專利名稱：包括測(cè)試電路的對(duì)地漏電跳閘裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種對(duì)地漏電跳閘裝置，包括用于測(cè)量對(duì)地漏電流的裝置，其和跳閘繼電器相連，所述跳閘繼電器包括線圈和動(dòng)葉片(moving vane)，測(cè)試裝置，其包括設(shè)計(jì)用于施加測(cè)試信號(hào)的裝置，所述測(cè)試信號(hào)由在測(cè)試程序期間對(duì)線圈兩端施加的交流電壓構(gòu)成，用于使葉片振動(dòng)而不引起跳閘裝置的跳閘，以及檢查裝置，其設(shè)計(jì)用于檢查所述葉片不被粘連放開(kāi)(unstick)的能力。
背景技術(shù)：
對(duì)地漏電跳閘裝置一般包括測(cè)試按鈕，當(dāng)其被致動(dòng)時(shí)，其能夠模擬對(duì)地漏電故障，因而能夠測(cè)試跳閘裝置。這種類型的測(cè)試需要人工定期地干預(yù)，并且引起設(shè)備跳閘，因而中斷被保護(hù)的電力系統(tǒng)的連續(xù)性。實(shí)際上，大量的對(duì)地漏電跳閘裝置從來(lái)不測(cè)試，因而它們的可靠性不能得到保證。
專利文件EP815630公開(kāi)了一種對(duì)地漏電跳閘裝置，其包括一種能夠定期地、自動(dòng)地對(duì)跳閘裝置繼電器進(jìn)行自檢測(cè)的測(cè)試電路。所述測(cè)試通常包括通過(guò)對(duì)繼電器的線圈的兩端施加脈沖形式的電壓信號(hào)引起繼電器葉片的振動(dòng)，而不引起跳閘。通過(guò)檢測(cè)在線圈端子上的浪涌電壓，或者通過(guò)檢測(cè)測(cè)試電路中的電流的急劇改變、代表線圈兩端的電感的急劇改變，來(lái)檢查繼電器葉片不粘連的能力，所述能力保證繼電器的正確操作。事實(shí)上，葉片的運(yùn)動(dòng)在繼電器的磁路中的產(chǎn)生氣隙，并因而引起磁路的磁阻的改變，因此根據(jù)葉片是否處于粘連(stick)狀態(tài)，在線圈中流過(guò)的激磁電流的波形發(fā)生改變。
然而，對(duì)于某些繼電器，流過(guò)粘連或未粘連的繼電器線圈中的電流的曲線之間的差別太小而沒(méi)有意義。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服已知的對(duì)地漏電跳閘裝置的測(cè)試的缺點(diǎn)，尤其是，不論使用的繼電器的特性如何，使得能夠測(cè)試跳閘裝置的繼電器葉片不粘連的能力。
按照本發(fā)明，本發(fā)明的目的是通過(guò)一種檢測(cè)裝置實(shí)現(xiàn)的，所述檢測(cè)裝置包括用于在測(cè)試程序期間利用機(jī)械方式檢測(cè)葉片的振動(dòng)的裝置。
按照本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例，所述用機(jī)械方式檢測(cè)葉片振動(dòng)的裝置包括和所述繼電器接觸的壓電檢測(cè)裝置。
按照本發(fā)明的另一個(gè)演變方案，設(shè)計(jì)用于施加交流電壓的裝置包括用于在測(cè)試程序的第一階段期間逐漸增加測(cè)試信號(hào)的幅值的裝置。
它們還可以包括用于在測(cè)試程序的第二階段期間逐漸減少測(cè)試信號(hào)的幅值的裝置。
按照本發(fā)明的另一個(gè)特征，所述檢查裝置包括比較裝置，用于比較來(lái)自壓電檢測(cè)裝置的輸出信號(hào)和預(yù)定的閾值，超過(guò)所述閾值將使測(cè)試程序的第一階段結(jié)束。
