專利名稱：：基于隨機(jī)置換的偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明屬于檢測(cè)領(lǐng)域，特別涉及偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)方法，可用于擴(kuò)頻通信系統(tǒng)中的調(diào)制解調(diào)，流密碼系統(tǒng)中的密鑰流生成等。
背景技術(shù)：
：通過(guò)隨機(jī)數(shù)發(fā)生器產(chǎn)生的偽隨機(jī)序列，其隨機(jī)性直接影響到應(yīng)用的安全性，因此要判斷該應(yīng)用是否安全，必須要先保證該偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性性能良好，而對(duì)偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)一直都是序列隨機(jī)性檢測(cè)中的難點(diǎn)。要檢測(cè)一個(gè)序列是否擁有真正隨機(jī)序列的特性可以從幾個(gè)方面考慮1)周期性特征；2)序列中符號(hào)"0"和"1"出現(xiàn)的比例;3)序列中的游程的分布情況；4)序列的異相自相關(guān)函數(shù)；5)序列的復(fù)雜度，例如線性復(fù)雜度；6)序列的可壓縮情況；為了測(cè)試一個(gè)序列是否滿足隨機(jī)序列的這些性質(zhì)而提出了多種具有針對(duì)性的隨機(jī)性檢測(cè)方法，例如二元矩陣秩測(cè)試和頻譜測(cè)試可以測(cè)試序列的周期特性；頻率測(cè)試和分塊頻率測(cè)試可以測(cè)試序列中符號(hào)"0"和"1"出現(xiàn)的比例；線性復(fù)雜度測(cè)試、最大階復(fù)雜度測(cè)試和二階復(fù)雜度測(cè)試可以測(cè)試序列的復(fù)雜度。相應(yīng)的測(cè)試存在六十多種，然而，它們都只能是針對(duì)隨機(jī)性的某些性質(zhì)進(jìn)行測(cè)試，也就是說(shuō)每個(gè)測(cè)試的通過(guò)只能說(shuō)明該序列滿足某個(gè)隨機(jī)特性，但并不能確保它還符合其他的特性，即都存在局限性和片面性，這些測(cè)試對(duì)序列的隨機(jī)性只能起到必要條件的說(shuō)明。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目在于針對(duì)現(xiàn)有的對(duì)序列的隨機(jī)性檢測(cè)技術(shù)，都是從研究原序列的特性的角度出發(fā)而進(jìn)行檢測(cè)而存在的問(wèn)題，提出一種偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)方法，在不影響原序列的隨機(jī)性的基礎(chǔ)上，通過(guò)這些線性變換處理改變?cè)蛄械囊恍┡帕行再|(zhì)，以克服現(xiàn)有技術(shù)在隨機(jī)性檢測(cè)問(wèn)題上的局限性和片面性，提高對(duì)原序列更加全面的測(cè)試效果。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明根據(jù)隨機(jī)序列經(jīng)過(guò)一定的處理之后仍是隨機(jī)序列的原則，對(duì)一系列對(duì)偽隨機(jī)序列進(jìn)行處理，具體方案如下技術(shù)方案一一種基于隨機(jī)置換的偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)方法，包括如下過(guò)程(1)設(shè)置待測(cè)二元序列為ai，a2，...，，長(zhǎng)度為n;(2)對(duì)待測(cè)序列求逆，得到逆序列為an，an—p...，&1;(3)對(duì)逆序列用Cram6r-vonMises測(cè)試方法進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，得到逆序列的統(tǒng)計(jì)值《=;+-，n為采樣點(diǎn)，Xl(i)為根據(jù)逆序列構(gòu)造的一個(gè)服從標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的統(tǒng)計(jì)量，F(xiàn)(X1(i))為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)；(4)通過(guò)Cram6r-vonMises測(cè)試方法，選定一個(gè)分位點(diǎn)a(0<a<l)，構(gòu)造標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值Mv2-A^:(i^力—F飛勾)2血，^為a對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布變量，F(xiàn)(x)為待測(cè)分布函數(shù)，F(xiàn)*(x)為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)，F(xiàn)(x)服從與F*(x)對(duì)應(yīng)的隨機(jī)特性；(5)將逆序列的統(tǒng)計(jì)值1\與標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值Nw2進(jìn)行比較，若1\小于該標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值，則待測(cè)序列滿足隨機(jī)特性，反之待測(cè)序列不具有隨機(jī)特性。技術(shù)方案二一種基于隨機(jī)置換的偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)方法，包括如下過(guò)程1)設(shè)置待測(cè)二元序列為ai，a2，...，an，長(zhǎng)度為n;2)對(duì)待測(cè)序列取反，得到反序列為ai，a2，...，an，其中ai=(l+a^mod2，1《i《n;3)對(duì)反序列用Cram6r-vonMises測(cè)試方法進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，得到反序列的統(tǒng)計(jì)值T2=y^+g[|^-i^JC2(,.))]