專利名稱：光纖激光裝置以及光纖激光裝置的異常檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光纖激光裝置以及光纖激光裝置的異常檢測方法。
背景技術(shù)：
最近，在激發(fā)裝置或者放大裝置使用了光纖的光纖激光裝置逐漸高強(qiáng)度化，作為加工用激光的應(yīng)用正在擴(kuò)展。如此的光纖激光裝置中，有時光纖的芯向著光源發(fā)生不可逆的破損，即出現(xiàn)被稱作所謂“光纖熔斷”的現(xiàn)象。在發(fā)生此光纖熔斷時，因為到達(dá)光源之前所存在的光纖部件被破壞，所以經(jīng)濟(jì)損失增加。目前，作為檢測如此的光纖熔斷的方法，存在專利文獻(xiàn)I中公開的檢測光纖熔斷的光、溫度的方法，以及專利文獻(xiàn)2中公開的對激勵光進(jìn)行分路并觀測，在激勵光強(qiáng)度下降的情況下，判定為發(fā)生光纖熔斷的方法。現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)I日本特開2003-227776號專利文獻(xiàn)2國際公開第W02004/088881號

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題`對于專利文獻(xiàn)I公開的，檢測光纖熔斷自身的光、或者以此為起因的溫度變化，因為需要在被認(rèn)為光纖熔斷傳播的全部位置設(shè)置監(jiān)測機(jī)構(gòu)，所以成本增大。另外，存在如下問題，在監(jiān)測機(jī)構(gòu)的設(shè)置位置少的情況下，到激光停止需要時間，并且，因為到激光停止，光學(xué)元件已經(jīng)損壞，所以修理成本增大。另一方面，在專利文獻(xiàn)2公開的，檢測激勵光的方法中，存在如下的問題。S卩，因為在使用DCF (Double Clad Fiber，雙包層光纖)構(gòu)成的光纖激光裝置中，激勵光在包層中傳播，所以即使發(fā)生僅僅使芯損傷的光纖熔斷，也存在激勵光繼續(xù)傳播的可能性，因而有可能不能檢測出光纖熔斷的發(fā)生。因此，本發(fā)明的課題是，提供能夠可靠地檢測光纖熔斷、光纖的斷線等在光纖中發(fā)生的異常的光纖激光裝置以及光纖激光裝置的異常檢測方法。解決問題的手段為了解決所述課題，本發(fā)明的光纖激光裝置的特征在于，對光纖導(dǎo)入激勵光并產(chǎn)生激光，其中包含檢測部，檢測作為從所述光纖的芯漏出的信號光的漏出信號光；判定部，在由所述檢測部檢測的所述漏出信號光強(qiáng)度減少了的情況下，判定為光纖發(fā)生異常；停止部，在由所述判定部判定為所述光纖發(fā)生異常的情況下，停止向所述光纖導(dǎo)入所述激勵光。根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，能夠可靠地檢測光纖熔斷、光纖的斷線等在光纖中發(fā)生的異常。
另外，其它發(fā)明的特征在于，在上述發(fā)明的基礎(chǔ)上，所述檢測部檢測從所述光纖彼此的連接部漏出的所述漏出信號光。根據(jù)如此的結(jié)構(gòu)，因為不需要追加用于檢測信號光強(qiáng)度的新光學(xué)部件，所以能夠降低制造成本。另外，其它發(fā)明的特征在于，在上述發(fā)明的基礎(chǔ)上，所述連接部是所述光纖彼此熔接而成的熔接部，所述檢測部檢測從所述熔接部漏出的所述漏出信號光。根據(jù)如此的結(jié)構(gòu)，因為不需要追加用于檢測信號光強(qiáng)度的新光學(xué)部件，所以能夠降低制造成本，并且，通過使用漏出信號光強(qiáng)度相對穩(wěn)定的熔接部，能夠可靠并且穩(wěn)定地檢測光纖異常的發(fā)生。另外，其它發(fā)明的特征在于，在上述發(fā)明的基礎(chǔ)上，所述連接部將所述光纖彼此隔開指定距離進(jìn)行配置，所述檢測部檢測從所述光纖彼此之間擴(kuò)散漏出的所述漏出信號光。根據(jù)如此結(jié)構(gòu)，因為不需要追加用于檢測信號光強(qiáng)度的新光學(xué)部件，所以能夠降低制造成本，并且，因為如此的連接部相對尺寸大，所以能夠容易地確保檢測部的設(shè)置場所。另外，其它發(fā)明的特征在于，在上述發(fā)明的基礎(chǔ)上，所述連接部是位于最靠近輸出所述激光的輸出端的位置的連接部。根據(jù)如此結(jié)構(gòu) ，在裝置內(nèi)的任一位置光纖發(fā)生異常的情況下，都能夠檢測出該異常并使其停止進(jìn)行。另外，其它發(fā)明的特征在于，在上述發(fā)明的基礎(chǔ)上，所述檢測部檢測從設(shè)置于所述激光的輸出側(cè)和相反側(cè)的全反射光纖光柵漏出的所述漏出信號光。根據(jù)如此結(jié)構(gòu)，能夠利用從全反射光纖光柵漏出的信號光檢測發(fā)生的光纖異常，并使其停止進(jìn)行。另外，其它發(fā)明的特征在于，在上述發(fā)明的基礎(chǔ)上，所述檢測部經(jīng)由透過所述激光并衰減所述激勵光的衰減部，檢測所述漏出信號光。根據(jù)如此結(jié)構(gòu)，即使是在漏出信號光中混入激勵光的情況下，也能夠可靠地檢測出光纖異常的發(fā)生。另外，其它發(fā)明的特征在于，在上述發(fā)明的基礎(chǔ)上，所述檢測部由光電二極管構(gòu)成，包含校準(zhǔn)部，所述校準(zhǔn)部檢測所述光電二極管的溫度，基于檢測的溫度校準(zhǔn)所述光電二極管的檢測信號。根據(jù)如此結(jié)構(gòu)，能夠修正周圍溫度所引起的光電二極管的檢測誤差，防止錯誤檢測的發(fā)生。另外，其它發(fā)明的特征在于，在上述發(fā)明的基礎(chǔ)上，還包含放大部，所述放大部通過光纖放大所述激光，所述檢測部檢測從所述放大部輸出的所述激光自所述光纖的芯漏出的漏出信號光。根據(jù)如此結(jié)構(gòu)，即使是在存在放大部的情況下，也能夠可靠地檢測出光纖異常的發(fā)生，并使其停止進(jìn)行。另外，其它發(fā)明的特征在于，在上述發(fā)明的基礎(chǔ)上，包含存儲部，存儲表示時間的信息，所述時間是從檢測出所述漏出信號光強(qiáng)度減少直到停止所述激勵光的時間。根據(jù)如此結(jié)構(gòu)，因為能夠知道光纖異常進(jìn)行到何處，所以，能夠迅速地知道作為修理或者交換對象的光學(xué)部件。