專利名稱：接收器與其測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種接收器與信號(hào)測(cè)試的方法，且特別是關(guān)于一種串行數(shù)據(jù)接收器與信號(hào)測(cè)試的方法。
背景技術(shù)：
請(qǐng)參照?qǐng)D1A，其為公知的回路測(cè)試的示意圖。一具有串行高級(jí)技術(shù)連接(Serial Advanced Technology Attachment)節(jié)口的南橋芯片100包括一接收器112與一傳輸器114。于公知技術(shù)中，測(cè)試信號(hào)D1由傳輸器114連續(xù)地輸出至接收器112以達(dá)到回路測(cè)試的目的。于測(cè)試信號(hào)D1的傳遞過程中，傳輸器114僅傳遞測(cè)試信號(hào)D1的數(shù)據(jù)部分至接收器112。因此，接收器112的時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路(未示出)會(huì)追隨傳輸器114傳遞測(cè)試信號(hào)D1的頻率來作為本身的操作頻率。
請(qǐng)參考圖1B，其為圖1A中測(cè)試信號(hào)的傳送示意圖的一例。為了測(cè)試出傳輸器114傳送至接收器112的測(cè)試信號(hào)D1的正確性，公知作法是于傳輸器114內(nèi)部設(shè)計(jì)多個(gè)緩沖器10。這些緩沖器10用以預(yù)先記錄多個(gè)待測(cè)信號(hào)的樣本(pattern)A1-An，等到傳輸器114所輸出的測(cè)試信號(hào)D1傳遞至接收器112時(shí)，再將測(cè)試信號(hào)D1與緩沖器10儲(chǔ)存的待測(cè)信號(hào)樣本進(jìn)行比較，以便判斷接收器112是否成功地接收測(cè)試信號(hào)D1。
于公知回路測(cè)試方法中，利用接收器中的緩沖器來預(yù)先儲(chǔ)存待測(cè)信號(hào)的樣本，但于傳輸器中增加額外的緩沖器，除了造成電路設(shè)計(jì)的困難外，勢(shì)必增加整體的電路成本以及功率消耗，這些都是公知回路測(cè)試方法的缺點(diǎn)。因此，如何能有效且正確地來對(duì)接收器的功能進(jìn)行測(cè)試是一尚待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明提供一種接收器用以接收多個(gè)測(cè)試信號(hào)組，這些測(cè)試信號(hào)組分別具有多個(gè)位的數(shù)據(jù)。本發(fā)明的接收器包括時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路、串并行轉(zhuǎn)換器與測(cè)試模塊。時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路用以接收串行輸入的多個(gè)測(cè)試信號(hào)組，并追隨這些測(cè)試信號(hào)組的傳送頻率以得到一時(shí)鐘信號(hào)。串并行轉(zhuǎn)換器用以接收自時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路所輸出的這些測(cè)試信號(hào)組，并將這些測(cè)試信號(hào)組由串行輸入轉(zhuǎn)換為多個(gè)測(cè)試位組的并行輸出。測(cè)試模塊用以接收這些測(cè)試位組與時(shí)鐘信號(hào)，并將二個(gè)相鄰的測(cè)試位組進(jìn)行比較，通過判斷二個(gè)相鄰的測(cè)試位組是否完全相同，以得知接收器的操作狀態(tài)是否正常。
本發(fā)明另提出一種信號(hào)測(cè)試方法，適用于一可接收多個(gè)測(cè)試信號(hào)組的接收器。首先，接收串行輸入的多個(gè)測(cè)試信號(hào)組，并追隨這些測(cè)試信號(hào)組的傳送頻率以得到時(shí)鐘信號(hào)。接著，將這些測(cè)試信號(hào)組由串行格式轉(zhuǎn)換為并行格式的多個(gè)測(cè)試位組，其中，各測(cè)試位組皆具有多個(gè)位的數(shù)據(jù)。最后，將二個(gè)相鄰的測(cè)試位組進(jìn)行比較，并判斷此二個(gè)相鄰的測(cè)試位組間各個(gè)相對(duì)應(yīng)位的數(shù)據(jù)是否相同，以得知接收器的操作狀態(tài)是否正常。
