本發(fā)明涉及測試射頻(RF)數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器受測裝置(DUT)，并且具體而言，涉及在DUT繼續(xù)傳輸另外的數(shù)據(jù)包時，在偵測到所接收信號特性改變后，使得能夠分析先前接收以及捕獲的測試數(shù)據(jù)包。

許多現(xiàn)今的電子裝置使用無線技術(shù)用于連接性和通信兩種目的。因為無線裝置傳輸以及接收電磁能量，并且因為兩個或更多個無線裝置可能因其信號頻率和功率頻譜密度而干擾彼此的運作，這些裝置及其無線技術(shù)必須遵循各種無線技術(shù)標準規(guī)格。

在設(shè)計此類無線裝置時，工程師附加注意要確保此類裝置會符合或優(yōu)于根據(jù)其所包括的無線技術(shù)所規(guī)定標準的每一項規(guī)格。此外，當這些裝置之后進入量產(chǎn)時，其會經(jīng)過測試以確保制造缺陷不會導致不適當?shù)倪\作，此測試也包括是否遵循所包括的基于無線技術(shù)標準的規(guī)格。

為了在制造和裝配之后測試這些裝置，目前無線裝置測試系統(tǒng)采用子系統(tǒng)以分析從各裝置接收的信號。此類子系統(tǒng)一般包括用于提供待傳輸至待測裝置的來源信號的諸如向量信號產(chǎn)生器(VSG)的至少RF數(shù)據(jù)包信號發(fā)射器、以及用于接收并分析DUT所產(chǎn)生信號的諸如向量信號分析器(VSA)的RF數(shù)據(jù)包信號接收器。VSG對于測試信號的產(chǎn)生以及VSA所執(zhí)行的信號分析通常是可編程的，以便允許將各自都用于測試各種裝置是否遵循各種具有不同頻率范圍、帶寬、以及信號調(diào)變特性的無線技術(shù)標準。

當測試此類裝置時，通常使用觸發(fā)來發(fā)起后續(xù)測試事件的動作。例如，在傳送測試包(例如，由DUT傳送至測試器)前，觸發(fā)將警示測試器準備進行傳送。然而，此必然需要測試器及時地預(yù)先知道何時應(yīng)捕獲所傳輸?shù)男蛄袛?shù)據(jù)包中的一個或多個部分，以及何時應(yīng)發(fā)起測試(例如，分析)所捕獲的數(shù)據(jù)包。半導體集成電路(IC)在所傳送的序列測試數(shù)據(jù)包中間穿插非確定性自我校準的傾向，使此做法更加復(fù)雜。捕獲和分析此類事件(例如，數(shù)序列的自我校準數(shù)據(jù)包)很少或未提供有價值的測試數(shù)據(jù)并且通常是測試錯誤報告的原因。

觸發(fā)通常是響應(yīng)于一個或多個信號特性的改變而發(fā)生，其后接著對后續(xù)事件采取行動。此意謂受測裝置或系統(tǒng)必須知道何時為應(yīng)該響應(yīng)且開始捕獲包的正確時間。在許多芯片組中，會采用某種程度的非確定性自我校準，這可能會錯誤地被認為是一個其中適當響應(yīng)是開始捕獲包的事件。因此，需要偵測這些間隔的自我校準，并且一旦已完成自我校準，即接著開始處理(例如，捕獲或計數(shù))包。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

根據(jù)所主張的本發(fā)明，提供一種用于捕獲并且使得能夠分析來自射頻(RF)數(shù)據(jù)包信號發(fā)射器受測裝置(DUT)的一個或多個測試數(shù)據(jù)包的系統(tǒng)和方法。從所接收的RF數(shù)據(jù)包信號最近捕獲的數(shù)據(jù)包被保留，以用于在確認所捕獲的數(shù)據(jù)包括潛在有效測試數(shù)據(jù)包后進行分析。此類確認是通過確認而實現(xiàn)的。

根據(jù)所主張的本發(fā)明的實施方案，一種用于捕獲并且使得能夠分析來自射頻(RF)數(shù)據(jù)包信號發(fā)射器受測裝置(DUT)的多個測試數(shù)據(jù)包的系統(tǒng)包括：