另外，其它發(fā)明的特征在于，在上述發(fā)明的基礎(chǔ)上，所述判定單元基于閾值判定所述光纖異常的發(fā)生，所述閾值是作為固定值的閾值、對應(yīng)于所述激勵光或者所述激光的強(qiáng)度的設(shè)定值而變動的閾值、或者對應(yīng)于流過生成所述激勵光的激光二極管的電流值而變動的閾值。根據(jù)如此結(jié)構(gòu)，通過對應(yīng)于使用目的等設(shè)定閾值，無論使用目的等，都能夠可靠地檢測出光纖異常的發(fā)生。另外，其它發(fā)明的特征在于，在上述發(fā)明的基礎(chǔ)上，在所述激光為脈沖光的情況下，所述判定單元基于多個周期的所述漏出信號光的強(qiáng)度的平均值，判定所述光纖異常的發(fā)生。根據(jù)如此結(jié)構(gòu)，即使是產(chǎn)生脈沖激光的情況下，也能夠可靠地檢測光纖異常的發(fā)生。另外，其它發(fā)明的特征在于，在上述發(fā)明的基礎(chǔ)上，對所述光纖導(dǎo)入所述激勵光的激勵光復(fù)用器在多個激勵光導(dǎo)入端口中具有空端口，將所述激光的輸出側(cè)和相反側(cè)的終端部以及所述空端口中的至少一方作為可見光導(dǎo)入端口。根據(jù)如此結(jié)構(gòu)，利用這些可見光導(dǎo)入端口，能夠迅速地確定異常發(fā)生位置。另外，本發(fā)明的光纖激光裝置的異常檢測方法，其特征在于，是對光纖導(dǎo)入激勵光并生成激光的光纖激光裝置的異常檢測方法，該方法檢測作為從所述光纖的芯漏出的信號光的漏出信號光，在檢測出的所述漏出信號光的強(qiáng)度減少了的情況下，判定為光纖發(fā)生異常，在判定為所述光纖發(fā)生異常的情況下，停止向所述光纖導(dǎo)入所述激勵光。根據(jù)如此方法，能夠可靠地檢測光纖異常的發(fā)生。發(fā)明效果根據(jù)本發(fā)明，可以提供能夠可靠地檢測光纖熔斷、光纖的斷線等在光纖中發(fā)生的異常的光纖激光裝置以及光纖激光裝置的異常檢測方法。


圖1是表示本發(fā)明的第一實施方式的構(gòu)成例的圖。圖2是表示圖1所示的控制部的構(gòu)成例的圖。圖3是說明圖1所示的第一實施方式中執(zhí)行的處理流程的流程圖。圖4是表示本發(fā)明的第二實施方式的構(gòu)成例的圖。圖5是表不本發(fā)明的第三實施方式的構(gòu)成例的圖。圖6是表示本發(fā)明的第四實施方式的構(gòu)成例的圖。圖7是表示本發(fā)明的第五實施方式的構(gòu)成例的圖。圖8是表示本發(fā)明的第六實施方式的構(gòu)成例的圖。圖9是表示本發(fā)明的第七實施方式的構(gòu)成例的圖。圖10是表示本發(fā)明的第八實施方式的構(gòu)成例的圖。圖11是表示本發(fā)明的第九實施方式的構(gòu)成例的圖。圖12是表示本發(fā)明的第十實施方式的構(gòu)成例的圖。
圖13是用于說明本發(fā)明的變形實施方式的圖。
具體實施例方式下面對本發(fā)明的實施方式進(jìn)行說明。應(yīng)予說明，在以下的實施方式中，雖然關(guān)于在發(fā)生了光纖熔斷的情況下，停止其進(jìn)行的各個方式進(jìn)行了記載，但是不限于此。本發(fā)明具有檢測光纖的斷線等在光纖中發(fā)生的全部異常的功能。(A)第一實施方式圖1是表示本發(fā)明的第一實施方式的構(gòu)成例的圖。如此圖所示，第一實施方式的光纖激光裝置1，以如下部件為主要構(gòu)成要素:終端部11，光纖12，激勵光復(fù)用器(TFB(Tapered Fiber Bundle,錐形光纖束))13、17,HR14,放大用光纖 15,0C16,激勵用 UXLaserDiode，激光二極管)18、20，激勵用LD驅(qū)動電源19、21 (對應(yīng)于權(quán)利要求中的“停止部”)，控制部40 (對應(yīng)于權(quán)利要求中的“判定部”)，PD (Photo Diode，光電二極管)50 (對應(yīng)于權(quán)利要求中的“檢測部”)，激勵光截止濾波器51 (對應(yīng)于權(quán)利要求中的“衰減部”)，以及輸出光學(xué)部60。應(yīng)予說明，終端部11，光纖12，激勵光復(fù)用器13、17，HR14，放大用光纖15，0C16，激勵用LD18、20，以及激勵用LD驅(qū)動電源19、21構(gòu)成激光激發(fā)裝置10。此處，終端部Ii例如由產(chǎn)生種光的種光源、檢測漏光的ro或者卷繞了光纖的衰減部等構(gòu)成。光纖12例如由單模光纖構(gòu)成，傳播作為信號光的激光。激勵光復(fù)用器13將從激勵用LD18輸出的激光作為激勵光導(dǎo)入光纖的包層。HR14是被稱作HR-FBG (HighReflectivity Fiber Bragg Grating,高反射率光纖布拉格光柵)的全反射光纖光柵,使光纖的折射率周期性地變化而形成，以接近100%的反射率反射來自放大用光纖15的信號光。放大用光纖15,例如由向單模芯中添加了 Er (Erbium)、Yb (Ytterbium)等稀土類的離子而得到的DCF (Double Clad Fiber)構(gòu)成，例如激發(fā)并輸出1080nm的信號光。應(yīng)予說明，DCF的包層為2層，按激勵光在內(nèi)側(cè)的包層中傳播的方式構(gòu)成。OC16 被稱為 0C-FBG (Output Coupler Fiber Bragg Grating,輸出稱合器光纖布拉格光柵)，與HR14同樣，使光纖的折射率周期性地變化而形成，使來自放大用光纖15的一部分信號光(例如，10%) 通過，并且，反射剩余信號光。應(yīng)予說明，由HR14，0C16以及放大用光纖15構(gòu)成光纖諧振器。激勵光復(fù)用器17將從激勵用LD20輸出的激光，作為激勵光導(dǎo)入光纖的包層。激勵用LD18、20例如由I個或者多個波長為915nm且具有數(shù)瓦(W)以上的輸出光強(qiáng)度的多模激光二極管構(gòu)成。激勵用LD驅(qū)動電源19、21對應(yīng)于控制部40的控制分別驅(qū)動激勵用LD18、20。應(yīng)予說明，如圖1所示，各個光學(xué)部件由光纖構(gòu)成。熔接部31 36是在熔接各個光學(xué)部件具有的光纖12時生成的連接部分。應(yīng)予說明，雖然也取決于熔接種類，但是，為了將光纖彼此連接，優(yōu)選各個光學(xué)部件的光纖長度具有數(shù)十厘米(cm)的長度。