專利名稱：：光拾取裝置以及具備光拾取裝置的光盤裝置的制作方法
技術領域：
：本發(fā)明涉及一種光拾取裝置以及具備光拾取裝置的光盤裝置。
背景技術：
：向具備光拾取裝置的光盤裝置(未圖示)內插入光盤。被放入未圖示的光盤裝置內的光盤形成為大致圓板狀。作為盤，例如列舉出“CD-R0M”、“DVD-R0M”、“HDDVD-R0M”、“BD_R0M”等數據讀取專用的光盤、“CD-R”、“DVD-R”、“DVD+R”、“HDDVD-R”、“BD_R”等數據寫入型的光盤、“CD-RW，，、“DVD-RW”、“DVD+RW”、“DVD-RAM”、"HDDVD-Rff","HDDVD-RAM”、“BD-RE”等可寫入/刪除數據或者可重寫數據的類型的光盤等。針對光盤進行說明，“⑶”是“CompactDisc(光盤)”(商標)的簡稱。另夕卜，“DVD”(注冊商標)是“DigitalVersatileDisc(數字通用光盤)”的簡稱。另外，“HDDVD”(注冊商標)是“HighDefinitionDVD(高清晰度DVD)”的簡稱。另外，“Blu-rayDisc(藍光光盤)，，(注冊商標)的“Blu-ray”是相對于以往的讀寫信號時使用的紅色激光而言的，是指為了實現高密度記錄而采用的藍紫色激光?！癏DDVD”被設為與以往的DVD系列的盤具有兼容性且存儲容量大于以往的DVD系列的盤的光盤。對以往的CD使用紅外激光。另外，對以往的DVD使用紅色激光。然而，在讀出記錄在“Blu-rayDisc”或“HDDVD”光盤中的數據/信息/信號時或者在向“Blu-rayDisc”或“HDDVD”光盤寫入數據/信息/信號時利用藍紫色激光。另外，“CD-R0M”、“DVD-R0M”以及“HDDVD-ROM”的“ROM”是“ReadOnlyMemory(只讀存儲器)”的簡稱。另外，“BD-R0M”是“Blu-rayDisc-ROM”的簡稱?！癈D-R0M”、“DVD_R0M”、"HDDVD-ROM”以及“BD-R0M”專用于讀取數據/信息。另外，“CD-R”、“DVD-R”、“DVD+R”以及"HDDVD-R”的“R”是“Recordable(可記錄)”的簡稱。另外，“BD-R”是“Blu-rayDisc-R"的簡稱?！癈D-R”、“DVD-R”、“DVD+R”、“HDDVD-R”以及“BD-R”能夠進行數據/信息的寫入。另夕卜，“CD-RW，，、“DVD-RW，，、“DVD+RW”以及“HDDVD-RW”的“冊”是“Re-Writable(可重寫)”的簡稱。另夕卜，“BD-RE”是“Blu-rayDisc-RE，，的簡稱?！癈D_RW，，、“DVD-RW，，、“DVD+RW，，、“HDDVD-RW”以及“BD-RE”能夠進行數據/信息的重寫。另外，“DVD-RAM”以及“HDDVD-RAM”的“RAM”是“RandomAccessMemory(隨機存取存儲器)”的簡稱?！癉VD-RAM”以及“HDDVD-RAM”能夠進行數據/信息的讀寫/刪除。在能夠通過光盤裝置進行數據/信息/信號的記錄的光盤中，在作為光盤的信號記錄面的信號層中設置有溝槽(groove)(未圖示)，該溝槽用于保存數據/信息/信號。溝槽例如是指細長的凹陷形狀的槽。在俯視觀察圓板狀光盤時，溝槽形成為大致螺旋狀。在向光盤照射激光時，如果從被照射激光的信號層側注視光盤，則溝槽呈渦形狀。由于溝槽非常小，因此肉眼看不到溝槽。光拾取裝置具備用于檢測焦點誤差信號、循跡誤差信號等誤差信號的光學系統(tǒng)，以控制物鏡的位置來將聚光點適當地照射到位于光盤內的規(guī)定的記錄軌道上。焦點例如是指f0CUS、pimt(荷蘭語)。另外，聚焦例如是指集中于焦點或者對焦。另外，循跡是指例如利用光來追蹤觀察光盤的信號層、設置在光盤的信號層等上的微小凹坑(坑、凹陷)、溝槽(槽)、擺動(蛇形)等，確定描繪成大致螺旋狀的軌道的位置。另外，凹坑例如是指坑、凹陷狀的凹坑。另外，擺動(wobble)例如是指記錄信息等數據信號的軌道呈蛇形。作為光拾取裝置中的光盤的聚光點的聚焦檢測法，例如列舉出基于差動像散法的檢測法等。差動像散法是指例如通過檢測由具有像散的光學系統(tǒng)成像得到的點像失真來檢測聚光點的移動的方法。另外，作為光拾取裝置中的光盤的聚光點的循跡檢測法，例如列舉出基于差動推挽法(Differentialpush-pullmethod)的檢測法等。差動推挽法是指例如利用數據讀寫用的主光束和對位置偏移的校正信號進行檢測的兩個副光束來檢測聚光點的移動的方法。對循跡誤差信號的檢測方式進行說明，例如在由光拾取裝置對軌道間距為1.6μm(微米micron/micrometer)的CD標準(CD-ROM、CD-R、CD-RW等)的光盤進行循跡誤差信號的檢測的情況下，作為循跡誤差信號的檢測方式，主要采用利用三個光束的例如“三光束方式(或者還被稱為三光點方式)”。另外，例如在由光拾取裝置對軌道間距為0.74μm的DVD標準(DVD-ROM、DVD-R、DVD-Rff等)的光盤進行循跡誤差信號的檢測的情況下，作為循跡誤差信號的檢測方式，主要采用利用至少三個光束的例如“直線排列(in-line)方式”。此處的循跡誤差信號的各檢測方式的名稱是為了便于說明而取的名字。另外，例如具有岸溝(land-groove)結構的版本1的DVD-RAM的軌道間距是大致0.74μm，與此相對，具有岸溝結構的版本2.0和2.1的DVD-RAM的軌道間距是大致0.615μm。另外，例如具有與岸溝結構不同的結構的DVD-ROM、DVD-R、DVD-Rff等的軌道間距是大致0.74μm,與此相對，具有岸溝結構的版本2.0和2.1的DVD-RAM的軌道間距是大致0.615μπι。這樣，具有岸溝結構的版本1的DVD-RAM、具有與岸溝結構不同的結構的DVD-ROM、DVD-R、DVD-RW等、具有岸溝結構的版本2.0和2.1的DVD-RAM的軌道間距是不同的。首先，針對進行CD標準的誤差信號檢測時主要采用的“三光束方式”進行說明。在光拾取裝置中，如圖26所示那樣在半導體激光元件210與偏振光分束器230之間的光路上配置有CD用衍射光柵320。CD用衍射光柵320具備以固定的周期等間隔地刻出的直線狀的光柵槽，具有將從半導體激光元件210發(fā)出的激光通過衍射分成主光束(0次光)和兩個副光束(士1次衍射光束)的至少三個光束的功能。這三個光束經過偏振光分束器230、準直透鏡M0、物鏡250的結果如圖27的左側所示那樣在光盤D的信號層Da上形成與主光束對應的主光點100以及與兩個副光束分別對應的副光點101、102。此外，在光盤D的信號層Da上周期性地設置有用于記錄信號的軌道D100，主光點100以及副光點101、102的盤半徑方向的間隔δ通過圍繞光軸轉動調整⑶用衍射光柵320的方法等被調整成與軌道D100的周期Dtp的大致二分之一一致。然后，主光點100以及副光點101、102的反射光再次到達物鏡250、準直透鏡M0、偏振光分束器230，其一部分光量透過偏振光分束器230之后經過檢測透鏡260被入射至光檢測部270。在光檢測部270中如圖27的右側所示那樣配置有與主光點100以及副光點101、102的反射光各自對應的受光面200a、200b、200c。當主光點100以及副光點101、102的反射光各自被入射至受光面200a、200b、200c時，分別形成與主光點100對應的主檢測光點200以及與副光點101、102對應的副檢測光點201、202。