，N為采樣點(diǎn)，x犯)為根據(jù)反序列構(gòu)造的一個(gè)服從標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的統(tǒng)計(jì)量，F(xiàn)(X2(i))為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)；4)通過(guò)Cram6r-vonMises測(cè)試方法，選定一個(gè)分位點(diǎn)a(0<a<l)，構(gòu)造標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值A(chǔ)^-iVj:CF(x)-/^(x))2A，Xa為a對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布變量，F(xiàn)(x)為待測(cè)分布函數(shù)，F(xiàn)*(x)為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)，F(xiàn)(x)服從與F*(x)對(duì)應(yīng)的隨機(jī)特性；5)將反序列的統(tǒng)計(jì)值T2與標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值Nw2進(jìn)行比較，若T2小于該標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值，則待測(cè)序列滿足隨機(jī)特性，反之待測(cè)序列不具有隨機(jī)特性。技術(shù)方案三一種基于隨機(jī)置換的偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)方法，包括如下過(guò)程；〈1>設(shè)置待測(cè)二元序列為ai，a2，...，an，長(zhǎng)度為n;〈2>對(duì)待測(cè)序列進(jìn)行隨機(jī)交織取一個(gè)隨機(jī)交織器S為從集合{iI1《i《n}到其自身的一一映射，將其記為S(j)=i，其中，1《i《n，1《j《n;利用隨機(jī)交織器S對(duì)序列ai，a2，...，an進(jìn)行交織，得到隨機(jī)交織序列as(1)，as(2)，...，as(n);〈3>對(duì)隨機(jī)交織序列用Cram6r-vonMises測(cè)試方法進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，得到隨機(jī)交織序列的統(tǒng)計(jì)值7;》[醫(yī)-^(義3(,.))]，N為采樣點(diǎn)，x細(xì)為根據(jù)隨機(jī)交織序列構(gòu)造的一個(gè)服從標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的統(tǒng)計(jì)量，F(xiàn)(x^))為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)；〈4>通過(guò)Cram6r-vonMises測(cè)試方法，選定一個(gè)分位點(diǎn)a(0<a<l)，構(gòu)造標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值^V、^l:(F0:)-i^(X))2血，Xa為a對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布變量，F(xiàn)(x)為待測(cè)分布函數(shù)，F(xiàn)*(x)為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)，F(xiàn)(x)服從與F*(x)對(duì)應(yīng)的隨機(jī)特性；〈5>將隨機(jī)交織序列的統(tǒng)計(jì)值T3與標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值Nw2進(jìn)行比較，若T3小于該標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值，則待測(cè)序列滿足隨機(jī)特性，反之待測(cè)序列不具有隨機(jī)特性。本發(fā)明由于對(duì)待測(cè)序列先進(jìn)行求逆或取反或隨機(jī)交織處理之后得到逆序列或反序列或隨機(jī)交織序列，將原待測(cè)序列和處理后得到的序列分別進(jìn)行Cram6r-vonMises檢驗(yàn)，仿真結(jié)果表明本發(fā)明具有如下優(yōu)點(diǎn)A.原待測(cè)序列經(jīng)過(guò)Cram6r-vonMises檢驗(yàn)的結(jié)果是序列滿足隨機(jī)特性，處理后得到的序列的檢驗(yàn)結(jié)果是序列不具有隨機(jī)性，綜合這兩個(gè)檢驗(yàn)結(jié)果可以得到原待測(cè)序列不具有隨機(jī)性的檢驗(yàn)結(jié)果，不同于原方法只直接對(duì)原待測(cè)序列進(jìn)行檢驗(yàn)的序列滿足隨機(jī)特性的檢驗(yàn)結(jié)果，由此解決了原方法在檢驗(yàn)結(jié)果上的局限性和片面性；B.當(dāng)兩個(gè)檢驗(yàn)結(jié)果都是序列具有隨機(jī)性或者序列不具有隨機(jī)性時(shí)，本發(fā)明提出的方法比原方法得到的檢驗(yàn)結(jié)果多經(jīng)過(guò)了一次對(duì)處理后的序列進(jìn)行檢驗(yàn)，使得這個(gè)檢驗(yàn)結(jié)果更加全面。具體實(shí)施例方式實(shí)施例一，通過(guò)對(duì)待測(cè)序列求逆實(shí)現(xiàn)偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)。具體步驟如下步驟一，輸入待測(cè)序列ai，a2，...，an，n=106。步驟二，求待測(cè)序列ai，a2，...，an的逆序列，得到an，步驟三，對(duì)逆序列用Cram6r-vonMises測(cè)試方法進(jìn)行統(tǒng)計(jì)a)將長(zhǎng)度為106的逆序列an，an—n...，&1分成長(zhǎng)度為10000的100個(gè)小分組，記m=10000，N=100，其中10000和100為任選;b)設(shè)Xlij表示第i個(gè)小分組中第j個(gè)比特，i=1，2，L，N，j=1，2，L，m，構(gòu)造統(tǒng)c)將x1(i)按從小到大進(jìn)行排序x1(1)《x1(2)《L《x1(N);d)將x他帶入；-A+gfl^-i^XK,.):);!