專利名稱：用于自動自校準占空比電路以最大化芯片性能的設(shè)備和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于自動自校準占空比電路以最大化芯片性能的設(shè)備和方法o背景技術(shù)近年來現(xiàn)代集成電路設(shè)備的運行速度已大大增加。經(jīng)常需要以大約50%的占空比(50/50占空比)、即脈沖持續(xù)時間與脈沖周期的比 值的系統(tǒng)時鐘信號同步操作這樣的高速集成電路設(shè)備。因此，當提供 占空比大于或小于50%的時鐘信號作為輸入時，集成電路設(shè)備不能很 好地執(zhí)行。為了解決這一問題，已開發(fā)出了占空比校正電路。已設(shè)計出了用于提供占空比校正電路的各種機制。例如，美國專 利申請7>開文獻2002/0140478 、 2004/0189364 、 2004/0108878 、 2004/0075462 、 2005/0007168和美國專利6,844,766; 6,750,689 ; 6,680,637; 6，583，657; 6,466,071; 6,426,660;和5,757,218都描述了用 于占空比校正的各種電路。另外，歐洲專利EP1139569B1和 EP114644A2和美國專利申請序列號No.10/970,284 (代理機構(gòu)巻號為 AUS920040684US1)描述了其它類型的占空比校正電路。然而，所有 這些電路的目的都是對于所有的條件達到固定的占空比，例如50%的 占空比。具有固定占空比不一定會導致集成電路設(shè)備的最佳工作條件。例 如，對于較低電壓下的最佳性能，陣列需要的占空比可能并非50%， 實際上可能需要變化的占空比。也就是說，由于工作條件例如可能改 變處理過程(例如，在單個晶片上以及在多個晶片之間的摻雜、閾值電壓、遷移率、柵極氧化物厚度等差異)、電壓、溫度、頻率等，固 定的占空比可能不會導致在所有條件下集成電路設(shè)備的最佳性能。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明提供了 一種用于自動自校準占空比電路以最大化芯片性能的機制。本發(fā)明所述的機制提供了占空比電路的自動自校準，其可以 在各種工作條件下動態(tài)地校準占空比。通過設(shè)計，占空比校正(DCC)電路對于用來制造芯片的處理過 程、芯片工作的電壓和芯片工作時的速度是敏感的。在現(xiàn)有技術(shù)機制 下，每個芯片，或者來自同一批處理過程的幾個芯片，需要被表征為 得到對于整個這批處理過程的最佳的DCC電路設(shè)置。其結(jié)果是，DCC 電路不考慮特定芯片的特定工作條件而在同一個設(shè)置下工作，結(jié)果， 不能達到芯片的最佳工作。另一方面，本發(fā)明所述的機制提供了芯片級內(nèi)建電路，它自動校 準對于每個芯片的占空比校正電路(DCC)的設(shè)置。這個芯片級內(nèi)建 電路包括時鐘生成宏單元、簡單的占空比校正電路、陣列切片和內(nèi)建 自測單元、以及DCC電路控制器。DCC電路可包括對于給定工作頻 率遞增地改變占空比的多個級。DCC電路控制器包括與門，用于對來 自陣列切片和內(nèi)建自測單元的內(nèi)建自測的結(jié)果執(zhí)行與運算；計數(shù)器； 測溫譯碼器；計數(shù)器溢出檢測器；以及工作特性選擇器單元。在工作時，選擇初始工作頻率并將芯片核心電壓初始化為它的最 低的可能值。DCC校正電路被初始化為它的最低的設(shè)置值，以及在給 定的電壓、頻率、溫度、處理過程和DCC設(shè)置下對陣列電路的代表 性切片、即對陣列切片和內(nèi)建自測單元執(zhí)行自測。內(nèi)建自測的結(jié)果， 即合格還是失敗，被提供給DCC電路控制器。如果內(nèi)建自測的結(jié)果 為合格，則當前的DCC電路控制器的DCC控制比特設(shè)置被設(shè)置為用 于該芯片的設(shè)置。DCC控制比特標識出DCC電路的哪些級被使能， 從而標識出用于該芯片的占空比是多少。如果來自內(nèi)建自測的結(jié)果是失敗，則DCC電路控制器的DCC控制比特設(shè)置、以及DCC電路的設(shè)置被遞增到下一個設(shè)置值，并且再 次執(zhí)行自測。這個過程重復(fù)進行，直至內(nèi)建自測表示合格的結(jié)果為止。 如果發(fā)生DCC電路控制器設(shè)置溢出，即DCC電路控制器被遞增經(jīng)過 它的所有設(shè)置值但內(nèi)建自測的結(jié)果仍表示失敗，則芯片核心電壓被遞 增到它的下一個更高的增量，或者工作頻率被減小到它的下一個較低 的增量，或者執(zhí)行這兩者。在這種情況下，DCC電路被重新初始化， 并且針對新的核心電壓和/或工作頻率重復(fù)進行上面所述的處理過程。這個處理過程可以周期性地執(zhí)行、連續(xù)地執(zhí)行、或者在出現(xiàn)特定 事件時(例如電源接通事件、如電壓、溫度等的工作特性發(fā)生改變) 或類似情況下執(zhí)行。本發(fā)明的處理過程和機制自動選擇用于占空比校 正電路的最佳占空比設(shè)置，使得芯片可以在給定的處理過程、電壓和 溫度(PVT)條件下具有最佳性能。本發(fā)明的處理過程和機制大大減 小了在確定最佳DCC電路設(shè)置時所需的測試和表征時間以及花費， 因為不再需要利用外部測試環(huán)境來執(zhí)行這樣的表征。電路的動態(tài)特性 即^f吏在芯片級工作環(huán)境由于工作負荷變化和PVT變化而改變時也允 許芯片選擇最佳的占空比設(shè)置。在本發(fā)明的一個示例性實施例中，提供了一種設(shè)備，其可包括占 空比校正(DCC)電路、耦合到所述DCC電路的DCC電路控制器、 耦合到所述DCC電路的陣列、以及耦合到所述陣列和所述DCC電路 控制器的內(nèi)建自測電路。所述內(nèi)建自測電路可以利用DCC電路的當 前的設(shè)置對所述陣列進行自測。DCC電路控制器可以響應(yīng)于內(nèi)建自測 電路表示陣列失敗的結(jié)果將DCC電路的設(shè)置值遞增到下一個增加的 設(shè)置值。