專利名稱：一種記憶卡測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種記憶卡測試方法。
背景技術(shù)：
一般快閃式記憶卡(例如SD卡、mini SD卡)在廠商出貨前，須至少通過二道的測 試作業(yè)。第一道為開卡測試，此測試參數(shù)是由記憶卡生產(chǎn)廠商提供，確認(rèn)記憶卡是否為不良 品。第二道為讀寫測試，此測試參數(shù)一般改為使用廠商提供。使用廠商是根據(jù)市面各家讀 卡機(jī)的特性，制定適當(dāng)?shù)臏y試參數(shù)，確保通過讀寫測試的記憶卡在賣給消費(fèi)者后，該記憶卡 仍能正常使用現(xiàn)有記憶卡開卡測試作業(yè)是采用手動模式，測試流程依序?yàn)榇_認(rèn)測試物數(shù) 量、設(shè)定測試參數(shù)、連接測試治具、將測試物放置于測試治具處、進(jìn)行開卡測試、以及依測試 結(jié)果區(qū)分良品與不良品。由于是手動模式，故須利用大量人員操作及進(jìn)行測試，因此也須大 量測試治具及設(shè)備。另外記憶卡另一道的讀寫測試作業(yè)也是采用手動模式，測試流程基本 上與前述開卡測試流程大致相同，不同之處在于設(shè)定的測試參數(shù)不同以及配合使用的測 試裝置也不同。整體而言，昔用記憶卡測試作業(yè)因采用手動模式效率較差且設(shè)備及人力成 本較高。再者，由于開卡測試與讀寫測試所采用的裝置并不相同，故須區(qū)分二個工作區(qū)域分 別進(jìn)行。當(dāng)記憶卡先經(jīng)開卡測試后區(qū)分出良品與不良品，經(jīng)統(tǒng)計(jì)分類后，再將良品移動至讀 寫測試區(qū)進(jìn)行測試，之后再次區(qū)分出良品與不良品，再次經(jīng)分類統(tǒng)計(jì)而后收集，如此不斷統(tǒng) 計(jì)收集方式不僅費(fèi)時費(fèi)工，也容易因人為操作的不當(dāng)，造成最終數(shù)量的不正確。由于上述原因，部份廠商即開始研發(fā)自動化的測試機(jī)臺，但由于開卡測
試或讀寫測試所使用的測試裝置有些不同，再加上開卡測試時間較短，而讀寫測試因 目前記憶卡容量不斷提升，使得測試時間愈來愈長。因此目前自動化的測試機(jī)臺通常僅能 提供單一模式的測試，例如業(yè)界俗稱之Tl測試機(jī)僅能提供開卡測試，T2測試機(jī)則僅提供讀 寫測試。此方式則乃存在著一個缺點(diǎn)，仍然需要人力將通過開卡測試的良品以人力搬運(yùn)移 動至讀寫測試機(jī)臺，再進(jìn)行輸入數(shù)量及統(tǒng)計(jì)的工作。而且單一的Tl測試機(jī)在使用時，僅能 對單一記憶卡生產(chǎn)公司的產(chǎn)品進(jìn)行測試，如果測試不同廠商的記憶卡，則須先全部更新不 同廠商的測試界面，非常麻煩且費(fèi)時。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種測試效率高，而且測試時間精簡，結(jié)果正確 的記憶卡測試方法。本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的
本發(fā)明的一種記憶卡測試方法，主要用于自動化測試機(jī)，該自動化測試機(jī)包括儲放管 理單元，及一組以上的開卡測試單元，及一組以上的讀寫測試單元，及移載單元，及控制單 元，其步驟為1).以移載單元將測試物從儲放管理單元處移出并送至開卡測試單元；
2).開卡測試單元對測試物進(jìn)行測試；
3).通過測試的測試物以移 載單元自開卡測試單元處移動至讀寫測試單元，不通過的 測試物則送回儲放管理單元對應(yīng)的置放區(qū)；
4).讀寫測試單元對測試物進(jìn)行讀寫的測試；
5).將測試物依測試結(jié)果以移載單元移動至儲放管理單元相對應(yīng)的置放區(qū)。作為優(yōu)選，所述儲放管理單元能供測試物放置；所述開卡測試單元能對測試物進(jìn) 行開卡作業(yè)的相關(guān)測試；所述讀寫測試單元能對測試物進(jìn)行讀寫作業(yè)的相關(guān)測試；所述移 載單元能將測試物于儲放管理單元、開卡測試單元與讀寫測試單元等三等元之間作移入或 移出的動作；所述控制單元能控制前述
單元產(chǎn)生預(yù)期的動作，使得放置于儲放管理單元的測試物能依序進(jìn)行開卡或讀寫測