數(shù)據(jù)包捕獲電路系統(tǒng)，其響應(yīng)于接收到RF數(shù)據(jù)包信號而捕獲多個第一數(shù)據(jù)包中的至少一個數(shù)據(jù)包并且確立(assert)觸發(fā)信號，該RF數(shù)據(jù)包信號包括具有該多個第一數(shù)據(jù)包的至少一個數(shù)據(jù)包序列，該多個第一數(shù)據(jù)包具有通過各自第一包間間隔來互相分開的各自第一包持續(xù)時間，該觸發(fā)信號是在下列情況中確立的：

所述多個第一數(shù)據(jù)包包括由至少所述第一包持續(xù)時間和包間間隔限定的重復(fù)的第一數(shù)據(jù)包模式，以及

所述RF數(shù)據(jù)包信號進一步包括，在所述多個第一數(shù)據(jù)包之后，

不同于所述第一包間間隔并且不具有數(shù)據(jù)包的時間間隔，或

多個第二數(shù)據(jù)包，所述多個第二數(shù)據(jù)包具有通過各自第二包間間隔互相分開的各自第二包持續(xù)時間，其中所述第二包持續(xù)時間和包間間隔限定第二數(shù)據(jù)包模式，所述第二數(shù)據(jù)包模式不同于所述第一數(shù)據(jù)包模式；和

數(shù)據(jù)包分析電路系統(tǒng)，其耦接至該數(shù)據(jù)包捕獲電路系統(tǒng)，并且響應(yīng)于所述經(jīng)確立的觸發(fā)信號而分析所述多個第一數(shù)據(jù)包中的所述經(jīng)捕獲的至少一個數(shù)據(jù)包。

根據(jù)所主張的本發(fā)明的另一實施方案，一種用于捕獲并且使得能夠分析來自射頻(RF)數(shù)據(jù)包信號發(fā)射器受測裝置(DUT)的多個測試數(shù)據(jù)包的方法包括：

響應(yīng)于RF數(shù)據(jù)包信號的接收而捕獲多個第一數(shù)據(jù)包中的至少一個數(shù)據(jù)包并且確立觸發(fā)信號，所述RF數(shù)據(jù)包信號包括具有所述多個第一數(shù)據(jù)包的至少一個數(shù)據(jù)包序列，所述多個第一數(shù)據(jù)包具有通過各自第一包間間隔來互相分開的各自第一包持續(xù)時間，所述觸發(fā)信號是在下列情況中確立的：

所述多個第一數(shù)據(jù)包包括由至少所述第一包持續(xù)時間和包間間隔限定的重復(fù)的第一數(shù)據(jù)包模式，以及

所述RF數(shù)據(jù)包信號進一步包括，在所述多個第一數(shù)據(jù)包之后，

不同于所述第一包間間隔并且不具有數(shù)據(jù)包的時間間隔，或

多個第二數(shù)據(jù)包，所述多個第二數(shù)據(jù)包具有通過各自第二包間間隔來互相分開的各自第二包持續(xù)時間，其中所述第二包持續(xù)時間和包間間隔限定第二數(shù)據(jù)包模式，所述第二數(shù)據(jù)包模式不同于所述第一數(shù)據(jù)包模式；及

響應(yīng)于所述經(jīng)確立的觸發(fā)信號而分析所述多個第一數(shù)據(jù)包中的所述經(jīng)捕獲的至少一個數(shù)據(jù)包。