反之，在光纖長度變長時，由于非線性光學(xué)效果，顯著地表現(xiàn)出在相對信號光的頻率低大致14THz的頻率處具有峰值的拉曼散射光。因為拉曼散射光與目標(biāo)信號頻率不同，所以優(yōu)選盡可能對其進(jìn)行抑制，優(yōu)選不要使光纖長度取得過長。因此，除了放大用光纖15以外的各個光學(xué)部件的光纖長，例如，采用控制為Im左右的結(jié)構(gòu)。如圖2 所不，控制部 40 以 CPU (Central Processing Unit,中央處理器)41, ROM(Read Only Memory,只讀存儲器)42, RAM (Random Access Memory,隨機(jī)存儲器)43 (對應(yīng)于權(quán)利要求中的“存儲部”)，計時器44，顯示部45，I/F (Interface，接口)46，以及總線47為主要構(gòu)成要素。此處，CPU41基于存儲于R0M42的程序42a以及數(shù)據(jù)42b控制各個部分。R0M42是不易失性的半導(dǎo)體存儲裝置，存儲程序42a以及數(shù)據(jù)42b。RAM43是易失性的半導(dǎo)體存儲裝置，作為CPU41執(zhí)行程序時的工作區(qū)域而動作。計時器44生成并輸出時間信息。顯示部45顯示從CPU41供給的信息。I/F46例如由DAC (Digital Analog Converter,數(shù)模轉(zhuǎn)換器)以及ADC (Analog Digital Converter,模數(shù)轉(zhuǎn)換器)等構(gòu)成,將從CPU41供給的數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)變換為模擬信號后向激勵用LD驅(qū)動電源19、21供給，并且，將從TO50輸出的模擬信號變換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)后向CPU41供給?？偩€47是信號線組，將CPU41、R0M42、RAM43、計時器44、顯示部45以及I/F46相互連接，使得它們之間能夠進(jìn)行數(shù)據(jù)的授受。返回圖1，PD50將在光纖12的芯中傳播的信號光(此例中為1080nm的激光)中，經(jīng)由熔接部36漏出的漏出信號光變換為電信號后向控制部40供給。激勵光截止濾波器51是使漏出信號光中包含的激勵光(此例中為915nm的激光)衰減，并使信號光透過的光學(xué)濾波器。輸出光學(xué)部60,具有將從光纖12輸出的信號光聚光于加工對象物的加工面的功能。然后，對第一實施方式的動作進(jìn)行說明。圖3是用于說明圖1所示的第一實施方式中執(zhí)行的一例處理的流程圖。此流程圖的處理通過圖2所示的程序42a被CPU41讀出并執(zhí)行來實現(xiàn)。此流程圖中，在從熔接部36漏出的漏出信號光的強(qiáng)度Lp小于指定閾值Th的情況下，認(rèn)為光纖12中發(fā)生光纖熔斷，停止激勵光。開始此流程圖的處理時，執(zhí)行以下的步驟。步驟SlO:CPU41判定目前激光是否處于輸出動作中，在輸出動作中的情況(步驟SlO:Yes)下進(jìn)入步驟S11，除此以外的情況(步驟S10:No)下結(jié)束處理。具體地，在激光的輸出動作中，CPU41從R0M42的數(shù)據(jù)42b取得對應(yīng)于所要求的光輸出的驅(qū)動數(shù)據(jù)，基于該驅(qū)動數(shù)據(jù)控制激勵用LD驅(qū)動電源19、21。因此，在控制激勵用LD驅(qū)動電源19、21的情況下，進(jìn)入步驟SI I。步驟Sll:CPU41經(jīng)由I/F46輸入TO50的輸出信號，檢測漏出信號光的強(qiáng)度Lp。具體而言，在光纖激光裝置I處于輸出動作中的情況下，從激勵光復(fù)用器17輸出的信號光，經(jīng)由輸出光學(xué)部60對加工 對象物的加工面進(jìn)行照射。此時,在光纖12的芯中傳播的信號光，在通過芯的介質(zhì)有部分不連續(xù)的熔接部36時，其中的一部分(例如，百分之零點幾左右)成為漏出信號光而漏出到外部。應(yīng)予說明，此時，雖然一部分激勵光從包層漏出到外部，但是，通過激勵光截止濾波器51衰減至就激勵光而言沒有影響的水平。如前所述，從熔接部36漏出的光信號在通過激勵光截止濾波器51衰減激勵光后，入射到H)50。TO50將入射的漏出信號光變換為對應(yīng)的電信號，向控制部40供給。在控制部40，I/F46將從TO50供給的對應(yīng)于漏出信號光強(qiáng)度的模擬信號變換為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，向CPU41供給。步驟S12:CPU41比較在步驟Sll檢測的漏出信號光的強(qiáng)度Lp和閾值Th，在漏出信號光的強(qiáng)度Lp比閾值Th小的情況(步驟S12:Yes)下，認(rèn)為光纖熔斷發(fā)生的可能性高，并進(jìn)入步驟S13，在除此以外的情況(步驟S12:No)下，返回步驟S11，重復(fù)與所述情況相同的處理。具體而言，在發(fā)生了光纖熔斷的情況下，因為光纖12的芯損傷，所以信號光不在芯中傳播。因此，從熔接部36漏出的漏出信號光也衰減。因此，在漏出信號光的強(qiáng)度Lp比閾值Th小的情況下，能夠判定為發(fā)生了光纖熔斷的可能性高。應(yīng)予說明，作為求出閾值Th的方法，能夠舉出以下三種具體例。(I)不論輸出光的強(qiáng)度都使用恒定值作為閾值的方法。
在光纖激光裝置I中，通常能夠?qū)?yīng)于加工對象的種類或者加工目的，變更輸出光的強(qiáng)度，但是，作為第一個例子，考慮不論輸出光的強(qiáng)度，將閾值設(shè)為始終恒定(固定值)。應(yīng)予說明，作為此種情況下的閾值的設(shè)定方法，例如，將在光纖激光裝置I的輸出強(qiáng)度最低時的漏出信號光的強(qiáng)度設(shè)為Lpmin時，可按Th=Y XLpmin (此處，Y < I (例如，γ=0.1))進(jìn)行確定。(2)使用對應(yīng)于輸出光的設(shè)定值的閾值的方法。在光纖激光裝置I能夠變更輸出光強(qiáng)度的情況下，控制部40對應(yīng)于輸出光的設(shè)定值驅(qū)動激勵用LD驅(qū)動電源19、21。因此，只要知道設(shè)定值，即可知道光輸出值，另外，還能夠一定程度地推定漏出信號光的強(qiáng)度。