專利名稱：測試方法、通信元件及測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種測試方法、通信元件及測試系統(tǒng)。特別是本發(fā)明關(guān)于一種利用實際動作頻率對通信元件進(jìn)行測試的測試方法。
背景技術(shù)：
在習(xí)知技術(shù)中，已知有一種利用在通信元件內(nèi)所內(nèi)置的測試信號生成器及期待值比較器，檢測信號傳送中的比特錯誤，對通信元件的好壞進(jìn)行判定的測試方法。在該測試方法中，發(fā)送側(cè)的通信元件生成測試信號并向接收側(cè)的通信元件發(fā)送，接收側(cè)的通信元件將發(fā)送側(cè)的通信元件所發(fā)送的測試信號與期待值進(jìn)行比較，對發(fā)送側(cè)或接收側(cè)的通信元件的好壞進(jìn)行判定。由于目前還未發(fā)現(xiàn)先期實行的技術(shù)文獻(xiàn)的存在，所以省略關(guān)于先期實行的技術(shù)文獻(xiàn)的記述。
在習(xí)知的測試方法中，接收側(cè)的通信元件將從發(fā)送側(cè)的通信元件所發(fā)送的測試信號，在作為測試信號的數(shù)據(jù)單元的周期的單元間隔(interval)的大致中央，與期待值進(jìn)行比較，并從其比較結(jié)果中檢測出比特錯誤。因此，在比特錯誤的判定基準(zhǔn)中不考慮抖動特性的要素。因此，在因細(xì)微的干擾要素而產(chǎn)生比特錯誤這種通信元件中，無法正確地檢測出比特錯誤，難以進(jìn)行高精度的測試。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的是提供一種能夠解決上述課題的測試方法、通信元件及測試系統(tǒng)。該目的由權(quán)利要求范圍的獨(dú)立項中所記述的特征的組合而達(dá)成。而且，從屬項規(guī)定對本發(fā)明更加有利的具體例子。
本發(fā)明的第1形態(tài)提供一種測試方法，為一種對通信元件進(jìn)行測試的測試方法，包括產(chǎn)生基準(zhǔn)時鐘的基準(zhǔn)時鐘產(chǎn)生階段；根據(jù)基準(zhǔn)時鐘生成測試信號的測試信號生成階段；將在測試信號生成階段所生成的測試信號，由發(fā)送部進(jìn)行發(fā)送的發(fā)送階段；將在發(fā)送階段發(fā)送部所發(fā)送的測試信號，由接收部進(jìn)行接收的接收階段；將在接收階段接收部應(yīng)接收的測試信號的期待值，根據(jù)基準(zhǔn)時鐘而產(chǎn)生的期待值產(chǎn)生階段；使在接收階段接收部所接收的測試信號，對基準(zhǔn)時鐘進(jìn)行延遲的延遲階段；將在延遲階段被延遲的測試信號，與在期待值產(chǎn)生階段所產(chǎn)生的期待值進(jìn)行比較，并輸出表示是否一致的比較結(jié)果的比較階段；對應(yīng)于在延遲階段使測試信號延遲的延遲時間，將比較階段的比較結(jié)果進(jìn)行存儲的比較結(jié)果存儲階段；使延遲階段的測試信號延遲的延遲時間進(jìn)行變化，并反復(fù)進(jìn)行延遲階段、比較階段及比較結(jié)果存儲階段，且在每延遲時間將比較結(jié)果進(jìn)行存儲的反復(fù)階段；根據(jù)在反復(fù)階段所存儲的每延遲時間的比較結(jié)果，對在延遲階段被延遲的測試信號和在期待值產(chǎn)生階段所產(chǎn)生的期待值相互一致的延遲時間的范圍進(jìn)行檢測的檢測階段；根據(jù)在檢測階段所檢測的延遲時間的范圍，進(jìn)行接收部或發(fā)送部的好壞判定的判定階段。
也可使反復(fù)階段具有在每設(shè)定時間使延遲階段的測試信號延遲的延遲時間變化的階段；比較階段具有在設(shè)定時間內(nèi)將測試信號所包含的多個數(shù)據(jù)單元與期待值依次進(jìn)行比較的階段；比較結(jié)果存儲階段具有在多個數(shù)據(jù)單元的至少1個與期待值不一致的情況下，將用于表示在接收階段中接收部所接收的測試信號與期待值不一致的情況的比較結(jié)果進(jìn)行存儲的階段。反復(fù)階段也可具有使延遲階段的延遲時間，在測試信號生成階段所生成的測試信號包含的數(shù)據(jù)單元的周期以上的范圍內(nèi)進(jìn)行變化的階段。判定階段也可具有根據(jù)在檢測階段所檢測的延遲時間的范圍是否在預(yù)先所確定的規(guī)定值以上，對接收部或發(fā)送部的好壞進(jìn)行判定的階段。也可使通信元件包括多個接收部或多個發(fā)送部；檢測階段具有根據(jù)關(guān)于多個接收部或多個發(fā)送部的每延遲時間的比較結(jié)果，在所有的多個接收部或多個發(fā)送部，對在延遲階段被延遲的測試信號和在期待值產(chǎn)生階段所產(chǎn)生的期待值相互一致的延遲時間的范圍進(jìn)行檢測的階段。
本發(fā)明的第2形態(tài)提供一種測試方法，為一種對通信元件進(jìn)行測試的測試方法，包括產(chǎn)生基準(zhǔn)時鐘的基準(zhǔn)時鐘產(chǎn)生階段；使基準(zhǔn)時鐘延遲并生成延遲時鐘的延遲時鐘產(chǎn)生階段；根據(jù)延遲時鐘生成測試信號的測試信號生成階段；將在測試信號生成階段所生成的測試信號，由發(fā)送部進(jìn)行發(fā)送的發(fā)送階段；將在發(fā)送階段中發(fā)送部所發(fā)送的測試信號，由接收部進(jìn)行接收的接收階段；根據(jù)基準(zhǔn)時鐘，產(chǎn)生在接收階段接收部應(yīng)接收的測試信號的期待值的期待值產(chǎn)生階段；將在接收階段由接收部接收的測試信號，與在期待值產(chǎn)生階段所產(chǎn)生的期待值進(jìn)行比較，并輸出表示是否一致的比較結(jié)果的比較階段；與在延遲階段使基準(zhǔn)時鐘延遲的延遲時間對應(yīng)地，將比較階段的比較結(jié)果進(jìn)行存儲的比較結(jié)果存儲階段；使延遲時鐘生成階段的基準(zhǔn)時鐘延遲的延遲時間進(jìn)行變化，并反復(fù)進(jìn)行測試信號生成階段、發(fā)送階段、接收階段、比較階段及比較結(jié)果存儲階段，且在每延遲時間將比較結(jié)果進(jìn)行存儲的反復(fù)階段；根據(jù)在反復(fù)階段所存儲的每延遲時間的比較結(jié)果，對在接收階段接收部所接收的測試信號和在期待值產(chǎn)生階段所產(chǎn)生的期待值相互一致的延遲時間的范圍進(jìn)行檢測的檢測階段；根據(jù)在檢測階段所檢測的延遲時間的范圍，進(jìn)行接收部或發(fā)送部的好壞判定的判定階段。