在此，在主光點100正確地掃描到軌道DlOO上的情況下，副檢測光點201、202的光量是相同的。然而，在主光點100的掃描偏離軌道DlOO上的情況下，副檢測光點201、202之間的光量產生差異。因此，例如通過減法器400等對副檢測光點201、202的光量進行減法處理等，由此生成表示循跡的掃描偏離的循跡誤差信號。接著，針對在進行DVD標準的誤差信號檢測時主要采用的“直線排列方式”進行說明。作為直線排列方式的光學系統(tǒng)，基本上能夠基于與三光束方式大致相同的光學系統(tǒng)來檢測循跡誤差信號。但是，與三光束方式的光學系統(tǒng)相比，不同點在于使用如圖四的左側所示的DVD用衍射光柵340，在該DVD用衍射光柵340中，形成在一方的半平面341上的光柵槽的周期性結構的相位相對于形成在另一方的半平面342上的光柵槽的周期性結構的相位偏離了180度。在此，假設在與圖沈示出的⑶用衍射光柵320大致相同的位置處設置DVD用衍射光柵340來替換CD用衍射光柵320的情況。另外，為了對應直線排列方式，假設如下情況將DVD用衍射光柵340、聚光光學系統(tǒng)等的配置位置調整成如圖觀的左側所示那樣照射在光盤D的信號層Da的主光點100以及副光點101、102照射到同一個軌道DlOO上。在形成主檢測光點200的DVD用的主光束被照射至光檢測器270的受光面200a上時，與受光面200a相連接的減法器500a計算來自受光面200a的輸出信號的差并將該差例如生成為主推挽信號Μ。另外，在形成副檢測光點201的DVD用的第一副光束被照射至光檢測器270的受光面200b上時，與受光面200b相連接的減法器500b計算來自受光面200b的輸出信號的差并將其例如生成為先行副推挽信號％。另外，在形成副檢測光點202的DVD用的第二副光束被照射至光檢測器270的受光面200c上時，與受光面200c相連接的減法器500c計算來自受光面200c的輸出信號的差并將其例如生成為后行副推挽信號&。如圖觀的右側所示，從主檢測光點200檢測出的推挽信號以及從與副光點101,102分別對應的副檢測光點201、202檢測出的推挽信號SbJc是與三光束方式同樣地以相反的相位輸出的。之后，由加法器510將推挽信號SbJc相加，利用減法器530進行減法處理來從推挽信號^減去該相加得到的信號，由此能夠生成推挽信號Sa、Sb、Sc的各偏移成分抵消后的循跡誤差信號。另外，近年來提出了一種能夠進行CD標準的光盤和DVD標準的光盤這兩種光盤的記錄再現的光拾取裝置。此外，在該光拾取裝置中，為了簡化光學系統(tǒng)來降低成本，使用了具備CD用半導體激光元件和DVD用半導體激光元件的多激光單元，該CD用半導體激光元件發(fā)出適于⑶標準的紅外波長頻帶765nm805nm(納米)的第一波長的第一激光，該DVD用半導體激光元件發(fā)出適于DVD標準的紅色波長頻帶645nm675nm的第二波長的第二激光。另外，在該光拾取裝置中，為了進一步簡化光學系統(tǒng)，使用了與CD標準的三光束方式及DVD標準的直線排列方式這兩種方式對應的二波長對應衍射光柵(例如參照下面示出的專利文獻1)。例如二波長對應衍射光柵300A的結構為如圖四所示，在光學玻璃板360的厚度方向相向的一個平面和另一平面中，在該一個平面上粘著CD用衍射光柵320，而在該另一平面上粘著DVD用衍射光柵340。除了圖四所示的二波長對應衍射光柵300A的結構以外，例如還提出了如圖30所示的結構的二波長對應衍射光柵300B(例如參照下面示出的專利文獻2)。例如二波長對應衍射光柵300B的結構為在將包含液晶材料等構成的CD用衍射光柵320和DVD用衍射光柵340重疊粘著之后夾持在兩個光學玻璃板361、362之間并粘著。專利文獻1日本特開2007-164962號公報(第一頁、第1_8圖)專利文獻2日本特開2007-149249號公報(第一頁、第1_7圖)
發(fā)明內容發(fā)明要解決的問題然而，在使用了如上所述的將⑶用衍射光柵320和DVD用衍射光柵340組合而成的二波長對應衍射光柵300A或者300B的情況下，例如在使⑶標準的第一激光入射至⑶用衍射光柵320時，CD用衍射光柵320使該第一激光發(fā)生衍射而將該第一激光分為主光束(0次光)以及兩個副光束(士1次衍射光束)這三個光束。而且，這三個光束經由DVD通過衍射光柵340再次發(fā)生衍射而被分支。這樣，從多激光單元發(fā)出的第一激光或者第二激光通過二波長對應衍射光柵300A或者300B的CD用衍射光柵320和DVD用衍射光柵340這兩個光柵，其結果，在CD用衍射光柵320和DVD用衍射光柵340中分別發(fā)生衍射而被分支，因此導致產生了不需要的衍射光。其結果，產生如下問題循跡誤差信號等的誤差信號檢測精確度變差。另外，還產生了如下問題例如由于產生了不需要的衍射光，導致衍射光柵320、340中的0次光以及士1次衍射光的透過率下降，其結果，從多激光單元發(fā)出的射出光的利用效率下降。另外，近年來，為了能夠無錯誤地應對DVD-ROM、DVD-R、DVD-RW、DVD-RAM(版本1、2.0,2.1)等軌道間距Dtp不同的多種光盤D，市場上需要容易進行循跡控制等控制的高級的光拾取裝置或者具備容易進行循跡控制等控制的高級的光拾取裝置的光盤裝置。例如，市場上需要一種在進行軌道間距Dtp不同的多種光盤D的數據記錄/再現時不使循跡誤差信號等誤差信號的振幅隨著物鏡250的移動而劣化的光拾取裝置或者不使循跡誤差信號等誤差信號中殘留偏移成分的光拾取裝置。另外，還尋求一種可以解決上述問題且廉價的光拾取裝置、廉價的光盤裝置。用于解決問題的方案為了解決上述問題，本發(fā)明的方案1所涉及的光拾取裝置的特征在于，其至少具備發(fā)光元件，其至少能夠射出第一波長光和第二波長光；以及衍射光柵，其將上述第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束，并且將上述第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束，其中，在將向與上述第一波長光對應的第一介質照射了上述第一主光束和上述第一副光束時上述第一主光束與上述第一副光束的間隔設為Ypl，將向與上述第二波長光對應的第二介質照射了上述第二主光束和上述第二副光束時上述第二主光束與上述第二副光束的間隔設為Yp2的情況下，滿足下式(1)[式1]根據上述結構，構成了與第一波長光和第二波長光可靠對應且提高了誤差信號的檢測精確度的光拾取裝置。從發(fā)光元件射出的第一波長光經通過衍射光柵至少被分為第一主光束和第一副光束，在向第一介質照射第一主光束和第一副光束時，第一主光束和第一副光束以高精確度照射至第一介質。另外，從發(fā)光元件射出的第二波長光經通過衍射光柵至少被分為第二主光束和第二副光束，在向第二介質照射第二主光束和第二副光束時，第二主光束和第二副光束以高精確度照射至第二介質。