，求出逆序列的統(tǒng)計(jì)值L，F(xiàn)(x他)為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)。步驟四，選定分位點(diǎn)a和分組N，利用下式得到對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值Mv、Wj:CF(x)-i^0:))2血，Xa為a對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布變量，F(xiàn)、x)為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)，F(xiàn)(x)服從與F、x)對(duì)應(yīng)的隨機(jī)特性，例如選定a=0.05，N=100，則標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值為Nw2=0.220;選定a=0.05，N=10，則標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值為Nw2=0.212;選定a=0.01，N=100，則標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值為Nw2=0.340;選定不同的分位點(diǎn)a和N對(duì)應(yīng)不同的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值，可得到表1所述的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值。表1:標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值<table>tableseeoriginaldocumentpage7</column></row><table>步驟五，將1\與選定的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值進(jìn)行比較，若1\小于該標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值，則待測(cè)序列滿足隨機(jī)特性，反之待測(cè)序列不具有隨機(jī)特性，例如1\小于標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值0.220時(shí)，待測(cè)序列ai，a2，...，an滿足隨機(jī)特性，反之待測(cè)序列ai，a2，...，an不具有隨機(jī)特性。實(shí)施例二，通過(guò)對(duì)待測(cè)序列求反實(shí)現(xiàn)偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)。具體步驟如下步驟l，輸入待測(cè)序列ai，a2，，an，n=106。步驟2，求待測(cè)序列ai，a2，，an的反序列，得到a"a2，...，，其中^=(l+a》mod2，1《i《n。步驟3，對(duì)反序列用Cram6r-vonMises測(cè)試方法進(jìn)行統(tǒng)計(jì)1)將長(zhǎng)度為106的反序列ai，a2，，an分成長(zhǎng)度為50000的20個(gè)小分組，記m=50000，N=20，其中50000和20為任選；2)設(shè)x2ij表示第i個(gè)小分組中第j個(gè)比特，i=1，2，L，N，j=1，2，L，m，構(gòu)造統(tǒng)計(jì),2(z)=*2%2').;3)將x2(i)按從小到大進(jìn)行排序x2(1)《x2(2)《L《x2(N);4)將x2(i)帶入72=^+g[祭—F(X2(,.))]，求出反序列的統(tǒng)計(jì)值T2，F(xiàn)(x2(i))為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)。步驟4，選定分位點(diǎn)a和分組N，利用下式得到對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值Mv2-A^:(F(x)-i^(x))2^:，Xa為a對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布變量，F(xiàn)、x)為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)，F(xiàn)(x)服從與F、x)對(duì)應(yīng)的隨機(jī)特性，例如選定a=0.01，N=20，則標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值為Nw2=0.330;選定a=0.05，N=30，則標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值為Nw2=0.218;選定a=0.05，N=60，則標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值為Nw2=0.220;選定不同的分位點(diǎn)a和N對(duì)應(yīng)不同的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值，可得到表1所述的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值。步驟5，將T2與選定的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值進(jìn)行比較，若T2小于該標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值，則待測(cè)序列滿足隨機(jī)特性，反之待測(cè)序列不具有隨機(jī)特性，例如T2小于標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值0.330時(shí)，待測(cè)序列ai，a2，...，an滿足隨機(jī)特性，反之待測(cè)序列ai，a2，...，an不具有隨機(jī)特性。實(shí)施例三，通過(guò)對(duì)待測(cè)序列進(jìn)行隨機(jī)交織實(shí)現(xiàn)偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)。具體步驟如下步驟A，輸入待測(cè)序列ai，a2，...，an，n=106。步驟B，對(duì)待測(cè)序列ai，a2，...