本發(fā)明的第3形態(tài)提供一種通信元件，包括接收根據(jù)基準(zhǔn)時鐘所生成的測試信號的接收部；使延遲時間依次變化，并使基準(zhǔn)時鐘延遲而產(chǎn)生延遲時鐘的可變延遲部；根據(jù)可變延遲部所產(chǎn)生的延遲時鐘，使接收部所接收的測試信號延遲的測試信號延遲部；根據(jù)基準(zhǔn)時鐘產(chǎn)生接收部應(yīng)接收的測試信號的期待值的期待值產(chǎn)生部；將使測試信號延遲部延遲的測試信號，與期待值產(chǎn)生部所產(chǎn)生的期待值依次進(jìn)行比較，并將表示是否一致的比較結(jié)果依次進(jìn)行輸出的期待值比較部。
也可還具有使利用可變延遲部的基準(zhǔn)時鐘的延遲時間在每設(shè)定時間進(jìn)行變化的可變延遲控制部；將期待值比較部依次輸出的比較結(jié)果在每設(shè)定時間進(jìn)行保持，且在該設(shè)定時間內(nèi)當(dāng)期待值比較部至少輸出1個表示測試信號與期待值不一致的情況的比較結(jié)果時，將表示測試信號與期待值不一致的情況的比較結(jié)果進(jìn)行輸出的比較結(jié)果保持部。
也可還具有根據(jù)比較結(jié)果保持部所輸出的每延遲時間的比較結(jié)果，對使測試信號延遲部延遲的測試信號和期待值生成部所生成的期待值相互一致的延遲時間的范圍進(jìn)行檢測的孔徑(eye aperature)檢測部；根據(jù)孔徑檢測部所檢測的延遲時間的范圍，進(jìn)行該通信元件的好壞判定的好壞判定部。
可變延遲部也可具有接收部接收的測試信號所包含的數(shù)據(jù)單元的周期以上的可變范圍。也可還具有產(chǎn)生基準(zhǔn)時鐘的基準(zhǔn)時鐘生成部、根據(jù)基準(zhǔn)時鐘生成部所生成的基準(zhǔn)時鐘而生成測試信號的測試信號生成部、與接收部電氣連接并將測試信號生成部所生成的測試信號對接收部進(jìn)行發(fā)送的發(fā)送部。
本發(fā)明的第4形態(tài)提供一種通信元件，包括使延遲時間依次進(jìn)行變化，并使基準(zhǔn)時鐘延遲且產(chǎn)生延遲時鐘的可變延遲部；根據(jù)延遲時鐘生成測試信號的測試信號生成部；發(fā)送測試信號生成部所生成的測試信號的發(fā)送部；與發(fā)送部電氣連接，并接收發(fā)送部所發(fā)送的測試信號的接收部；根據(jù)基準(zhǔn)時鐘產(chǎn)生接收部應(yīng)接收的測試信號的期待值的期待值生成部；將接收部所接收的測試信號，與期待值產(chǎn)生部所產(chǎn)生的期待值依次進(jìn)行比較，并將表示是否一致的比較結(jié)果依次進(jìn)行輸出的期待值比較部。
本發(fā)明的第5形態(tài)提供一種測試系統(tǒng)，為一種對發(fā)送根據(jù)基準(zhǔn)時鐘所生成的測試信號的發(fā)送單元進(jìn)行測試的測試系統(tǒng)，包括接收發(fā)送單元所發(fā)送的測試信號的接收部；使延遲時間依次進(jìn)行變化，并使基準(zhǔn)時鐘延遲而產(chǎn)生延遲時鐘的可變延遲部；根據(jù)可變延遲部所產(chǎn)生的延遲時鐘，使接收部所接收的測試信號延遲的測試信號延遲部；根據(jù)基準(zhǔn)時鐘產(chǎn)生接收部應(yīng)接收的測試信號的期待值的期待值產(chǎn)生部；將使測試信號延遲部延遲的測試信號，與期待值產(chǎn)生部所產(chǎn)生的期待值依次進(jìn)行比較，并依次輸出表示是否一致的比較結(jié)果的期待值比較部；使利用可變延遲部的基準(zhǔn)時鐘的延遲時間在每設(shè)定時間進(jìn)行變化的可變延遲控制部；將期待值比較部依次輸出的比較結(jié)果在每設(shè)定時間進(jìn)行保持，且在該設(shè)定時間內(nèi)當(dāng)期待值比較部至少輸出1個表示測試信號與期待值不一致的情況的比較結(jié)果時，將表示測試信號與期待值不一致的情況的比較結(jié)果進(jìn)行輸出的比較結(jié)果保持部；根據(jù)比較結(jié)果保持部所輸出的每延遲時間的比較結(jié)果，對使測試信號延遲部延遲的測試信號和期待值生成部所生成的期待值相互一致的延遲時間的范圍進(jìn)行檢測的孔徑檢測部；根據(jù)孔徑檢測部所檢測的延遲時間的范圍，進(jìn)行發(fā)送元件的好壞判定的好壞判定部。
還包括具有接收部、期待值比較部、期待值生成部及比較結(jié)果保持部的接收單元，且接收單元對該測試系統(tǒng)可裝卸地進(jìn)行設(shè)置。
另外，上述發(fā)明的概要并未列舉本發(fā)明的必要特征的全部，這些特征群的子集也可又形成發(fā)明。
如利用本發(fā)明的測試方法，藉由使測試信號的延遲時間變化，并進(jìn)行測試信號和期待值的比較，可對考慮了抖動(jitter)特性的影響的孔徑進(jìn)行檢測，并能夠根據(jù)孔徑精度良好地進(jìn)行通信元件的好壞判定。


圖1所示為測試系統(tǒng)10的構(gòu)成的一個例子。
圖2所示為孔徑的檢測方法的一個例子。
圖3所示為利用測試系統(tǒng)10的通信元件的測試方法的一個例子。
圖4所示為具有多個接收單元40的通信元件的構(gòu)成的一個例子。
圖5所示為比較結(jié)果存儲部220的構(gòu)成的一個例子。
圖6所示為測試系統(tǒng)60的構(gòu)成的一個例子。
圖7所示為測試系統(tǒng)70的構(gòu)成的一個例子。
10測試系統(tǒng) 20測試控制裝置30發(fā)送單元 40接收單元60測試系統(tǒng) 62發(fā)送單元64接收單元 66測試控制裝置70測試系統(tǒng) 72發(fā)送單元74接收單元 76測試控制裝置200基準(zhǔn)時鐘生成部 210控制信號發(fā)送部220比較結(jié)果存儲部 230孔徑檢測部240好壞判定部 250可變延遲控制部260可變延遲部 300測試信號生成部310邏輯積電路 320邏輯和電路330驅(qū)動器 340可變延遲控制部
350可變延遲部 400接收機(jī)410可變延遲控制部 420可變延遲部430測試信號延遲部 440期待值生成部450期待值比較部460比較結(jié)果保持部500單元間隔520孔徑具體實施方式
下面，通過發(fā)明的實施形態(tài)對本發(fā)明進(jìn)行說明，但以下的實施形態(tài)并不對關(guān)于權(quán)利要求范圍的發(fā)明進(jìn)行限定，而且實施形態(tài)中所說明的特征的組合的全部也未必是發(fā)明的解決方法所必須的。