DCC電路控制器可以響應(yīng)于內(nèi)建自測電路表示陣列合格的結(jié) 果將DCC電路的當前設(shè)置值設(shè)置為用于芯片的DCC設(shè)置值。DCC電路可包括多級，在所述多級中的每一級當被使能時把一個 增加的改變提供到陣列的占空比。所述多級中的每一級分別能夠根據(jù) 來自DCC電路控制器的輸入而被使能。所述多級中的每一級可包括 至少一個放大器和耦合到該至少一個放大器的至少一個開關(guān)。所述至 少一個開關(guān)可以由來自DCC電路控制器的輸入進行控制。DCC電路控制器可包括計數(shù)器和耦合到所述計數(shù)器的譯碼器。所 述計數(shù)器可以接收表示自測的結(jié)果是合格還是失敗的信號作為輸入， 并可以當輸入信號表示自測失敗時遞增。計數(shù)值信號可以輸出給譯碼 器。所述譯碼器可以接收來自計數(shù)器的計數(shù)值信號，根據(jù)計數(shù)值信號 生成控制信號，并將控制信號輸出給DCC電路。此外，所述譯碼器 可以是測溫譯碼器。DCC電路控制器還可包括與門，它接收來自內(nèi)建自測電路的、表 示自測是合格還是失敗的第一信號和作為用于驅(qū)動計數(shù)器的時鐘信號 的第二信號作為輸入。DCC電路控制器還可包括耦合到N位計數(shù)器的 計數(shù)器溢出檢測器。計數(shù)器溢出檢測器可以檢測計數(shù)器溢出條件何時 出現(xiàn)，以及當計數(shù)器溢出條件出現(xiàn)時重新初始化計數(shù)器。DCC電路控制器還可包括耦合到計數(shù)器溢出檢測器的芯片工作 特性選擇器。當計數(shù)器溢出條件出現(xiàn)時，計數(shù)器溢出檢測器可以將溢 出信號發(fā)送到芯片工作特性選擇器。芯片工作特性選擇器可以響應(yīng)于 接收到溢出信號選擇用于該芯片的新的工作特性。所述新的工作特性 可以是工作電壓或工作頻率中的至少一項。選擇新的工作特性可包括 把工作電壓遞增到下一個較高的工作電壓或者把工作頻率遞減到下一 個較低的工作頻率中的至少一項。DCC電路可以被初始設(shè)置為最低設(shè)置值，并當每次內(nèi)建自測電路 表示施加到該陣列的自測失敗時可以遞增到下一個更較高的設(shè)置值， 直至達到DCC電路的最大設(shè)置值為止，這時工作電壓或工作頻率中 的至少一項被 修改，DCC電路被重新初始化。設(shè)備可以是片上系統(tǒng)的一部分。片上系統(tǒng)可以是數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的 一部分。數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)可以是臺式數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)、服務(wù)器、便攜式數(shù) 據(jù)處理系統(tǒng)、膝上數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)、筆記本數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)、個人數(shù)字助 理、游戲機、游戲操縱臺、便攜式電話設(shè)備或通信設(shè)備之一。設(shè)備可 以是具有至少兩個異構(gòu)處理器的片上多處理器系統(tǒng)的一部分。在本發(fā)明的另一個實施例中，提供了占空比校正(DCC)電路控 制器。DCC電路控制器可包括計數(shù)器和耦合到計數(shù)器的譯碼器。計數(shù)器可以接收表示自測結(jié)果表明自測是合格還是失敗的輸入信號，當輸 入信號表示自測失敗時可以遞增，并可以把計數(shù)值信號輸出到譯碼器。 譯碼器可以接收來自計數(shù)器的計數(shù)值信號，根據(jù)計數(shù)值信號生成控制信號，并把控制信號輸出到占空比校正(DCC)電路。DCC電路可以 根據(jù)由譯碼器輸出的控制信號遞增地改變占空比。譯碼器可以是測溫譯碼器。DCC電路控制器還可包括與門，它接收來自內(nèi)建自測電路的表示 自測是合格還是失敗的第一信號和作為用來驅(qū)動計數(shù)器的時鐘信號的 第二信號作為輸入。DCC電路控制器還可包括耦合到N位計數(shù)器的計 數(shù)器溢出檢測器，其中計數(shù)器溢出檢測器檢測計數(shù)器溢出條件何時出 現(xiàn)，并當計數(shù)器溢出條件出現(xiàn)時重新初始化計數(shù)器。DCC電路控制器還可包括耦合到計數(shù)器溢出檢測器的芯片工作 特性選擇器。當計數(shù)器溢出條件出現(xiàn)時，計數(shù)器溢出檢測器可以發(fā)送 溢出信號到芯片工作特性選擇器。芯片工作特性選擇器可以響應(yīng)于接 收到溢出信號選擇用于該芯片的新的工作特性。新的工作特性可以是 工作電壓或工作頻率中的至少一項，并且其中選擇新的工作特性包括 把工作電壓遞增到下一個更高的工作電壓或把工作頻率遞減到下一個 更低的工作頻率中的至少一項。DCC電路可以是片上系統(tǒng)的一部分。片上系統(tǒng)可以是數(shù)據(jù)處理系 統(tǒng)的一部分。數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)可以是臺式數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)、服務(wù)器、便攜 式數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)、膝上數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)、筆記本數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)、個人數(shù) 字助理、游戲機、游戲操縱臺、便攜式電話設(shè)備或通信設(shè)備之一。DCC 電路控制器可以是具有至少兩個異構(gòu)處理器的片上多處理器系統(tǒng)的一 部分。