附圖說明

圖1描繪用于RF數(shù)據(jù)包信號收發(fā)器的典型測試環(huán)境。

圖2描繪由DUT傳輸用于根據(jù)所主張本發(fā)明的示例性實施方案的測試器分析的示例性數(shù)序列的循序數(shù)據(jù)包。

圖3描繪根據(jù)所主張本發(fā)明的示例性實施方案的測試流程。

圖4描繪用于在根據(jù)所主張本發(fā)明的示例性實施方案的測試器內(nèi)實施的數(shù)據(jù)包捕獲和分析電路系統(tǒng)的示例性實施方案。

圖5描繪用于在根據(jù)所主張本發(fā)明的示例性實施方案的測試器內(nèi)實施的數(shù)據(jù)包捕獲電路系統(tǒng)的另一示例性實施方案。

圖6描繪用于在根據(jù)所主張本發(fā)明的示例性實施方案的測試器內(nèi)實施的數(shù)據(jù)包分析電路系統(tǒng)的另一示例性實施方案。

具體實施方式

下列詳細說明參照附圖的所主張本發(fā)明的示例性實施方案。這些說明意欲為說明性的而非限制本發(fā)明的范圍。此類實施方案以足夠細節(jié)被說明使得本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員得以實施本發(fā)明，并且應(yīng)理解，在不脫離本發(fā)明的實質(zhì)或范圍的情況下，可以某些改變來實施其他實施方案。

在本公開各處，如無相反于本文的明確指示，可理解所描述的個別電路元件在數(shù)目上可為單數(shù)或復(fù)數(shù)。例如，術(shù)語“電路”和“電路系統(tǒng)”可包括單個或多個部件，可為有源和/或無源的，并且經(jīng)連接或以其他方式耦接在一起(例如，作為一個或多個集成電路芯片)以提供所述的功能。另外，術(shù)語“信號”可指一個或多個電流、一個或多個電壓或數(shù)據(jù)信號。在說明書附圖中，類似的或相關(guān)的元件會有類似的或相關(guān)的字母、數(shù)字或字母數(shù)字混合標志符。此外，盡管本發(fā)明是在使用離散電子電路系統(tǒng)(優(yōu)選的是以一個或多個集成電路芯片的形式)進行實施的情境中進行討論，但取決于待處理的信號頻率或數(shù)據(jù)率，仍可替代地使用一個或多個經(jīng)適當編程的處理器來實施此類電路系統(tǒng)的任何部分的功能。此外，如果說明書附圖示出各種實施方案的功能框圖，此類功能框不一定表示硬件電路系統(tǒng)之間的區(qū)分。

當DUT正利用測試器進行TX測試時(在此期間，測試器接收和捕獲來自DUT的數(shù)據(jù)包以用于分析)，DUT將發(fā)送一個測試包或序列測試包至測試器。通常，測試器需要知道何時應(yīng)進行適用于測試的包的傳輸，且在該傳輸前會有一觸發(fā)(例如，來自DUT或另一來源，諸如外部控制器)，因而預(yù)備好該測試器以捕獲后續(xù)的包序列。如下文的更詳細論述，根據(jù)所主張本發(fā)明的示例性實施方案，觸發(fā)是發(fā)生在包串行傳輸后，而非發(fā)生在包串行傳輸前，并且觸發(fā)的發(fā)生取決于系統(tǒng)已知所傳輸數(shù)據(jù)包信號的特性(例如，一種或多種模式)。此做法的優(yōu)點是能避免可發(fā)生在包序列一開始時的誤偵測，該誤偵測之后的后續(xù)包捕獲及其他包處理會變成有時間偏差。例如，如果在接近包序列一開始時發(fā)起并執(zhí)行自我校準程序，可能會傳輸非確定性數(shù)目個包，因此難以識別待捕獲或處理的所需包。替代地或此外，包序列的標稱功率電平可能尚未穩(wěn)定，因此難以在波動的包功率電平中捕獲所需包。然而，根據(jù)所主張的本發(fā)明，可有利地使用包序列的結(jié)尾(其經(jīng)清楚限定且不取決于發(fā)起包序列條件)來觸發(fā)包捕獲和處理。

如下文的更詳細論述，根據(jù)所主張本發(fā)明的示例性實施方案，為了使測試器能夠避免捕獲非測試相關(guān)的事件(諸如自我校準)，并且避免捕獲具有過度可變功率電平的包，使用觸發(fā)來提示測試器捕獲并分析過去事件，而非未來事件。傳入測試包被捕獲且保留在存儲器中，使得在任何時刻都將有先前已發(fā)送且暫時存儲于該存儲器中的某數(shù)目個最新近包。存儲器充當緩沖器，以實際上提供先前已發(fā)送數(shù)目個包的移動窗口(rolling window)，該數(shù)目由所選用存儲器容量決定。