圖1所示為關(guān)于本發(fā)明的第1實施形態(tài)的測試系統(tǒng)10的構(gòu)成的一個例子。關(guān)于本實施形態(tài)的測試系統(tǒng)10的目的在于，藉由對含有發(fā)送單位30及/或接收單元40的通信元件進(jìn)行實際動作頻率的信號傳送測試，而對通信元件的實際動作頻率下的孔徑進(jìn)行仿真式的檢測，以進(jìn)行通信元件的好壞判定。
測試系統(tǒng)10包括生成測試信號并發(fā)送的發(fā)送單元30、接收發(fā)送單元30所發(fā)送的測試信號并與期待值進(jìn)行比較的接收單元40、對利用發(fā)送單元30及接收單元40的測試動作進(jìn)行控制的測試控制裝置20。發(fā)送單元30及接收單元40可設(shè)置在1個通信元件上，并利用所謂的環(huán)路背面(loop back)連接進(jìn)行電氣連接，也可分別設(shè)置在不同的通信元件上，并在通信元件間進(jìn)行電氣連接。
測試控制裝置20具有基準(zhǔn)時鐘生成部200及控制信號發(fā)送部210。基準(zhǔn)時鐘生成部200產(chǎn)生基準(zhǔn)時鐘，并供給到發(fā)送單元30及接收單元40。例如，基準(zhǔn)時鐘生成部200產(chǎn)生發(fā)送單元30及接收單元40的實際動作頻率的基準(zhǔn)時鐘?；鶞?zhǔn)時鐘生成部200為例如在性能測試板上所準(zhǔn)備的水晶振蕩器和信號振蕩器(generator)、在測試系統(tǒng)10內(nèi)部所組入的振蕩電路。而且，基準(zhǔn)時鐘生成部200也可設(shè)置在設(shè)有發(fā)送單元30及/或接收單元40的通信元件上，測試控制裝置20也可對通信元件上所設(shè)置的基準(zhǔn)時鐘生成部200所產(chǎn)生的基準(zhǔn)時鐘的頻率等進(jìn)行控制?？刂菩盘柊l(fā)送部210為了對發(fā)送單元30進(jìn)行測試信號發(fā)送的指示，而生成控制信號并向發(fā)送單元30進(jìn)行發(fā)送。例如，控制信號發(fā)送部210在測試動作時發(fā)送邏輯值1的控制信號，并在進(jìn)行通常動作的非測試動作時發(fā)送邏輯值0的控制信號。
發(fā)送單元30具有測試信號生成部300、邏輯積電路310、邏輯和電路320及驅(qū)動器330。測試信號生成部300根據(jù)基準(zhǔn)時鐘生成部200所產(chǎn)生的基準(zhǔn)時鐘，生成測試信號，并輸出到邏輯積電路310。例如，測試信號生成部300為LFSR(Linear Feedback Shift Register，線性反饋移位寄存器)這種PRBS(Pseudo Random Bit Stream of Sequences，偽隨機(jī)二進(jìn)制序列)生成器等的圖案生成多項式電路(polynominal circuit)。
邏輯積電路310進(jìn)行從控制信號發(fā)送部210所發(fā)送的控制信號，和測試信號生成部300所生成的測試信號的邏輯積運(yùn)算，并輸出到邏輯和電路320。即，在控制信號為邏輯值1的測試動作時，邏輯積電路310將測試信號生成部300所生成的測試信號輸出到邏輯和電路320。另一方面，在控制信號為邏輯值0的非測試動作時，邏輯積電路310不斷地對邏輯和電路320輸出邏輯值0。而且，邏輯和電路320進(jìn)行在非測試動作時于發(fā)送單元30內(nèi)部所生成的傳送信號，和邏輯積電路310的輸出的邏輯和運(yùn)算，并輸出到驅(qū)動器330。即，在測試動作時，邏輯和電路320將從邏輯積電路310所輸出的測試信號，輸出到驅(qū)動器330。另一方面，在非測試動作時，邏輯和電路320將在發(fā)送單元30內(nèi)部所生成的傳送信號輸出到驅(qū)動器330。驅(qū)動器330為本發(fā)明的發(fā)送部的一個例子，用于將從邏輯和電路320所接收的傳送信號或測試信號，發(fā)送到接收單元40。
接收單元40具有接收機(jī)400、可變延遲控制部410、可變延遲部420、測試信號延遲部430、期待值產(chǎn)生部440、期待值比較部450及比較結(jié)果保持部460。接收機(jī)400為本發(fā)明的接收部的一個例子，用于接收驅(qū)動器330所發(fā)送的傳送信號或測試信號。可變延遲控制部410利用可變延遲部420對基準(zhǔn)時鐘的延遲時間進(jìn)行控制。可變延遲控制部410也可在每次有測試控制裝置20的指示時或在每個預(yù)先所確定的設(shè)定時間，將延遲時間進(jìn)行變更設(shè)定?？勺冄舆t部420為例如可變延遲電路，使從基準(zhǔn)時鐘生成部200所接收的基準(zhǔn)時鐘，根據(jù)可變延遲控制部410的控制進(jìn)行延遲，并生成延遲時鐘。另外，可變延遲部420最好具有測試信號所包含的數(shù)據(jù)單元的周期即單元間隔以上的可變范圍。
測試信號延遲部430為例如雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器電路(flip-flopcircuit)，根據(jù)可變延遲部420所生成的延遲時鐘，使接收機(jī)400接收的測試信號延遲，并輸出到期待值比較部450。期待值生成部440根據(jù)基準(zhǔn)時鐘生成部200所產(chǎn)生的基準(zhǔn)時鐘，生成接收機(jī)400應(yīng)接收的測試信號的期待值，并輸出到期待值比較部450。期待值比較部450將測試信號延遲部430所輸出的測試信號，與期待值產(chǎn)生部440所產(chǎn)生的期待值依次進(jìn)行比較，并將表示是否一致的比較結(jié)果依次輸出到比較結(jié)果保持部460。例如，期待值比較部450為用于輸出測試信號和期待值的異邏輯和(exclusive OR)的異邏輯和電路。比較結(jié)果保持部460將期待值比較部450依次輸出的測試信號和期待值的比較結(jié)果在每設(shè)定時間進(jìn)行保持，且在設(shè)定時間內(nèi)，當(dāng)期待值比較部450輸出至少1個表示測試信號與期待值不一致的情況的比較結(jié)果時，輸出用于表示測試信號與期待值不一致的情況的比較結(jié)果，并供給到比較結(jié)果存儲部220。
而且，測試控制裝置20還具有比較結(jié)果存儲部220、孔徑檢測部230及好壞判定部240。比較結(jié)果存儲部220將利用期待值比較部450的測試信號和期待值的比較結(jié)果，與使該測試信號延遲的延遲時間對應(yīng)地進(jìn)行存儲?？讖綑z測部230根據(jù)比較結(jié)果存儲部220所存儲的每延遲時間的被延遲的測試信號和期待值的比較結(jié)果，將被延遲的測試信號和期待值相互一致的延遲時間的范圍作為孔徑進(jìn)行檢測。在檢測到多個孔徑的情況下，孔徑檢測部230也可將多個孔徑中最窄的孔徑作為檢測結(jié)果。好壞判定部240根據(jù)孔徑檢測部230所檢測的孔徑，進(jìn)行發(fā)送單元30或接收單元40的至少一方的好壞判定。具體地說，好壞判定部240根據(jù)孔徑是否在預(yù)先所確定的規(guī)定值以上，進(jìn)行好壞判定。