如果能夠推定漏出信號光強(qiáng)度，則能夠通過設(shè)定為僅僅比推定的漏出信號光強(qiáng)度低指定比例的值來得到閾值。即，作為第二個例子，例如考慮制作使設(shè)定值和閾值相對應(yīng)的表格，從表格讀取對應(yīng)于設(shè)定值的閾值而使用。應(yīng)予說明，在設(shè)定值Sv和漏出信號光的強(qiáng)度Lp存在一定的關(guān)系(例如Lp=f (Sv) (f ()為指定的函數(shù)))的情況下，可以不使用表格，而是通過Th=Ci Xf (Sv)求得閾值Th。此處，α < I。(3)使用對應(yīng)于電流監(jiān)測值的閾值的方法?？刂撇?0監(jiān)測流過激勵用LD18、20的電流。被監(jiān)測的電流值是正確地反映此時的光輸出的值。因此，能夠通過與所述(2)的設(shè)定值Sv同樣地使用被監(jiān)測的電流值Im，求得閾值Th。具體而言，可以制作使被監(jiān)測的電流值Im和閾值Th相對應(yīng)的表格，或者，通過Th=^ Xf (Im)求得閾值Th。此處，β <1?；蛘撸部梢詼?zhǔn)備2個監(jiān)測器，將一個監(jiān)測器作為激勵光功率監(jiān)測器(具有光纖激光輸出波長的截止濾波器的監(jiān)測器，或者沒有濾波器的監(jiān)測器)，將另一個監(jiān)測器作為光纖激光的功率監(jiān)測器(具有僅僅透過光纖激光波長的透過型濾波器的監(jiān)測器)，使用兩者的比例等關(guān)系設(shè)定閾值。應(yīng)予說明，雖然在以上的例中假設(shè)信號光為CW (Continuous Wave，連續(xù)波)的情況，但是，在信號光為脈沖狀的情況下，例如，也可以跨越一個周期或者多個周期求出漏出信號光的強(qiáng)度的平均值La，基于該平均值La進(jìn)行判斷。應(yīng)予說明，關(guān)于該情況下的閾值，與CW的情況相比較，能夠 對應(yīng)于脈沖的占空比設(shè)為較小的值。例如，在占空比為50%的情況下，能夠設(shè)為閾值Th的50%的值。另外，在占空比為40%的情況下，能夠設(shè)為閾值Th的40%的值。步驟S13:CPU41從計時器44取得現(xiàn)在的日期時刻Ts。應(yīng)予說明，從計時器44輸出的信息，包含年、月、日、時刻(時、分、秒)，另外，秒例如包含1/100秒單位的信息。步驟S14:CPU41使激勵用LD驅(qū)動電源19、21的動作停止。其結(jié)果是，因為不對激勵用LD18、20供給驅(qū)動電流，所以，不能從激勵用LD18、20輸出激勵光，來自光纖激光裝置I的信號光的輸出停止。例如，在熔接部36附近發(fā)生了光纖熔斷的情況下，此光纖熔斷向著激勵光復(fù)用器17 (向著圖的左側(cè))進(jìn)行。因為在通過步驟S14的處理，激勵光停止時，信號光向光纖熔斷的供給停止，所以光纖熔斷停止進(jìn)行。步驟S15:CPU41從計時器44取得現(xiàn)在的日期時刻Te。應(yīng)予說明，從計時器44輸出的信息，與步驟S13的情況相同。步驟S16:CPU41將在步驟S13以及步驟S15中取得的Ts以及Te存儲于RAM43。如此存儲的Ts以及Te也可以顯示在顯示部45，從而可視。通過知道這些Ts以及Te，能夠知道光纖熔斷發(fā)生的日期時刻和從發(fā)生到停止進(jìn)行的時間。如此，例如，不僅僅能夠知道光纖熔斷什么時候發(fā)生，還能夠通過知道直到停止進(jìn)行的時間，從而知道光纖熔斷進(jìn)行到了什么地方。更詳細(xì)地，已知光纖熔斷以約lm/sec的速度在光纖中傳播，另外，已知光纖熔斷多發(fā)生于信號光的強(qiáng)度高且介質(zhì)不連續(xù)的部分(例如，光纖12和輸出光學(xué)部60的連接部分等)。因此，在Ts和Te的差例如為0.05秒的情況下，能夠推定光纖熔斷進(jìn)行至距離輸出光學(xué)部60的連接部分5cm附近，所以，能夠通過知道哪個光學(xué)部件損傷，從而迅速地知道成為交換對象的部件。當(dāng)然，為了準(zhǔn)確地獲知上述信息，優(yōu)選對光纖12的芯入射可視激光，找到不傳播的點。另外，為了進(jìn)行此過程，也可以利用激勵光復(fù)用器(TFB)的空端口或者終端部11等，在光纖激光裝置I中設(shè)置可視激光導(dǎo)入部。由此，能夠更簡便并且迅速地進(jìn)行損傷部的診斷，并能夠?qū)⑿蘩硇枰臅r間抑制為最小限度，從而使光纖激光裝置I的運(yùn)轉(zhuǎn)率提高。如以上所說明，根據(jù)本發(fā)明的第一實施方式，檢測來自光纖12的熔接部36的漏出信號光，在此漏出信號光的強(qiáng)度Lp變得小于指定的閾值Th的情況下，判定為發(fā)生光纖熔斷，所以能夠可靠地檢測光纖熔斷的發(fā)生。另外，在第一實施方式中，因為能夠通過僅僅設(shè)置一個TO50，檢測在光纖激光裝置I的任意部分發(fā)生的光纖熔斷，所以能夠以低成本可靠地檢測光纖熔斷的發(fā)生。 應(yīng)予說明，因為各個光學(xué)部件的光纖長度如前所述為數(shù)十厘米(cm)，所以，為了防止光纖熔斷向其它部件的傳播，優(yōu)選從光纖熔斷的發(fā)生到激勵用LD的停止的時間例如為IOOms以內(nèi)。因此，優(yōu)選使用具有能夠在例如IOOms內(nèi)完成例如圖3所示的流程圖的步驟Sll S14的處理的速度的控制部40。當(dāng)然，優(yōu)選在數(shù)毫秒(ms)以內(nèi)反復(fù)進(jìn)行圖3所示的步驟Sll、S12的處理。如果要給出一般的數(shù)值，那么在從光纖熔斷的發(fā)生位置到監(jiān)測位置(熔接部36)的光纖長為20m時，從光纖熔斷發(fā)生開始，光強(qiáng)度降低的影響以充分少于I μ s的時間傳播到監(jiān)測位置，從光量變化到TO50的電信號變化的時間是I μ s的級別，到判定損害發(fā)生的時間為IOms左右，從電流驅(qū)動停止信號發(fā)出到激勵光強(qiáng)度降低的時間是Ims的級另O。因此，能夠以總共大致IOms多的時間停止驅(qū)動，所以光纖熔斷引起的光纖的破損長度也就大約1cm。根據(jù)驅(qū)動方法或者檢測方法，從防止錯誤檢測的觀點來看，需要對損害發(fā)生的判定設(shè)置延遲時間，如前所述，例如，在輸出脈沖狀信號光的情況下，需要設(shè)置與I個周期或者多個周期相應(yīng)的延遲時間。例如，在輸出IOOHz的脈沖狀信號光的情況下，設(shè)置與2個周期相應(yīng)的延遲時，設(shè)置0.02秒左右的延遲時間即可。由此，即使發(fā)生光纖熔斷，也能夠在合適的時間使激勵用LD停止，從而抑制光纖熔斷的進(jìn)行。因此，根據(jù)本發(fā)明，能夠?qū)⒐鈱W(xué)部件的故障抑制在最小限度，即使是必須修理的情況下，也能夠抑制其成本。特別是，光纖熔斷從熔接點開始的情況下，所有的光學(xué)部件也都可以再利用。如以上的實施方式所述，在從光纖激光的光輸出發(fā)生異常到激勵光阻斷的時間為IOms左右的情況下，光纖熔斷進(jìn)行Icm左右即停止。此時，如果各部件的光纖長度為5cm程度以上，則能夠通過切斷光纖熔斷的發(fā)生位置，并熔接剩余光纖，從而再利用光學(xué)部件。此情況下，如果各個光學(xué)部件的光纖長度為5 30cm的程度，則因為能夠在發(fā)生光纖熔斷后進(jìn)行再利用，并且能夠有效地抑制拉曼散射，所以是優(yōu)選的。