所述跳閘裝置最好包括指示裝置，用于指示故障的繼電器，所述檢查裝置包括用于當(dāng)測(cè)試程序的第一階段超過(guò)一個(gè)預(yù)定的時(shí)間時(shí)致動(dòng)所述指示裝置的裝置。
由下面以非限制性實(shí)例方式給出的并在附圖中表示的本發(fā)明的特定實(shí)施例，將會(huì)更加清楚地看出本發(fā)明的其它優(yōu)點(diǎn)和特點(diǎn)，其中圖1表示按照本發(fā)明的跳閘裝置的一個(gè)特定的實(shí)施例；圖2a-2c，3a-3c和4a-4c表示在按照本發(fā)明的跳閘裝置中的各種信號(hào)的波形；圖5表示能夠在圖1所示的跳閘裝置中實(shí)現(xiàn)的流程圖的一個(gè)特定的實(shí)施例；以及圖6a-6cd，和7a-7d表示在執(zhí)行圖5所示的流程圖的跳閘裝置中的各個(gè)信號(hào)的波形圖，分別表示在跳閘裝置繼電器正確地操作以及故障時(shí)的情況。
具體實(shí)施例方式
圖1所示的對(duì)地漏電跳閘裝置以常規(guī)的方式包括對(duì)地漏電檢測(cè)變壓器(transformer)和由線圈致動(dòng)的動(dòng)葉片構(gòu)成的跳閘繼電器1。變壓器的一次繞組以常規(guī)方式成包圍著被保護(hù)的電力系統(tǒng)的導(dǎo)體3的環(huán)形鐵心2的形式。變壓器的二次繞組4串聯(lián)有整流二極管5，連接到繼電器1的線圈。檢測(cè)到大于預(yù)定的跳閘閾值的對(duì)地漏電流激勵(lì)繼電器1，引起繼電器葉片的運(yùn)動(dòng)，從而打開(kāi)開(kāi)關(guān)裝置的觸點(diǎn)6。
跳閘裝置包括測(cè)試電路，其設(shè)計(jì)用于檢測(cè)跳閘繼電器的正確操作，跳閘繼電器構(gòu)成對(duì)地漏電跳閘裝置的可靠性最小的元件。實(shí)際上，大多數(shù)故障是由跳閘繼電器的葉片的粘連引起的。如EP815630專利所述，測(cè)試電路對(duì)繼電器進(jìn)行周期的、自動(dòng)的測(cè)試，而不引起跳閘，從而不中斷電氣設(shè)備運(yùn)行的連續(xù)性。為此，在測(cè)試程序期間，一個(gè)被控制的幅值和頻率的交流電壓施加于繼電器1的線圈的兩端，使得引起葉片的振動(dòng)而不引起跳閘，并且測(cè)試電路檢查葉片的不粘連的能力。
按照本發(fā)明的測(cè)試電路能夠在測(cè)試階段期間用機(jī)械方式檢測(cè)葉片的振動(dòng)，其可以檢測(cè)任何類型的繼電器。繼電器葉片的振動(dòng)的機(jī)械檢測(cè)優(yōu)選地借助于和繼電器接觸的壓電檢測(cè)器進(jìn)行。在圖1所示的實(shí)施例中，壓電檢測(cè)器7優(yōu)選地用黏膠20固定在繼電器1的殼體上。在繼電器中的葉片的振動(dòng)以聲學(xué)方式傳播，并且膠黏在繼電器的壁上的壓電檢測(cè)器足夠靈敏，使得在檢測(cè)器的輸出端獲得代表葉片的振動(dòng)的可測(cè)量的電信號(hào)。在優(yōu)選實(shí)施例中，壓電檢測(cè)器7直接膠黏在繼電器1的葉片上。在這種情況下，從壓電檢測(cè)器輸出的電信號(hào)的幅值和膠黏在殼體上壓電檢測(cè)器提供的電信號(hào)的幅值相比大3倍，這使得測(cè)試電路的信噪比大大改善，因而使得對(duì)于可能發(fā)生的任何干擾振動(dòng)不敏感。