另外，在圖1中，可變延遲部420向測試信號延遲部430供給延遲時鐘，但在另外的例子中，可變延遲部420也可將延遲時鐘供給到期待值生成部440，并由期待值生成部440根據(jù)延遲時鐘生成期待值。而且，也可在期待值生成部440和期待值比較部450之間配置雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器電路，且可變延遲部420對雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器電路供給延遲時鐘，并使期待值產(chǎn)生部440所產(chǎn)生的期待值，由雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器電路根據(jù)延遲時鐘進(jìn)行延遲，且供給到期待值比較部450。而且，具有發(fā)送單元30或接收單元40的通信元件，也可包括測試控制裝置20所具有的各構(gòu)成要素，并具有自診斷(BIST)機(jī)能。
如利用本實施形態(tài)的測試系統(tǒng)10，藉由使測試信號的延遲時間變化，并進(jìn)行測試信號和期待值的比較，可檢測出考慮了抖動特性的影響的孔徑。這樣，由于可進(jìn)行考慮了抖動特性的測試，所以可得到將因細(xì)微的干擾要素而產(chǎn)生比特錯誤的通信元件檢測為不良這種精度更高的測試結(jié)果。而且，如利用本實施形態(tài)的測試系統(tǒng)10，由于可以實際動作頻率使發(fā)送單元30及接收單元40的邏輯電路進(jìn)行動作，所以可利用現(xiàn)有的IC測試器，實現(xiàn)所謂的現(xiàn)場速度測試(アツトスピ一ド)。
而且，在本實施形態(tài)的測試系統(tǒng)10中，具有發(fā)送單元30及接收單元40的通信元件為被測試元件，并對含有測試控制裝置20的測試裝置的測試頭可裝卸地進(jìn)行設(shè)置。即，具有需要高速地進(jìn)行動作的測試信號延遲部430、期待值比較部450及比較結(jié)果保持部460的接收單元40，對各測試系統(tǒng)10可裝卸地進(jìn)行設(shè)置。因此，測試控制裝置20如可以比較低的速度進(jìn)行動作，則可發(fā)揮所需的機(jī)能，所以能夠廉價地制造并提供測試控制裝置20。
圖2所示為關(guān)于本實施形態(tài)的孔徑的檢測方法的一個例子。圖2(a)所示為使多個接收機(jī)400所接收的測試信號進(jìn)行重合的孔·圖形的一個例子。接收機(jī)400接收在發(fā)送單元30由測試信號生成部300生成并由驅(qū)動器330發(fā)送的測試信號上，重疊因各種各樣的干擾要素所引起的抖動成分的信號。
圖2(b)所示為可變延遲部420所生成的延遲時鐘的時鐘掃描的情形的一個例子。測試信號延遲部430根據(jù)可變延遲部420使延遲時間變化并依次生成的延遲時鐘，使接收機(jī)400所接收的測試信號延遲并供給到期待值比較部450。藉由使延遲時間變化并向期待值比較部450供給測試信號，而仿真地在測試信號所包含的多個數(shù)據(jù)單元中的多個不同的時序，將測試信號和期待值進(jìn)行比較。例如，可變延遲部420具有將單元間隔500數(shù)十等分的分解能，并在1個單元間隔500進(jìn)行數(shù)十次的測試信號和期待值的比較。具體地說，在單元間隔500為500ps的情況下，可變延遲部420最好具有10ps左右的分解能。
圖2(c)所示為可變延遲部設(shè)定延遲時間和期待值比較部450的比較結(jié)果的關(guān)系的一個例子。比較結(jié)果存儲部220與利用可變延遲部420的延遲時間即可變延遲部設(shè)定延遲時間對應(yīng)地，將期待值比較部450的比較結(jié)果進(jìn)行存儲。這里，在測試信號所包含的多個數(shù)據(jù)單元的多個不同的時序中，將測試信號和期待值不一致的時序的期待值比較部450所形成的比較結(jié)果表示為ERROR，將測試信號和期待值一致的時序的期待值比較部450所形成的比較結(jié)果表示為NO ERROR?？讖綑z測部230根據(jù)在比較結(jié)果存儲部220存儲的每延遲時間的比較結(jié)果，將測試信號和期待值一致(NO ERROR)的延遲時間的范圍，即抖動成分不對測試信號的傳送形成影響的延遲時間的范圍作為孔徑520進(jìn)行檢測。
如利用本實施形態(tài)的測試系統(tǒng)10，藉由使利用可變延遲部420的基準(zhǔn)時鐘的延遲時間進(jìn)行變化，可仿真地在含有測試信號的數(shù)據(jù)單元的多個不同的時序進(jìn)行測試信號和期待值的比較，所以能夠正確地特定測試信號的孔徑520。另外，藉由根據(jù)孔徑520對含有發(fā)送單元30或接收單元40的通信元件的好壞進(jìn)行判定，可對因細(xì)微的干擾要素而產(chǎn)生比特錯誤的通信元件的不良精度良好地進(jìn)行檢測。
圖3所示為利用關(guān)于本實施形態(tài)的測試系統(tǒng)10的通信元件的測試方法的一個例子。首先，在測試控制裝置20中，控制信號發(fā)送部210為了從發(fā)送單元30發(fā)送測試信號，而向發(fā)送單元30發(fā)送控制信號(S300)。而且，基準(zhǔn)時鐘生成部200產(chǎn)生基準(zhǔn)時鐘，并供給到發(fā)送單元30及接收單元40(S305)。而且，測試控制裝置20在接收單元40具有的可變延遲控制部410設(shè)定延遲時間(S310)。
而且，在發(fā)送單元30，測試信號生成部300在從基準(zhǔn)時鐘生成部200接收基準(zhǔn)時鐘后，根據(jù)基準(zhǔn)時鐘生成測試信號(S315)。然后，驅(qū)動器330將在S315由測試信號生成部300所生成的測試信號發(fā)送到接收單元40(S320)。
而且，在接收單元40中，期待值生成部440在從基準(zhǔn)時鐘生成部200接收基準(zhǔn)時鐘后，根據(jù)基準(zhǔn)時鐘生成在S335中接收機(jī)400應(yīng)接收的測試信號的期待值(S325)。而且，可變延遲控制部410根據(jù)利用測試控制裝置20所設(shè)定的延遲時間，控制可變延遲部420，且可變延遲部420生成使基準(zhǔn)時鐘延遲的延遲時鐘(S330)。而且，接收機(jī)400在S320接收驅(qū)動機(jī)330所發(fā)送的測試信號(S335)。而且，測試信號延遲部430根據(jù)可變延遲部420所生成的延遲時鐘，使在S335中接收機(jī)400所接收的測試信號對基準(zhǔn)時鐘進(jìn)行延遲(S340)。然后，期待值比較部450將在S340中被延遲的測試信號，與在S325中所產(chǎn)生的期待值進(jìn)行比較，并輸出用于表示是否一致的比較結(jié)果(S345)。然后，比較結(jié)果保持部460保持期待值比較部450所產(chǎn)生的比較結(jié)果(S350)。
