第三測(cè)試點(diǎn)。

其中，本實(shí)施例不限定測(cè)試人員通過(guò)第三測(cè)試點(diǎn)測(cè)試終端的usb接口的pin針是否損壞的方式。例如，測(cè)試人員可以在終端關(guān)機(jī)時(shí)，使用萬(wàn)用表檢測(cè)每個(gè)第三測(cè)試點(diǎn)對(duì)地電阻值。然后，測(cè)試人員可以根據(jù)每個(gè)第三測(cè)試點(diǎn)對(duì)地電阻值與該第三測(cè)試點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)取值的差值，來(lái)判定每個(gè)第三測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的終端的usb接口的pin針是否損壞。當(dāng)某一第三測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的差值大于第三測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)閾值時(shí)，或者，無(wú)法檢測(cè)到某一第三測(cè)試點(diǎn)對(duì)地電阻值時(shí)，可以確定該第三測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的終端的usb接口的pin針損壞。上述所說(shuō)的每個(gè)第三測(cè)試點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)取值可以為同型號(hào)的終端的usb接口的pin針在未損壞時(shí)，測(cè)試人員在該第三測(cè)試點(diǎn)檢測(cè)到的有效電阻值。其中，上述預(yù)設(shè)閾值可以根據(jù)終端的型號(hào)確定。

與相關(guān)技術(shù)中，測(cè)試人員需要將終端拆卸打開(kāi)，以從終端的主板上取下終端的終端的usb接口后，再檢測(cè)終端的usb接口的pin針對(duì)地電阻值與標(biāo)準(zhǔn)取值的差值，來(lái)判定終端的usb接口的pin針是否損壞相比，本實(shí)施例的方法，可以提高檢測(cè)終端的usb接口的pin針是否損壞的效率，進(jìn)一步地減少了測(cè)試時(shí)間，降低了測(cè)試成本。進(jìn)一步地，通過(guò)在終端關(guān)機(jī)狀態(tài)下測(cè)試終端的usb接口的pin針的方式，能夠避免在檢測(cè)pin針過(guò)程中，因pin針損壞導(dǎo)致短路，燒毀終端主板的情況。

本公開(kāi)提供的終端的測(cè)試裝置，在將測(cè)試裝置的usb接口插入終端的usb接口時(shí)，可以通過(guò)檢測(cè)測(cè)試裝置上的usb接口上的第三測(cè)試點(diǎn)，來(lái)確定終端的usb接口的pin針是否損壞，提高檢測(cè)終端的usb接口的pin針是否損壞的效率，進(jìn)一步地減少了測(cè)試時(shí)間，降低了測(cè)試成本。

需要說(shuō)明的是，本申請(qǐng)圖2和圖3所提供的的測(cè)試裝置僅是一種示意，本申請(qǐng)?jiān)诰唧w實(shí)現(xiàn)時(shí)，測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)以及各個(gè)部件在pcb上的布局并以為限。但是，在采用圖2和圖3所示的結(jié)構(gòu)時(shí)，測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)較小，成本較低。

本領(lǐng)域技術(shù)人員在考慮說(shuō)明書(shū)及實(shí)踐這里公開(kāi)的公開(kāi)后，將容易想到本公開(kāi)的其它實(shí)施方案。本申請(qǐng)旨在涵蓋本公開(kāi)的任何變型、用途或者適應(yīng)性變化，這些變型、用途或者適應(yīng)性變化遵循本公開(kāi)的一般性原理并包括本公開(kāi)未公開(kāi)的本技術(shù)領(lǐng)域中的公知常識(shí)或慣用技術(shù)手段。說(shuō)明書(shū)和實(shí)施例僅被視為示例性的，本公開(kāi)的真正范圍和精神由下面的權(quán)利要求書(shū)指出。

應(yīng)當(dāng)理解的是，本公開(kāi)并不局限于上面已經(jīng)描述并在附圖中示出的精確結(jié)構(gòu)，并且可以在不脫離其范圍進(jìn)行各種修改和改變。本公開(kāi)的范圍僅由所附的權(quán)利要求書(shū)來(lái)限制。