在圖1中，自壓電檢測(cè)器7的輸出信號(hào)提供給例如具有200的增益的放大器8的輸入端。然后，放大的信號(hào)U1在整流和濾波電路9中被整流和濾波，使得提供一個(gè)直流電壓U2，其幅值表示葉片的振動(dòng)。因?yàn)閴弘姍z測(cè)器7的輸出信號(hào)的頻率一般大約為11.5千赫，濾波器最好具有大約為10ms的時(shí)間常數(shù)，這能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)整流信號(hào)的良好濾波。電路9的輸出信號(hào)U2提供給比較器10的輸入端，當(dāng)信號(hào)U2的幅值超過(guò)預(yù)定的閾值S時(shí)，比較器改變狀態(tài)。比較器10的輸出信號(hào)U3提供給測(cè)試管理微控制器11的輸入端。
微控制器11還控制把由交流電壓構(gòu)成的信號(hào)施加到繼電器1的線圈的兩端上。在圖1的實(shí)施例中，微控制器11在測(cè)試程序期間產(chǎn)生一個(gè)方波電壓信號(hào)，所述信號(hào)的頻率在100赫茲和10千赫之間，優(yōu)選地例如是1500赫茲。這個(gè)信號(hào)，最初例如在0和5V之間改變，優(yōu)選地例如通過(guò)比較器(未示出)相對(duì)于0被對(duì)稱化，從而在-5V和+5V之間改變。對(duì)稱化的信號(hào)施加于具有大的輸出電流的可變?cè)鲆娣糯笃?2的輸入端。放大器12例如由運(yùn)算放大器13構(gòu)成，其具有數(shù)字電位器14，連接在其輸入和輸出之間，并由來(lái)自微控制器的控制信號(hào)A1控制。因而，微控制器可以調(diào)節(jié)放大器12的增益G。
放大器12的輸出直接和升壓變壓器15的一次繞組相連，其二次繞組和跳閘繼電器1的線圈并聯(lián)，從而向其提供測(cè)試信號(hào)。變壓器15確保在施加于繼電器1的線圈上的測(cè)試信號(hào)中總體上沒(méi)有直流分量。插入一個(gè)高阻值例如470千歐的電阻16，其在繼電器1的線圈兩端和變壓器15的二次繞組串聯(lián)。電阻16因而用于防止對(duì)地漏電跳閘裝置的靈敏度因?yàn)槔^電器線圈和變壓器15的二次繞組直接并聯(lián)而降低。在測(cè)試程序期間，電阻16在測(cè)試信號(hào)的頻率上(大約為1500赫茲，例如)根本不會(huì)減少測(cè)試信號(hào)，和繼電器線圈的阻抗相比，其阻值仍很低。
圖1所示的跳閘裝置還包括MOSFET耗盡型晶體管17，其和繼電器1的線圈串聯(lián)后和對(duì)地漏電流檢測(cè)變壓器的二次繞組4的輸出相連。微控制器11向晶體管17的控制極提供截止信號(hào)A2，從而在測(cè)試程序期間使晶體管17截止。因而，環(huán)形鐵心2的二次繞組4在測(cè)試程序期間不會(huì)引起任何雜散干擾。如果沒(méi)有電壓，晶體管17則保持導(dǎo)通，這使得在測(cè)試程序之外的時(shí)間保持對(duì)地漏電跳閘裝置的系統(tǒng)電源接通。在另一方面，測(cè)試電路由輔助電源(未示出)供電。
優(yōu)選地，一個(gè)比較器18和對(duì)地漏電流檢測(cè)變壓器的二次繞組4兩端相連。比較器18的輸出和微控制器11的輸入端相連。如果在測(cè)試程序期間發(fā)生對(duì)地漏電故障，則微控制器11中斷測(cè)試程序，并利用信號(hào)A2使晶體管17截止。因而對(duì)地漏電跳閘裝置即使在測(cè)試程序期間也保持在操作狀態(tài)。