試ο作為優(yōu)選，所述儲放管理單元內(nèi)形成有測試物置放區(qū)、未通過開卡測試的置放區(qū)、 未通過讀寫測試的置放區(qū)、以及通過測試的置放區(qū)。作為優(yōu)選，所述通過測試的置放區(qū)可區(qū)分為通過開卡測試的成品區(qū)及通過讀寫測 試的成品區(qū)。作為優(yōu)選，其中該測試物為記憶卡。本發(fā)明的一種記憶卡測試方法，使用方便適用范圍廣，該測試機(jī)能使不同廠商的 記憶卡在同一臺機(jī)上進(jìn)行開卡測試，之后再分別進(jìn)行后續(xù)的讀寫測試，再依測試結(jié)果分別 儲存收集，讓廠商在測試時更為方便。而且購買此單一機(jī)臺除了能個別進(jìn)行開卡與讀寫測 試外，也能采一貫化的測試流程如依序進(jìn)行開卡測試、讀寫測試，為廠商減少設(shè)備的投資成 本。


為了易于說明，本發(fā)明由下述的較佳實(shí)施例及附圖作以詳細(xì)描述。圖1為本發(fā)明測試機(jī)的結(jié)構(gòu)方塊圖； 圖2為本發(fā)明記憶卡測試方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明的一種記憶卡測試方法，如圖1和圖2所示，自動化測試機(jī)主要包括有儲放 管理單元11、至少一組的開卡測試單元12、至少一組的讀寫測試單元13、移載單元14、 以及控制單元15。該儲放管理單元11能供測試物放置其中，在本實(shí)施例中該測試物為 快閃式記憶卡，例如SD卡、mini SD卡、MMC卡…等。該儲放管理單元11內(nèi)至少形成有測 試物置放區(qū)、未通過開卡
測試的置放區(qū)、未通過讀寫測試的置放區(qū)、以及通過測試的置放區(qū)。該通過測試的置放 區(qū)進(jìn)一步可區(qū)分為通過開卡測試的成品區(qū)及通過讀寫測試的成品區(qū)。該移載單元14是用 于將測試物移動至各測試單元，并將測試物依測試結(jié) 果依序送回儲放管理單元11內(nèi)相對應(yīng)的置放區(qū)。該移載單元14包括有數(shù)組水平橫向移載機(jī)構(gòu)、數(shù)組水平縱向移載機(jī)構(gòu)、數(shù)組垂直升降機(jī)構(gòu)、數(shù)組吸嘴單元…等，各組分別獨(dú)立適時作動，此部份與現(xiàn)有相似，故不 再詳加描述。該開卡測試單元12用于對放至此處的測試物進(jìn)行開卡測試，其包括有數(shù)個承 座、數(shù)個開卡機(jī)…等，一次能對數(shù)個測試物進(jìn)行開卡測試，該開卡機(jī)的界面則由記憶卡制造 廠商提供。該開卡測試單元12并與控制單元15相連接，以操作測試的流程，統(tǒng)計(jì)最后測試 的結(jié)果。該讀寫測試單元13則是用以對放置此處的測試物進(jìn)行讀寫測試，此讀寫測試單元 13的測試界面則由使用廠商自行設(shè)計(jì)或根據(jù)市面上各家讀卡機(jī)的特性制定測試參數(shù)，以確 保經(jīng)測試后的記憶卡的通用性。而該控制單元15分別與各單元連接，負(fù)責(zé)控制各單元產(chǎn)生 預(yù)期的動作。例如控制移載單元14將測試物移出儲放管理單元11，再將測試物移載至開 卡測試單元12與讀寫測試單元13，驅(qū)動開卡測試單元12與讀寫測試單元13進(jìn)行相關(guān)的測 試，最后再依測試結(jié)果將測試物以移載單元14移回儲放管理單元11相對的位置。如第二圖所示，為本發(fā)明的測試流程圖，本發(fā)明的記憶卡測試方法須運(yùn)用前述的 自動化測試機(jī)，其步驟為
1).以移載單元將測試物從儲放管理單元處移出并送至開卡測試單元；
2).開卡測試單元對測試物進(jìn)行測試；
3).通過測試的測試物以移載單元自開卡測試單元處移動至讀寫測試單元，不通過的 測試物則送回儲放管理單元對應(yīng)的置放區(qū)；
4).讀寫測試單元對測試物進(jìn)行讀寫的測試；