為讓本發(fā)明的上述目的、特征、和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉一較佳實(shí)施例，并配合附圖，詳細(xì)說明如下


圖1A表示公知回路測(cè)試的示意圖。
圖1B表示圖1A中測(cè)試信號(hào)的傳送示意圖。
圖2表示本發(fā)明一較佳實(shí)施例的接收器的方塊圖。
圖3表示圖2的測(cè)試模塊的示意圖。
圖4表示本發(fā)明一較佳實(shí)施例的流程圖。
主要元件符號(hào)說明200接收器210時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路220串并行轉(zhuǎn)換器230測(cè)試模塊232第一緩沖器234第二緩沖器236數(shù)據(jù)檢查單元238計(jì)數(shù)器240字對(duì)齊模塊
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參照?qǐng)D2，其為本發(fā)明一較佳實(shí)施例的接收器的方塊圖。接收器200可設(shè)置于一芯片組中，例如南橋芯片，用以連續(xù)地接收數(shù)據(jù)相同的多個(gè)測(cè)試信號(hào)組D1。各測(cè)試信號(hào)組D1，例如具有10位(bits)長度的數(shù)據(jù)，由外部裝置20以串行的方式輸入至接收器200。接收器200與外部裝置20組成一數(shù)據(jù)測(cè)試系統(tǒng)。接收器200包括有時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路210、串并行轉(zhuǎn)換器220與測(cè)試模塊230。接收器200還包括字對(duì)齊模塊240。時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路210用以連續(xù)地接收這些串行輸入的測(cè)試信號(hào)組D1，并追隨這些測(cè)試信號(hào)組D1的傳送頻率以得到一時(shí)鐘信號(hào)Clk。其中，時(shí)鐘信號(hào)Clk作為接收器200的操作頻率。串并行轉(zhuǎn)換器220自時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路210接收這些測(cè)試信號(hào)組D1，并將這些測(cè)試信號(hào)組D1由串行輸入轉(zhuǎn)換為多個(gè)測(cè)試位組TS的并行輸出。由于測(cè)試信號(hào)組D1具有10位的數(shù)據(jù)，故在一較佳實(shí)施例中，各測(cè)試位組TS亦具有10位的數(shù)據(jù)。測(cè)試模塊230用以接收這些測(cè)試位組TS與時(shí)鐘信號(hào)C1k，并將目前的測(cè)試位組TS(1)與下一個(gè)測(cè)試位組TS(2)進(jìn)行比較，以判斷兩者間各個(gè)相對(duì)應(yīng)位的數(shù)據(jù)是否完全相同。若測(cè)試位組TS(1)與下一個(gè)測(cè)試位組TS(2)間各個(gè)對(duì)應(yīng)的10位的數(shù)據(jù)完全相同，則表示接收器200的操作狀態(tài)為正常。
進(jìn)一步來看測(cè)試模塊230如何達(dá)到信號(hào)測(cè)試的目的。請(qǐng)參考圖3，其為本發(fā)明較佳實(shí)施例的測(cè)試模塊230的方塊圖。測(cè)試模塊230包括第一緩沖器232、第二緩沖器234、數(shù)據(jù)檢查單元236與計(jì)數(shù)器238。第一緩沖器232用以寄存目前的測(cè)試位組TS(1)。第二緩沖器234用以寄存下一個(gè)測(cè)試位組TS(2)。數(shù)據(jù)檢查單元236用以接收目前的測(cè)試位組TS(1)與下一個(gè)測(cè)試位組TS(2)，并比較此二測(cè)試位組TS(1)與TS(2)中相對(duì)應(yīng)的各位的數(shù)據(jù)是否完全相同。