方案2所涉及的光拾取裝置的特征在于，其至少具備發(fā)光元件，其至少能夠射出第一波長光和第二波長光；以及衍射光柵，其將上述第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束，并且將上述第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束，其中，在將向與上述第一波長光對應的第一介質照射了上述第一主光束和上述第一副光束時上述第一主光束的光強度相對于上述第一主光束的光強度與上述第一副光束的光強度的總和的光效率比設為Al，將向與上述第二波長光對應的第二介質照射了上述第二主光束和上述第二副光束時上述第二主光束的光強度相對于上述第二主光束的光強度與上述第二副光束的光強度的總和的光效率比設為Α2的情況下，滿足下式(2)和下式(3)0.90<Al<0.94...(2)0.87<Α2<0.91...(3)。根據上述結構，構成了與第一波長光和第二波長光可靠對應且提高了誤差信號的檢測精確度的光拾取裝置。從發(fā)光元件射出的第一波長光通過衍射光柵至少被分為第一主光束和第一副光束，在向第一介質照射第一主光束和第一副光束時，第一主光束和第一副光束可靠地照射至第一介質。另外，從發(fā)光元件射出的第二波長光通過衍射光柵至少被分為第二主光束和第二副光束，在向第二介質照射第二主光束和第二副光束時，第二主光束和第二副光束可靠地照射至第二介質。方案3所涉及的光拾取裝置的特征在于，其至少具備發(fā)光元件，其至少能夠射出第一波長光和第二波長光；以及衍射光柵，其與上述第二波長光對應，其中，上述發(fā)光元件中的上述第一波長光的發(fā)光位置與上述第二波長光的發(fā)光位置不同，與此對應地，與上述第一波長光對應的第一介質上的上述第一波長光的聚光位置和與上述第二波長光對應的第二介質上的上述第二波長光的聚光位置不同。根據上述結構，可以構成使第一波長光可靠地會聚到第一介質上且使第二波長光可靠地會聚到第二介質上的光拾取裝置。方案4所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案3所記載的光拾取裝置中，與大致呈圓板狀的上述第一介質上的上述第一波長光的聚光位置相比，大致呈圓板狀的上述第二介質上的上述第二波長光的聚光位置更靠近大致呈圓板狀的介質的內周側。根據上述結構，可以構成使第一波長光可靠地會聚到第一介質上且使第二波長光可靠地會聚到第二介質上的光拾取裝置。方案5所涉及的光拾取裝置的特征在于，將方案1所述的光拾取裝置與方案2所述的光拾取裝置合并而形成。根據上述結構，可以構成與第一波長光和第二波長光可靠地對應且提高了誤差信號的檢測精確度的光拾取裝置。從發(fā)光元件射出的第一波長光通過衍射光柵至少被分為第一主光束和第一副光束，在向第一介質照射第一主光束和第一副光束時，第一主光束和第一副光束以高精確度可靠地照射至第一介質。另外，從發(fā)光元件射出的第二波長光通過衍射光柵至少被分為第二主光束和第二副光束，在向第二介質照射第二主光束和第二副光束時，第二主光束和第二副光束以高精確度可靠地照射至第二介質。方案6所涉及的光拾取裝置的特征在于，將方案1所述的光拾取裝置與方案3所述的光拾取裝置合并而形成。根據上述結構，可以構成與第一波長光和第二波長光可靠地對應且提高了誤差信號的檢測精確度的光拾取裝置。從發(fā)光元件射出的第一波長光通過衍射光柵至少被分為第一主光束和第一副光束，在向第一介質照射第一主光束和第一副光束時，第一主光束和第一副光束以高精確度照射至第一介質。另外，從發(fā)光元件射出的第二波長光通過衍射光柵至少被分為第二主光束和第二副光束，在向第二介質照射第二主光束和第二副光束時，第二主光束和第二副光束以高精確度照射至第二介質?？梢詷嫵墒沟谝徊ㄩL光可靠地會聚到第一介質上且使第二波長光可靠地會聚到第二介質上的光拾取裝置。方案7所涉及的光拾取裝置的特征在于，將方案2所述的光拾取裝置與方案3所述的光拾取裝置合并而形成。根據上述結構，可以構成與第一波長光和第二波長光可靠地對應且提高了誤差信號的檢測精確度的光拾取裝置。從發(fā)光元件射出的第一波長光通過衍射光柵至少被分為第一主光束和第一副光束，在向第一介質照射第一主光束和第一副光束時，第一主光束和第一副光束可靠地照射至第一介質。另外，從發(fā)光元件射出的第二波長光通過衍射光柵至少被分為第二主光束和第二副光束，在向第二介質照射第二主光束和第二副光束時，第二主光束和第二副光束可靠地照射至第二介質?？梢詷嫵墒沟谝徊ㄩL光可靠地會聚到第一介質上且使第二波長光可靠地會聚到第二介質上的光拾取裝置。方案8所涉及的光拾取裝置的特征在于，將方案1所述的光拾取裝置、方案2所述的光拾取裝置以及方案3所述的光拾取裝置合并而形成。根據上述結構，可以構成與第一波長光和第二波長光可靠地對應且提高了誤差信號的檢測精確度的光拾取裝置。從發(fā)光元件射出的第一波長光通過衍射光柵至少被分為第一主光束和第一副光束，在向第一介質照射第一主光束和第一副光束時，第一主光束和第一副光束以高精確度可靠地照射至第一介質。另外，從發(fā)光元件射出的第二波長光通過衍射光柵至少被分為第二主光束和第二副光束，在向第二介質照射第二主光束和第二副光束時，第二主光束和第二副光束以高精確度可靠地照射至第二介質?？梢詷嫵墒沟谝徊ㄩL光可靠地會聚到第一介質上且使第二波長光可靠地會聚到第二介質上的光拾取裝置。方案9所涉及的光拾取裝置的特征在于，至少具備衍射光柵，其將第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束，將第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束，具有與上述第二波長光對應的衍射面部；以及光檢測器，其具有被照射上述第一主光束的第一主受光部、被照射上述第一副光束的第一副受光部、被照射上述第二主光束的第二主受光部及被照射上述第二副光束的第二副受光部，其中，相對于標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離，上述第一主受光部與上述第一副受光部之間的距離被變更。根據上述結構，可以構成抑制產生不需要的光的光拾取裝置。在光拾取裝置中配置具有與第二波長光對應的衍射面部的衍射光柵，如果在第一波長光透過與第二波長光對應的衍射光柵的衍射面部時第一波長光至少被分為第一主光束和第一副光束，可以大致防止第一波長光透過衍射光柵時產生不需要的光。另外，在第二波長光透過與第二波長光對應的衍射光柵的衍射面部時，不產生不需要的光，第二波長光至少被分為第二主光束和第二副光束。另外，由于相對于標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離，在該光檢測器中，第一主受光部與第一副受光部之間的距離被變更，因此可以避免產生如下問題在第一波長光透過與第二波長光對應的衍射光柵的衍射面部時，通過與第二波長光對應的衍射光柵的衍射面部分開得到的第一波長光的第一副光束不被照射至光檢測器的第一副受光部。本發(fā)明中的標準化是在說明例如廣泛普及的以往的技術等時為了便于說明而使用的。第一波長光透過與第二波長光對應的衍射光柵的衍射面部時幾乎不產生不需要的光而被分開得到的第一波長光的第一副光束被照射至與光檢測器的第一主受光部之間的距離被變更的第一副受光部。另外，第一波長光透過與第二波長光對應的衍射光柵時幾乎不產生不需要的光而被分開得到的第一波長光的第一主光束被照射至光檢測器的第一主受光部。另外，第二波長光透過與第二波長光對應的衍射光柵的衍射面部時幾乎不產生不需要的光而被分開得到的第二波長光的第二副光束被照射至光檢測器的第二副受光部。