專利名稱：一種陽極超低型測試轉(zhuǎn)接器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測試轉(zhuǎn)接器，具體涉及一種陽極超低型測試轉(zhuǎn)接器。 技術(shù)背景隨著通訊技術(shù)的發(fā)展，各種使用于微波通信、移動(dòng)通信、精密測試儀器等設(shè)備中的 連接器在結(jié)構(gòu)上不斷地增加自主開發(fā)的各種元素，然而各連接器制造商自主開發(fā)后帶來了 非標(biāo)準(zhǔn)的各種連接器產(chǎn)品，存在各種性能測試?yán)щy的困惑。
發(fā)明內(nèi)容為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本實(shí)用新型的目的在于提供了一種陽極超低型測 試轉(zhuǎn)接器，能夠測試非標(biāo)準(zhǔn)連接器的性能，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，具有測試成本低的優(yōu)點(diǎn)。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是一種陽極超低型測試轉(zhuǎn)接器，包括內(nèi)導(dǎo)體1，內(nèi)導(dǎo)體1和外導(dǎo)體3通過絕緣體2連 接成整體，內(nèi)導(dǎo)體1的一端為陽極超低端口 4，另一端為標(biāo)準(zhǔn)接口 5，內(nèi)導(dǎo)體1的內(nèi)部為倒刺 結(jié)構(gòu)A，外部為階梯外圓結(jié)構(gòu)，轉(zhuǎn)接器的整體長度比普通N型簡短至少3. 9mm。所述的內(nèi)導(dǎo)體1與絕緣體2為過盈配合。所述的絕緣體2與外導(dǎo)體3為過盈配合。本實(shí)用新型工作原理為將非標(biāo)準(zhǔn)連接器的測試端和陽極超低端口 4連接，信號(hào)經(jīng)內(nèi)導(dǎo)體1從陽極超低端 口 4轉(zhuǎn)至標(biāo)準(zhǔn)接口 5，實(shí)現(xiàn)陽極超低型連接器的性能測試。由于本實(shí)用新型能夠?qū)Ψ菢?biāo)準(zhǔn)連接器進(jìn)行性能測試，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，故而具 有測試成本低的優(yōu)點(diǎn)。

圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為內(nèi)導(dǎo)體1的階梯外圓結(jié)構(gòu)示意圖。圖3為內(nèi)導(dǎo)體1的倒刺結(jié)構(gòu)位置示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步描述。參照?qǐng)D1、2、3，一種陽極超低型測試轉(zhuǎn)接器，包括內(nèi)導(dǎo)體1，內(nèi)導(dǎo)體1和外導(dǎo)體3通 過絕緣體2連接成整體，內(nèi)導(dǎo)體1的一端為陽極超低端口 4，另一端為標(biāo)準(zhǔn)接口 5，內(nèi)導(dǎo)體1 的內(nèi)部為倒刺結(jié)構(gòu)A，外部為階梯外圓結(jié)構(gòu)，S卩內(nèi)導(dǎo)體1的一端為錐形頭6，錐形頭6和第 一柱形體7相接，第一柱形體7的另一端和錐形臺(tái)8的大端頭相接，錐形臺(tái)8的小端頭和第 二柱形體9相接，第二柱形體9的另一端和第三柱形體10的一端相接，第一柱形體7的外 圓直徑和錐形頭6的錐底直徑相同，錐形臺(tái)8的大端頭的直徑大于第一柱形體7的外圓直徑，錐形臺(tái)8的小端頭直徑等于第一柱形體7的外圓直徑，第二柱形體9的直徑等于第一柱 形體7的外圓直徑，第三柱形體10的外圓直徑小于第一柱形體7的外圓直徑，轉(zhuǎn)接器的整 體長度比普通N型產(chǎn)品縮短至少3. 9mm。所述的內(nèi)導(dǎo)體1與絕緣體2為過盈配合。所述的絕緣體2與外導(dǎo)體3為過盈配合。本實(shí)用新型工作原理為將非標(biāo)準(zhǔn)連接器的測試端和陽極超低端口 4連接，信號(hào)經(jīng)內(nèi)導(dǎo)體1從陽極超低端 口 4轉(zhuǎn)至標(biāo)準(zhǔn)接口端口 5，實(shí)現(xiàn)陽極超低型連接器的性能測試。附圖中1為內(nèi)導(dǎo)體；2為絕緣體；3為外導(dǎo)體；4為陽極超低端口 ；5為標(biāo)準(zhǔn)接口 ；A 為倒刺結(jié)構(gòu)；6為錐形頭；7為第一柱形體；8為錐形臺(tái)；9為第二柱形體；10為第三柱形體。
權(quán)利要求1.一種陽極超低型測試轉(zhuǎn)接器，包括內(nèi)導(dǎo)體(1)，內(nèi)導(dǎo)體(1)和外導(dǎo)體C3)通過絕緣體 (2)連接成整體，其特征在于內(nèi)導(dǎo)體(1)的一端為陽極超低端口 G)，另一端為標(biāo)準(zhǔn)接口 (5)，內(nèi)導(dǎo)體⑴的內(nèi)部為倒刺結(jié)構(gòu)(A)，外部為階梯外圓結(jié)構(gòu)，轉(zhuǎn)接器的整體長度比普通N 型簡短至少3. 9mm。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種陽極超低型測試轉(zhuǎn)接器，其特征在于所述的內(nèi)導(dǎo)體(1) 與絕緣體( 為過盈配合。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種陽極超低型測試轉(zhuǎn)接器，其特征在于所述的絕緣體(2) 與外導(dǎo)體(3)為過盈配合。
專利摘要一種陽極超低型測試轉(zhuǎn)接器，包括內(nèi)導(dǎo)體，內(nèi)導(dǎo)體和外導(dǎo)體通過絕緣體連接成整體，內(nèi)導(dǎo)體的一端為陽極超低端口，另一端為標(biāo)準(zhǔn)接口，內(nèi)導(dǎo)體的內(nèi)部為倒刺結(jié)構(gòu)，外部為階梯外圓結(jié)構(gòu)，轉(zhuǎn)接器的整體長度縮短至少3.9mm，將非標(biāo)準(zhǔn)連接器的測試端和陽極超低端口連接，信號(hào)經(jīng)內(nèi)導(dǎo)體從陽極超低端口轉(zhuǎn)至標(biāo)準(zhǔn)接口，實(shí)現(xiàn)陽極超低型連接器的性能測試，本實(shí)用新型能夠?qū)Ψ菢?biāo)準(zhǔn)連接器進(jìn)行性能測試，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，具有測試成本低的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)H01R31/06GK201860016SQ201020527739
公開日2011年6月8日 申請(qǐng)日期2010年9月13日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月13日
發(fā)明者胡波 申請(qǐng)人:安費(fèi)諾科耐特(西安)科技有限公司