計(jì)數(shù)器238用以記錄二個(gè)測(cè)試位組TS(1)與TS(2)間各對(duì)應(yīng)的位的數(shù)據(jù)相異的次數(shù)。當(dāng)?shù)谝粶y(cè)試位組TS(1)與第二測(cè)試位組TS(2)的10位數(shù)據(jù)完全相同時(shí)，表示接收器200的操作狀態(tài)正常，可正確接收測(cè)試信號(hào)。接著，測(cè)試模塊230將對(duì)比過的第一測(cè)試位組TS(1)輸出至字對(duì)齊模塊240，第二測(cè)試位組TS(2)移至第一緩沖器232，并將接續(xù)的第三測(cè)試位組TS(3)寄存至第二緩沖器234。依此方式，測(cè)試模塊230繼續(xù)對(duì)第二測(cè)試位組TS(2)與第三測(cè)試位組TS(3)進(jìn)行比較。在一較佳實(shí)施例中，第三測(cè)試位組TS(3)為第一測(cè)試位組TS(1)的后的下二個(gè)測(cè)試位組。
當(dāng)?shù)谝粶y(cè)試位組TS(1)與第二測(cè)試位組TS(2)中相對(duì)應(yīng)的10位里任一位的數(shù)據(jù)相異時(shí)，計(jì)數(shù)器238將一錯(cuò)誤記錄值加1。若計(jì)數(shù)器238的錯(cuò)誤記錄值到達(dá)一預(yù)定的次數(shù)時(shí)，例如一閾值，即可判斷出接收器200無法正確地進(jìn)行操作。于此情況下，可以重新調(diào)整接收器200的各設(shè)定，例如調(diào)整接收器200的參數(shù)設(shè)定，然后再對(duì)接收器200重新進(jìn)行測(cè)試，以找出適合接收器200的參數(shù)設(shè)定。此錯(cuò)誤紀(jì)錄值的閾值可依實(shí)際操作狀況而決定。
當(dāng)接收器200于正常操作的狀態(tài)(亦即非進(jìn)行測(cè)試的狀態(tài))下，字對(duì)齊模塊240用以將所接收的位組與儲(chǔ)存于其中的對(duì)照表(未示出)進(jìn)行比較，以將所接收的位組轉(zhuǎn)換成對(duì)應(yīng)的字組(word)。當(dāng)接收器200于進(jìn)行測(cè)試的狀態(tài)下時(shí)，則字對(duì)齊模塊240用以接收已比較完畢的測(cè)試位組TS，使新的測(cè)試位組TS可進(jìn)入第一緩沖器232與第二緩沖器234以進(jìn)行新的比較。
請(qǐng)參考圖4，其為本發(fā)明的信號(hào)測(cè)試方法的一較佳實(shí)施例，并請(qǐng)一并參考圖2與圖3。首先于步驟S1，時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路210連續(xù)地接收多個(gè)串行輸入的測(cè)試信號(hào)組D1，并依據(jù)這些測(cè)試信號(hào)組D1的傳輸頻率產(chǎn)生一時(shí)鐘信號(hào)Clk，以做為接收器200的操作頻率。于步驟S2中，串并行轉(zhuǎn)換器220將此串行輸入的測(cè)試信號(hào)組D1轉(zhuǎn)換成并行輸出的測(cè)試位組TS，測(cè)試位組TS的數(shù)據(jù)位數(shù)可與測(cè)試信號(hào)組D1的數(shù)據(jù)長度相同。
接著于步驟S3中，將前二個(gè)測(cè)試位組TS(1)與TS(2)分別寄存至第一緩沖器232與第二緩沖器234，并于步驟S4中由數(shù)據(jù)檢查模塊236比較此二個(gè)測(cè)試位組TS(1)與TS(2)中各個(gè)相對(duì)應(yīng)的位是否具有相同的數(shù)據(jù)。
如果測(cè)試位組TS(1)與TS(2)比較的結(jié)果具有相異的位數(shù)據(jù)，則計(jì)數(shù)器238依據(jù)相異的位數(shù)目累加錯(cuò)誤紀(jì)錄值，如步驟S5所示。比較完畢后，接著于步驟S6，重新載入一對(duì)測(cè)試位組至第一緩沖器232與第二緩沖器234，以進(jìn)行另一次比較。第一緩沖器232的測(cè)試位組TS(1)將輸出至字對(duì)齊模塊240，測(cè)試位組TS(2)則移至第一緩沖器232，并將測(cè)試位組TS(3)寄存至第二緩沖器234。接續(xù)再回到步驟S4，比較測(cè)試位組TS(2)與TS(3)的各個(gè)位組是否相同，依此類推直到所有測(cè)試位組TS比較完畢。