除了上述內(nèi)容以外，本發(fā)明還提供了一種在數(shù)據(jù)處理設(shè)備中的方 法，包括選擇用于數(shù)據(jù)處理設(shè)備的初始工作頻率，把用于數(shù)據(jù)處理設(shè) 備的工作電壓初始化為最低的可能電壓值，并把占空比校正(DCC) 設(shè)備設(shè)置初始化為最低的DCC設(shè)置值。該方法還可包括對數(shù)據(jù)處理 設(shè)備的元件進行測試，根據(jù)執(zhí)行測試的結(jié)果判斷是否修改DCC設(shè)備設(shè)置，如果確定要修改DCC設(shè)備設(shè)置，則修改DCC設(shè)備設(shè)置。數(shù)據(jù)處理設(shè)備可以是集成電路設(shè)備，并且該方法可以在片上占空 比校正設(shè)備中實現(xiàn)。數(shù)據(jù)處理設(shè)備的所述元件可以是在集成電路設(shè)備 上的陣列的一部分。對數(shù)據(jù)處理設(shè)備的元件進行測試可包括使用耦合到陣列的一部分 的內(nèi)建自測電路對當前的工作電壓、工作頻率和DCC設(shè)備設(shè)置進行 所述陣列的該部分的自測。根據(jù)執(zhí)行測試的結(jié)果判斷是否要修改DCC 設(shè)備設(shè)置可包括判斷執(zhí)行測試的結(jié)果表示測試是合格還是失敗的，如 果執(zhí)行測試的結(jié)果表示測試失敗，則把DCC設(shè)備設(shè)置值遞增到DCC 設(shè)備的下一個增加的設(shè)置值。如果執(zhí)行測試的結(jié)果表示測試合格，則 DCC設(shè)備的當前設(shè)置值可被用作為數(shù)據(jù)處理設(shè)備中用于占空比校正 的設(shè)置值。該方法還可包括判斷修改DCC設(shè)備設(shè)置值是否導致溢出條件。 如果修改DCC設(shè)備設(shè)置值導致溢出條件，則工作電壓和工作頻率中 的一項或多項可以-陂遞增。此外，本發(fā)明提供了一種用于提供占空比校正設(shè)備的方法，其中 提供了占空比校正(DCC )電路、耦合到DCC電路的DCC電路控制 器、耦合到DCC電路的陣列、以及耦合到所述陣列和所述DCC電路 控制器的內(nèi)建自測電路。內(nèi)建自測電路可以利用DCC電路的當前設(shè) 置值對該陣列執(zhí)行測試。DCC電路控制器可以響應(yīng)于來自內(nèi)建自測電 路的表示陣列故障的結(jié)果將DCC電路的設(shè)置值遞增到下一個遞增的 設(shè)置值。DCC電路控制器可以響應(yīng)于來自內(nèi)建自測電路的表示陣列合 格的結(jié)果將DCC電路的當前設(shè)置值設(shè)置為用于芯片的DCC設(shè)置值。此外，本發(fā)明還提供了一種用于提供DCC控制電路的方法，其 中提供了計數(shù)器和耦合到該計數(shù)器的譯碼器。計數(shù)器可以接收表示自 測的結(jié)果表明測試合格還是失敗的輸入信號，當輸入信號表示自測失 敗時可以遞增，并可以把計數(shù)值信號輸出到譯碼器。譯碼器可以接收 來自計數(shù)器的計數(shù)值信號，根據(jù)計數(shù)值信號生成控制信號，并把控制 信號輸出到占空比校正(DCC)電路。DCC電路可以根據(jù)由譯碼器輸出的控制信號遞增地改變占空比。本發(fā)明的這些和其它特征與優(yōu)點將結(jié)合本發(fā)明的示例性實施例的 以下的詳細說明進行描述，或鑒于本發(fā)明的示例性實施例的以下的詳 細說明，本領(lǐng)域技術(shù)人員將會明白本發(fā)明的這些和其它特征與優(yōu)點。


被認為是本發(fā)明的區(qū)別特征的新穎特性在所附權(quán)利要求中闡述。 然而，通過參照說明性實施例的以下詳細說明，當結(jié)合附圖閱讀時將 更好地了解本發(fā)明本身以及優(yōu)選的使用模式和本發(fā)明的其他優(yōu)點，其 中..圖1是根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實施例的電路結(jié)構(gòu)的示例性框圖；圖2是根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實施例的占空比校正電路的示例 性框圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實施例的占空比校正電路控制器 的示例性框圖；圖4是顯示根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實施例的、用于控制占空比 校正電路的設(shè)置的示例性操作的流程圖；以及圖5是其中可以實現(xiàn)本發(fā)明的占空比校正電路控制器的數(shù)據(jù)處理 系統(tǒng)的示例性框圖。
具體實施方式
本發(fā)明提供了一種用于自動控制占空比校正電路的片上集成電路 設(shè)備和方法，以實現(xiàn)在各種不同工作條件下芯片的最佳工作。芯片性 能的整體目標是在最低的可能工作電壓下具有最高的可能工作頻率， 從而減小功率。本發(fā)明試圖通過占空比校正電路的自動片上控制來實 現(xiàn)這樣的最佳芯片性能。圖1是根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實施例的電路結(jié)構(gòu)的示例性框 圖。如圖1所示，該電路結(jié)構(gòu)包括時鐘生成宏單元110、簡單的占空比校正電路(DCC) 120、陣列切片和內(nèi)建自測單元130、以及DCC 電路控制器140。時鐘生成宏單元110——它在一個示例性實施例中是 可被控制以便輸出所希望的頻率的時鐘信號的鎖相環(huán)(PLL)電i g—— 生成輸入時鐘信號到DCC電路120。 DCC電路120對輸入時鐘信號 進行采樣，并根據(jù)DCC電路的當前的設(shè)置對時鐘信號執(zhí)行占空比校 正。DCC電路的當前設(shè)置由從DCC電路控制器140輸出的DCC控 制比特來控制。DCC電路120根據(jù)DCC電路120的當前設(shè)置向輸入時鐘信號提 供增量改變。例如，在本發(fā)明的一個示例性實施例中，DCC電路120 包括多個級，其中輸入時鐘信號被由每個使能級放大。