進(jìn)而，特別是CW驅(qū)動的光纖激光中，到判定所述損害發(fā)生的時間比向DCF的芯中添加的摻雜物的松弛時間(Ims左右)更短時，在從光纖激光的光輸出發(fā)生異常到該輸出停止的時間中，松弛時間具有支配性。此情況下，因為光纖熔斷在Imm左右停止，所以，如果熔接需要的光纖長度為例如5_左右，則通過使各個部件的光纖長度為Icm程度以上，更具體地為I 5cm程度，能夠抑制拉曼散射，并且能夠再利用各個光學(xué)部件，所以是優(yōu)選的。綜合以上的關(guān)系，得出如下結(jié)論。將光學(xué)部件的光纖長度(一端)設(shè)為L，將熔接需要的光學(xué)部件的最小光纖長度設(shè)為Lmin，將光纖熔斷的進(jìn)行速度設(shè)為V (V > 0)，將從熔斷發(fā)生到阻斷的時間設(shè)為τ ( τ=檢測時間+判定時間+光強(qiáng)度降低時間)，此種情況下，以下的公式成立。應(yīng)予說明，“ O ”表示其左右的公式等價。Lmin< L-νX τ φ τ < (L-Lmin) τ < Δ /ν,此處，δ =L-Lmin(Λ > O)。S卩，各個光學(xué)部件的光纖長度被設(shè)定為，當(dāng)只減少了從光纖熔斷發(fā)生直到停止之間進(jìn)行的長度(νΧ τ )時，剩余的長度比熔接需要的光學(xué)部件的最小光纖長度Lmin更長?；蛘撸瑫r間τ被設(shè)定為比光纖熔斷只進(jìn)行長度△的時間更短的時間。(B)第二實施方式圖4是表示本發(fā)明的第二實施方式的構(gòu)成例的框圖。此圖中，對于與圖1對應(yīng)的部分賦予同一符號，省略其說明。在圖4所示的第二實施方式的光纖激光裝置IA中，與圖1的情況相比較，除去激勵用LD20、激勵用LD驅(qū)動電源21以及激勵光復(fù)用器17。S卩，雖然在圖1的實施方式中，采用雙向激勵方式，但是，在第二實施方式中采用前方激勵方式。另夕卜，PD50檢測來自0C16和輸出光學(xué)部60之間的熔接部71的漏出信號光。在第二實施方式中，雖然激勵方法與第一實施方式不同,但是,與第一實施方式同樣，通過圖3所示的處理，能夠檢測光纖熔斷并使進(jìn)行停止。應(yīng)予說明，在第二實施方式中，因為不存在激勵用LD20，所以，優(yōu)選與此對應(yīng)地設(shè)定步驟S12的閾值Th。(C)第三實施方式

圖5是表不本發(fā)明的第三實施方式的構(gòu)成例的框圖。此圖中，對于與圖1對應(yīng)的部分賦予同一符號，省略其說明。在圖5所示的第三實施方式的光纖激光裝置IB中，與圖1的情況相比較，除去激勵用LD18、激勵用LD驅(qū)動電源19以及激勵光復(fù)用器13。S卩，雖然在圖1的實施方式中，采用雙向激勵方式，但是，在第三實施方式中采用后方激勵方式。在后方激勵方式的情況下，因為激勵光沒有被輸出到熔接部36側(cè)，所以除去激勵光截止濾波器51。在第三實施方式中，雖然激勵方法與第一實施方式不同,但是,與第一實施方式同樣，通過圖3所示的處理，能夠檢測光纖熔斷并使進(jìn)行停止。應(yīng)予說明，在第三實施方式中，因為不存在激勵用LD18，所以，優(yōu)選與此對應(yīng)地設(shè)定步驟S12的閾值Th。(D)第四實施方式圖6是表示本發(fā)明的第四實施方式的構(gòu)成例的框圖。在圖6所示的第四實施方式的光纖激光裝置IC中，圖1、4、5中所示的激光激發(fā)裝置10、10AU0B被記載為激光激發(fā)裝置70。從激光激發(fā)裝置70輸出的信號光，輸入后段的激光放大裝置110，在光強(qiáng)度被放大后，經(jīng)由輸出光學(xué)部60輸出。此處,激光放大裝置110以光纖112,激勵光復(fù)用器113、117，放大用光纖115，激勵用LD118U20，以及激勵用LD驅(qū)動電源119、121為主要構(gòu)成要素。熔接部131 134是熔接各個光學(xué)部件具有的光纖112而形成的?？刂撇?0控制激勵用LD驅(qū)動電源119、121，并且，控制內(nèi)置于激光激發(fā)裝置70的激勵用LD驅(qū)動電源。在第四實施方式中，從激光激發(fā)裝置70輸出的信號光入射到光纖112的芯，對包層入射從激勵用LD118U20輸出的激勵光。放大用光纖115基于入射到包層的激勵光，將入射到芯的信號光放大，從輸出光學(xué)部60輸出。來自熔接部134的漏出信號光經(jīng)由激勵光截止濾波器51入射到TO50。TO50將漏出信號光變換為電信號后向控制部40供給。然后，對第四實施方式的動作進(jìn)行說明。在第四實施方式中，在激光激發(fā)裝置70以及激光放大裝置110兩者中，有可能發(fā)生光纖熔斷。假設(shè)，在激光放大裝置110的輸出側(cè)發(fā)生光纖熔斷的情況下，因為光纖熔斷在激光放大裝置110內(nèi)從圖的右側(cè)向左側(cè)傳播，所以成為信號光不向比光纖熔斷更靠右的一側(cè)傳播的狀態(tài)。因此，通過圖3的處理，利用與所述的各個實施方式同樣的動作，能夠檢測光纖熔斷并使其停止進(jìn)行。另一方面，在激光激發(fā)裝置70的輸出側(cè)發(fā)生光纖熔斷的情況下，也同樣是在激光激發(fā)裝置70內(nèi)從圖的右側(cè)向左側(cè)沿光纖12傳播，所以成為信號光不向比光纖熔斷更靠右的一側(cè)傳播的狀態(tài)，因此，通過圖3的處理，能夠檢測光纖熔斷。應(yīng)予說明，在步驟S14的處理中，能夠通過使激光激發(fā)裝置70以及激光放大裝置110兩者的激勵用LD停止，使光纖熔斷的進(jìn)行停止。