另外，第二波長光透過與第二波長光對應的衍射光柵的衍射面部時幾乎不產生不需要的光而被分開得到的第二波長光的第二主光束被照射至光檢測器的第二主受光部。方案10所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案9所記載的光拾取裝置中，變更后的上述第一主受光部與上述第一副受光部之間的上述距離被設定成比上述標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離長。根據上述結構，可以構成使信號的檢測精確度提高的光拾取裝置。可以容易地避免第一波長光通過衍射光柵的衍射面部被分開而產生的第一主光束對光檢測器的第一副受光部產生不良影響。還可以容易地避免第一波長光通過衍射光柵的衍射面部被分開而產生的第一副光束對光檢測器的第一主受光部產生不良影響。例如，如果變更后的第一主受光部與第一副受光部之間的距離被設定成比標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離短，則有可能第一主光束干擾光檢測器的第一副受光部。另外，例如如果變更后的第一主受光部與第一副受光部之間的距離被設定成比標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離短，則有可能第一副光束干擾光檢測器的第一主受光部。然而，由于與標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離相比，變更后的第一主受光部與第一副受光部之間的距離被設定成更長，因此可以容易地避免在向光檢測器的第一主受光部照射第一主光束時第一主光束干擾第一副受光部。另外，由于與標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離相比，變更后的第一主受光部與第一副受光部之間的距離被設定成更長，因此可以容易地避免在向光檢測器的第一副受光部照射第一副光束時第一副光束干擾第一主受光部。方案11所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案9所記載的光拾取裝置中，在將上述標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離的值設為100%的值時，變更后的上述第一主受光部與上述第一副受光部之間的上述距離的值相對于上述標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離的值被設定為大致111%的值。根據上述結構，可以構成使信號的檢測精確度提高的光拾取裝置。可以避免第一波長光通過衍射光柵的衍射面部被分開而產生的第一主光束對光檢測器的第一副受光部產生不良影響。還可以避免第一波長光通過衍射光柵的衍射面部被分開而產生的第一副光束對光檢測器的第一主受光部產生不良影響。例如，如果變更后的第一主受光部與第一副受光部之間的距離被設定成比標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離短，則有可能第一主光束干擾光檢測器的第一副受光部。另外，例如如果變更后的第一主受光部與第一副受光部之間的距離被設定成比標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離短，則有可能第一副光束干擾光檢測器的第一主受光部。然而，在標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離的值被決定為100%的值時，變更后的第一主受光部與第一副受光部之間的距離的值相對于標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離的值被設定為大致111%的值，因此可以避免在向光檢測器的第一主受光部照射第一主光束時第一主光束干擾第一副受光部。另外，在標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離的值被決定為100%的值時，變更后的第一主受光部與第一副受光部之間的距離的值相對于標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離的值被設定為大致111%的值，因此可以避免在向光檢測器的第一副受光部照射第一副光束時第一副光束干擾第一主受光部。方案12所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案9所記載的光拾取裝置中，在將標準化的第二主受光部與第二副受光部之間的距離的值設為100%的值時，上述第二主受光部與上述第二副受光部之間的上述距離的值相對于上述標準化的第二主受光部與第二副受光部之間的距離的值被設定為大致100%的值。根據上述結構，可以構成使信號的檢測精確度提高的光拾取裝置?？梢员苊獾诙ㄩL光通過衍射光柵的衍射面部被分開而產生的第二主光束對光檢測器的第二副受光部產生不良影響。還可以避免第二波長光通過衍射光柵的衍射面部被分開而產生的第二副光束對光檢測器的第二主受光部產生不良影響。例如，如果第二主受光部與第二副受光部之間的距離被設定成比標準化的第二主受光部與第二副受光部之間的距離短，則有可能第二主光束干擾光檢測器的第二副受光部。另外，例如如果第二主受光部與第二副受光部之間的距離被設定成比標準化的第二主受光部與第二副受光部之間的距離短，則有可能第二副光束干擾光檢測器的第二主受光部。然而，在標準化的第二主受光部與第二副受光部之間的距離的值被決定為100%的值時，第二主受光部與第二副受光部之間的距離的值相對于標準化的第二主受光部與第二副受光部之間的距離的值被設定為大致100%的值，因此可以避免在向光檢測器的第二主受光部照射第二主光束時第二主光束干擾第二副受光部。另外，在標準化的第二主受光部與第二副受光部之間的距離的值被決定為100%的值時，第二主受光部與第二副受光部之間的距離的值相對于標準化的第二主受光部與第二副受光部之間的距離的值被設定為大致100%的值，因此可以避免在向光檢測器的第二副受光部照射第二副光束時第二副光束干擾第二主受光部。方案13所涉及的光拾取裝置的特征在于，至少具備衍射光柵，其將第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束，將第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束，具有與上述第二波長光對應的衍射面部；以及光檢測器，其具有被照射上述第一主光束的第一主受光部、被照射上述第一副光束的第一副受光部、被照射上述第二主光束的第二主受光部及被照射上述第二副光束的第二副受光部，其中，以上述第一主受光部為中心配置一對位置被變更的上述第一副受光部，在前側的上述第一副受光部、中央的上述第一主受光部以及后側的上述第一副受光部并列設置時，前側的上述第一副受光部、中央的上述第一主受光部以及后側的上述第一副受光部的分光比相對于標準化的前側的第一副受光部、中央的第一主受光部以及后側的第一副受光部的分光比被變更。根據上述結構，可以構成抑制產生不需要的光的光拾取裝置。在光拾取裝置中配置具有與第二波長光對應的衍射面部的衍射光柵，如果在第一波長光透過與第二波長光對應的衍射光柵的衍射面部時，第一波長光至少被分為第一主光束和第一副光束，則可以大致防止第一波長光透過衍射光柵時產生不需要的光。