，an進(jìn)行隨機(jī)交織。〈B1>根據(jù)待測(cè)序列長(zhǎng)度n，初始化集合I={l，2，L，n}，從集合I中隨機(jī)選擇一個(gè)整數(shù)Sl記為S(l)，同時(shí)將Sl從集合I中刪除，得到的新的集合記為L(zhǎng);〈B2>在第k步，從集合Ik—!={sGI，s-Sl，L，sk—J中隨機(jī)選擇一個(gè)整數(shù)sk記為S(k)，同時(shí)將sk從集合Ik—工中刪除，得到的新的集合記為Ik，k=2，3，L，n;〈B3>當(dāng)k=n時(shí)，得到S(n)，隨機(jī)交織完畢；〈B4>根據(jù)以上得到的S(1)，S(2)，L，S(n)，得到隨機(jī)交織序列as(1)，as(2)，...，as(n)。步驟C，對(duì)隨機(jī)交織序列用Cram6r-vonMises測(cè)試方法進(jìn)行統(tǒng)計(jì)CI)將長(zhǎng)度為106的隨機(jī)交織序列as(1)，as(2)，...，as(n)分成長(zhǎng)度為105的10個(gè)小分組，記m=105，N=10，其中105和10為任選;C2)設(shè)x3ij表示第i個(gè)小分組中第j個(gè)比特，i=1，2，L，N，j=1，2，L，m，構(gòu)造統(tǒng)C3)將x3(i)按從小到大進(jìn)行排序x3(1)《x3(2)《L《x3(N);C4)將x細(xì)帶入:T34+》^一F(x糾)]，求出隨機(jī)交織序列的統(tǒng)計(jì)值T3，F(xiàn)(x3(i))為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)。步驟D，選定分位點(diǎn)a和分組N，利用下式得到對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值My2-iV廣(F(x)-F>))2^，Xa為a對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布變量，F(xiàn)、x)為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)，F(xiàn)(x)服從與F、x)對(duì)應(yīng)的隨機(jī)特性，例如選定a=0.01，N=10，則標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值為Nw2=0.320;選定a=0.01，N=30，則標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值為Nw2=0.330;選定a=0.01，N=60，則標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值為Nw2=0.330;選定不同的分位點(diǎn)a和N對(duì)應(yīng)不同的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值，可得到表1所述的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值；步驟E，將T3與選定的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值進(jìn)行比較，若T3小于該標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值，則待測(cè)序列滿足隨機(jī)特性，反之待測(cè)序列不具有隨機(jī)特性，例如T3小于標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值0.320時(shí)，待測(cè)序列ai，a2，...，an滿足隨機(jī)特性，反之待測(cè)序列ai，a2，...，an不具有隨機(jī)特性。權(quán)利要求一種基于隨機(jī)置換的偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)方法，包括如下過(guò)程(1)設(shè)置待測(cè)二元序列為a1，a2，...，an，長(zhǎng)度為n；(2)對(duì)待測(cè)序列求逆，得到逆序列為an，an-1，...，a1；(3)對(duì)逆序列用Cramér-vonMises測(cè)試方法進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，得到逆序列的統(tǒng)計(jì)值N為采樣點(diǎn)，x1(i)為根據(jù)逆序列構(gòu)造的一個(gè)服從標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的統(tǒng)計(jì)量，F(xiàn)(x1(i))為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)；(4)通過(guò)Cramér-vonMises測(cè)試方法，選定一個(gè)分位點(diǎn)α(0＜α＜1)，構(gòu)造標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值xα為α對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布變量，F(xiàn)(x)為待測(cè)分布函數(shù)，F(xiàn)*(x)為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)，F(xiàn)(x)服從與F*(x)對(duì)應(yīng)的隨機(jī)特性；(5)將逆序列的統(tǒng)計(jì)值T1與標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值Nw2進(jìn)行比較，若T1小于該標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值，則待測(cè)序列滿足隨機(jī)特性，反之待測(cè)序列不具有隨機(jī)特性。2.—種基于隨機(jī)置換的偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)方法，包括如下過(guò)程1)設(shè)置待測(cè)二元序列為A，a2，...，a。，長(zhǎng)度為n;2)對(duì)待測(cè)序列取反，得到反序列為ai，a2，...