接著，開始對利用測試控制裝置20在可變延遲控制部410中所設(shè)定的延遲時間而被延遲的測試信號和期待值進(jìn)行比較，然后判斷是否經(jīng)過了設(shè)定的時間(S355)。然后，在判斷為未經(jīng)過設(shè)定的時間的情況下(S355-NO)，維持可變延遲部420所形成的延遲時間，并反復(fù)進(jìn)行S345及S350。即，將在設(shè)定的時間內(nèi)接收機(jī)400所接收的測試信號包含的多個數(shù)據(jù)單元，在單元間隔500內(nèi)的同一時序與期待值依次進(jìn)行比較，并保持比較結(jié)果。另一方面，在判斷為經(jīng)過設(shè)定的時間的情況下(S355-YES)，比較結(jié)果保持部在反復(fù)進(jìn)行的測試信號和期待值的比較結(jié)果中，表示多個數(shù)據(jù)單元的至少1個不一致的情況時，輸出表示測試信號和期待值不一致的情況的比較結(jié)果，當(dāng)表示為所有的比較結(jié)果一致的情況時，輸出表示測試信號和期待值一致的情況的比較結(jié)果(S360)。
接著，在測試控制裝置20中，比較結(jié)果存儲部220與在S340中使測試信號延遲的延遲時間對應(yīng)地，將在S360中比較結(jié)果保持部460所輸出的比較結(jié)果進(jìn)行存儲(S370)。然后，測試控制裝置20判斷在可變延遲控制部410中設(shè)定的延遲時間的設(shè)定范圍內(nèi)的變化是否完成(S375)。在延遲時間的設(shè)定范圍內(nèi)的變化未完成的情況下(S375-NO)，測試控制裝置20在可變延遲控制部410設(shè)定新的延遲時間，并變更可變延遲部420所形成的測試信號的延遲時間，使S310～S370再次進(jìn)行。而且，在延遲時間的設(shè)定范圍內(nèi)的變化完成之前，即在單元間隔500以上的范圍內(nèi)，使延遲時間變化并反復(fù)進(jìn)行S310～S370，且比較結(jié)果存儲部220在每延遲時間將比較結(jié)果進(jìn)行存儲。另一方面，在延遲時間的設(shè)定范圍內(nèi)的變化完成的情況下(S375-YES)，孔徑檢測部230根據(jù)比較結(jié)果存儲部220存儲的每延遲時間的比較結(jié)果，將在S340中被延遲的測試信號和在S325中所產(chǎn)生的期待值相互一致的延遲時間的范圍，作為孔徑進(jìn)行檢測(S380)。然后，好壞判定部240根據(jù)在S380中所檢測的孔徑是否在預(yù)先所規(guī)定的規(guī)定值以上，對驅(qū)動器330或含有接收機(jī)400的通信元件的好壞進(jìn)行判定(S385)。
如利用本實施形態(tài)的測試方法，藉由反復(fù)進(jìn)行將測試信號的延遲時間保持一定，并將測試信號和期待值進(jìn)行多次比較，再使延遲時間變化后保持一定，將測試信號和期待值進(jìn)行多次比較的過程，可正確地測定抖動成分所形成的比特錯誤，所以能夠精度良好地對考慮了抖動特性的影響的孔徑進(jìn)行檢測。
圖4所示為具有多個關(guān)于本實施形態(tài)的接收單元40的通信元件的構(gòu)成的一個例子。圖5所示為關(guān)于本實施形態(tài)的比較結(jié)果存儲部220的構(gòu)成的一個例子。測試系統(tǒng)10也可具有多個發(fā)送單元30或多個接收單元40。即，測試系統(tǒng)10也可對具有多個發(fā)送單元30或多個接收單元40的通信元件進(jìn)行測試。多個發(fā)送單元30及多個接收單元40，分別與圖1～圖3所示的發(fā)送單元30及接收單元40具有相同的構(gòu)成及機(jī)能，所以省略說明。
在S370中，比較結(jié)果存儲部220與使測試信號延遲的延遲時間對應(yīng)地，將多個接收單元40分別具有的多個比較結(jié)果保持部460所分別輸出的測試信號和期待值的比較結(jié)果進(jìn)行存儲。然后，在步驟S380中，孔徑檢測部230根據(jù)關(guān)于多個發(fā)送單元30所分別具有的多個驅(qū)動器330或多個接收單元40所分別具有的多個接收機(jī)400的每延遲時間的比較結(jié)果，在全部的多個驅(qū)動器330或多個接收機(jī)400中，將在S340中被延遲的測試信號和期待值相互一致的延遲時間的范圍作為孔徑進(jìn)行檢測。而且，在S385中，好壞判定部240根據(jù)孔徑檢測部230所檢測的孔徑是否為預(yù)先所確定的規(guī)定值以上，而對具有多個發(fā)送單元30或多個接收單元40的通信元件的好壞進(jìn)行判定。
具體地說，如圖5所示，比較結(jié)果存儲部220對多個驅(qū)動器330或多個接收機(jī)400的各個通道，將測試信號延遲部430所形成的每延遲時間的測試信號和期待值的比較結(jié)果進(jìn)行存儲。在本例中，可變延遲控制部410在每0ps到10ps設(shè)定延遲時間，并反復(fù)進(jìn)行S310～S370。1通道表示在延遲時間0～80ps的范圍內(nèi)比較結(jié)果不一致的情況，2通道表示在延遲時間0～20ps的范圍內(nèi)比較結(jié)果不一致的情況，3通道表示在延遲時間0～40ps的范圍內(nèi)比較結(jié)果不一致的情況。因此，孔徑檢測部230根據(jù)比較結(jié)果存儲部220所存儲的比較結(jié)果，將在所有的通道中表示比較結(jié)果一致的最小的延遲時間即90ps，作為孔徑的一端進(jìn)行檢測。
如上所述，如利用本實施形態(tài)的測試方法，則在包括多個發(fā)送單元30或多個接收單元40的通信元件的測試中，可準(zhǔn)確地檢測到在所有的多個通道中能夠正常地進(jìn)行動作的孔徑520。因此，能夠精度良好地對包括多個發(fā)送單元30或多個接收單元40的通信元件的好壞進(jìn)行判定。