參考圖1，根據(jù)所主張本發(fā)明的示例性實施方案，測試環(huán)境10包括測試器12(例如，包括VSG和VSA，如上文所論述)、DUT 14和控制器18，其全部如圖所示實質(zhì)上互連?？刂破?8經(jīng)由控制器18與DUT 14之間的控制信號接口19a以及控制器18與測試器12之間的控制信號接口19b交換測試命令和數(shù)據(jù)?？刂破?8可在測試器12和DUT14外部并且與其分開，如此處所描繪，或替代地，控制器18可部分或全部包括在測試器12內(nèi)。

測試器12與DUT 14之間的測試信號接口16一般為傳導信號路徑(諸如RF同軸纜線)和連接器17a、17b，或替代地為無線信號路徑16而充當與測試器12和DUT 14相關(guān)聯(lián)的天線17a、17b之間的通信介質(zhì)。根據(jù)熟知原理，此信號路徑16用來傳輸源自測試器12和DUT 14的數(shù)據(jù)包信號13、15。

參考圖2，在DUT 14的傳輸(TX)信號測試期間，通過DUT 14傳輸多個循序數(shù)據(jù)包序列201、202、204、206、207、…作為TX信號15，用于測試器12接收和分析。這些數(shù)據(jù)包序列通常包括自我校準序列201、206和測試數(shù)據(jù)包序列202、204、207，并且包括具有通過各自包間間隔19來互相分開的各自包持續(xù)時間的包。這些包序列201、202、204、206、207、…通過序列間間隔17、203、205、21、208、…而進一步互相分開。測試數(shù)據(jù)包序列202、204、207可處于相同的頻率(或信道)或處于不同頻率。自我校準序列201、206可發(fā)生在各種信號事件后，包括但不限于預(yù)定數(shù)目個TX數(shù)據(jù)包的傳輸、TX信號頻率或功率改變，或定時事件。

如此處對于此示例性序列的數(shù)據(jù)包所描繪，在此系列循序數(shù)據(jù)包序列內(nèi)的某處，發(fā)起自我校準，由此引入自我校準數(shù)據(jù)包傳輸201，之后，在序列間間隔17后，傳輸測試數(shù)據(jù)包序列202、204(其由另一序列間間隔203分開)。如圖所示，自我校準數(shù)據(jù)包序列包括具有變動的信號特性(諸如信號功率電平和數(shù)據(jù)速率)的數(shù)據(jù)包傳輸，并且如本領(lǐng)域技術(shù)人員所了解，此類數(shù)據(jù)包傳輸不以其他方式與由特定DUT14所預(yù)期接收的數(shù)據(jù)包一致或相關(guān)聯(lián)，以確保正確數(shù)據(jù)接收的目的。

如圖所示，在新作用中的信號發(fā)射器電路系統(tǒng)穩(wěn)定化期間，這些測試數(shù)據(jù)包序列202、204內(nèi)的測試數(shù)據(jù)包(其接在其先前序列間間隔17、203(在這些間隔期間信號發(fā)射器電路系統(tǒng)為閑置，例如，關(guān)閉)之后)最初具有變動的信號功率電平，其后，數(shù)據(jù)包信號電平穩(wěn)定于所需的標稱信號功率電平。這些測試數(shù)據(jù)包序列202、204中的一者或兩者的重復(fù)的包持續(xù)時間和包間間隔共同限定數(shù)據(jù)包模式。

在另一序列間時間間隔205后，DUT 14芯片組可發(fā)起和傳輸另一自我校準數(shù)據(jù)包序列206，其包括不同包持續(xù)時間和/或包間間隔，由此限定另一數(shù)據(jù)包模式，其不同于由先前測試數(shù)據(jù)包序列202、204所限定的模式。此外，自我校準數(shù)據(jù)包序列206不具有包持續(xù)時間和包間間隔的重復(fù)模式。這些先前與后續(xù)(例如，相鄰)數(shù)據(jù)包模式之間的此差異充當觸發(fā)事件。因此，觸發(fā)先前序列202、204的測試數(shù)據(jù)包中的一者或多者的捕獲和分析。