另外，在第二波長光透過與第二波長光對應的衍射光柵的衍射面部時，不會產生不需要的光，第二波長光至少被分為第二主光束和第二副光束。另外，可以通過設定變更后的光檢測器容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。在第一波長光透過具有與第二波長光對應的衍射面部的衍射光柵而第一波長光至少被分為前側的第一副光束、中央的第一主光束以及后側的第一副光束時，如果被照射前側的第一副光束的第一副受光部、被照射中央的第一主光束的第一主受光部以及被照射后側的第一副光束的第一副受光部的分光比相對于標準化的前側的第一副受光部、中央的第一主受光部以及后側的第一副受光部的分光比被變更，則可以通過設定變更后的光檢測器容易地高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案14所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案13所記載的光拾取裝置中，以上述第一主受光部為中心配置一對位置被變更的上述第一副受光部，在前側的上述第一副受光部、中央的上述第一主受光部以及后側的上述第一副受光部并列設置時，前側的上述第一副受光部、中央的上述第一主受光部以及后側的上述第一副受光部的分光比被設為大致1Uo26)1。根據上述結構，可以通過設定變更后的光檢測器高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。例如，在第一波長光透過具有與第一波長光對應的第一衍射面部和與第二波長光對應的第二衍射面部的以往的衍射光柵而第一波長光至少被分為前側的第一副光束、中央的第一主光束以及后側的第一副光束時，被照射前側的第一副光束的前側的第一副受光部、被照射中央的第一主光束的中央的第一主受光部以及被照射后側的第一副光束的后側的第一副受光部的分光比被設定為例如大致1161，由此可以通過以往的標準化的光檢測器高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。然而，省略與第一波長光對應的衍射面部，在第一波長光透過具有與第二波長光對應的衍射面部的衍射光柵而第一波長光至少被分為前側的第一副光束、中央的第一主光束以及后側的第一副光束的情況下，如果被照射前側的第一副光束的前側的第一副受光部、被照射中央的第一主光束的中央的第一主受光部以及被照射后側的第一副光束的后側的第一副受光部的分光比被設定為例如大致1161，在以往的標準化的光檢測器中有可能無法高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。與此相對，在第一波長光透過具有與第二波長光對應的衍射面部的衍射光柵而第一波長光至少被分為前側的第一副光束、中央的第一主光束以及后側的第一副光束時，如果被照射前側的第一副光束的前側的第一副受光部、被照射中央的第一主光束的中央的第一主受光部以及被照射后側的第一副光束的后側的第一副受光部的分光比設定為大致1(20沈)1，則能夠通過設定變更后的光檢測器高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。在將被照射前側的第一副光束15的前側的第一副受光部、被照射中央的第一主光束的中央的第一主受光部以及被照射后側的第一副光束的后側的第一副受光部的分光比例如設為大致1不足201的情況下或者在將該分光比設為例如大致1大于沈1的情況下，有可能無法高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測，但是通過將該分光比設定為大致1(20沈)1、優(yōu)選1(2125)1，能夠高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案15所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案13所記載的光拾取裝置中，以上述第二主受光部為中心配置一對上述第二副受光部，在前側的上述第二副受光部、中央的上述第二主受光部以及后側的上述第二副受光部并列設置時，前側的上述第二副受光部、中央的上述第二主受光部以及后側的上述第二副受光部的分光比被設為大致1(1218)1。根據上述結構，可以通過光檢測器高精確度地進行第二主光束的檢測和第二副光束的檢測。在第二波長光透過具有與第二波長光對應的衍射面部的衍射光柵而第二波長光至少被分為前側的第二副光束、中央的第二主光束以及后側的第二副光束時，如果被照射前側的第二副光束的前側的第二副受光部、被照射中央的第二主光束的中央的第二主受光部以及被照射后側的第二副光束的后側的第二副受光部的分光比設定為大致1(1218)1，則能夠通過光檢測器高精確度地進行第二主光束的檢測和第二副光束的檢測。在被照射前側的第二副光束的前側的第二副受光部、被照射中央的第二主光束的中央的第二主受光部以及被照射后側的第二副光束的后側的第二副受光部的分光比例如設為大致1小于121的情況下或者在該分光比例如設為1大于181的情況下，有可能無法高精確度地進行第二主光束的檢測和第二副光束的檢測，但是通過將該分光比設定為大致1(1218)1、優(yōu)選大致1(1418)1，能夠高精確度地進行第二主光束的檢測和第二副光束的檢測。方案16所涉及的光拾取裝置的特征在于，至少具備衍射光柵，其將第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束，將第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束，具有與上述第二波長光對應的衍射面部；以及光檢測器，其具有被照射上述第一主光束的第一主受光部、被照射上述第一副光束的第一副受光部、被照射上述第二主光束的第二主受光部以及被照射上述第二副光束的第二副受光部，其中，相對于標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值，上述第一主受光部的受光靈敏度的值被變更或者設為與上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值相同，相對于標準化的第一副受光部的受光靈敏度的值，上述第一副受光部的受光靈敏度的值被變更。根據上述結構，可以構成抑制產生不需要的光的光拾取裝置。在光拾取裝置中配置具有與第二波長光對應的衍射面部的衍射光柵，如果第一波長光透過與第二波長光對應的衍射光柵的衍射面部時第一波長光至少被分為第一主光束和第一副光束，則可以大致防止在第一波長光透過衍射光柵時產生不需要的光。另外，在第二波長光透過與第二波長光對應的衍射光柵的衍射面部時幾乎不產生不需要的光，第二波長光至少被分為第二主光束和第二副光束。另外，可以通過設定變更后的光檢測器容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。