圖2a表示在測(cè)試程序期間不致引起跳閘的在繼電器的線圈內(nèi)流過(guò)的并引起繼電器葉片按照跳閘限制的振動(dòng)的電流I。圖2b，2c分別表示在壓電檢測(cè)器7的輸出測(cè)量的相應(yīng)的放大信號(hào)U1(放大器8的輸出)，以及在整流和濾波電路9的輸出端獲得的相應(yīng)的信號(hào)U2。在這個(gè)例子中，繼電器操作正確，即葉片沒(méi)有粘連并振動(dòng)，當(dāng)施加測(cè)試電流時(shí)沒(méi)有引起跳閘。放大器12的增益是常數(shù)，提供給升壓變壓器5的一次繞組的電壓是1.4千赫的方波電壓。由繼電器的振動(dòng)調(diào)制的壓電檢測(cè)器的自諧振方式(11.5千赫)可以在放大的信號(hào)U1中觀察到。在這個(gè)例子中，通過(guò)對(duì)放大的信號(hào)U1的整流、濾波和反相獲得的信號(hào)U2是大約幾伏的負(fù)的直流信號(hào)(圖2c)。
圖3a，3b和3c突出了在有無(wú)葉片粘連時(shí)的信號(hào)的變化。它們分別表示在測(cè)試程序期間的信號(hào)1，U1和U2，在所述測(cè)試程序期間繼電器的葉片交替地粘連(在時(shí)間t1之前，在t2和t3之間以及在t4和t5之間)和不粘連(在時(shí)間t1和t2之間，t3和t4之間以及在時(shí)間t5之后)。當(dāng)沒(méi)有葉片粘連發(fā)生時(shí)，信號(hào)類型和圖2a-2c的相同。在另一方面，當(dāng)葉片粘連時(shí)，信號(hào)U1和U2實(shí)際上是零。因而，比較信號(hào)U2和預(yù)定的閾值，可以容易地發(fā)現(xiàn)在粘連的繼電器和未粘連的繼電器之間的不同。
圖4a-4c突出了測(cè)試信號(hào)幅值的范圍。圖4a表示第一測(cè)試電流Ia，其在跳閘限制下使葉片振動(dòng)，以及用虛線表示的具有略低的幅值的第二測(cè)試電流Ib。相應(yīng)的放大信號(hào)的曲線U1a(圖4b)和U1b(圖4c)具有十分不同的幅值，測(cè)試電流Ib只引起繼電器葉片的弱的振動(dòng)。因而，在繼電器線圈中流動(dòng)的測(cè)試電流I的小的改變便引起繼電器葉片的大的振動(dòng)改變。因此，測(cè)試電流的非線性是大的。
為了確保測(cè)試電路具有高的可靠性，在測(cè)試程序期間，繼電器的激勵(lì)值最好不根據(jù)在線圈中流動(dòng)的電流I調(diào)節(jié)，而根據(jù)由壓電檢測(cè)器7檢測(cè)的振動(dòng)的幅值進(jìn)行調(diào)節(jié)。在按照?qǐng)D1的跳閘裝置中，這可以通過(guò)由微控制器11按照表示由壓電檢測(cè)器7測(cè)量的葉片的振動(dòng)的幅值的信號(hào)U3控制放大器12的增益來(lái)實(shí)現(xiàn)。
圖5的流程圖以及圖6a-6d(葉片未粘連)以及圖7a-7d(葉片粘連)說(shuō)明在按照?qǐng)D1的跳閘裝置中測(cè)試程序的運(yùn)行，其中繼電器的激勵(lì)值根據(jù)檢測(cè)的振動(dòng)的幅值被控制。
在第一步驟F1，在相應(yīng)于測(cè)試程序開(kāi)始的時(shí)刻t6，微控制器通過(guò)施加一個(gè)預(yù)定的電壓A2使晶體管17截止，電壓A2在圖6d，7d所示的例子中是負(fù)的。與此同時(shí)，對(duì)循環(huán)計(jì)數(shù)器的內(nèi)容(C＝0)和放大器12的增益(G＝0)零復(fù)位。然后，在步驟F2，使測(cè)試信號(hào)施加到繼電器的線圈上。為此，其產(chǎn)生一個(gè)預(yù)定頻率的由方波電壓信號(hào)(二進(jìn)制信號(hào))構(gòu)成的在+5V和-5V之間對(duì)稱的測(cè)試信號(hào)，并把該信號(hào)提供給放大器12的輸入端。