，an，其中ai=(l+ai)mod2，1《i《n;3)對(duì)反序列用Cram6r-vonMises測(cè)試方法進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，得到反序列的統(tǒng)計(jì)值<formula>formulaseeoriginaldocumentpage0</formula>T22[^-尸(義2(,.))]，N為采樣點(diǎn)，^(i)為根據(jù)反序列構(gòu)造的一個(gè)服從標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的統(tǒng)計(jì)量，F(xiàn)(x2(i))為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)；4)通過(guò)Cram6r-vonMises測(cè)試方法，選定一個(gè)分位點(diǎn)a(0<a<l)，構(gòu)造標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值A(chǔ)^2-iVJ:CF(X)-F""(X))2血，Xa為a對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布變量，F(xiàn)(x)為待測(cè)分布函數(shù)，F(xiàn)*(x)為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)，F(xiàn)(x)服從與F*(x)對(duì)應(yīng)的隨機(jī)特性；5)將反序列的統(tǒng)計(jì)值T2與標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值Nw2進(jìn)行比較，若T2小于該標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值，則待測(cè)序列滿足隨機(jī)特性，反之待測(cè)序列不具有隨機(jī)特性。3.—種基于隨機(jī)置換的偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)方法，包括如下過(guò)程〈1>設(shè)置待測(cè)二元序列為A，a2，...，，長(zhǎng)度為n;〈2>對(duì)待測(cè)序列進(jìn)行隨機(jī)交織隨機(jī)交織器S為從集合U11《i《n}到其自身的一一映射，將其記為S(j)=i，其中，1《i《n，1《j《n;利用隨機(jī)交織器S對(duì)序列ai，a2，...，an進(jìn)行交織，得到隨機(jī)交織序列as(1)，as(2)，...，as(n);〈3>對(duì)隨機(jī)交織序列用Cram6r-vonMises測(cè)試方法進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，得到隨機(jī)交織序列的統(tǒng)計(jì)值K=I^+g[祭—，N為采樣點(diǎn)，X3(i)為根據(jù)隨機(jī)交織序列構(gòu)造的一個(gè)服從標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的統(tǒng)計(jì)量，F(xiàn)(x^))為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)；〈4>通過(guò)Cram6r-vonMises測(cè)試方法，選定一個(gè)分位點(diǎn)a(0<a<1)，構(gòu)造標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值Mv2-^廣CF(I)-i^(X))^，Xa為a對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布變量，F(xiàn)(x)為待測(cè)分<formula>formulaseeoriginaldocumentpage2</formula>布函數(shù)，F(xiàn)*(x)為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布函數(shù)，F(xiàn)(x)服從與F*(x)對(duì)應(yīng)的隨機(jī)特性；〈5>將隨機(jī)交織序列的統(tǒng)計(jì)值T3與標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值Nw2進(jìn)行比較，若T3小于該標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值，則待測(cè)序列滿足隨機(jī)特性，反之待測(cè)序列不具有隨機(jī)特性。全文摘要本發(fā)明公開(kāi)了一種基于隨機(jī)置換的偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)方法，它屬于檢測(cè)領(lǐng)域，主要解決現(xiàn)有的隨機(jī)性檢測(cè)方法中存在的局限性和片面性的問(wèn)題。其檢測(cè)步驟是對(duì)待測(cè)序列進(jìn)行一系列的隨機(jī)置換處理，如求逆或取反或隨機(jī)交織；將隨機(jī)置換處理后得到的逆序列或反序列或隨機(jī)交織序列用Cramér-vonMises檢測(cè)方法進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，得到對(duì)應(yīng)序列的統(tǒng)計(jì)值，將對(duì)應(yīng)序列的統(tǒng)計(jì)值與選定的標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值進(jìn)行比較，若統(tǒng)計(jì)值小于該標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)值，則待測(cè)序列滿足隨機(jī)特性，反之待測(cè)序列不具有隨機(jī)特性。本發(fā)明使得偽隨機(jī)序列的隨機(jī)性檢測(cè)在檢測(cè)結(jié)果上更加全面，可應(yīng)用于保密通信、航空航天、測(cè)距、密碼學(xué)和自動(dòng)控制領(lǐng)域。文檔編號(hào)H04L25/03GK101697533SQ20091021844公開(kāi)日2010年4月21日申請(qǐng)日期2009年10月21日優(yōu)先權(quán)日2009年10月21日發(fā)明者殷浩,陳秋麗,馬文平申請(qǐng)人:西安電子科技大學(xué);