因此，每一級 向輸入時鐘信號提供遞增的放大，結(jié)果，輸出時鐘信號nclk被提供給 陣列切片和內(nèi)建自測單元130。陣列切片和內(nèi)建自測單元130包括代表主陣列塊的小陣列柵格， 以及內(nèi)建自測電路。用于陣列的內(nèi)建自測電路是本領(lǐng)域所熟知的，因 此這里不提供詳細說明。內(nèi)建自測電路對陣列切片針對自測條件進行 測試，并且輸出測試結(jié)果。例如，內(nèi)建自測電路可以把數(shù)據(jù)寫入到陣 列切片中，從陣列切片讀取數(shù)據(jù)，并對這兩者進行比較，以判斷寫入 到陣列切片中的數(shù)據(jù)與從陣列切片讀取的數(shù)據(jù)是否匹配。如果二者匹 配，則該測試合格。如果二者不匹配，則該測試失敗。如果用于輸入 時鐘信號nclk的占空比沒有適當?shù)匦?，則被寫入到陣列切片中的數(shù) 據(jù)將與從陣列切片讀取的數(shù)據(jù)不匹配，將得到測試失敗的結(jié)果。換句話說，簡單的陣列測試可以規(guī)定如下。在給定的電壓、頻率、 溫度等等下， 一組預(yù)定的數(shù)值被寫入到代表性陣列切片中。這組所存 儲的數(shù)值然后從該陣列切片中被讀取。如果從該陣列切片讀取的數(shù)值 不同于被寫入到陣列切片中的數(shù)值，則測試失敗。在這樣的情況下， 電路的工作條件必須改變，以實現(xiàn)陣列功能，即讀出的數(shù)值等于寫入的數(shù)值。由在陣列切片和內(nèi)建自測單元130中的內(nèi)建自測電路生成的結(jié) 果，即"合格"或"失敗"，被輸出給DCC電路控制器140。 DCC電路控制器140操作以設(shè)置被輸出到DCC電路120的DCC控制比特，從 而控制DCC電路120的工作，例如，識別DCC電路120的哪些級將 被使能。如果輸入到DCC電路控制器140的結(jié)果信號表示"合格"的 結(jié)果，則當前的DCC設(shè)置值被作為用于該芯片的設(shè)置值。也就是說， 不需要進一步測試和修改DCC電路120， DCC電路120的工作不需 要從它的當前設(shè)置值加以修改。如果輸入到DCC電路控制器140的 結(jié)果信號表示"失敗，，的結(jié)果，則DCC電路控制器生成DCC控制比特， 用于把DCC電路120設(shè)置值遞增到下一個設(shè)置值，然后上述的測試 操作重復(fù)進行。在特定條件下，可能有這樣的情況，即DCC電路控制器140使 得所有DCC電路120設(shè)置值全都遞增過一遍，而從陣列切片和內(nèi)建 自測單元130得到的結(jié)果信號仍舊表示"失敗"的結(jié)果。在這樣的情況 下，DCC電路控制器140提供控制信號，用于將芯片核心電壓遞增到 它的下一個更高的增量或者將工作頻率減小到它的下一個更低的增 量，或者同時進行這兩個操作。然后DCC電路120可被重新初始化， 上述的測試操作可以新的芯片核心電壓、頻率、或者這兩者開始。在本發(fā)明的一個示例性實施例中，DCC電路控制器140通過使用 選擇工作電壓和頻率的選擇器機制遞增芯片核心電壓或減小工作頻 率。頻率可以與時鐘生成宏單元110相聯(lián)系，該時鐘生成宏單元可以 選擇用于該電路的輸出頻率控制。電壓例如可以通過選擇在芯片上的 電壓調(diào)節(jié)器的設(shè)置而被選擇。工作電壓也可以間接影響時鐘頻率。這 些相互關(guān)聯(lián)通過選擇器機制的設(shè)計和該DCC電路控制器140的選擇 器機制可以從中選擇的設(shè)置值而得到補償。圖2是# 據(jù)本發(fā)明的一個示例性實施例的占空比校正(DCC)電 路的示例性框圖。如圖2所示，DCC電路200包括多個級，例如級l 到272，其中"n，，是用于修改占空比周期的增量數(shù)。每一級包括兩個小 的電壓源210和220、兩個放大器230和240、以及兩個開關(guān)250和 260。根據(jù)從DCC電路控制器輸入到DCC電路的DCC控制比特的設(shè) 置，在每級DCC電路中各個不同的開關(guān)250和260將被閉合，從而對該級進行使能。當一個級被使能時，在該級中的放大器230和240 用來使輸入時鐘信號的占空比周期遞增一個增量。由于這些級被串聯(lián) 設(shè)置，使能串聯(lián)的多個級造成占空比周期的累積的增量遞增。因此，DCC電路200通過改變在每個其它級中的倒相器的下拉/ 上拉強度來操作。通過這種方式，時鐘的上升/下降時間可以被控制。 這導致所希望的占空比輸出。雖然圖2示出了 DCC電路200的一種 配置，但這種配置僅僅是示例性的，而不是試圖表示或暗示有關(guān)可用 來實現(xiàn)本發(fā)明的DCC電路類型的限制。相反，許多不同類型的DCC 電路是已知的，并且本發(fā)明的機制可以結(jié)合任何已知的或以后開發(fā)的 DCC電路來使用，而不背離本發(fā)明的范圍。圖3是根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實施例的占空比校正(DCC)電 路控制器的示例性框圖。如圖3所示，DCC電路控制器300包括N到 2N測溫譯碼器310、 N位計數(shù)器320、計數(shù)器溢出檢測器330、芯片工 作特性選擇器340、以及與門350。與門350接收來自陣列切片和內(nèi)建 自測單元的內(nèi)建自測的結(jié)果以及從時鐘生成宏單元110得到的時鐘信 號作為輸入。這兩個信號進行與運算，其結(jié)果被輸入到N位計數(shù)器320。 影響是當內(nèi)建自測表示失敗時，與門350的輸出在下一個時鐘過渡時 為0。結(jié)果，N位計數(shù)器320遞增到下一個計數(shù)值，并把計數(shù)值輸出 給測溫譯碼器310和計數(shù)器溢出檢測器330。測溫譯碼器310把由N位計數(shù)器320生成的N比特計數(shù)值變換成 2N DCC控制比特信號，它作為輸入被提供給簡單的占空比校正電路 120。簡單的占空比校正電路120執(zhí)行占空比校正，并把輸出提供給主 時鐘網(wǎng)格和電路350以及陣列切片和內(nèi)建自測單元130。