然后，微控制器通過(guò)借助于電位器14逐漸增加放大器12的增益G，逐漸增加提供給繼電器線圈兩端的電壓信號(hào)的幅值。因此在步驟F3實(shí)現(xiàn)增益的增加ΔG(G＝G+ΔG)。在步驟F4，微控制器檢查循環(huán)計(jì)數(shù)器的內(nèi)容是否達(dá)到預(yù)設(shè)的閾值，在所述的例子中該閾值是128(C＝128？)。如果否(F4輸出NO)，則微控制器在步驟F5使循環(huán)計(jì)數(shù)器加一(C＝C+1)。然后，微控制器在步驟F6檢查檢測(cè)的振動(dòng)幅值是否超過(guò)預(yù)設(shè)閾值。為此，其檢查從比較器10輸出的二進(jìn)制信號(hào)U3的值(U3＝1？)。如圖6c，7c所示，只要信號(hào)U2(圖6b，7b)，其是負(fù)的，未達(dá)到預(yù)設(shè)的負(fù)的閾值S，信號(hào)U3便取第一個(gè)二進(jìn)制值，標(biāo)記為0，其相應(yīng)于負(fù)值。當(dāng)信號(hào)U2(圖6b)，其是負(fù)的，達(dá)到閾值S，信號(hào)U3便取第二個(gè)二進(jìn)制值，標(biāo)記為1，相應(yīng)于一個(gè)正值(圖6c)。如果閾值未達(dá)到(F6的輸出為NO)，則微控制器使循環(huán)返回步驟F3，因而逐漸增加放大器12的增益，并因而在測(cè)試程序的第一階段期間逐漸增加提供給繼電器線圈的測(cè)試信號(hào)1的幅值(圖6a，7a)。
當(dāng)繼電器處于正確的工作狀態(tài)時(shí)，即當(dāng)葉片未粘連時(shí)(圖6a-6d)，信號(hào)1和U2的幅值增加直到時(shí)刻17，此時(shí)信號(hào)U2達(dá)到閾值值S。然后信號(hào)U3改變狀態(tài)并取二進(jìn)制值1。在這種情況下，(F6的輸出是YES)，微控制器終止測(cè)試程序的第一階段。測(cè)試應(yīng)當(dāng)在此時(shí)結(jié)束。不過(guò)，突然中斷施加于繼電器線圈兩端的大的幅值的信號(hào)將導(dǎo)致在繼電器1的磁路中存在剩余磁場(chǎng)，并易于極大地干擾對(duì)地漏電跳閘裝置的靈敏度。
為避免這個(gè)問(wèn)題，微控制器11此時(shí)開(kāi)始第二階段，在此期間其逐漸減少測(cè)試信號(hào)的幅值。因而借助于電位器14逐漸減少放大器12的增益G。因此在步驟F7，使增益減少ΔG(G＝G-ΔG)。然后，在步驟F8，微控制器使循環(huán)計(jì)數(shù)器的內(nèi)容減一(C-C-1)，并且在步驟F9，其檢查循環(huán)計(jì)數(shù)器的內(nèi)容是否為0(C＝0？)。如果否(F9為NO)，則循環(huán)回到步驟F7，使得繼續(xù)減少提供給繼電器線圈的測(cè)試信號(hào)的幅值。對(duì)于處于正常狀態(tài)的繼電器，當(dāng)循環(huán)計(jì)數(shù)器的內(nèi)容回到0時(shí)(F9的輸出為YES)測(cè)試結(jié)束。在步驟F10使晶體管17再次導(dǎo)通之后，在一個(gè)延時(shí)之后在步驟F11，微控制器循環(huán)回到步驟F1，以便運(yùn)行新的測(cè)試程序。在兩個(gè)測(cè)試程序之間的時(shí)間延遲的長(zhǎng)短可以是任意的，例如大約一個(gè)星期。