如果測(cè)試位組TS(1)與TS(2)比較的結(jié)果未具有相異的位數(shù)據(jù)，則于對(duì)比完畢后直接進(jìn)入步驟S6，以進(jìn)行新的對(duì)比。于所有測(cè)試位組比較完畢后，計(jì)數(shù)器238的錯(cuò)誤紀(jì)錄值仍于一閾值范圍內(nèi)，即表示接收器200工作正常。若于測(cè)試過程中，計(jì)數(shù)器238的錯(cuò)誤紀(jì)錄值超過此閾值時(shí)，表示接收器200異常，即可停止比較的步驟，重新設(shè)定接收器200。
本發(fā)明的實(shí)施例利用測(cè)試模塊來檢查相鄰的二測(cè)試信號(hào)組中，各個(gè)相對(duì)應(yīng)的位的數(shù)據(jù)是否完全相同，以得知接收器是否正常。相較于公知技術(shù)在接收器中增加多個(gè)緩沖器來記錄多組測(cè)試信號(hào)樣本的方法，本發(fā)明的測(cè)試方法僅需進(jìn)行簡單的位組比較，即可完成測(cè)試。本發(fā)明的電路設(shè)計(jì)亦較公知作法簡單許多，所須使用的緩沖器個(gè)數(shù)也減少，故能有效地節(jié)省電路成本。
此外，由于公知技術(shù)的接收器所接收的測(cè)試信號(hào)組必須與緩沖器的測(cè)試信號(hào)樣本進(jìn)行比較，所以傳輸器僅能輸出測(cè)試信號(hào)組，故公知作法中對(duì)傳輸器與接收器的控制流程較為繁復(fù)。而本發(fā)明僅需持續(xù)地傳送相同的測(cè)試信號(hào)組至接收器，所以不需對(duì)外部裝置與接收器進(jìn)行繁復(fù)的控制流程，且測(cè)試信號(hào)組的產(chǎn)生很容易，所能使用的測(cè)試信號(hào)組的內(nèi)容較有彈性且更多元。除此的外，本發(fā)明的測(cè)試方法更具有能快速地測(cè)得接收器的其他更精確的特性信息的優(yōu)點(diǎn)，例如接收器的抖動(dòng)(jitter)是否存在、接收器的敏感度等。
本發(fā)明雖以優(yōu)選實(shí)施例公開如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可進(jìn)行更動(dòng)與修改，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍以所提出的權(quán)利要求所限定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種接收器，用以接收多個(gè)測(cè)試信號(hào)組，該多個(gè)測(cè)試信號(hào)組分別具有多個(gè)位的數(shù)據(jù)，該接收器包括一時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路，用以接收串行輸入的該多個(gè)測(cè)試信號(hào)組，并追隨該多個(gè)測(cè)試信號(hào)組的傳送頻率以得到一時(shí)鐘信號(hào)，其中，該時(shí)鐘信號(hào)作為該接收器的操作頻率；一串并行轉(zhuǎn)換器，用以接收該時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路輸出的該多個(gè)測(cè)試信號(hào)組，并將串行輸入的該多個(gè)測(cè)試信號(hào)組轉(zhuǎn)換為并行輸出的多個(gè)測(cè)試位組，其中，該多個(gè)測(cè)試位組分別具有多個(gè)位的數(shù)據(jù)；以及一測(cè)試模塊，用以接收該多個(gè)測(cè)試位組與該時(shí)鐘信號(hào)，并對(duì)該多個(gè)測(cè)試位組中二個(gè)相鄰者進(jìn)行比較，以判斷該二個(gè)相鄰的該多個(gè)測(cè)試位組是否完全相同。