圖6所示為關(guān)于本發(fā)明的第2實施形態(tài)的測試系統(tǒng)60的構(gòu)成的一個例子。在第1實施形態(tài)的測試系統(tǒng)10中，藉由將在發(fā)送單元30中根據(jù)基準(zhǔn)時鐘所生成的測試信號，在接收單元40中根據(jù)延遲時鐘進(jìn)行延遲，并與根據(jù)基準(zhǔn)時鐘所生成的期待值進(jìn)行比較，而對測試信號的孔徑進(jìn)行檢測，但在第2實施形態(tài)的測試系統(tǒng)60中，是藉由將在發(fā)送單元62中根據(jù)延遲時鐘生成測試信號的測試信號，與在接收單元64中根據(jù)基準(zhǔn)時鐘所生成的期待值進(jìn)行比較，而對測試信號的孔徑進(jìn)行檢測。另外，除了以下所說明的部分以外，第2實施形態(tài)的測試系統(tǒng)60與第1實施形態(tài)的測試系統(tǒng)10具有相同的構(gòu)成及機(jī)能，所以省略說明。
發(fā)送單元62除了第1實施形態(tài)的發(fā)送單元30的構(gòu)成以外，具有可變延遲控制部340及可變延遲部350?？勺冄舆t控制部240對可變延遲部350所形成的基準(zhǔn)時鐘的延遲時間進(jìn)行控制?？勺冄舆t控制部340也可在每次有測試控制裝置20的指示時，或每個預(yù)先所確定的設(shè)定時間，將延遲時間進(jìn)行變更并設(shè)定。可變延遲部350為例如可變延遲電路，使從基準(zhǔn)時鐘生成部200所接收的基準(zhǔn)時鐘，根據(jù)可變延遲控制部340的控制進(jìn)行延遲，生成延遲時鐘。另外，可變延遲部350最好具有測試信號所包含的數(shù)據(jù)單元的單元間隔以上的可變范圍。而且，測試信號生成部300根據(jù)可變延遲部350所輸出的延遲時鐘，生成測試信號。藉由象這樣使可變延遲部350所形成的基準(zhǔn)時鐘的延遲時間進(jìn)行變化，并反復(fù)進(jìn)行測試信號的生成、測試信號的發(fā)送、測試信號的接收、測試信號與期待值的比較及比較結(jié)果的存儲，測試控制裝置66可與第1實施形態(tài)的測試控制裝置20同樣地，檢測出考慮了抖動特性的影響的孔徑。
另外，圖6中，測試信號生成部300是根據(jù)可變延遲部350所生成的延遲時鐘，生成測試信號，但在另外的例子中，也可在測試信號生成部300和驅(qū)動器330之間配置雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器電路，對雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器電路供給可變延遲部350所生成的延遲時鐘，并使測試信號生成部300根據(jù)基準(zhǔn)時鐘所生成的測試信號，由雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器電路根據(jù)延遲時鐘進(jìn)行延遲，且供給到驅(qū)動器330。
而且，在本實施形態(tài)的測試系統(tǒng)60中，具有發(fā)送單元62及接收單元64的通信元件為被測試元件，且對包含測試控制裝置66的測試裝置的測試頭可裝卸地進(jìn)行設(shè)置。即，具有需要高速地進(jìn)行動作的期待值比較部450及比較結(jié)果保持部460的接收單元64，對測試系統(tǒng)60可裝卸地進(jìn)行設(shè)置。因此，測試控制裝置66如可以比較低的速度進(jìn)行動作，則能夠發(fā)揮所需的機(jī)能，所以可廉價地制造并提供測試控制裝置66。
圖7所示為關(guān)于本發(fā)明的第3實施形態(tài)的測試系統(tǒng)70的構(gòu)成的一個例子。在第1實施形態(tài)的測試系統(tǒng)10中，接收單元40具有可變延遲控制部410及可變延遲部420，并使基準(zhǔn)時鐘生成部200所產(chǎn)生的基準(zhǔn)時鐘由可變延遲部420進(jìn)行延遲，生成延遲時鐘，且供給到測試信號延遲部430，但在第3實施形態(tài)的測試系統(tǒng)70中，測試控制裝置76具有可變延遲控制部250及可變延遲部260，并使基準(zhǔn)時鐘生成部200所產(chǎn)生的基準(zhǔn)時鐘由可變延遲部260進(jìn)行延遲，生成延遲時鐘，且供給到接收單元74所具有的測試信號延遲部430。另外，除了以下所說明的部分以外，第3實施形態(tài)的測試系統(tǒng)70與第1實施形態(tài)的測試系統(tǒng)10具有相同的構(gòu)成及機(jī)能，所以省略說明。
測試控制裝置76除了第1實施形態(tài)的測試控制裝置20的構(gòu)成以外，還具有可變延遲控制部250及可變延遲部260。可變延遲控制部250對可變延遲部260所形成的基準(zhǔn)時鐘的延遲時間進(jìn)行控制?？勺冄舆t控制部250在每預(yù)先確定的設(shè)定時間，變更延遲時間并進(jìn)行設(shè)定。可變延遲部260為例如可變延遲電路，使從基準(zhǔn)時鐘生成部200所接收的基準(zhǔn)時鐘根據(jù)可變延遲控制部250的控制進(jìn)行延遲，并生成延遲時鐘。另外，可變延遲部260最好具有測試信號所包含的數(shù)據(jù)單元的單元間隔以上的可變范圍。而且，測試信號延遲部430根據(jù)可變延遲部260所生成的延遲時鐘，使接收單元74所具有的接收機(jī)400接收的測試信號延遲，并輸出到期待值比較部450。藉由象這樣使測試控制裝置76具有可變延遲控制部250及可變延遲部260，并使基準(zhǔn)時鐘的延遲時間進(jìn)行變化，生成延遲時鐘，從而使測試控制裝置76對不具有可變延遲控制部及可變延遲部的通信元件，可與第1實施形態(tài)的測試控制裝置20同樣地，檢測出考慮了抖動特性的影響的孔徑。
另外，在圖7中，可變延遲部260將延遲時鐘供給到測試信號延遲部430，但在另外的例子中，可變延遲部260也可將延遲時鐘供給到期待值生成部440，并使期待值生成部440根據(jù)延遲時鐘生成期待值。而且，也可在期待值生成部440和期待值比較部450之間配置雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器電路，且可變延遲部420將延遲時鐘供給到雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器電路，使期待值生成部440所生成的期待值由雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器電路根據(jù)延遲時鐘進(jìn)行延遲，并供給到期待值比較部450。而且，可變延遲部也可將延遲時鐘供給到測試信號生成部300，并使測試信號生成部300根據(jù)延遲時鐘生成測試信號。而且，也可在測試信號生成部300和驅(qū)動器330之間配置雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器電路，并對雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器電路供給可變延遲部260所生成的延遲時鐘，且使測試信號生成部300根據(jù)基準(zhǔn)時鐘所生成的測試信號，根據(jù)延遲時鐘由雙穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器電路進(jìn)行延遲，并供給到驅(qū)動器電路330。