相對于標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值，第一主受光部的受光靈敏度的值被變更或者設為與標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值相同，相對于標準化的第一副受光部的受光靈敏度的值，第一副受光部的受光靈敏度的值被變更，由此可以通過設定變更后的光檢測器容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案17所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案16所記載的光拾取裝置中，在將上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值設為100%的值時，相對于上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值，被變更或者設為與上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值相同的、上述第一主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%或者大致100%以下的低的值，在將上述標準化的第一副受光部的受光靈敏度的值設為100%的值時，相對于上述標準化的第一副受光部的受光靈敏度的值，變更后的上述第一副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%以上的高的值。根據上述結構，可以通過設定變更后的光檢測器容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。相對于標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值被設為100%，被變更或者設為與標準化的第一主受光部的受光靈敏度相同的第一主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%或者大致100%以下的低的值，相對于標準化的第一副受光部的受光靈敏度的值被設為100%，變更后的第一副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%以上的高的值，由此可以通過設定變更后的光檢測器容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案18所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案16所記載的光拾取裝置中，在將上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值設為100%的值時，相對于上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值，被變更或者設為與上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值相同的、上述第一主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致95%100%的值，在將上述標準化的第一副受光部的受光靈敏度的值設為100%的值時，相對于上述標準化的第一副受光部的受光靈敏度的值，變更后的上述第一副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致120%160%的值。根據上述結構，可以通過設定變更后的光檢測器容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。相對于標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值被設為100%，被變更或者設為與標準化的第一主受光部的受光靈敏度相同的第一主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致95%100%的值，相對于標準化的第一副受光部的受光靈敏度的值被設為100%，另一方面，變更后的第一副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致120%160%的值，由此可以通過設定變更后的光檢測器容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案19所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案16所記載的光拾取裝置中，在將標準化的第二主受光部的受光靈敏度的值設為100%的值時，相對于上述標準化的第二主受光部的受光靈敏度的值，上述第二主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%的值，在將標準化的第二副受光部的受光靈敏度的值設為100%的值時，相對于上述標準化的第二副受光部的受光靈敏度的值，上述第二副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%的值。根據上述結構，可以通過光檢測器高精確度地進行第二主光束的檢測和第二副光束的檢測。相對于標準化的第二主受光部的受光靈敏度的值被設為100%，第二主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%的值，另一方面，相對于標準化的第二副受光部的受光靈敏度的值被設為100%，第二副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%的值，由此可以通過光檢測器高精確度地進行第二主光束的檢測和第二副光束的檢測。方案20所涉及的光拾取裝置的特征在于，至少具備衍射光柵，其將第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束，將第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束，具有與上述第二波長光對應的衍射面部；以及光檢測器，其具有被照射上述第一主光束的第一主受光部、被照射上述第一副光束的第一副受光部、被照射上述第二主光束的第二主受光部及被照射上述第二副光束的第二副受光部，其中，相對于從標準化的第一主受光部輸出的信號的值，從上述第一主受光部輸出的信號的值被變更或者設為與從標準化的第一主受光部輸出的信號的值相同，相對于從標準化的第一副受光部輸出的信號的值，從上述第一副受光部輸出的信號的值被變更。根據上述結構，可以構成抑制產生不需要的光的光拾取裝置。在光拾取裝置中配置具有與第二波長光對應的衍射面部的衍射光柵，如果第一波長光透過與第二波長光對應的衍射光柵的衍射面部時第一波長光至少被分為第一主光束和第一副光束，則可以大致防止在第一波長光透過衍射光柵時產生不需要的光。另外，在第二波長光透過與第二波長光對應的衍射光柵的衍射面部時幾乎不會產生不需要的光，第二波長光至少被分為第二主光束和第二副光束。另外，可以容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。