測溫譯碼器的操作是本領(lǐng)域所熟知的，因此這里不提供詳細的說 明?；旧现钡接蒒比特計數(shù)值信號表示的當前控制比特的所有DCC 控制比特均被置位。結(jié)果，當DCC電路接收DCC控制比特時，在由 置位的DCC控制比特所表示的、在級中的所有開關(guān)都閉合，從而使 能該級對輸入時鐘信號的操作。通過N位計數(shù)器320的每次遞增，在 DCC電路中的一系列級的另一級被使能。計數(shù)器溢出檢測器330也接收來自N位計數(shù)器320的計數(shù)值輸出 信號，并判斷是否出現(xiàn)計數(shù)器溢出條件。例如當計數(shù)器遞增到最大值 時，可以檢測到計數(shù)器溢出條件，然后返回到初始計數(shù)值，例如從最 大計數(shù)值16返回到初始計數(shù)值1。在這種情況下，計數(shù)器溢出檢測器 330輸出溢出信號到芯片工作特性選擇器340,并把計數(shù)器初始化信號 輸出到N位計數(shù)器320。響應(yīng)于接收到這個計數(shù)器初始化信號，N位 計數(shù)器320把它自己重新初始化為最低的計數(shù)值。響應(yīng)于接收到溢出信號，芯片工作特性選擇器340選擇所使用的 芯片的工作特性的下一個設(shè)置值。例如，芯片工作特性選擇器340把 電壓遞增到下一個更高的電壓，把工作頻率遞減增到下一個更低的頻 率，或者同時進行這兩個操作。這個新的工作特性然后結(jié)合陣列切片 和內(nèi)建自測單元被用來執(zhí)行下一系列測試，以確定電壓、工作頻率和 占空比周期的最佳組合。也就是說，通過N位計數(shù)器320的新的工作 特性的選擇和重新初始化，DCC電路的控制針對新的工作特性被重新 初始化，并重復(fù)進行以上的用于確定適當占空比周期的操作。因此，在工作時，例如在芯片上電時，N位計數(shù)器320被初始化 為預(yù)定的數(shù)值(例如，它的最低的計數(shù)設(shè)置值)。當在它的時鐘輸入 clk中發(fā)生一次過渡時，N位計數(shù)器320把它的數(shù)值遞增。芯片然后以 已知的工作電壓和頻率值啟動。內(nèi)建自測的結(jié)果然后與驅(qū)動N位計數(shù) 器320的時鐘進行與運算。如果來自內(nèi)建自測的結(jié)果是"失敗"，即信 號為低或O，則在N位計數(shù)器320的時鐘輸入的下一個過渡時，N位 計數(shù)器320把它的數(shù)值遞增到它的下一個電平。這個計數(shù)值然后被發(fā) 送到測溫譯碼器310作為DCC電路設(shè)置值。測溫譯碼器310基于該 計數(shù)值生成用于控制DCC電路的DCC控制比特。DCC控制比特將 導致在給定的電壓和頻率下對于芯片可用的占空比的增量改變。然后對于這個新的占空比設(shè)置再次執(zhí)行內(nèi)建自測。如果內(nèi)建自測 的結(jié)果"失敗"，則計數(shù)器再次遞增，它的數(shù)值被用來以先前所述的方 式修改占空比。這個過程繼續(xù)進行，直至內(nèi)建自測為"合格"為止。在 這種情況下，N位計數(shù)器320不再使它的數(shù)值遞增，DCC電路將保持其當前的設(shè)置。如上所述，在惡劣的工作條件下，N位計數(shù)器320可能已經(jīng)對它 的整個范圍進行了計數(shù)，而內(nèi)建自測可能對于所有的DCC設(shè)置都失 敗。在這種情況下，溢出檢測器330將檢測到溢出，并把信號輸出到 選擇器340，以指示選擇器340遞增電壓、頻率或者這兩者。然后重 復(fù)進行上述過程，以便找到針對最佳芯片性能的最佳DCC設(shè)置。圖4是顯示根據(jù)本發(fā)明的一個示例性實施例的、用于控制占空比 校正電路的設(shè)置值的示例性操作的流程圖。如圖4所示，操作從選擇 初始工作頻率開始，芯片核心電壓被初始化為最低的可能數(shù)值，占空 比校正電路被初始化為最低的設(shè)置值(步驟410)。然后在給定的電 壓、頻率、溫度、處理過程和DCC設(shè)置下執(zhí)行陣列電路的代表性切 片的自測(步驟420 )。自測的結(jié)果被接收(步驟430 )，并判斷該結(jié) 果是否表示"合格"(步驟440)。如果結(jié)果表示"合格"，則DCC電路 的當前設(shè)置值被作為用于芯片占空比校正(步驟450)的設(shè)置值，操 作結(jié)束。如果自測的結(jié)果不表示"合格"，即結(jié)果是"失敗，，，貝'J DCC電路 設(shè)置值被遞增到下一個更高的設(shè)置值(步驟460)。判斷DCC電路設(shè) 置值的這次遞增是否導致溢出(步驟470)。如果不是的話，操作返 回到步驟420。如果出現(xiàn)溢出，則為該芯片選擇下一個電壓、頻率或 者這兩者(步驟480) 。 DCC設(shè)置值然后被重新初始化為它的最低設(shè) 置值(步驟490)，操作返回到步驟420。因此，本發(fā)明提供了一種機制，通過該機制可以自動選擇用于占 空比校正電路的最佳占空比設(shè)置，使得芯片可以在給定的處理過程、 電壓和溫度(PVT)條件下具有最佳性能。本發(fā)明的機制大大地減少 了當要在外部測試環(huán)境下表征最佳設(shè)置值時所需要的測試/表征時間 和成本。本發(fā)明的機制的動態(tài)特性即使在芯片級工作環(huán)境由于工作負 荷變化和PVT變化而改變時也允許芯片選擇最佳的占空比設(shè)置。如上所述的電路是用于集成電路芯片的設(shè)計的 一部分。芯片設(shè)計 通過圖形計算機編程語言來創(chuàng)建，并被存儲在計算機存儲介質(zhì)(如磁盤、磁帶、物理硬盤、或諸如在存儲訪問網(wǎng)絡(luò)中的虛擬硬件驅(qū)動器) 中。如果設(shè)計者不生產(chǎn)芯片或用于制造芯片的光刻掩膜，則設(shè)計者通 過物理手段(例如通過提供存儲該設(shè)計的存儲介質(zhì)的拷貝)或以電子 方式(例如通過互聯(lián)網(wǎng))直接或間接地將所得到的設(shè)計發(fā)送到這樣的實體。所存儲的設(shè)計然后被轉(zhuǎn)換成適當?shù)母袷?