而且，在本實施形態(tài)的測試系統(tǒng)70中，具有發(fā)送單元72及接收單元74的通信元件為被測試元件，且對包含測試控制裝置76的測試裝置的測試頭，可裝卸地進(jìn)行設(shè)置。即，具有需要高速地進(jìn)行動作的測試信號延遲部430、期待值比較部450及比較結(jié)果保持部460的接收單元74，對測試系統(tǒng)70可裝卸地進(jìn)行設(shè)置。因此，測試控制裝置76如可以比較低的速度進(jìn)行動作，則能夠發(fā)揮所需的機(jī)能，所以能夠廉價地制造并提供測試控制裝置76。
以上利用實施形態(tài)對本發(fā)明進(jìn)行了說明，但本發(fā)明的技術(shù)范圍并不限定于上述實施形態(tài)所記述的范圍。在上述實施形態(tài)上可加以各種各樣的變更或改良。由權(quán)利要求范圍的記述可得知，這種加以變更或改良的形態(tài)也可包含在本發(fā)明的技術(shù)范圍中。
如上述說明所明確說明的，藉由使測試信號的延遲時間變化，并進(jìn)行測試信號和期待值的比較，可檢測出考慮了抖動特性的影響的孔徑，能夠根據(jù)孔徑精度良好地進(jìn)行通信元件的好壞判定。
權(quán)利要求
1.一種測試方法，為一種對通信元件進(jìn)行測試的測試方法，包括產(chǎn)生基準(zhǔn)時鐘的基準(zhǔn)時鐘產(chǎn)生階段；根據(jù)前述基準(zhǔn)時鐘生成測試信號的測試信號生成階段；將在前述測試信號生成階段所生成的前述測試信號，由發(fā)送部進(jìn)行發(fā)送的發(fā)送階段；將在前述發(fā)送階段中前述發(fā)送部所發(fā)送的前述測試信號，由接收部進(jìn)行接收的接收階段；將在前述接收階段中前述接收部應(yīng)接收的前述測試信號的期待值，根據(jù)前述基準(zhǔn)時鐘而產(chǎn)生的期待值產(chǎn)生階段；使在前述接收階段中前述接收部所接收的前述測試信號，對前述基準(zhǔn)時鐘進(jìn)行延遲的延遲階段；將在前述延遲階段中被延遲的前述測試信號，與在前述期待值產(chǎn)生階段所產(chǎn)生的前述期待值進(jìn)行比較，并輸出表示是否一致的比較結(jié)果的比較階段；對應(yīng)于前述延遲階段中使前述測試信號延遲的延遲時間，將前述比較階段的前述比較結(jié)果進(jìn)行存儲的比較結(jié)果存儲階段；使前述延遲階段的前述測試信號延遲的前述延遲時間進(jìn)行變化，并反復(fù)進(jìn)行前述延遲階段、前述比較階段及前述比較結(jié)果存儲階段，且在每前述延遲時間將前述比較結(jié)果進(jìn)行存儲的反復(fù)階段；根據(jù)在前述反復(fù)階段中所存儲的每前述延遲時間的前述比較結(jié)果，對在前述延遲階段被延遲的前述測試信號和在前述期待值產(chǎn)生階段所產(chǎn)生的前述期待值相互一致的延遲時間的范圍進(jìn)行檢測的檢測階段；根據(jù)在前述檢測階段中所檢測的前述延遲時間的范圍，進(jìn)行前述接收部或前述發(fā)送部的好壞判定的判定階段。
2.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于前述反復(fù)階段具有在每設(shè)定時間使前述延遲階段的前述測試信號延遲的前述延遲時間變化的階段；前述比較階段具有在前述設(shè)定時間內(nèi)將前述測試信號所包含的多個數(shù)據(jù)單元與前述期待值依次進(jìn)行比較的階段；前述比較結(jié)果存儲階段具有在前述多個數(shù)據(jù)單元的至少1個與前述期待值不一致的情況下，將用于表示在前述接收階段中前述接收部所接收的前述測試信號與前述期待值不一致的情況的前述比較結(jié)果進(jìn)行存儲的階段。
3.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于前述反復(fù)階段具有使前述延遲階段的前述延遲的前述延遲時間，在前述測試信號生成階段中所生成的前述測試信號包含的數(shù)據(jù)單元的周期以上的范圍內(nèi)進(jìn)行變化的階段。
4.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于前述判定階段具有根據(jù)在前述檢測階段所檢測的前述延遲時間的范圍是否在預(yù)先所確定的規(guī)定值以上，對前述接收部或前述發(fā)送部的好壞進(jìn)行判定的階段。
5.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于前述通信元件包括多個前述接收部或多個前述發(fā)送部；前述檢測階段具有根據(jù)關(guān)于前述多個接收部或前述多個發(fā)送部的每前述延遲時間的前述比較結(jié)果，在所有的前述多個接收部或前述多個發(fā)送部，對在前述延遲階段被延遲的前述測試信號和在前述期待值產(chǎn)生階段所產(chǎn)生的前述期待值相互一致的前述延遲時間的范圍進(jìn)行檢測的階段。
6.一種測試方法，為一種對通信元件進(jìn)行測試的測試方法，包括產(chǎn)生基準(zhǔn)時鐘的基準(zhǔn)時鐘產(chǎn)生階段；使前述基準(zhǔn)時鐘延遲并生成延遲時鐘的延遲時鐘產(chǎn)生階段；根據(jù)前述延遲時鐘生成測試信號的測試信號生成階段；將在前述測試信號生成階段所生成的前述測試信號，由發(fā)送部進(jìn)行發(fā)送的發(fā)送階段；將在前述發(fā)送階段中前述發(fā)送部所發(fā)送的測試信號，由接收部進(jìn)行接收的接收階段；將在前述接收階段中前述接收部應(yīng)接收的前述測試信號的期待值，根據(jù)前述基準(zhǔn)時鐘而產(chǎn)生的期待值產(chǎn)生階段；將在前述接收階段由前述接收部接收的前述測試信號，與在前述期待值產(chǎn)生階段所產(chǎn)生的前述期待值進(jìn)行比較，并輸出表示是否一致的比較結(jié)果的比較階段；對應(yīng)于在前述延遲階段使前述基準(zhǔn)時鐘延遲的延遲時間，將前述比較階段的前述比較結(jié)果進(jìn)行存儲的比較結(jié)果存儲階段；使前述延遲時鐘生成階段的前述基準(zhǔn)時鐘延遲的前述延遲時間進(jìn)行變化，并反復(fù)進(jìn)行前述測試信號生成階段、前述發(fā)送階段、前述接收階段、前述比較階段及前述比較結(jié)果存儲階段，且在每前述延遲時間將前述比較結(jié)果進(jìn)行存儲的反復(fù)階段；根據(jù)在前述反復(fù)階段所存儲的每前述延遲時間的前述比較結(jié)果，對在前述接收階段中前述接收部所接收的前述測試信號和在前述期待值產(chǎn)生階段所產(chǎn)生的前述期待值相互一致的延遲時間的范圍進(jìn)行檢測的檢測階段；根據(jù)在前述檢測階段所檢測的前述延遲時間的范圍，進(jìn)行前述接收部或前述發(fā)送部的好壞判定的判定階段。