另外，在第四實施方式的情況下，激光放大裝置110具有2個激勵用LD118、120，激光激發(fā)裝置70具有至少I個激勵用LD，所以，優(yōu)選對應(yīng)于上述激勵用LD的個數(shù)設(shè)定閾值Th。(E)第五實施方式圖7是表示本發(fā)明的第五實施方式的構(gòu)成例的框圖。應(yīng)予說明，在圖7中，對于與圖6對應(yīng)的部分賦予同一符號,所以,省略其說明。在圖7所不的第五實施方式的光纖激光裝置ID中，與圖6的情況相比較，除去激勵光復(fù)用器117、激勵用LD120、以及激勵用LD驅(qū)動電源121。另外，PD150檢測來自熔接部171的漏出信號光。除此以外的構(gòu)成與圖6的情況相同。在第五實施方式中，與第四實施方式的情況同樣，通過圖3所示的處理，能夠檢測光纖熔斷，停止激勵用LD，從而使光纖熔斷的進(jìn)行停止。應(yīng)予說明，在第五實施方式中，因為激光放大裝置IlOA僅具有激勵用LD118，所以在步驟S14的處理中，使激勵用LD驅(qū)動電源119與激光激發(fā)裝置70具有的激勵用LD驅(qū)動電源都停止。另外，關(guān)于閾值Th，優(yōu)選對應(yīng)于激勵用LD的個數(shù)等進(jìn)行設(shè) 定。(F)第六實施方式圖8是表示本發(fā)明的第六實施方式的構(gòu)成例的框圖。應(yīng)予說明，在圖8中，對于與圖6對應(yīng)的部分賦予同一符號,所以省略其說明。在圖8所不的第六實施方式的光纖激光裝置IE中，與圖6的情況相比較，除去激勵光復(fù)用器113、激勵用LD118、以及激勵用LD驅(qū)動電源119。除此以外的構(gòu)成與圖6的情況相同。在第六實施方式中，與第四實施方式同樣，通過圖3所示的處理，能夠檢測光纖熔斷，停止激勵用LD，從而使光纖熔斷停止進(jìn)行。在第9實施方式中，因為激光放大裝置IlOE僅具有激勵用LD120，所以在步驟S14的處理中，使激勵用LD驅(qū)動電源121與激光激發(fā)裝置70具有的激勵用LD驅(qū)動電源都停止。應(yīng)予說明，雖然在圖8的例子中，在TO50和熔接部134之間，設(shè)置激勵光截止濾波器51，但是，在激光激發(fā)裝置70為后方激勵方式的情況下，因為激勵光不到達(dá)熔接部134，所以能夠去除激勵光截止濾波器51。(G)第七實施方式圖9是表示本發(fā)明的第七實施方式的構(gòu)成例的框圖。在圖9所示的第七實施方式的光纖激光裝置1F，以控制部40，PD50、150，激勵光截止濾波器51、151，輸出光學(xué)部60，激光激發(fā)裝置70，激光放大裝置80以及光纖112作為主要的構(gòu)成要素。此處，激光激發(fā)裝置70由圖1、4、5中記載的激光激發(fā)裝置10、10AU0B中的任一個構(gòu)成。另外，激光放大裝置80由圖6、7、8中記載的激光放大裝置110、110A、1 IOB中的任一個構(gòu)成。Η)50經(jīng)由激勵光截止濾波器51檢測來自熔接部134的漏出信號光，PD150經(jīng)由激勵光截止濾波器151檢測來自熔接部131的漏出信號光。雖然在第七實施方式中，通過與圖3同樣的處理進(jìn)行動作，但是，分別對Η)50、151執(zhí)行步驟Sll、S12的處理。具體而言，在步驟Sll中，檢測Η)50、151各自的漏出信號光的強(qiáng)度Lpl、Lp2，在步驟S12中，將其與各自的閾值Thl、Th2比較，在滿足Lpl < Thl以及Th2< Lp2的任一方或者雙方的情況下，進(jìn)入步驟S13。然后，在步驟S14中，控制部40停止激光激發(fā)裝置70以及激光放大裝置80雙方的激勵用LD。由此，即使是在激光激發(fā)裝置70或者激光放大裝置80的任一方發(fā)生了光纖熔斷的情況下，也能夠停止激勵用LD，進(jìn)而使光纖熔斷的進(jìn)行停止。另外，在第七實施方式中，在步驟S16中，將Lpl以及Lp2與Ts以及Te一同存儲時，能夠知道在激光激發(fā)裝置70以及激光放大裝置80的哪一方發(fā)生了光纖熔斷。具體地，在Lpl < Thl以及Th2 < Lp2雙方都成立的情況下，能夠判定為在比熔接部131更靠左(圖左)的一側(cè)發(fā)生了光纖熔斷。另外，在僅僅Thl < Lpl成立的情況下，能夠判定為在熔接部131和熔接部134之間發(fā)生了光纖熔斷。(H)第八實施方式圖10是表不本發(fā)明的第八實施方式的構(gòu)成例的框圖。圖10中，對于與圖1對應(yīng)的部分賦予同一符號，所以省略其說明。在圖10所示的第八實施方式的光纖激光裝置IG中，與圖1的情況相比較，設(shè)置用于檢測來自熔接部31的漏出信號光的TO250以及激勵光截止濾波器251，PD250連接于控制部40。其它的構(gòu)成與圖1的情況同樣。圖10所示的第八實施方式中，在激勵光復(fù)用器13的左側(cè)發(fā)生的光纖熔斷也能夠作為檢測對象。即，雖然HR14反射接近99%的信號光，并返回放大用光纖15，但是，例如，1%左右的信號光作為漏出信號光通過。此處，在光纖激光裝置IG的輸出功率為IkW左右的情況下，漏出信號光為IOW左 右。因此，設(shè)想在激勵光復(fù)用器13的左側(cè)也發(fā)生光纖熔斷的情況。因此，在第八實施方式中，能夠通過TO250檢測從熔接部31漏出的漏出信號光，在漏出信號光的強(qiáng)度小于閾值Th的情況下，判定為在激勵光復(fù)用器13的左側(cè)發(fā)生了光纖熔斷，從而能夠停止激勵用LD18、20。具體說明的話，因為在沒有發(fā)生光纖熔斷的正常狀態(tài)下，來自放大用光纖15的一部分信號光作為漏出信號光輸出到HR14的左側(cè)，所以，此漏出信號光經(jīng)由激勵光復(fù)用器13輸出，并被設(shè)置在熔接部31的TO250檢測出來。因此，在正常狀態(tài)下，由TO250檢測出漏出信號光的強(qiáng)度Lp。此處，在終端部11的附近發(fā)生了光纖熔斷時，此光纖熔斷向著圖右側(cè)進(jìn)行。在光纖熔斷移動至比熔接部31更靠右一側(cè)時，因為來自HR14的漏出信號光被此光纖熔斷阻斷，所以，由PD250檢測到的漏出信號光的強(qiáng)度Lp降低。因此，通過圖3的步驟S12的處理，判定為Yes后進(jìn)行步驟S13之后的處理，停止激勵用LD18、20的驅(qū)動，從而停止光纖熔斷的進(jìn)行。