例如GDSII)，用于 制作光刻掩膜，它典型地包括所討論的要形成在晶片上的芯片設(shè)計的 多個拷貝。光刻掩膜被用來限定要被蝕刻或者被處理的晶片(和/或在 其上的層)的區(qū)域。所得到的集成電路芯片可以由制造者以原始晶片的形式(即作為 具有多個未封裝的芯片的單個晶片)作為棵模(bare die )或以封裝的 形式發(fā)行。在后一種情況下，芯片被安裝在單個芯片封裝(如塑料栽 體，其具有被附連到主板或其它更高級別的栽體的引線)或多芯片封 裝(如陶瓷載體，其具有表面互聯(lián)或嵌入式互聯(lián)中之一或者這兩者)。 在任一情況下，該芯片隨后與其它芯片、分立電路元件、和/或其它信 號處理設(shè)備集成在一起，作為(a)中間產(chǎn)品，如主板，或者(b)最 終產(chǎn)品的一部分。最終產(chǎn)品可以是包括集成電路芯片的任何產(chǎn)品，范 圍從玩具和其它低端應(yīng)用到游戲操縱臺、手持或便攜式計算設(shè)備、以及具有顯示器、鍵盤或其它輸入設(shè)備和中央處理器的其它高級非便攜 式計算機產(chǎn)品。圖5是可以實現(xiàn)本發(fā)明的占空比校正電路控制器的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng) 的示例性框圖。如圖5所示，占空比校正電路控制器520與占空比校 正電路530、時鐘生成宏單元540、陣列切片和內(nèi)建自測單元550、以 及主時鐘網(wǎng)格和電路560相結(jié)合地被提供在數(shù)據(jù)處理設(shè)備510上或其 中。應(yīng)當注意的是，盡管數(shù)據(jù)處理設(shè)備510被顯示為具有耦合到其它 元件530-560的單個占空比校正電路控制器520 ，但本發(fā)明不限于此。 與之不同的是，元件520-560的多個實例可以-故提供在#^據(jù)本發(fā)明的 數(shù)據(jù)處理設(shè)備510中。如上所述，數(shù)據(jù)處理設(shè)備510可以是多種不同類型的數(shù)據(jù)處理設(shè) 備中的任一種。這樣的數(shù)據(jù)處理設(shè)備包括但不限于集成電路芯片、多芯片封裝、主板等等。數(shù)據(jù)處理設(shè)備510可以是更大的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng) 或設(shè)備500的一部分。這個更大的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)或設(shè)備500可以是利 用數(shù)據(jù)處理設(shè)備510的任何類型的設(shè)備，范圍從玩具和其它低端應(yīng)用 到游戲設(shè)備、游戲操縱臺、手持或便攜式計算設(shè)備、臺式計算設(shè)備、 個人數(shù)字助理計算設(shè)備、電話設(shè)備或其它通信設(shè)備、以及其它高級的 非便攜式計算設(shè)備，如臺式計算機、服務(wù)器等等。在一個示例性實施例中，圖5所示的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)例如可以是片 上系統(tǒng)。在本發(fā)明的一個示例性實施例中，其中實現(xiàn)本發(fā)明的數(shù)據(jù)處 理系統(tǒng)是可從紐約州Armonk市的國際商用機器公司獲得的、基于 CELL寬帶引擎(CBE)結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。在單個芯片上實現(xiàn)的 CELL寬帶引擎(CBE)結(jié)構(gòu)包括多個異構(gòu)處理器，具有共享一個公 共存儲器和總線的不同指令集。例如， 一個異構(gòu)處理器可以是具有向 量指令集的協(xié)處理單元(SPU)，而另一個異構(gòu)處理器可以是具有精 簡指令集計算機(RISC)或其它類型的指令集的PowerPC處理器， 二者共享同一存儲空間。本發(fā)明的說明是為了顯示和描述的目的而給出的，而并非試圖窮 舉或把本發(fā)明限制在所公開的發(fā)明形式。許多修改方案和變體對于本 領(lǐng)域技術(shù)人員是很清楚的。選擇和描述了實施例，以便更好地解釋本 發(fā)明的原理、實際應(yīng)用，并使得本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠理解本發(fā)明的具 有適合于預(yù)期特定用途的各種修改的各種不同實施例。
權(quán)利要求
1.一種設(shè)備，包括占空比校正(DCC)電路；耦合到DCC電路的DCC電路控制器；耦合到DCC電路的陣列；以及耦合到所述陣列和所述DCC電路控制器的內(nèi)建自測電路，其中內(nèi)建自測電路通過使用DCC電路的當前設(shè)置值對該陣列執(zhí)行自測，DCC電路控制器響應(yīng)于來自內(nèi)建自測電路的表示陣列故障的結(jié)果將DCC電路的設(shè)置值遞增到下一個遞增的設(shè)置值，并且其中DCC電路控制器響應(yīng)于來自內(nèi)建自測電路的表示該陣列合格的結(jié)果將DCC電路的當前設(shè)置值設(shè)置為用于芯片的DCC設(shè)置值。
2. 權(quán)利要求l的設(shè)備，其中所述DCC電路包括多個級，在所述 多個級中的每一級當被使能時提供對該陣列的占空比的遞增的改變， 并且其中在所述多個級中的每一級分別能夠根據(jù)來自DCC電路控制 器的輸入而被使能。
3. 權(quán)利要求2的設(shè)備，其中所述多個級中的每一級包括 至少一個放大器；以及耦合到所述至少一個放大器的至少一個開關(guān)，其中所述至少一個 開關(guān)由來自所述DCC電路控制器的輸入進行控制。
4. 前述權(quán)利要求中任一的設(shè)備，其中所述DCC電路控制器包括 計數(shù)器；以及耦合到所述計數(shù)器的譯碼器，其中所述計數(shù)器接收表示自測的結(jié)果表明自測合格還是失敗的信號作為輸入，當輸入信號表示自測失敗時遞增，并把計數(shù)值信號輸出到譯碼器，并且其中所述譯碼器接收來自所述計數(shù)器的計數(shù)值信號，根據(jù)計數(shù)值信號生成控制信號，并把控制信號輸出到DCC電路。
