專利名稱：一種提高相控陣波束指向精度的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及相控陣系統(tǒng)，尤其涉及一種提高相控陣波束指向精度的方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的相控陣系統(tǒng)中，天線的波束指向由波束控制系統(tǒng)來執(zhí)行，它主要通過對各陣元相位和增益的控制實(shí)現(xiàn)波束空間指向的變化。由N個間距均為d的陣元組成的線陣波
Λ —I
束指向?yàn)棣ń菚r，其理想方向圖為
權(quán)利要求
1.一種提高相控陣波束指向精度的方法，其具體包含以下步驟 步驟I.根據(jù)陣元個數(shù)計(jì)算出移相器饋相量化臺階值，初始化量化臺階值與理想饋相值，根據(jù)陣元個數(shù)確定中心陣元位置，并計(jì)算出整個外推過程的總遞歸次數(shù)； 步驟2.找出與中心陣元理想饋相值之間差值絕對值較小的移相器饋相量化臺階值，將其作為中心陣元移相器的實(shí)際饋相值，并計(jì)算出初始相位誤差； 步驟3.進(jìn)入外推陣元饋相，外推結(jié)果保持已確認(rèn)饋相陣元累積相位誤差最小； 步驟4.循環(huán)進(jìn)行外推陣元饋相，直至外推次數(shù)等于總遞歸次數(shù)，即完成對所有陣元饋相。
2.如權(quán)利要求I所述的提高相控陣波束指向精度的方法，其特征在于所述步驟2具體為當(dāng)陣元個數(shù)N為奇數(shù)時，中心陣元為 外推次數(shù) 中心陣元實(shí)際饋相值為與中心陣元理想饋相值差值絕對值 較小的移相器饋相量化臺階值，將其作為中心陣元移相器的實(shí)際饋相值。
3.如權(quán)利要求I所述的提高相控陣波束指向精度的方法，其特征在于所述步驟2具體為當(dāng)陣元個數(shù)N為偶數(shù)時，中心陣元有兩個，分別為 外推次數(shù) ,中心 陣元實(shí)際饋相值為與中心陣元理想饋相值差值絕對值較小的移相器饋相量化臺階值，將其作為中心陣元移相器的實(shí)際饋相值。
4.如權(quán)利要求2或3所述的提高相控陣波束指向精度的方法，其特征在于所述步驟3具體為以上一次確定饋相值的關(guān)于中心對稱的2個陣元為外推左、右基點(diǎn)，同時確定左基點(diǎn)左鄰近陣元和右基點(diǎn)右鄰近陣元的饋相值，保持本次外推后已確定饋相陣元其相位誤差值之和最小。
5.如權(quán)利要求4所述的提高相控陣波束指向精度的方法，其特征在于所述保持本次外推后已確定饋相陣元其相位誤差值之和最小具體為將4種情況下的累積饋相誤差分兩組進(jìn)行比較，每組比較的結(jié)果再進(jìn)行組間比較，選擇出外推后陣元相位誤差之和最小的饋相值。
6.如權(quán)利要求5所述的提高相控陣波束指向精度的方法，其特征在于所述比較大小中，若不同的組合饋相情況其結(jié)果相等時，選取與兩側(cè)陣元理想饋相值偏離度之和最小的組合進(jìn)行饋相。
全文摘要
本發(fā)明涉及相控陣技術(shù)領(lǐng)域，本發(fā)明公開了一種提高相控陣波束指向精度的方法，其具體包含以下步驟根據(jù)陣元個數(shù)計(jì)算出移相器饋相量化臺階值，初始化量化臺階值與理想饋相值，確定中心陣元位置，計(jì)算出整個外推過程的總遞歸次數(shù)；找出與中心陣元理想饋相值之間差值絕對值較小的移相器饋相量化臺階值，將其作為中心陣元移相器的實(shí)際饋相值，并計(jì)算出初始相位誤差；進(jìn)入外推陣元饋相，外推結(jié)果保持已確認(rèn)饋相陣元累積相位誤差最小；循環(huán)進(jìn)行外推陣元饋相，直至外推次數(shù)等于總遞歸次數(shù)，即完成對所有陣元饋相。此時，所有陣元累積相位誤差值最小，由相位量化誤差與波束指向誤差的線性關(guān)系，波束指向誤差此時達(dá)到最小值，提高了相控陣波束指向精度。
文檔編號H01Q3/30GK102810742SQ20121027130
公開日2012年12月5日 申請日期2012年8月1日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月1日
發(fā)明者劉軒 申請人:四川九洲電器集團(tuán)有限責(zé)任公司