此自我校準數(shù)據(jù)包序列206后續(xù)接著另一序列間間隔21，再來是下一測試數(shù)據(jù)包序列207。然而，由于自我校準數(shù)據(jù)包序列206并不具有包持續(xù)時間和包間間隔的重復(fù)模式，所以不比較下一測試數(shù)據(jù)包序列207的數(shù)據(jù)包模式與自我校準數(shù)據(jù)包模式，以用于判定是否應(yīng)觸發(fā)任何數(shù)據(jù)包的捕獲和分析的目的。

接下來，在下一數(shù)據(jù)包序列207(其包括重復(fù)包持續(xù)時間和包間間隔)和后續(xù)時間間隔208后，監(jiān)測后續(xù)數(shù)據(jù)包模式以判定是否以及何時進一步觸發(fā)事件發(fā)生，由此發(fā)起接在彼等之前的此序列207的一個或多個先前測試數(shù)據(jù)包的捕獲和分析。

參考圖3，如圖所示進行根據(jù)所主張本發(fā)明的示例性實施方案的測試流程40。在偵測到TX數(shù)據(jù)包信號的發(fā)起42后，監(jiān)測信號以偵測重復(fù)的數(shù)據(jù)包模式44，該模式可基于各種信號特性而限定，此類信號特性包括但不限于數(shù)據(jù)包持續(xù)時間、包間間隔或包功率電平。如果未偵測到重復(fù)的數(shù)據(jù)包模式43(例如，如上文所述)，則繼續(xù)此監(jiān)測44直到偵測到重復(fù)數(shù)據(jù)包模式的時間(或已超過超時時間間隔)。

如果偵測到重復(fù)的數(shù)據(jù)包模式45，則啟用傳入數(shù)據(jù)包的捕獲46。隨著傳入數(shù)據(jù)包被捕獲，繼續(xù)監(jiān)測傳入數(shù)據(jù)包是否有重復(fù)的數(shù)據(jù)包模式48。只要繼續(xù)偵測到重復(fù)的數(shù)據(jù)包模式47，此監(jiān)測就繼續(xù)進行。當不再偵測到重復(fù)的數(shù)據(jù)包模式49時，預(yù)定數(shù)目N個最新近捕獲的數(shù)據(jù)包被識別且傳輸至適當資源或以其他方式使其可由適當資源存取以用于分析50。如果測試被視為完成53，此測試流程即結(jié)束。如果測試未視為完成51，則重復(fù)此測試流程40。

因此，最終在以下兩個事件的任一者后，發(fā)起預(yù)定數(shù)目個最新近捕獲的數(shù)據(jù)包的分析：(1)接收一個或多個重復(fù)的數(shù)據(jù)包模式，其后續(xù)接著的時間間隔不同于(例如，長于)先前包間間隔且在此時間間隔期間未接收到數(shù)據(jù)包；或(2)接收不同于先前重復(fù)的數(shù)據(jù)包模式的數(shù)據(jù)包模式(例如，數(shù)據(jù)包模式具有不同數(shù)據(jù)包持續(xù)時間、不同包間間隔或不同包功率電平中的一者或多者)。

參考圖4，用于如上文所論述捕獲及分析測試數(shù)據(jù)包的電路系統(tǒng)100可共置在測試器12內(nèi)，或替代地，根據(jù)熟知技術(shù)，可部分定位在測試器12內(nèi)且部分定位在其他處(例如，數(shù)據(jù)包捕獲電路系統(tǒng)102定位在測試器12內(nèi)，而分析電路系統(tǒng)104定位在其他處且可經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)通信存取)。如上文所論述，在數(shù)據(jù)包捕獲電路系統(tǒng)102內(nèi)捕獲測試數(shù)據(jù)包序列15。在觸發(fā)發(fā)生后，如上文所論述，通過分析電路系統(tǒng)104分析指定數(shù)據(jù)包103以產(chǎn)生測試結(jié)果105。

