1.一種電臺與測試儀器之間的信號切換選通裝置，其特征在于：包括n個(gè)分別與測試儀器相連接的琴鍵開關(guān)，所述琴鍵開關(guān)包含N+1個(gè)聯(lián)動的小開關(guān)，其中第i個(gè)琴鍵開關(guān)的第1個(gè)小開關(guān)至第N個(gè)小開關(guān)分別與第i個(gè)電臺的非射頻信號接口直接連接；第i個(gè)琴鍵開關(guān)的第N+1個(gè)小開關(guān)控制第i個(gè)射頻開關(guān)單元，用于接通或切斷第i個(gè)電臺的射頻信號；其中n≥2，1≤i≤n，N≥1。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述電臺與測試儀器之間的信號切換選通裝置，其特征在于：所述非射頻信號包括音頻信號、控制信號、數(shù)據(jù)信號。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述電臺與測試儀器之間的信號切換選通裝置，其特征在于：所述n個(gè)射頻開關(guān)單元外部設(shè)置有封閉的金屬腔體。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述電臺與測試儀器之間的信號切換選通裝置，其特征在于：還包括狀態(tài)指示及沖突保護(hù)電路，用于指示電臺是否有效選通，并且在兩個(gè)以上的電臺同時(shí)選通時(shí)啟動自動保護(hù)及報(bào)警功能。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述電臺與測試儀器之間的信號切換選通裝置，其特征在于：所述射頻開關(guān)單元外接50Ω匹配負(fù)載。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述電臺與測試儀器之間的信號切換選通裝置，其特征在于：所述射頻開關(guān)單元的開關(guān)器件采用射頻繼電器。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述電臺與測試儀器之間的信號切換選通裝置，其特征在于：所述n個(gè)琴鍵開關(guān)之間相互獨(dú)立，或者n個(gè)琴鍵開關(guān)組成聯(lián)動開關(guān)。
8.基于權(quán)利要求1至7任一權(quán)利要求所述電臺與測試儀器之間的信號切換選通裝置的一種電臺與測試儀器之間的信號切換選通方法，包含以下步驟：
S1、將n個(gè)琴鍵開關(guān)分別與測試儀器相連接，所述琴鍵開關(guān)包含N+1個(gè)聯(lián)動的小開關(guān)，其中第i個(gè)琴鍵開關(guān)的第1個(gè)小開關(guān)至第N個(gè)小開關(guān)分別與第i個(gè)電臺的非射頻信號接口直接連接；第i個(gè)琴鍵開關(guān)的第N+1個(gè)小開關(guān)控制第i個(gè)射頻開關(guān)單元，用于接通或切斷第i個(gè)電臺的射頻信號；其中n≥2，1≤i≤n，N≥1；
S2、測試第L個(gè)電臺的性能指標(biāo)時(shí)，將第L個(gè)琴鍵開關(guān)按下，第L個(gè)琴鍵開關(guān)的N+1個(gè)獨(dú)立的小開關(guān)閉合，第L個(gè)電臺的非射頻信號接口與測試儀器的非射頻信號接口連通，第L個(gè)電臺的射頻信號接口與測試儀器的射頻信號接口連通；其中1≤L≤n；
S3、測試第M個(gè)電臺的性能指標(biāo)時(shí)，根據(jù)琴鍵開關(guān)的不同，分以下兩種情況：
(1)當(dāng)n個(gè)琴鍵開關(guān)之間相互獨(dú)立時(shí)，在測試完第L個(gè)電臺的性能指標(biāo)后，再按一下第L個(gè)琴鍵開關(guān)，第L個(gè)琴鍵開關(guān)的N+1個(gè)獨(dú)立的小開關(guān)斷開；然后按下第M個(gè)琴鍵開關(guān)，第M個(gè)琴鍵開關(guān)的N+1個(gè)獨(dú)立的小開關(guān)閉合，第M個(gè)電臺的非射頻信號接口與測試儀器的非射頻信號接口連通，第M個(gè)電臺的射頻信號接口與測試儀器的射頻信號接口連通；其中1≤M≤n；
(2)當(dāng)n個(gè)琴鍵開關(guān)組成聯(lián)動開關(guān)時(shí)，直接按下第M個(gè)琴鍵開關(guān)，第M個(gè)琴鍵開關(guān)的N+1個(gè)獨(dú)立的小開關(guān)閉合，第L個(gè)琴鍵開關(guān)的N+1個(gè)獨(dú)立的小開關(guān)自動斷開，第M個(gè)電臺的非射頻信號接口與測試儀器的非射頻信號接口連通，第M個(gè)電臺的射頻信號接口與測試儀器的射頻信號接口連通；其中1≤M≤n；
S4、重復(fù)步驟S2至S3，完成n個(gè)電臺的性能測試。