應(yīng)予說明，在圖10的實施方式中，閾值Th例如能夠設(shè)為在HR14的左側(cè)輸出的漏出信號光的強(qiáng)度的例如1/10左右。當(dāng)然，也可以是除此以外的值。(I)第九實施方式圖11是表不本發(fā)明的第九實施方式的構(gòu)成例的框圖。圖11中對于與圖10對應(yīng)的部分賦予同一符號，所以省略其說明。在圖11所示的第九實施方式的光纖激光裝置IH中，與圖10的情況相比較，終端部11被置換為roilA，另外，除去TO250以及激勵光截止濾波器251。其它構(gòu)成與圖10的情況同樣。在圖11所示的第九實施方式中，與圖10的情況同樣地，在HR14的左側(cè)漏出的漏出信號光由roilA檢測，在漏出信號光的強(qiáng)度Lp比指定的閾值Th小的情況下，判定為發(fā)生光纖熔斷，并停止激勵用LD18、20的驅(qū)動。由此，與圖10的情況同樣地，也能夠以在激勵光復(fù)用器13的左側(cè)發(fā)生的光纖熔斷作為檢測對象，從而使光纖熔斷的進(jìn)行停止。應(yīng)予說明，作為閾值Th的設(shè)定方法，能夠與第八實施方式的情況同樣地設(shè)定。(J)第十實施方式圖12是表不本發(fā)明的第十實施方式的構(gòu)成例的框圖。圖12中,對于與圖9對應(yīng)的部分賦予同一符號，所以省略其說明。在圖12所示的第十實施方式的光纖激光裝置II中，與圖9的情況相比較，熱敏電阻52熱耦合于TO50進(jìn)行配置，并且，熱敏電阻52被連接于控制部40。另外，熱敏電阻152熱耦合于PD150進(jìn)行配置，并且，熱敏電阻152被連接于控制部40。其它構(gòu)成與圖9的情況同樣。在圖12所示的第十實施方式中，控制部40通過熱敏電阻52、152校準(zhǔn)來自TO50、150的檢測信號。S卩，因為TO50、150的檢測電壓與周圍溫度成反比例，所以控制部40基于由熱敏電阻52、152檢測的溫度校準(zhǔn)檢測電壓，而不依賴于周圍溫度。由此，能夠通過Η)50、150準(zhǔn)確地檢測漏出信號光的強(qiáng)度，而不依賴于周圍溫度。在第十實施方式中，與第七實施方式的情況同樣，能夠知道激光激發(fā)裝置70或者激光放大裝置80中的哪一個發(fā)生了光纖熔斷，并且，與圖10、11的情況同樣，也能夠通過在HR14的左側(cè)漏出的漏出信號光來檢測發(fā)生的光纖熔斷。即，在激光激發(fā)裝置70的未圖示的終端部11的附近發(fā)生光纖熔斷，向圖12的右側(cè)進(jìn)行，并到達(dá)激勵光復(fù)用器13時，激勵光復(fù)用器13被破壞，來自激勵用LD18的激勵光的入射被阻斷。因此，例如，在激光激發(fā)裝置70以及激光放大裝置80中使用的激勵用LD為相同光強(qiáng)度，激勵光復(fù)用器13中激勵光的入射完全中斷時，信號光的強(qiáng)度在熔接部131衰減至1/2，在熔接部134衰減至3/4。因此，在漏出信號光的強(qiáng)度如前所述衰減至1/2以及3/4的情況下，能夠判定為在終端部11的附近發(fā)生光纖熔斷。此時，因為Η)50、150的檢測信號通過熱敏電阻52、152進(jìn)行校準(zhǔn)，所以，不論周圍溫度的變化，都能夠可靠地檢測檢測信號的變化。另外，在第十實施方式中，還能夠?qū)υ诩钣肔D到激勵光復(fù)用器之間發(fā)生的光纖熔斷進(jìn)行檢測。例如，在激勵用LD18和激勵光復(fù)用器13之間發(fā)生了光纖熔斷的情況下，PD150和TO50的輸出減少。例如，各個激勵用LD由5個LD形成的情況下，在I個激勵用LD的光纖中發(fā)生了光纖熔斷的時候，PD150中僅僅減少1/10的輸出，TO50中僅僅減少1/20的輸出。因此，通過準(zhǔn)確地檢測漏出信號光的強(qiáng)度，能夠檢測在激勵用LD和激勵光復(fù)用器之間發(fā)生的光纖熔斷，從而停止其進(jìn)行。應(yīng)予說明，以上雖然對于Η)50、150雙方設(shè)置熱敏電阻52、152，但是也可以對于任一方進(jìn)行設(shè)置，在檢測到任一所述的漏出信號光的強(qiáng)度變化的情況下，阻斷激勵用LD。
另外，在以上的各個實施方式中，可以將閾值Th設(shè)定為與驅(qū)動的激勵用LD的個數(shù)大致成比例的值，或者設(shè)定為對應(yīng)于驅(qū)動的激勵用LD的個數(shù)和由其驅(qū)動電流給予的輸出光的強(qiáng)度的值。由此，例如，即使是在一個激勵用LD發(fā)生光纖熔斷，脫離本來應(yīng)該得到的光纖激光的輸出光強(qiáng)度的范圍的情況下，也能夠根據(jù)此很小的輸出光變動檢測到光纖熔斷，從而適當(dāng)?shù)赝Ｖ蛊溥M(jìn)行。另外，特別是在實施方式四 七、十的MOPA構(gòu)成的情況下，也可以是如第十實施方式所示，分別賦予激光激發(fā)裝置和激光放大裝置不同的比例常數(shù)，乘以與所述驅(qū)動的激勵用LD的個數(shù)大致成比例的值，或者對應(yīng)于驅(qū)動的激勵用LD的個數(shù)和由其驅(qū)動電流得到的輸出光的強(qiáng)度的值，并設(shè)定對應(yīng)于綜合上述數(shù)值而得到的輸出光的強(qiáng)度的閾值。由此能夠更精密地設(shè)定對應(yīng)于光纖激光的動作狀態(tài)的閾值，并能夠進(jìn)行高精度的光纖熔斷檢測。另外，如第七、第九實施方式等那樣，在激光激發(fā)裝置和激光放大裝置中，分別監(jiān)測輸出光來判定光纖熔斷的發(fā)生位置的情況下，通過設(shè)置進(jìn)行第七實施方式所記載的判定流程的判定部，并將其配置于控制部40內(nèi)，或者與外部連接，從而能夠自動地進(jìn)行判定。進(jìn)而，可以設(shè)置顯示其判定結(jié)果的顯示部，也可以設(shè)置對外部裝置(PC等)進(jìn)行信號輸出的輸出裝置。(K)變形實施方式應(yīng)予說明，所述的各個實施方式是一個例子，除此以外還存在各種變形實施方式。例如，雖然在以上各個實施方式中，檢測來自熔接部的漏出信號光，但是，也可以如圖13所示，檢測來自光學(xué)系統(tǒng)(光纖或者聚光透鏡等)彼此間隔指定距離進(jìn)行光學(xué)連接的部分的漏出信號光。在圖13的例中，信號光經(jīng)由連接部160,穿過光纖164,并介由輸出光學(xué)部165對加工對象物進(jìn)行照射。此處，連接部160具有輸出光學(xué)部161和輸入光學(xué)部162，輸出光學(xué)部161和輸入光學(xué)部162間隔指定的間隔進(jìn)行配置。