參考圖5，根據(jù)示例性實施方案，捕獲電路系統(tǒng)102可實施為接收電路系統(tǒng)122，其能夠提供數(shù)據(jù)包序列15的任何必要信號轉(zhuǎn)換(例如，信號降頻轉(zhuǎn)換、模擬轉(zhuǎn)數(shù)字信號轉(zhuǎn)換等)，以提供數(shù)字信號數(shù)據(jù)123a以用于存儲于存儲器電路系統(tǒng)124中。還通過偵測電路系統(tǒng)126來監(jiān)測此數(shù)字信號數(shù)據(jù)123b，以識別觸發(fā)事件的發(fā)生(如上文所論述)。在通過偵測電路系統(tǒng)126偵測到觸發(fā)事件后，提供一個或多個控制信號103b給分析電路系統(tǒng)104(圖3)，響應(yīng)于此，分析電路系統(tǒng)104將存取預(yù)定數(shù)目個測試數(shù)據(jù)包103a以用于分析。

替代地，通過偵測電路系統(tǒng)126監(jiān)測所存儲數(shù)據(jù)127a，以偵測觸發(fā)事件的發(fā)生(如上文所論述)。響應(yīng)于觸發(fā)事件，偵測電路系統(tǒng)126提供一個或多個控制信號127b至存儲器電路系統(tǒng)124，以提供預(yù)定數(shù)目個數(shù)據(jù)包103a，用于分析電路系統(tǒng)104進行處理。替代地，偵測電路系統(tǒng)126可提供一個或多個控制信號103b至分析電路系統(tǒng)104，指出已識別觸發(fā)事件，響應(yīng)于此，分析電路系統(tǒng)104可提供一個或多個控制信號125至存儲器電路系統(tǒng)124，以存取所需數(shù)目個測試數(shù)據(jù)包103a。

參考圖6，根據(jù)進一步示例性實施方案，可實施分析電路系統(tǒng)104以包括存儲器電路系統(tǒng)142、偵測電路系統(tǒng)144和處理電路系統(tǒng)146。可實施捕獲電路系統(tǒng)102(圖3)以提供數(shù)據(jù)包序列15的任何必要轉(zhuǎn)換(例如，信號降頻轉(zhuǎn)換、模擬轉(zhuǎn)數(shù)字信號轉(zhuǎn)換等)，以提供數(shù)字信號數(shù)據(jù)103以用于存儲于存儲器電路系統(tǒng)142中。通過偵測電路系統(tǒng)144監(jiān)測此數(shù)字數(shù)據(jù)145a，以偵測觸發(fā)事件的發(fā)生(如上文所論述)。響應(yīng)于觸發(fā)事件，偵測電路系統(tǒng)144提供一個或多個控制信號145b至存儲器電路系統(tǒng)142，以提供預(yù)定數(shù)目個數(shù)據(jù)包143用于處理電路系統(tǒng)146處理。替代地，偵測電路系統(tǒng)144可提供一個或多個控制信號145c至處理電路系統(tǒng)146，指出已識別觸發(fā)事件，響應(yīng)于此，處理電路系統(tǒng)146可提供一個或多個控制信號147至存儲器電路系統(tǒng)142，以存取所需數(shù)目個測試數(shù)據(jù)包143。

本發(fā)明的結(jié)構(gòu)和操作方法的各種其他修改形式和替代形式在不背離本發(fā)明的實質(zhì)與范圍的情況下，對本領(lǐng)域技術(shù)人員而言是顯而易見的。盡管已通過特定優(yōu)選實施方案說明本發(fā)明，應(yīng)理解所主張的本發(fā)明不應(yīng)過度地受限于這些特定實施方案。我們意欲以下列權(quán)利要求書限定本發(fā)明的范圍且意欲從而涵蓋這些權(quán)利要求書的范圍內(nèi)的結(jié)構(gòu)與方法以及其等同形式。