7.一種通信元件，包括接收根據(jù)基準(zhǔn)時鐘所生成的測試信號的接收部；使延遲時間依次變化，并使前述基準(zhǔn)時鐘延遲而產(chǎn)生延遲時鐘的可變延遲部；根據(jù)前述可變延遲部所產(chǎn)生的前述延遲時鐘，使前述接收部所接收的前述測試信號延遲的測試信號延遲部；根據(jù)前述基準(zhǔn)時鐘產(chǎn)生前述接收部應(yīng)接收的前述測試信號的期待值的期待值產(chǎn)生部；將使前述測試信號延遲部延遲的前述測試信號，與前述期待值產(chǎn)生部所產(chǎn)生的前述期待值依次進(jìn)行比較，并將表示是否一致的比較結(jié)果依次進(jìn)行輸出的期待值比較部。
8.如權(quán)利要求7所述的通信元件，其特征在于，還具有使利用前述可變延遲部的前述基準(zhǔn)時鐘的前述延遲時間在每設(shè)定時間進(jìn)行變化的可變延遲控制部；將前述期待值比較部依次輸出的前述比較結(jié)果在每前述設(shè)定時間進(jìn)行保持，且在該設(shè)定時間內(nèi)當(dāng)前述期待值比較部至少輸出1個表示前述測試信號與前述期待值不一致的情況的前述比較結(jié)果時，將表示前述測試信號與前述期待值不一致的情況的前述比較結(jié)果進(jìn)行輸出的比較結(jié)果保持部。
9.如權(quán)利要求8所述的通信元件，其特征在于，還具有根據(jù)前述比較結(jié)果保持部所輸出的每前述延遲時間的比較結(jié)果，對使前述測試信號延遲部延遲的前述測試信號和前述期待值生成部所生成的前述期待值相互一致的延遲時間的范圍進(jìn)行檢測的孔徑檢測部；根據(jù)前述孔徑檢測部所檢測的延遲時間的范圍，進(jìn)行該通信元件的好壞判定的好壞判定部。
10.如權(quán)利要求7所述的通信元件，其特征在于前述可變延遲部具有前述接收部接收的前述測試信號所包含的數(shù)據(jù)單元的周期以上的可變范圍。
11.如權(quán)利要求7所述的通信元件，其特征在于，還具有產(chǎn)生前述基準(zhǔn)時鐘的基準(zhǔn)時鐘生成部、根據(jù)前述基準(zhǔn)時鐘生成部所生成的前述基準(zhǔn)時鐘而生成前述測試信號的測試信號生成部、與前述接收部電氣連接并將前述測試信號生成部所生成的前述測試信號對前述接收部進(jìn)行發(fā)送的發(fā)送部。
12.一種通信元件，包括使延遲時間依次進(jìn)行變化，并使基準(zhǔn)時鐘延遲且產(chǎn)生延遲時鐘的可變延遲部；根據(jù)前述延遲時鐘生成測試信號的測試信號生成部；發(fā)送前述測試信號生成部所生成的測試信號的發(fā)送部；與前述發(fā)送部電氣連接，并接收前述發(fā)送部所發(fā)送的前述測試信號的接收部；根據(jù)前述基準(zhǔn)時鐘產(chǎn)生前述接收部應(yīng)接收的前述測試信號的期待值的期待值生成部；將前述接收部所接收的前述測試信號，與前述期待值產(chǎn)生部所產(chǎn)生的前述期待值依次進(jìn)行比較，并將表示是否一致的比較結(jié)果依次進(jìn)行輸出的期待值比較部。
13.一種測試系統(tǒng)，為一種對發(fā)送根據(jù)基準(zhǔn)時鐘所生成的測試信號的發(fā)送單元進(jìn)行測試的測試系統(tǒng)，包括接收前述發(fā)送單元所發(fā)送的前述測試信號的接收部；使延遲時間依次進(jìn)行變化，并使前述基準(zhǔn)時鐘延遲而產(chǎn)生延遲時鐘的可變延遲部；根據(jù)前述可變延遲部所產(chǎn)生的前述延遲時鐘，使前述接收部所接收的前述測試信號延遲的測試信號延遲部；根據(jù)前述基準(zhǔn)時鐘產(chǎn)生前述接收部應(yīng)接收的前述測試信號的期待值的期待值產(chǎn)生部；將使前述測試信號延遲部延遲的前述測試信號，與前述期待值產(chǎn)生部所產(chǎn)生的前述期待值依次進(jìn)行比較，并依次輸出表示是否一致的比較結(jié)果的期待值比較部；使利用前述可變延遲部的前述基準(zhǔn)時鐘的前述延遲時間在每設(shè)定時間進(jìn)行變化的可變延遲控制部；將前述期待值比較部依次輸出的前述比較結(jié)果在每前述設(shè)定時間進(jìn)行保持，且在該設(shè)定時間內(nèi)當(dāng)前述期待值比較部至少輸出1個表示前述測試信號與前述期待值不一致的情況的前述比較結(jié)果時，將表示前述測試信號與前述期待值不一致的情況的前述比較結(jié)果進(jìn)行輸出的比較結(jié)果保持部；根據(jù)前述比較結(jié)果保持部所輸出的每前述延遲時間的比較結(jié)果，對使前述測試信號延遲部延遲的前述測試信號和前述期待值生成部所生成的前述期待值相互一致的延遲時間的范圍進(jìn)行檢測的孔徑檢測部；根據(jù)前述孔徑檢測部所檢測的前述延遲時間的范圍，進(jìn)行前述發(fā)送元件的好壞判定的好壞判定部。
14.如權(quán)利要求13所述的測試系統(tǒng)，其特征在于還包括具有前述接收部、前述期待值比較部及前述比較結(jié)果保持部的接收單元，且前述接收單元對該測試系統(tǒng)可裝卸地進(jìn)行設(shè)置。
全文摘要
本發(fā)明提供一種通信元件的測試方法。該測試方法包括接收根據(jù)基準(zhǔn)時鐘所生成的測試信號并發(fā)送的階段；將測試信號的期待值根據(jù)基準(zhǔn)時鐘生成的階段；使測試信號延遲的階段；將延遲的測試信號與期待值進(jìn)行比較并輸出比較結(jié)果的階段；使延遲時間進(jìn)行變化，并反復(fù)進(jìn)行上述階段，且在每延遲時間存儲比較結(jié)果的階段；根據(jù)每延遲時間的比較結(jié)果，對測試信號的孔徑進(jìn)行檢測的階段；根據(jù)所檢測的孔徑進(jìn)行通信元件的好壞判定的階段。
文檔編號H04L7/00GK1830187SQ20048002188
公開日2006年9月6日 申請日期2004年7月30日 優(yōu)先權(quán)日2003年8月4日
發(fā)明者渡邊大輔 申請人:愛德萬測試株式會社