一種有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板、檢測電路及其隔離電路的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及有機(jī)顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板、檢測電路及其隔離電路。
【背景技術(shù)】
[0002]AMOLED(Active-Matrix Organic Light Emitting D1de，有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極管)通常由有源陣列底板和OLED(Organic Light Emitting Display，有機(jī)發(fā)光二極管或有機(jī)發(fā)光顯示器)兩部分組成。0LED被譽(yù)為“夢幻顯示器”。0LED顯示技術(shù)與傳統(tǒng)的IXD顯示方式不同，無需背光燈，采用非常薄的有機(jī)材料涂層和玻璃基板，當(dāng)有電流通過時，這些有機(jī)材料就會發(fā)光。其中，AMOLED所有的顯示驅(qū)動電路和走線都包含在TFT (Thin FilmTransistor，薄膜晶體管)陣列部分中，0LED主要蒸鍍有機(jī)顯示材料。
[0003]在AMOLED的制造過程中，通常為了剔除前一工序的不良品，保證下一工序的產(chǎn)品不會因上一工序而產(chǎn)生浪費(fèi)，在各工序之間都會有檢測操作。而TFT陣列部分和0LED蒸鍍部分為兩個相對比較獨(dú)立的部分，由此兩者之間存在一個較為全面的陣列測試，用于剔除TFT陣列中的不良品，以免不良品流入0LED蒸鍍工序，導(dǎo)致有機(jī)材料的浪費(fèi)和時間成本的浪費(fèi)；當(dāng)TFT陣列檢測通過后，產(chǎn)品將進(jìn)入到0LED工序中進(jìn)行蒸鍍；蒸鍍和封裝完成后，再對產(chǎn)品進(jìn)行大板(Mother Substrate)點(diǎn)亮檢測。目前，大板點(diǎn)亮是指針對切割前的大板玻璃或有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板進(jìn)行點(diǎn)亮，內(nèi)部包含多個單片顯示板，如4.5代線為730*920的單片顯示面板；單片顯示板是指切割后的顯示面板，如手機(jī)顯示屏為單片AMOLED顯示屏。大板點(diǎn)亮檢測的主要目的是對蒸鍍均勻性和MASK(掩膜板)情況進(jìn)行分析，用于調(diào)整前面的工藝。同時也可以快速檢查存在嚴(yán)重問題的小片屏(Panel)。
[0004]TFT陣列測試和大板點(diǎn)亮測試對于AMOLED顯示屏的制造都非常重要，但是，如果兩種測試方式都需要進(jìn)行的話，由于兩個電路的部分信號在AMOLED顯示屏內(nèi)部是相連的，因此存在當(dāng)一個電路打開時，另一個電路應(yīng)當(dāng)關(guān)閉，以避免發(fā)生漏電流或電路被打開的情況發(fā)生。
[0005]為了將兩者的工作狀態(tài)分離，使兩個階段的工作不會相互影響，傳統(tǒng)的解決辦法是:將陣列測試中的DE-MUX(分路器)開關(guān)信號通過引線引出到有機(jī)發(fā)光二極管(AMOLED)顯示基板外圍，與大板點(diǎn)亮測試采用相同的手段進(jìn)行處理。當(dāng)進(jìn)行陣列測試時關(guān)閉大板點(diǎn)亮測試信號；當(dāng)進(jìn)行大板點(diǎn)亮測試時將陣列測試過程中的開關(guān)信號關(guān)閉，從而使大板點(diǎn)亮和陣列測試分離，實(shí)現(xiàn)兩者工作狀態(tài)之間的隔離。
[0006]該方法將引出大量引線，而且該部分引線隨著顯示器分辨率的不斷提高其數(shù)量也會隨之增加。為了盡量提高有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板利用率，通常希望小片屏Panel之間的空間越小越好，而有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板點(diǎn)亮測試需要各個小片屏之間的空間中設(shè)置多條測試導(dǎo)線，且由于點(diǎn)亮測試時整個大板同時點(diǎn)亮，導(dǎo)線的電流會很大而且負(fù)載較大，因此希望測試導(dǎo)線越寬越好，因此這部分空間非常關(guān)鍵。因此，若將陣列測試過程中的多條引線同樣引出到有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板外圍將降低顯示板的空間利用率，限制顯示屏點(diǎn)亮測試所需導(dǎo)線的線寬，即提高了引線的電阻，且增加了信號發(fā)生器的數(shù)量。
[0007]因此，現(xiàn)有的解決方案所引出的多條開關(guān)信號線需要占用小片屏之間的空間，既會減少整個有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板利用率又會使有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板點(diǎn)亮走線的線寬變小，同時還需要增加信號發(fā)生器的數(shù)量來提供開關(guān)信號。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是，提供一種連接在有機(jī)發(fā)光二極管(AM0LED)顯示基板的陣列測試電路與大板點(diǎn)亮檢測電路之間的隔離電路，提高AM0LED顯示基板利用率，減小AM0LED顯示基板點(diǎn)亮走線電阻，減少信號發(fā)生器的數(shù)量、提高了穩(wěn)定性，滿足高分辨率的發(fā)展趨勢。