相對于從標準化的第一主受光部輸出的信號的值，從第一主受光部輸出的信號的值被變更或者設為與從標準化的第一主受光部輸出的信號的值相同，相對于從標準化的第一副受光部輸出的信號的值，從第一副受光部輸出的信號的值被變更，由此可以容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案21所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案20所記載的光拾取裝置中，在將從上述標準化的第一主受光部輸出的信號的值設為100%的值時，相對于從上述標準化的第一主受光部輸出的信號的值，被變更或者設為與從上述標準化的第一主受光部輸出的信號的值相同的、從上述第一主受光部輸出的信號的值被設定為大致100%或者大致100%以下的低的值，在將從上述標準化的第一副受光部輸出的信號的值設為100%的值時，相對于從上述標準化的第一副受光部輸出的信號的值，變更后的從上述第一副受光部輸出的信號的值被設定為大致100%以上的高的值。根據上述結構，可以容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。相對于從標準化的第一主受光部輸出的信號的值被設為100%，從被變更或者設為與標準化的第一主受光部相同的第一主受光部輸出的信號的值被設定為大致100%或者大致100%以下的低的值，相對于從標準化的第一副受光部輸出的信號的值被設為100%，變更后的從第一副受光部輸出的信號的值被設定為大致100%以上的高的值，由此可以容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案22所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案20所記載的光拾取裝置中，在將從上述標準化的第一主受光部輸出的信號的值設為100%的值時，相對于從上述標準化的第一主受光部輸出的信號的值，被變更或者設為與從上述標準化的第一主受光部輸出的信號的值相同的、從上述第一主受光部輸出的信號的值被設定為大致95%100%的值，在將從上述標準化的第一副受光部輸出的信號的值設為100%的值時，相對于從上述標準化的第一副受光部輸出的信號的值，變更后的從上述第一副受光部輸出的信號的值被設定為大致120%160%的值。根據上述結構，可以容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。相對于從標準化的第一主受光部輸出的信號的值被設為100%，被變更或者設為與從標準化的第一主受光部輸出的信號的值相同的、從第一主受光部輸出的信號的值被設定為大致95%100%的值，另一方面，相對于從標準化的第一副受光部輸出的信號的值被設為100%，變更后的從第一副受光部輸出的信號的值被設定為大致120%160%的值，由此可以容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案23所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案20所記載的光拾取裝置中，在將從標準化的第二主受光部輸出的信號的值設為100%的值時，相對于從上述標準化的第二主受光部輸出的信號的值，從上述第二主受光部輸出的信號的值被設定為大致100%的值，在將從標準化的第二副受光部輸出的信號的值設為100%的值時，相對于從上述標準化的第二副受光部輸出的信號的值，從上述第二副受光部輸出的信號的值被設定為大致100%的值。根據上述結構，可以通過光檢測器高精確度地進行第二主光束的檢測和第二副光束的檢測。相對于從標準化的第二主受光部輸出的信號的值被設為100%，從第二主受光部輸出的信號的值被設定為大致100%的值，相對于從標準化的第二副受光部輸出的信號的值被設為100%，從第二副受光部輸出的信號的值被設定為大致100%的值，由此可以通過光檢測器高精確度地進行第二主光束的檢測和第二副光束的檢測。方案M所涉及的光拾取裝置的特征在于，將方案9所述的光拾取裝置與方案13所述的光拾取裝置合并而形成。根據上述結構，可以構成抑制產生不需要的光的光拾取裝置。另外，可以通過設定變更后的光檢測器容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案25所涉及的光拾取裝置的特征在于，將方案9所述的光拾取裝置與方案16所述的光拾取裝置合并而形成。根據上述結構，可以構成抑制產生不需要的光的光拾取裝置。另外，可以通過設定變更后的光檢測器容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案沈所涉及的光拾取裝置的特征在于，將方案9所述的光拾取裝置與方案20所述的光拾取裝置合并而形成。根據上述結構，可以構成抑制產生不需要的光的光拾取裝置。方案27所涉及的光拾取裝置的特征在于，將方案13所述的光拾取裝置與方案16所述的光拾取裝置合并而形成。根據上述結構，可以構成抑制產生不需要的光的光拾取裝置。另外，可以通過設定變更后的光檢測器容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案觀所涉及的光拾取裝置的特征在于，將方案13所述的光拾取裝置與方案20所述的光拾取裝置合并而形成。根據上述結構，可以構成抑制產生不需要的光的光拾取裝置。另外，可以通過設定變更后的光檢測器容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案四所涉及的光拾取裝置的特征在于，將方案9所述的光拾取裝置、方案13所述的光拾取裝置以及方案16所述的光拾取裝置合并而形成。根據上述結構，可以構成抑制產生不需要的光的光拾取裝置。另外，可以通過設定變更后的光檢測器容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案30所涉及的光拾取裝置的特征在于，將方案9所述的光拾取裝置、方案13所述的光拾取裝置以及方案20所述的光拾取裝置合并而形成。根據上述結構，可以構成抑制產生不需要的光的光拾取裝置。另外，可以通過設定變更后的光檢測器容易且高精確度地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。方案31所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置中，上述衍射光柵的衍射面部兼具將上述第一波長光至少分為上述第一主光束和上述第一副光束的衍射面部以及將上述第二波長光至少分為上述第二主光束和上述第二副光束的衍射面部。根據上述結構，可以構成如下一種光拾取裝置能夠在抑制衍射光柵中產生不需要的衍射光的同時防止光效率的降低，并且將價格抑制為較低。如果衍射光柵的衍射面部兼具將第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束的衍射面部以及將第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束的衍射面部而形成，則可以避免第一波長光發(fā)生不必要的衍射而導致第一波長光的效率下降、第二波長光發(fā)生不必要的衍射而導致第二波長光的效率下降。另外，由于兼具將第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束的衍射面部以及將第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束的衍射面部來形成衍射光柵的衍射面部，因此可以構成減少了加工部分、加工工時的衍射光柵。