5).將測試物依測試結(jié)果以移載單元移動至儲放管理單元相對應(yīng)的置放 區(qū)。在本實(shí)施例中，本發(fā)明的自動化測試機(jī)的開卡測試單元與讀寫測試單元僅畫出一 組，但并不以此為限，也可為兩或三組。另外由于開卡測試的時間較短，而讀寫測試的時間 依著記憶容量的加大時間愈來愈長，因此該自動化測試機(jī)的構(gòu)件配置也可采一組開卡測試 單元搭配兩 三組讀寫測試單元，以縮短測試過程的等待時間，提升測試的效率。另外本發(fā)明的自動化測試機(jī)的開卡測試單元也可讓不同廠商的開卡機(jī)設(shè)置其中， 以控制單元負(fù)責(zé)控制，將相對應(yīng)廠商的記憶卡測試物移載至開卡測試單元內(nèi)的相對應(yīng)的位 置，在經(jīng)開卡或讀寫測試后再移載至儲放管理單元相對應(yīng)的置放區(qū)。如此一來，不管收到那 一家記憶卡制造廠的記憶卡皆可更為方便地進(jìn)行測試。綜合以上所述，本發(fā)明的自動化測試機(jī)是將開卡測試單元與讀寫測試單元整合在 同一臺機(jī)器上，故能依序?qū)τ洃浛ㄟM(jìn)行開卡測試以及讀寫測試，簡化測試的流程，提升工作 效率。上述實(shí)施例，只是本發(fā)明的一個具體實(shí)例，并不是用來限制本發(fā)明權(quán)利范圍，凡依 據(jù)本發(fā)明所作的等效變化和修飾，均應(yīng)包括在本發(fā)明的專利要求范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種記憶卡測試方法，主要用于自動化測試機(jī)，該自動化測試機(jī)包括儲放管理單元， 及一組以上的開卡測試單元，及一組以上的讀寫測試單元，及移載單元，及控制單元，其步 驟為1).以移載單元將測試物從儲放管理單元處移出并送至開卡測試單元；2).開卡測試單元對測試物進(jìn)行測試；3).通過測試的測試物以移載單元自開卡測試單元處移動至讀寫測試單元，不通過的 測試物則送回儲放管理單元對應(yīng)的置放區(qū)；4).讀寫測試單元對測試物進(jìn)行讀寫的測試；5).將測試物依測試結(jié)果以移載單元移動至儲放管理單元相對應(yīng)的置放區(qū)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種記憶卡測試方法，其特征在于所述儲放管理單元能供 測試物放置；所述開卡測試單元能對測試物進(jìn)行開卡作業(yè)的相關(guān)測試；所述讀寫測試單元 能對測試物進(jìn)行讀寫作業(yè)的相關(guān)測試；所述移載單元能將測試物于儲放管理單元、開卡測 試單元與讀寫測試單元等三等元之間作移入或移出的動作；所述控制單元能控制前述單元 產(chǎn)生預(yù)期的動作，使得放置于儲放管理單元的測試物能依序進(jìn)行開卡或讀寫測試。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種記憶卡測試方法，其特征在于所述儲放管理單元內(nèi)形 成有測試物置放區(qū)、未通過開卡測試的置放區(qū)、未通過讀寫測試的置放區(qū)、以及通過測試的 置放區(qū)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種記憶卡測試方法，其特征在于所述通過測試的置放區(qū) 可區(qū)分為通過開卡測試的成品區(qū)及通過讀寫測試的成品區(qū)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種記憶卡測試方法，其特征在于其中該測試物為記憶卡。
全文摘要
本發(fā)明是關(guān)于一種記憶卡測試方法，主要用于自動化測試機(jī)，該自動化測試機(jī)包括儲放管理單元，及一組以上的開卡測試單元，及一組以上的讀寫測試單元，及移載單元，及控制單元，其步驟為:1).以移載單元將測試物從儲放管理單元處移出并送至開卡測試單元;2).開卡測試單元對測試物進(jìn)行測試;3).通過測試的測試物以移載單元自開卡測試單元處移動至讀寫測試單元，不通過的測試物則送回儲放管理單元對應(yīng)的置放區(qū)；4).讀寫測試單元對測試物進(jìn)行讀寫的測試;5).將測試物依測試結(jié)果以移載單元移動至儲放管理單元相對應(yīng)的置放區(qū)。其測試效率高，而且測試時間精簡，結(jié)果正確。
文檔編號G11C29/08GK102136298SQ201010612139
公開日2011年7月27日 申請日期2010年12月29日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月29日
發(fā)明者陳志明 申請人:東莞矽德半導(dǎo)體有限公司