如果繼電器葉片粘連，則振動(dòng)的幅值太小而使得信號(hào)U2不能達(dá)到閾值S(圖7b)，并且信號(hào)U3不改變狀態(tài)(圖7c)。即使放大器12的增益繼續(xù)增加直到飽和(圖7a)，其也達(dá)到一個(gè)不能被超過(guò)的最大值(圖7b)。當(dāng)在步驟F4微控制器檢測(cè)到循環(huán)計(jì)數(shù)器的內(nèi)容已經(jīng)達(dá)到值128時(shí)(F4的輸出為YES)，這意味著葉片粘連，因而繼電器被認(rèn)為是故障的。然后，微控制器在步驟F12將放大器12的增益零復(fù)位(G＝0)，并在步驟F13指示故障。如圖5和7d所示，微控制器11在步驟F12期間還可以翻回導(dǎo)通晶體管17。故障的指示在微控制器11控制下可以用任何合適的公告信號(hào)電路19(圖1)進(jìn)行，例如由發(fā)光二極管。
因而，微控制器增加測(cè)試信號(hào)的幅值，直到檢測(cè)到足夠幅值的振動(dòng)，或者直到一個(gè)預(yù)設(shè)的最大值為止，所述最大值相應(yīng)于128次遞增循環(huán)，對(duì)于所述最大值，任何處于正常工作狀態(tài)的繼電器都應(yīng)當(dāng)跳閘。如果達(dá)到所述最大值而檢測(cè)不到足夠幅值的振動(dòng)，則繼電器被認(rèn)為是故障的，此時(shí)測(cè)試被中斷(圖7a，7b中的時(shí)間t8)，并顯示這個(gè)故障。要達(dá)到的振動(dòng)值應(yīng)當(dāng)略低于繼電器的跳閘閾值。不過(guò)，不必太低，只要使得要被測(cè)量的信號(hào)值大大超過(guò)環(huán)境噪聲電平，并且必須考慮繼電器以及壓電檢測(cè)器特性的不一致。
上述類型的測(cè)試程序的持續(xù)時(shí)間大約為400ms。在某些情況下，這個(gè)持續(xù)時(shí)間顯得太長(zhǎng)?？梢酝ㄟ^(guò)把電位器14的指針設(shè)置在中間位置使得在測(cè)試程序的第一階段開(kāi)始激勵(lì)繼電器來(lái)減少這個(gè)持續(xù)時(shí)間。此時(shí)放大器不在0和最大值之間變化，而在一個(gè)中間值和最大值中間變化。因而，測(cè)試信號(hào)的增加和減少將快得多，測(cè)試程序的持續(xù)時(shí)間可以減少到大約100ms。取消測(cè)試程序的第二階段能夠減少測(cè)試時(shí)間，但是此時(shí)繼電器的金屬磁心可能保持在磁化狀態(tài)。增加測(cè)試信號(hào)的頻率將引起繼電器線圈兩端的電壓增加到大大超過(guò)100V，此時(shí)將產(chǎn)生絕緣問(wèn)題。
為了減少干擾振動(dòng)對(duì)于壓電檢測(cè)器的影響，可以在運(yùn)行測(cè)試程序之前進(jìn)行背景噪聲測(cè)量。因此，微控制器還可以從壓電檢測(cè)裝置的輸出信號(hào)的包絡(luò)中提取基波分量。
權(quán)利要求
1.一種對(duì)地漏電跳閘裝置，包括和跳閘繼電器(1)相連的用于測(cè)量對(duì)地漏電流的裝置(2，4)，所述繼電器包括線圈和動(dòng)葉片，測(cè)試裝置，其包括設(shè)計(jì)用于在測(cè)試程序期間對(duì)所述線圈的兩端施加由交流電壓構(gòu)成的測(cè)試信號(hào)，從而引起所述葉片的振動(dòng)，而不引起所述跳閘裝置的跳閘，以及檢查裝置，其設(shè)計(jì)用于檢查所述葉片不粘連的能力，所述跳閘裝置的特征在于，所述檢查裝置包括用于在測(cè)試程序期間用機(jī)械方式檢測(cè)所述葉片的振動(dòng)的裝置。
