范圍。然而，本發(fā)明的其他實(shí)施例可被引導(dǎo)至涉及每個單獨(dú)的方面、或者這些單獨(dú) 方面的特定組合的特定實(shí)施例。
[0125] 出于說明和描述的目的，已經(jīng)呈現(xiàn)本發(fā)明的示例性實(shí)施例的以上描述。它不旨在 是詳盡無遺的或?qū)⒈景l(fā)明限制于所描述的精確形式，并且許多修改和變化鑒于上面的傳 授內(nèi)容是有可能的。選擇和描述了這些實(shí)施例以便于最佳解釋本發(fā)明的原理以及其實(shí)際應(yīng) 用，從而使本領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠在各種實(shí)施例中并且在作出各種修改(如適合于所預(yù)期 的特定使用）的情況下利用本發(fā)明。
[0126] "一個/種"或"該"的陳述旨在表示"一個或多個"，除非特別相反地指出。使用"或" 旨在是指"可兼或（inclusive or)"，而不是"不可兼或(exclusive or)"，除非特別相反地 指出。
[0127] 所有專利、專利申請、出版物和這里提到描述為了所有目的均通過引用以其全部 內(nèi)容結(jié)合在此。它們均不被承認(rèn)是現(xiàn)有技術(shù)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種操作質(zhì)譜儀的方法，該方法包括： 提供具有多個質(zhì)荷比的離子； 使用DC軸向電壓加速這些離子，使得這些離子通過多極濾質(zhì)器； 使用該多極濾質(zhì)器過濾這些離子，該多極濾質(zhì)器被聯(lián)接到： 提供DC解析電壓的DC電源，以及 提供AC電壓的AC電源，該AC電壓具有AC電壓幅值和AC頻率； 控制該DC軸向電壓、該DC解析電壓、該AC電壓幅值、以及該AC頻率，使得當(dāng)掃描一個范 圍的質(zhì)荷比時，不同質(zhì)荷比的離子在該多極濾質(zhì)器內(nèi)經(jīng)過基本上相同數(shù)目的AC周期，其中 該控制包括： 改變該AC頻率，同時改變以下各項(xiàng)中的至少一項(xiàng)： 該DC軸向電壓，以及 該DC解析電壓和該AC電壓幅值;并且 用檢測器檢測這些離子。2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中該DC軸向電壓在該質(zhì)荷比范圍內(nèi)保持恒定，其中該AC 頻率從較低質(zhì)荷比到較高質(zhì)荷比降低，并且其中該DC解析電壓以及該AC電壓幅值從較低質(zhì) 荷比到較高質(zhì)荷比降低。3. 如權(quán)利要求2所述的方法，其中該質(zhì)荷比范圍是第一范圍，該方法進(jìn)一步包括： 在第二質(zhì)荷比范圍內(nèi)增加該DC軸向電壓； 在該第二質(zhì)荷比范圍內(nèi)保持該AC頻率恒定;并且 在該第二質(zhì)荷比范圍內(nèi)增加該DC解析電壓和該AC電壓幅值。4. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中該DC解析電壓和該AC電壓幅值保持恒定，其中該AC頻 率隨著質(zhì)荷比的平方根降低，并且其中該DC軸向電壓隨著質(zhì)荷比的平方根增加。5. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中這些質(zhì)荷比按漸增方式進(jìn)行掃描，并且其中該AC頻率 隨著增加質(zhì)荷比而降低。6. 如權(quán)利要求5所述的方法，其中該DC解析電壓和該AC電壓幅值在該質(zhì)荷比范圍內(nèi)隨 著增加質(zhì)荷比而降低。7. 如權(quán)利要求5所述的方法，其中該DC解析電壓和該AC電壓幅值在該質(zhì)荷比范圍內(nèi)隨 著增加質(zhì)荷比而保持恒定。8. 如權(quán)利要求7所述的方法，其中該AC頻率隨著質(zhì)荷比的平方根降低。9. 如權(quán)利要求7所述的方法，其中該DC軸向電壓隨著質(zhì)荷比的平方根增加。10. 如權(quán)利要求1所述的方法，其中該檢測器具有表面，并且其中該檢測器檢測該表面 上的離子的二維位置，該方法進(jìn)一步包括： 在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中存儲該表面上的離子在多個時間的二維位置，以獲得檢測信息； 由該計(jì)算機(jī)系統(tǒng)對這些檢測數(shù)據(jù)去卷積，以確定質(zhì)譜。