PD163入射從輸出光學(xué)部161的芯漏出的漏出信號光，變換為對應(yīng)的電信號后向控制部40供給。如此，即使是在熔接部以外，也能夠檢測來自芯的漏出信號光，而不限定為熔接部。另外，雖然在以上的各個實施方式中，通過激勵光截止濾波器使激勵光衰減，但是，例如，還能夠在熔接部的前段，將用于使芯光以外的光釋放到外部的光纖熔接到光纖12上，并由此使激勵光衰減。當(dāng)然，也可以是除此以外的方法。另外，雖然在 以上的各個實施方式中，通過激勵用LD驅(qū)動電源驅(qū)動激勵用LD，但是也可以是，控制部40直接驅(qū)動各個激勵用LD，或者，基于來自控制部的控制信號控制FET(Field Effect Transistor,場效應(yīng)晶體管)，由該FET控制流過各個激勵用LD的電流。另外，雖然在以上的各個實施方式中，在發(fā)生光纖熔斷的情況下，停止所有的激勵用LD的動作，但是，在能夠通過停止一部分激勵用LD的動作來停止光纖熔斷的進(jìn)行的情況下，也可以停止一部分激勵用LD的動作。另外，雖然在以上的各個實施方式中，通過圖2所示的控制部40，判定光纖熔斷的發(fā)生，但是，除此以外，例如也可以使用應(yīng)用了邏輯電路的硬件，或者使用FPGA(Field-Programmable Gate Array,場可編程門陣列)。符號說明1、1A、1B、1C、1D、1E、1F、1G、1H、1I 光纖激光裝置10、10A、10B、10C、10D、70 激光激發(fā)裝置110、110A、110B、80 激光放大裝置11終端部IlA PD12 光纖
13、17激勵光復(fù)用器15放大用光纖14、16 FBG18、20 激勵用 LD19,21激勵用LD驅(qū)動電源(停止部)31 36熔接部40控制部(判定部、校準(zhǔn)部的一部分)43 RAM (存儲部)50 PD (檢測部)51激勵光截止濾波器52熱敏電阻(校準(zhǔn)部的一部分)60輸出光學(xué)部70激光激發(fā)裝置
80激光放大裝置(放大部)
權(quán)利要求
1.一種光纖激光裝置，其特征在于，對光纖導(dǎo)入激勵光并產(chǎn)生激光，其中包含 檢測部，檢測作為從所述光纖的芯漏出的信號光的漏出信號光； 判定部，在由所述檢測部檢測的所述漏出信號光強(qiáng)度減少了的情況下，判定為光纖發(fā)生異常； 停止部，在由所述判定部判定為所述光纖發(fā)生異常的情況下，停止向所述光纖導(dǎo)入所述激勵光。
2.如權(quán)利要求I所述的光纖激光裝置，其特征在于，所述檢測部檢測從所述光纖彼此的連接部漏出的所述漏出信號光。
3.如權(quán)利要求2所述的光纖激光裝置，其特征在于，所述連接部是所述光纖彼此熔接 而成的熔接部，所述檢測部檢測從所述熔接部漏出的所述漏出信號光。
4.如權(quán)利要求2所述的光纖激光裝置，其特征在于，所述連接部將所述光纖彼此隔開 指定距離進(jìn)行配置，所述檢測部檢測從所述光纖彼此之間擴(kuò)散并漏出的所述漏出信號光。
5.如權(quán)利要求2至4中任一項所述的光纖激光裝置，其特征在于，所述連接部是位于最靠近輸出所述激光的輸出端的位置的連接部。
6.如權(quán)利要求I所述的光纖激光裝置，其特征在于，所述檢測部檢測從設(shè)置于所述激光的輸出側(cè)和相反側(cè)的全反射光纖光柵漏出的所述漏出信號光。
7.如權(quán)利要求I至6中任一項所述的光纖激光裝置，其特征在于，所述檢測部經(jīng)由透過所述激光并衰減所述激勵光的衰減部，檢測所述漏出信號光。
8.如權(quán)利要求I至7中任一項所述的光纖激光裝置，其特征在于， 所述檢測部由光電二極管構(gòu)成， 包含校準(zhǔn)部，所述校準(zhǔn)部檢測所述光電二極管的溫度，基于檢測的溫度校準(zhǔn)所述光電二極管的檢測信號。
9.如權(quán)利要求I至8中任一項所述的光纖激光裝置，其特征在于， 還包含放大部，通過光纖放大所述激光， 所述檢測部檢測從所述放大部輸出的所述激光自所述光纖的芯漏出的漏出信號光。
10.如權(quán)利要求I至9中任一項所述的光纖激光裝置，其特征在于，包含存儲部，存儲表示時間的信息，所述時間是從檢測出所述漏出信號光強(qiáng)度減少直到停止所述激勵光的時間。
11.如權(quán)利要求I至10中任一項所述的光纖激光裝置，其特征在于，所述判定單元基于閾值判定所述光纖異常的發(fā)生，所述閾值是作為固定值的閾值、對應(yīng)于所述激勵光或者所述激光的強(qiáng)度的設(shè)定值而變動的閾值、或者對應(yīng)于流過生成所述激勵光的激光二極管的電流值而變動的閾值。
12.如權(quán)利要求11所述的光纖激光裝置，其特征在于，在所述激光為脈沖光的情況下，所述判定單元基于多個周期的所述漏出信號光的強(qiáng)度的平均值，判定所述光纖異常的發(fā)生。
13.如權(quán)利要求I所述的光纖激光裝置，其特征在于，對所述光纖導(dǎo)入所述激勵光的激勵光復(fù)用器在多個激勵光導(dǎo)入端口中具有空端口，將所述激光的輸出側(cè)和相反側(cè)的終端部以及所述空端口中的至少一方作為可見光導(dǎo)入端口。
14.一種光纖激光裝置的異常檢測方法，其特征在于，是對光纖導(dǎo)入激勵光并生成激光的光纖激光裝置的異常檢測方法，在所述檢測方法中， 檢測作為從所述光纖的芯漏出的信號光的漏出信號光， 在檢測的所述漏出信號光的強(qiáng)度減少了的情況下，判定為光纖發(fā)生異常， 在判定為 所述光纖發(fā)生異常的情況下，停止向所述光纖導(dǎo)入所述激勵光。
全文摘要
可靠地檢測在光纖發(fā)生的異常。光纖激光裝置1，其特征在于，對光纖導(dǎo)入激勵光并生成激光，包含檢測部(PD50)，檢測作為從光纖的芯漏出的信號光的漏出信號光；判定部(控制部40)，在由檢測部檢測的漏出信號光強(qiáng)度減少了的情況下，判定為發(fā)生異常；停止部(激勵用LD驅(qū)動電源)，在由判定部判定為發(fā)生異常的情況下，停止激勵光的導(dǎo)入。
文檔編號H01S3/06GK103222134SQ20118005627
公開日2013年7月24日 申請日期2011年11月29日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月29日
發(fā)明者宮戶泰三, 柏木孝介, 江森芳博, 藤崎晃 申請人:古河電氣工業(yè)株式會社