2.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述用機(jī)械方式檢測(cè)葉片振動(dòng)的裝置包括和所述繼電器(1)接觸的壓電檢測(cè)裝置(7)。
3.如權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述繼電器(1)包括殼體，所述壓電檢測(cè)裝置(7)包括膠黏在所述繼電器(1)的殼體上的壓電檢測(cè)器。
4.如權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述壓電檢測(cè)裝置(7)包括膠黏在所述繼電器(1)的葉片上的壓電檢測(cè)器。
5.如權(quán)利要求2-4中的任何一個(gè)所述的裝置，其特征在于，所述設(shè)計(jì)用于施加交流電壓的裝置包括用于在測(cè)試程序的第一階段期間逐漸增加測(cè)試信號(hào)的幅值的裝置(12，A1，F(xiàn)3)。
6.如權(quán)利要求2-5中的任何一個(gè)所述的裝置，其特征在于，所述設(shè)計(jì)用于施加交流電壓的裝置包括用于在測(cè)試程序的第二階段期間逐漸減小測(cè)試信號(hào)的幅值的裝置(12，A1，F(xiàn)7)。
7.如權(quán)利要求5和6中的任何一個(gè)所述的裝置，其特征在于，所述檢查裝置包括比較裝置(10，F(xiàn)6)，用于比較壓電檢測(cè)裝置的輸出信號(hào)和預(yù)設(shè)的閾值，超過(guò)所述閾值將使得測(cè)試程序的第一階段結(jié)束。
8.如權(quán)利要求5-7中的任何一個(gè)所述的裝置，其特征在于，其還包括用于指示故障繼電器(1)的裝置(19)，所述檢查裝置包括用于當(dāng)測(cè)試程序的第一階段超過(guò)預(yù)定的時(shí)間時(shí)致動(dòng)所述指示裝置的裝置(F13)。
9.如權(quán)利要求2-8中的任何一個(gè)所述的裝置，其特征在于，所述檢查裝置包括用于從壓電檢測(cè)裝置的輸出信號(hào)的包絡(luò)中提取基波的裝置。
10.如權(quán)利要求1-8中的任何一個(gè)所述的裝置，其特征在于，其包括MOSFET耗盡型晶體管(17)，其和繼電器線圈串聯(lián)連接在用于測(cè)量對(duì)地漏電流的裝置的輸出端，并在測(cè)試程序期間借助于所述測(cè)試裝置被截止。
全文摘要
對(duì)地漏電跳閘裝置包括對(duì)地漏電流檢測(cè)變壓器(2，4)和跳閘繼電器(1)，所述繼電器由通過(guò)線圈致動(dòng)的動(dòng)葉片構(gòu)成。測(cè)試電路對(duì)繼電器的線圈提供由交流電壓構(gòu)成的測(cè)試信號(hào)，從而引起繼電器(1)葉片的振動(dòng)而不引起跳閘。借助于膠黏在繼電器上的壓電檢測(cè)器(7)檢查葉片不粘連的能力。測(cè)試程序最好包括第一階段，在其間測(cè)試信號(hào)的幅值逐漸增加(12，A1)，并且當(dāng)檢測(cè)器(7)的輸出信號(hào)超過(guò)預(yù)設(shè)的閾值時(shí)，所述第一階段結(jié)束。如果第一階段超過(guò)一個(gè)預(yù)設(shè)的時(shí)間，則認(rèn)為所述繼電器有故障。在繼電器處于正常狀態(tài)下，所述測(cè)試信號(hào)的幅值在測(cè)試程序的第二階段期間逐漸減小。
文檔編號(hào)H02H3/32GK1427436SQ0215715
公開(kāi)日2003年7月2日 申請(qǐng)日期2002年12月17日 優(yōu)先權(quán)日2001年12月17日
發(fā)明者布魯諾·貝蘭格 申請(qǐng)人:施耐德電器工業(yè)公司