[0009]為解決以上技術(shù)問題，一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種隔離電路，連接在有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板的陣列測試電路與大板點(diǎn)亮檢測電路之間，所述隔離電路包括多個薄膜晶體管；每個所述薄膜晶體管包括第一端口、第二端口和第三端口 ；每個所述薄膜晶體管的第一端口為柵極，并且各個所述第一端口共同連接作為控制信號端；各個所述薄膜晶體管的第二端口共同連接，作為關(guān)斷電位信號端；每個所述薄膜晶體管的第三端口分別作為所述隔離電路的各個開關(guān)信號端；所述各個開關(guān)信號端用于連接所述有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板的陣列測試電路的DE-MUX開關(guān)信號。
[0010]在一種可實(shí)現(xiàn)的方式中，各個所述薄膜晶體管均為P型TFT晶體管；所述關(guān)斷電位信號端用于在所述隔離電路工作時接入高電平信號。
[0011]在另一種可實(shí)現(xiàn)的方式中，各個所述薄膜晶體管均為N型TFT晶體管；所述關(guān)斷電位信號端用于在所述隔離電路工作時接入低電平信號。
[0012]進(jìn)一步地，所述第二端口為薄膜晶體管的源極，所述第三端口為薄膜晶體管的漏極；或者，所述第二端口為薄膜晶體管的漏極，所述第三端口為薄膜晶體管的源極。
[0013]另一方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種有機(jī)發(fā)光二極管(AM0LED)顯示基板的檢測電路，包括:陣列測試電路、大板點(diǎn)亮檢測電路，以及，如上文任一項(xiàng)所述的隔離電路；所述隔離電路連接在所述陣列測試電路與所述大板點(diǎn)亮檢測電路之間；所述大板點(diǎn)亮檢測電路與基板上所有單片顯示板的有效顯示區(qū)域連接，用于檢測有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板各區(qū)域的所有單片顯示板(小片屏)顏色顯示是否均勻，檢測單片顯示板顏色顯示的均勻性，以判斷0LED蒸鍍的均勻性，測試所述有效顯示區(qū)域是否正常工作；所述陣列測試電路用于檢測有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板的薄膜晶體管陣列底板是否正常。
[0014]此外，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板，包括至少一個顯示片屏；所述顯示片屏上設(shè)有如上文所述的有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板的檢測電路，以及，有效顯示區(qū)域；所述檢測電路中的隔離電路包括第一隔離電路和第二隔離電路；所述檢測電路中的大板點(diǎn)亮檢測電路與所述有效顯示區(qū)域連接，用于測試所述有效顯示區(qū)域是否正常工作；所述第一隔離電路和所述第二隔離電路分別連接在陣列測試電路兩側(cè)，并且所述第一隔離電路與所第二隔離電路結(jié)構(gòu)相同，并分別通過各自的多個開關(guān)信號端與所述陣列測試電路的DE-MUX開關(guān)信號連接；
[0015]所述第一隔離電路的控制信號端和所述第二隔離電路的控制信號端共同連接，用于通過接入外部控制信號，同步控制隔離電路中的各個薄膜晶體管的工作狀態(tài)，從而連接或隔離所述陣列測試電路；
[0016]所述第一隔離電路的關(guān)斷電位信號端和所述第二隔離電路的關(guān)斷電位信號端共同連接，用于接入低電平信號或高電平信號，以控制第一隔離電路和第二隔離電路的工作狀態(tài)。
[0017]進(jìn)一步地，所述的有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板，包括多個所述顯示片屏，形成行陣列的顯示片屏；各個所述顯示片屏中的兩個隔離電路的控制信號端均共同連接；各個所述顯示片屏中的兩個隔離電路的關(guān)斷電位信號端均共同連接。
[0018]進(jìn)一步地，所述的有機(jī)發(fā)光二極管顯示基板，包括多組的行陣列的顯示片屏。
[0019]本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案，通過連接在有機(jī)發(fā)光二極管(AMOLED)顯示基板的陣列測試電路與大板點(diǎn)亮檢測電路之間的隔離電路，通過在將每個所述薄膜晶體管的柵極共同連接后引出整個電路的控制線，并在關(guān)斷電位信號端通過不同的開關(guān)電壓同步控制隔離電路上的所有薄膜晶體管的開關(guān)狀態(tài)，從而實(shí)現(xiàn)在進(jìn)行陣列測試時，可以通過控制信號端的輸入信號控制隔離電路上的所有薄膜晶體管的處于截止?fàn)顟B(tài)而不工作；當(dāng)進(jìn)行AMOLED顯示基板點(diǎn)亮測試時，通過控制信號端的輸入信號控制隔離電路上的所有薄膜晶體管的處于導(dǎo)通狀態(tài)而處于工作狀態(tài)，各個薄膜晶體管的源漏極導(dǎo)通，從而將陣列測試電路與大板點(diǎn)亮測試電路隔離，因此，本發(fā)明提供的技術(shù)方案可以使得TFT陣列測試過程與大板點(diǎn)亮測