11. 一種質(zhì)譜儀，包括： 具有多個桿的濾質(zhì)器； 聯(lián)接到該多個桿上并且配置為向該多個桿提供DC解析電壓的DC解析電壓電源； 聯(lián)接到該多個桿上并且配置為向該多個桿提供AC電壓的AC電壓電源，該AC電壓具有AC 電壓幅值和AC頻率； 用于接收離子并朝向該濾質(zhì)器加速這些離子的離子光學(xué)器件； 聯(lián)接到該離子光學(xué)器件上并且配置為向該離子光學(xué)器件提供DC軸向電壓的DC軸向電 壓源，該DC軸向電壓用于加速該離子光學(xué)器件；以及 聯(lián)接到該DC解析電壓電源、該AC電壓電源、以及該DC軸向電壓電源上的控制器，其中該 控制器被配置為控制該DC軸向電壓、該DC解析電壓、該AC電壓幅值、以及該AC頻率，使得當(dāng) 掃描一個范圍的質(zhì)荷比時，不同質(zhì)荷比的離子在該多極濾質(zhì)器內(nèi)經(jīng)過基本上相同數(shù)目的AC 周期， 其中，該控制包括改變該AC頻率，同時改變以下各項(xiàng)中的至少一項(xiàng)： 該DC軸向電壓，以及 該DC解析電壓和該AC電壓幅值。12. 如權(quán)利要求11所述的質(zhì)譜儀，其中該離子光學(xué)器件包括具有由該DC軸向電壓指定 的電壓的一個或多個板。13. 如權(quán)利要求11所述的質(zhì)譜儀，進(jìn)一步包括： 位于該離子光學(xué)器件之前并且離子源之后的碰撞單元，該碰撞單元被配置為輸出具有 指定的軸向能量發(fā)散的離子。14. 如權(quán)利要求13所述的質(zhì)譜儀，進(jìn)一步包括： 該離子源，其中該離子源提供的離子處于比從該碰撞單元輸出的離子的軸向能量更高 的能量下。15. 如權(quán)利要求11所述的質(zhì)譜儀，進(jìn)一步包括： 具有表面的檢測器，其中該檢測器檢測該表面上的離子的二維位置。16. 如權(quán)利要求11所述的質(zhì)譜儀，其中該控制器進(jìn)一步被配置為： 在該質(zhì)荷比范圍內(nèi)保持該DC軸向電壓恒定； 從較低質(zhì)荷比到較高質(zhì)荷比降低該AC頻率，并且 從較低質(zhì)荷比到較高質(zhì)荷比降低該DC解析電壓和該AC電壓幅值。17. 如權(quán)利要求16所述的質(zhì)譜儀，其中該質(zhì)荷比范圍是第一范圍，其中該控制器進(jìn)一步 被配置為： 在第二質(zhì)荷比范圍內(nèi)增加該DC軸向電壓； 在該第二質(zhì)荷比范圍內(nèi)保持該AC頻率恒定;并且 在該第二質(zhì)荷比范圍內(nèi)增加該DC解析電壓和該AC電壓幅值。18. 如權(quán)利要求11所述的質(zhì)譜儀，其中該控制器進(jìn)一步被配置為： 在該質(zhì)荷比范圍內(nèi)保持該DC解析電壓和該AC電壓幅值恒定， 隨著質(zhì)荷比的平方根降低該AC頻率，并且 隨著質(zhì)荷比的平方根增加該DC軸向電壓。19. 一種計(jì)算機(jī)產(chǎn)品，包括存儲有多個指令的非暫時性計(jì)算機(jī)可讀介質(zhì)，這些指令當(dāng)執(zhí) 行時控制計(jì)算機(jī)系統(tǒng)來操作質(zhì)譜儀，該質(zhì)譜儀包括以下設(shè)置:施加到該多個桿上的DC解析 電壓;施加到該多個桿上的AC電壓，該AC電壓具有AC電壓幅值和AC頻率；以及用于將離子加 速到該多個桿的DC軸向電壓，這些指令包括： 控制該DC軸向電壓、該DC解析電壓、該AC電壓幅值、以及該AC頻率，使得當(dāng)掃描一個范 圍的質(zhì)荷比時，不同質(zhì)荷比的離子在該多極濾質(zhì)器內(nèi)經(jīng)過基本上相同數(shù)目的AC周期，其中 該控制包括： 改變該AC頻率，同時改變以下各項(xiàng)中的至少一項(xiàng)： 該DC軸向電壓，以及 該DC解析電壓和該AC電壓幅值。20. 如權(quán)利要求19所述的計(jì)算機(jī)產(chǎn)品，其中該控制進(jìn)一步包括： 在該質(zhì)荷比范圍內(nèi)保持該DC軸向電壓恒定； 從較低質(zhì)荷比到較高質(zhì)荷比降低該AC頻率;并且 從較低質(zhì)荷比到較高質(zhì)荷比降低該DC解析電壓和該AC電壓幅值。21. 如權(quán)利要求19所述的計(jì)算機(jī)產(chǎn)品，其中該控制進(jìn)一步包括： 在該質(zhì)荷比范圍內(nèi)保持該DC解析電壓和該AC電壓幅值恒定； 隨著質(zhì)荷比的平方根降低該AC頻率，并且 隨著質(zhì)荷比的平方根增加該DC軸向電壓。