5. 權(quán)利要求4的設(shè)備，其中所述DCC電路控制器還包括與門，該與門接收來自內(nèi)建自測電路的表示自測是合格還是失敗 的第一信號和作為用來驅(qū)動計數(shù)器的時鐘信號的第二信號作為輸入。
6. 權(quán)利要求4或權(quán)利要求5的設(shè)備，其中所述DCC電路控制器 還包括耦合到N位計數(shù)器的計數(shù)器溢出檢測器，其中所述計數(shù)器溢出檢 測器檢測計數(shù)器溢出條件何時出現(xiàn)，并當計數(shù)器溢出條件出現(xiàn)時重新 初始化計數(shù)器。
7. 權(quán)利要求6的設(shè)備，其中所述DCC電路控制器還包括 耦合到所述計數(shù)器溢出檢測器的芯片工作特性選擇器，其中當計數(shù)器溢出條件出現(xiàn)時，計數(shù)器溢出檢測器發(fā)送溢出信號到芯片工作特 性選擇器，并且其中芯片工作特性選擇器響應(yīng)于接收到溢出信號選擇 用于芯片的新的工作特性。
8. 權(quán)利要求7的設(shè)備，其中所述新的工作特性是工作電壓或工作 頻率中的至少一項，并且其中選擇新的工作特性包括把工作電壓遞增 到下一個更高的工作電壓或者把工作頻率遞減到下一個更低的工作頻 率中的至少一項。
9. 前述權(quán)利要求中任一的設(shè)備，其中所述DCC電路被初始設(shè)置 為最低的設(shè)置值，并且每次內(nèi)建自測電路表示施加到陣列的自測失敗 時述DCC電路被遞增到下一個更較高的設(shè)置值，直至達到DCC電路 的最大設(shè)置值為止，此時工作電壓或工作頻率中的至少一項被修改， DCC電路^皮重新初始化。
10. —種占空比校正(DCC)電路控制器，包括 計數(shù)器；以及耦合到所述計數(shù)器的譯碼器，其中所述計數(shù)器接收表示自測的結(jié)果表明自測是合格還是失敗的輸入信號，當輸入信號表示自測失敗時遞增，并且把計數(shù)值信號輸出到所述譯碼器， 其中所述譯碼器接收來自所述計數(shù)器的計數(shù)值信號，根據(jù)計數(shù)值信號生成控制信號，并且把控制信號輸出到占空比校正(DCC)電路，其中DCC電路 根據(jù)由譯碼器輸出的控制信號遞增地改變占空比。
11. 權(quán)利要求10的DCC電路控制器，還包括與門，該與門接收來自內(nèi)建自測電路的表示自測是合格還是失敗 的第一信號和作為用來驅(qū)動計數(shù)器的時鐘信號的第二信號作為輸入。
12. 權(quán)利要求10或權(quán)利要求11的DCC電路控制器，還包括 耦合到N位計數(shù)器的計數(shù)器溢出檢測器，其中所述計數(shù)器溢出檢測器檢測計數(shù)器溢出條件何時出現(xiàn)，并當計數(shù)器溢出條件出現(xiàn)時重新 初始化計數(shù)器。
13. 權(quán)利要求12的DCC電路控制器，還包括耦合到所述計數(shù)器溢出檢測器的芯片工作特性選擇器，其中當計 數(shù)器溢出條件出現(xiàn)時，所述計數(shù)器溢出檢測器發(fā)送溢出信號到芯片工 作特性選擇器，并且其中所述芯片工作特性選擇器響應(yīng)于接收到溢出 信號選擇用于芯片的新的工作特性。
14. 權(quán)利要求13的DCC電路控制器，其中所述新的工作特性是 工作電壓或工作頻率中的至少一項，并且其中選擇新的工作特性包括 把工作電壓遞增到下一個更高的工作電壓或者把工作頻率遞減到下一 個更低的工作頻率中的至少一項。
15. 在數(shù)據(jù)處理設(shè)備中的一種方法，包括 選擇用于數(shù)據(jù)處理設(shè)備的初始工作頻率； 把用于數(shù)據(jù)處理設(shè)備的工作電壓初始化為最低的可能電壓值； 把占空比校正(DCC)設(shè)備設(shè)置值初始化為最低的DCC設(shè)置值； 對數(shù)據(jù)處理設(shè)備的元件執(zhí)行測試；根據(jù)執(zhí)行測試的結(jié)果判斷是否要修改DCC設(shè)備設(shè)置值；以及 如果確定要修改DCC設(shè)備設(shè)置值，則修改DCC設(shè)備設(shè)置值。
16. 權(quán)利要求15的方法，其中所述數(shù)據(jù)處理設(shè)備是集成電路設(shè)備， 并且其中該方法在片上占空比校正設(shè)備中實現(xiàn)。
17. 權(quán)利要求16的方法，其中所述數(shù)據(jù)處理設(shè)備的元件是在集成電路設(shè)備上的陣列的一部分。
18. 權(quán)利要求17的方法，其中對數(shù)據(jù)處理設(shè)備的元件執(zhí)行測試包括使用耦合到陣列的一部分的內(nèi)建自測電路在當前工作電壓、工作 頻率和DCC設(shè)備設(shè)置值下對所述陣列的所述部分執(zhí)行自測。
19. 權(quán)利要求15到18中任一項的方法，其中根據(jù)執(zhí)行測試的結(jié) 果判斷是否要修改DCC設(shè)備設(shè)置值包括判斷執(zhí)行測試的結(jié)果表示測試是合格還是失??；并且 如果執(zhí)行測試的結(jié)果表示測試失敗，則把DCC設(shè)備設(shè)置值遞增 到DCC設(shè)備的下一個遞增的設(shè)置值。
20. 權(quán)利要求19的方法，其中如果執(zhí)行測試的結(jié)果表示測試合格， 則DCC設(shè)備的當前設(shè)置值被作為在數(shù)據(jù)處理設(shè)備中用于占空比校正 的設(shè)置值。
21. 權(quán)利要求15到20中任一項的方法，還包括 判斷修改DCC設(shè)備設(shè)置值是否導致溢出條件；并且 如果修改DCC設(shè)備設(shè)置值導致溢出條件，則遞增工作電壓和工作頻率的一項或多項。