2.如權(quán)利要求1所述的接收器，其中該二個(gè)相鄰的該多個(gè)測(cè)試位組包括一目前測(cè)試位組與一下一測(cè)試位組，該測(cè)試模塊包括一數(shù)據(jù)檢查單元，用以接收該目前的測(cè)試位組與該下一個(gè)測(cè)試位組，并比較該目前測(cè)試位組與該下一測(cè)試位組的該多個(gè)相對(duì)應(yīng)的位的數(shù)據(jù)是否完全相同；以及一計(jì)數(shù)器，用以記錄該目前測(cè)試位組與該下一測(cè)試位組的該多個(gè)相對(duì)應(yīng)的位的數(shù)據(jù)相異次數(shù)的一錯(cuò)誤紀(jì)錄值。
3.如權(quán)利要求2所述的接收器，其中該錯(cuò)誤紀(jì)錄值超過一閾值時(shí)，表示該接收器異常。
4.如權(quán)利要求2所述的接收器，其中該測(cè)試模塊還包括一第一緩沖器，用以寄存該目前測(cè)試位組；以及一第二緩沖器，用以寄存該下一測(cè)試位組。
5.如權(quán)利要求1所述的接收器，其中該多個(gè)測(cè)試信號(hào)組由一外部裝置串行輸入至該接收器，且具有相同的數(shù)據(jù)內(nèi)容。
6.一種信號(hào)測(cè)試方法，適用于一可接收多個(gè)測(cè)試信號(hào)組的接收器，該多個(gè)測(cè)試信號(hào)組分別具有多個(gè)位的數(shù)據(jù)，該信號(hào)測(cè)試方法包括將該多個(gè)測(cè)試信號(hào)組轉(zhuǎn)換為并行輸出的多個(gè)測(cè)試位組，其中，該多個(gè)測(cè)試位組分別具有多個(gè)位的數(shù)據(jù)；以及比較該多個(gè)測(cè)試位組中二個(gè)相鄰者，以判斷該二個(gè)相鄰的該多個(gè)測(cè)試位組是否相同。
7.如權(quán)利要求6所述的信號(hào)測(cè)試方法，其中，該二個(gè)相鄰的該多個(gè)測(cè)試位組包括一目前測(cè)試位組與一下一測(cè)試位組，該方法還包括分別地寄存該目前測(cè)試位組與該下一測(cè)試位組；比較該目前測(cè)試位組與該下一測(cè)試位組相對(duì)應(yīng)的該多個(gè)位的數(shù)據(jù)是否完全相同；以及記錄該目前測(cè)試位組與該下一測(cè)試位組相對(duì)應(yīng)的該多個(gè)位的數(shù)據(jù)相異的次數(shù)至一錯(cuò)誤紀(jì)錄值。
8.如權(quán)利要求7所述的信號(hào)測(cè)試方法，其中該錯(cuò)誤紀(jì)錄值超過一閾值時(shí)，表示該接收器異常。
9.如權(quán)利要求6所述的信號(hào)測(cè)試方法，其中該二個(gè)相鄰的該多個(gè)測(cè)試位組比較完畢后，還包括輸出該二個(gè)相鄰的該多個(gè)測(cè)試位組的前者，以接續(xù)比較后二個(gè)相鄰的該多個(gè)測(cè)試位組。
10.如權(quán)利要求6所述的信號(hào)測(cè)試方法，其中該多個(gè)測(cè)試信號(hào)組由一外部裝置串行輸入至該接收器，且具有相同的數(shù)據(jù)。
全文摘要
一種接收器，包括時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路、串并行轉(zhuǎn)換器與測(cè)試模塊。時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路用以接收串行輸入的多個(gè)測(cè)試信號(hào)組，并追隨這些測(cè)試信號(hào)組的傳送頻率以得到時(shí)鐘信號(hào)。串并行轉(zhuǎn)換器用以接收自時(shí)鐘/數(shù)據(jù)恢復(fù)電路所輸出的這些測(cè)試信號(hào)組，并將這些測(cè)試信號(hào)組由串行輸入轉(zhuǎn)換為多個(gè)測(cè)試位組的并行輸出。測(cè)試模塊用以接收這些測(cè)試位組與時(shí)鐘信號(hào)，并將二個(gè)相鄰的測(cè)試位組進(jìn)行比較，通過判斷二個(gè)相鄰的測(cè)試位組是否完全相同，以得知接收器的操作狀態(tài)是否正常。
文檔編號(hào)H04B1/38GK1921358SQ200610127488
公開日2007年2月28日 申請(qǐng)日期2006年9月15日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月15日
發(fā)明者蕭進(jìn)發(fā), 林士閔 申請(qǐng)人:威盛電子股份有限公司