22. -種操作質(zhì)譜儀的方法，該方法包括： 提供具有多個質(zhì)荷比的離子； 使用DC軸向電壓加速這些離子，使得這些離子通過多極濾質(zhì)器； 使用該多極濾質(zhì)器過濾這些離子，該多極濾質(zhì)器被聯(lián)接到： 提供DC解析電壓的DC電源，以及 提供AC電壓的AC電源，該AC電壓具有AC電壓幅值和AC頻率； 控制該DC軸向電壓、該DC解析電壓、該AC電壓幅值、以及該AC頻率，使得當(dāng)掃描一個范 圍的質(zhì)荷比時，不同質(zhì)荷比的離子在該多極濾質(zhì)器內(nèi)經(jīng)過指定范圍的AC周期，其中該指定 范圍的AC周期是至少在特定數(shù)目的AC周期的4%內(nèi)或者至少在該特定數(shù)目的AC周期的4個 周期內(nèi)，其中該控制包括： 改變該AC頻率，同時改變以下各項(xiàng)中的至少一項(xiàng)： 該DC軸向電壓，以及 該DC解析電壓和該AC電壓幅值;并且 用檢測器檢測這些離子。23. 如權(quán)利要求22所述的方法，其中該指定范圍的AC周期是至少在特定數(shù)目的AC周期 的3%內(nèi)或者至少在該特定數(shù)目的AC周期的3個周期內(nèi)。24. 如權(quán)利要求23所述的方法，其中該指定范圍的AC周期是至少在特定數(shù)目的AC周期 的3%內(nèi)或者至少在該特定數(shù)目的AC周期的3個周期內(nèi)。25. 如權(quán)利要求24所述的方法，其中該指定范圍的AC周期是至少在特定數(shù)目的AC周期 的1 %內(nèi)或者至少在該特定數(shù)目的AC周期的1個周期內(nèi)。26. -種操作質(zhì)譜儀的方法，該方法包括： 提供具有多個質(zhì)荷比的離子； 使用DC軸向電壓加速這些離子，使得這些離子通過多極濾質(zhì)器； 使用該多極濾質(zhì)器過濾這些離子，該多極濾質(zhì)器被聯(lián)接到： 提供DC解析電壓的DC電源，以及 提供AC電壓的AC電源，該AC電壓具有AC電壓幅值和AC頻率； 在一定質(zhì)荷比范圍內(nèi)控制該DC軸向電壓、該DC解析電壓、該AC電壓幅值、和該AC頻率， 其中該控制包括： 在該質(zhì)荷比范圍內(nèi)保持該DC軸向電壓恒定； 從較低質(zhì)荷比到較高質(zhì)荷比降低該AC頻率;并且 從較低質(zhì)荷比到較高質(zhì)荷比降低該DC解析電壓和該AC電壓幅值;并且 用檢測器檢測這些離子。27. -種操作質(zhì)譜儀的方法，該方法包括： 提供具有多個質(zhì)荷比的離子； 使用DC軸向電壓加速這些離子，使得這些離子通過多極濾質(zhì)器； 使用該多極濾質(zhì)器過濾這些離子，該多極濾質(zhì)器被聯(lián)接到： 提供DC解析電壓的DC電源，以及 提供AC電壓的AC電源，該AC電壓具有AC電壓幅值和AC頻率； 在一定質(zhì)荷比范圍內(nèi)控制該DC軸向電壓、該DC解析電壓、該AC電壓幅值、和該AC頻率， 其中該控制包括： 在該質(zhì)荷比范圍內(nèi)保持該DC解析電壓和該AC電壓幅值恒定； 隨著質(zhì)荷比的平方根降低該AC頻率，并且 隨著質(zhì)荷比的平方根增加該DC軸向電壓;并且 用檢測器檢測這些離子。
【專利摘要】提供了用于掃描多極濾質(zhì)器的頻率和電壓，同時保持在一系列質(zhì)量內(nèi)的掃描期間每質(zhì)量基本上相同數(shù)目的AC周期的技術(shù)。例如，通過控制加速離子到濾質(zhì)器內(nèi)的DC軸向電壓、施加到該濾質(zhì)器上的DC解析電壓、施加到該濾質(zhì)器上的AC電壓幅值、和該AC電壓的AC頻率，可以獲得質(zhì)譜。這些設(shè)置可以被控制為使得不同質(zhì)荷比的離子是在該濾質(zhì)器內(nèi)經(jīng)過基本上相同數(shù)目的AC周期。為了實(shí)現(xiàn)該相同數(shù)目的AC周期，在該掃描過程中改變該AC頻率。對于低質(zhì)量，可以使用較高的AC頻率。對于高質(zhì)量，可以使用較低的AC頻率。
【IPC分類】H01J49/02, H01J49/26, H01J49/00, H01J49/42
【公開號】CN105719943
【申請?zhí)枴緾N201510954182
【發(fā)明人】J·W·史密斯
【申請人】薩默費(fèi)尼根有限公司
【公開日】2016年6月29日
【申請日】2015年12月17日
【公告號】EP3035367A1, US20160181084