22. —種方法，包括 提供占空比校正(DCC)電路； 提供耦合到所述DCC電路的DCC電路控制器； 提供耦合到所述DCC電路的陣列；以及提供耦合到所述陣列和所述DCC電路控制器的內(nèi)建自測電路， 其中所述內(nèi)建自測電路通過使用DCC電路的當前設(shè)置值對所述陣列 執(zhí)行自測，所述DCC電路控制器響應(yīng)于來自內(nèi)建自測電路的表示陣 列故障的結(jié)果將DCC電路的設(shè)置值遞增到下一個遞增的設(shè)置值，并 且其中所述DCC電路控制器響應(yīng)于來自內(nèi)建自測電路的表示陣列合 格的結(jié)果將DCC電路的當前設(shè)置值設(shè)置為用于芯片的DCC設(shè)置值。
23. 權(quán)利要求22的方法，其中所述DCC電路包括多個級，在所 述多個級中的每一級當被使能時對陣列的占空比提供遞增的改變，并且其中所述多個級中的每一級分別能夠根據(jù)來自DCC電路控制器的 輸入而被使能。
24.權(quán)利要求23的方法，其中所述多個級中的每一級包括 至少一個放大器；以及耦合到所述至少 一個放大器的至少 一個開關(guān)，其中所述至少 一個 開關(guān)由來自所述DCC電路控制器的輸入進行控制。
25，權(quán)利要求22到24中任一項的方法，其中所述DCC電路控 制器包括計數(shù)器；以及耦合到所述計數(shù)器的譯碼器，其中所述計數(shù)器接收表示自測的結(jié)果表明自測是合格還是失敗的信號 作為輸入，當輸入信號表示自測失敗時遞增，并把計數(shù)值信號輸出到 譯碼器，并且其中所述譯碼器接收來自所述計數(shù)器的計數(shù)值信號，根據(jù)計數(shù)值信號 生成控制信號，并把控制信號輸出到DCC電路。
26. 權(quán)利要求25的方法，其中所述DCC電路控制器還包括與門，該與門接收來自內(nèi)建自測電路的表示自測是合格還是失敗 的第一信號和作為用來驅(qū)動計數(shù)器的時鐘信號的第二信號作為輸入。
27. 權(quán)利要求25或權(quán)利要求26的方法，其中所述DCC電路控 制器還包括耦合到N位計數(shù)器的計數(shù)器溢出檢測器，其中所述計數(shù)器溢出檢 測器檢測計數(shù)器溢出條件何時出現(xiàn)，并當計數(shù)器溢出條件出現(xiàn)時重新 初始化計數(shù)器。
28. 權(quán)利要求27的方法，其中所述DCC電路控制器還包括 耦合到所述計數(shù)器溢出檢測器的芯片工作特性選擇器，其中當計數(shù)器溢出條件出現(xiàn)時，所述計數(shù)器溢出檢測器發(fā)送溢出信號到芯片工 作特性選擇器，并且其中所述芯片工作特性選擇器響應(yīng)于接收到溢出 信號選擇用于芯片的新的工作特性。
29. 權(quán)利要求28的方法，其中所述新的工作特性是工作電壓或工作頻率中的至少一項，并且其中選擇新的工作特性包括把工作電壓遞增到下一個更高的工作電壓或者把工作頻率遞減到下一個更低的工作 頻率中的至少一項。
30. 權(quán)利要求22到29中任一項的方法，其中所述DCC電路被 初始地設(shè)置為最低的設(shè)置值，并且每次內(nèi)建自測電路表示施加到陣列 的自測失敗時所述DCC電路被遞增到下一個更高的設(shè)置值，直至達 到DCC電路的最大設(shè)置值為止，此時工作電壓或工作頻率中的至少 一項被 畛改，DCC電路被重新初始化。
31. —種方法，包括 提供計數(shù)器；以及提供耦合到所述計數(shù)器的譯碼器，其中所述計數(shù)器接收表示自測的結(jié)果表明自測是合格還是失敗的輸入信號，當輸入信號表示自測失敗時遞增，并且把計數(shù)值信號輸出到譯碼器， 其中所述譯碼器接收來自所述計數(shù)器的計數(shù)值信號，根據(jù)計數(shù)值信號生成控制信號，并且把控制信號輸出到占空比校正(DCC)電路，其中所述DCC 電路根據(jù)由譯碼器輸出的控制信號遞增地改變占空比。
32. 權(quán)利要求31的方法，還包括提供與門，該與門接收來自內(nèi)建自測電路的表示自測是合格還是 失敗的第一信號和作為用來驅(qū)動計數(shù)器的時鐘信號的第二信號作為輸 入，
33. 權(quán)利要求31或權(quán)利要求32的方法，還包括 提供耦合到N位計數(shù)器的計數(shù)器溢出檢測器，其中所述計數(shù)器溢出檢測器檢測計數(shù)器溢出條件何時出現(xiàn)，并當計數(shù)器溢出條件出現(xiàn)時 重新初始化計數(shù)器。
34. 權(quán)利要求33的方法，還包括提供耦合到所述計數(shù)器溢出檢測器的芯片工作特性選擇器，其中當計數(shù)器溢出條件出現(xiàn)時，所述計數(shù)器溢出檢測器發(fā)送溢出信號到芯 片工作特性選擇器，并且其中芯片工作特性選擇器響應(yīng)于接收到溢出 信號選擇用于芯片的新的工作特性。
35.權(quán)利要求34的方法，其中所述新的工作特性是工作電壓或工 作頻率中的至少一項，并且其中選擇新的工作特性包括把工作電壓遞增到下一個更高的工作電壓或者把工作頻率遞減到下一個更低的工作 頻率中的至少一項。
全文摘要
提供了用于自動校準占空比電路以實現(xiàn)最大性能的設(shè)備和方法。提供了對于每個芯片自動校準占空比校正(DCC)電路設(shè)置的芯片級內(nèi)建電路。這個芯片級內(nèi)建電路包括時鐘生成宏單元、簡單的占空比校正(DCC)電路、陣列切片和內(nèi)建自測單元、以及DCC電路控制器。陣列的內(nèi)建自測的結(jié)果，即合格還是失敗，被提供給DCC電路控制器。如果內(nèi)建自測的結(jié)果是合格，則當前DCC電路控制器的DCC控制比特設(shè)置值被設(shè)置為用于芯片的設(shè)置值。如果來自內(nèi)建自測的結(jié)果是失敗，則DCC電路控制器的DCC控制比特設(shè)置值被遞增到下一個設(shè)置值，并再次執(zhí)行自測。
文檔編號H03K5/156GK101278481SQ200680036736
公開日2008年10月1日 申請日期2006年9月26日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月4日
發(fā)明者D·W·伯伊爾斯特勒, E·海魯, 齊潔明 申請人:國際商業(yè)機器公司