由于衍射光柵的加工部分、加工工時被減少，因此可以將衍射光柵的價格抑制為較低。與此同時，能夠構成能夠將價格抑制為較低的光拾取裝置。方案32所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置中，上述衍射光柵被分割為多個區(qū)域部。根據上述結構，可以良好且容易地進行光拾取裝置對介質進行的誤差信號的檢測。例如，可以良好且容易地進行光拾取裝置對介質的循跡。介質用于記錄信息并作為媒介或者用于記錄信息并進行傳遞。另外，光拾取裝置的循跡是指跟隨介質的半徑方向的振動而使光點始終位于目標軌道上。衍射光柵被分割為多個區(qū)域部而構成，由此各自獨立的至少三個光點照射到介質。由于至少三個光點分別獨立地照射至介質，因此可以容易地避免在進行兩種以上的介質的記錄/再現時等循跡誤差信號等的誤差信號的檢測精確度降低。方案33所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案1、2、3、9、13、16和20中的任一項所述的光拾取裝置中，上述衍射光柵被分割為偶數個區(qū)域部。根據上述結構，形成在介質上的光點可以被形成為高精確度的光點。例如由于將衍射光柵進行偶數分割而分割為一個區(qū)域部和另一區(qū)域部，因此在光拾取裝置中配置衍射光柵時，容易地使照射到衍射光柵的光以大致二等分的狀態(tài)照射至衍射光柵的一個區(qū)域部和衍射光柵的另一區(qū)域部。通過光容易地以大致二等分的狀態(tài)照射至衍射光柵的一個區(qū)域部和衍射光柵的另一區(qū)域部，衍射光柵可以容易且高精確度地配置在光拾取裝置中。因而，容易且高精確度地在介質上形成光點。與此同時，進行兩種以上介質的記錄/再現時等的誤差信號的檢測精確度提高。方案34所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置中，上述衍射光柵至少被分割為第一區(qū)域部、第二區(qū)域部、第三區(qū)域部以及第四區(qū)域部這四個區(qū)域部。根據上述結構，可以良好地進行光拾取裝置對介質的誤差信號的檢測。例如，可以良好地進行光拾取裝置對介質的循跡。通過將衍射光柵分割為四個區(qū)域部而構成，各自獨立的至少三個光點照射在介質。由于至少三個光點分別獨立地照射在介質，因此可以避免在進行兩種以上介質的記錄/再現時等循跡誤差信號等的誤差信號的檢測精確度下降。方案35所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置中，具備能夠射出多種波長光的發(fā)光元件。根據上述結構，可以伴隨光拾取裝置的部件件數的削減而實現價格的降低。發(fā)光元件構成為能夠射出例如第一波長光和第二波長光的至少兩種以上的波長光的、射出多種波長光的發(fā)光元件，因此光拾取裝置能夠對應多種介質。另外，與此同時，能夠射出第一波長光的發(fā)光元件和能夠射出第二波長光的發(fā)光元件至少被集成為一個發(fā)光元件，因此能夠實現光拾取裝置的部件的削減。隨著光拾取裝置的部件的削減，可以將光拾取裝置的價格抑制為較低。因而，能夠提供實現了部件的削減、價格的降低的光拾取裝置。方案36所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置中，上述第一波長光的波長為大致765nm840nm，上述第二波長光的波長為大致630nm685nm。根據上述結構，可以大致防止在大致765nm840nm的波長光的第一波長光透過衍射光柵時產生不需要的光。另外，可以大致防止在大致630nm685nm的波長光的第二波長光透過衍射光柵時產生不需要的光。方案37所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置中，上述第一波長光的波長為大致630nm685nm，上述第二波長光的波長為大致340nm450nm。根據上述結構，可以大致防止在大致630nm685nm的波長光的第一波長光透過衍射光柵時產生不需要的光。另外，可以大致防止在大致340nm450nm的波長光的第二波長光透過衍射光柵時產生不需要的光。方案38所涉及的光拾取裝置的特征在于，在方案1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置中，能夠對應具有多個信號面部的介質。根據上述結構，可以良好地由光拾取裝置對具有多個信號面部的介質進行信號、信息的讀取和/或由光拾取裝置對具有多個信號面部的介質進行信號、信息的寫入等。根據上述結構，可以提供一種與波長不同的兩種以上的激光對應并抑制不需要的衍射光來提高誤差信號的檢測精確度的光拾取裝置。方案39所涉及的光拾取裝置的特征在于，至少具備方案1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置。根據上述結構，可以構成至少具備能夠解決上述各種問題中的至少一個問題的光拾取裝置的光盤裝置。發(fā)明的效果根據本發(fā)明，能夠構成一種與第一波長光和第二波長光可靠地對應且提高了誤差信號的檢測精確度的光拾取裝置。另外，根據本發(fā)明，能夠構成一種使第一波長光可靠地會聚在第一介質上且使第二波長光可靠地會聚在第二介質上的光拾取裝置。另外，根據本發(fā)明，能夠構成一種抑制產生不需要的光的光拾取裝置。另外，根據本發(fā)明，能夠通過設定變更后的光檢測器高精確度且容易地進行第一主光束的檢測和第一副光束的檢測。另外，根據本發(fā)明，能夠提供一種與波長不同的兩種以上的激光對應并抑制不需要的衍射光來提高誤差信號的檢測精確度的光拾取裝置。另外，根據本發(fā)明，能夠構成一種至少具備能夠至少解決上述各種問題中的至少一個問題的光拾取裝置的光盤裝置。圖1是本發(fā)明的一個實施方式所涉及的光拾取裝置的光學配置圖。圖2是本發(fā)明的一個實施方式所涉及的光拾取裝置的說明圖。圖3是本發(fā)明的一個實施方式所涉及的光拾取裝置的說明圖。圖4是用于說明本發(fā)明的一個實施方式所涉及的衍射光柵的圖。圖5是用于說明本發(fā)明的一個實施方式所涉及的直線排列方式中的光盤上的聚光點配置以及循跡誤差信號檢測系統(tǒng)的概要的圖。圖6是表示本發(fā)明的一個實施方式所涉及的運算處理電路的整體結構的圖。圖7是用于說明本發(fā)明的一個實施方式所涉及的光檢測器的受光區(qū)域的圖。圖8是用于說明本發(fā)明的一個實施方式所涉及的光檢測器的受光區(qū)域中的各受光部間隔的導出方法的圖。圖9是表示配置在光拾取裝置中的衍射光柵的第一實施方式的概要俯視圖。圖10是表示圖9的衍射光柵中的光盤半徑方向與相位差的關系的圖。圖11是表示配置在光拾取裝置中的衍射光柵的第二實施方式的概要圖。圖12是表示配置在光拾取裝置中的衍射光柵的第三實施方式的概要俯視圖。圖13是表示圖12的衍射光柵中的光盤半徑方向與相位差的關系的圖。圖14是表示配置在光拾取裝置中的衍射光柵的第四實施方式的概要俯視圖。圖15是表示圖14的衍射光柵中的光盤半徑方向與相位差的關系的圖。圖16是表示光拾取裝置的視場特性的說明圖。圖17是表示光拾取裝置的視場特性的說明圖。圖18是表示光拾取裝置的視場特性的說明圖。圖19是表示光拾取裝置的副推挽信號振幅水平特性的說明圖。圖20是表示光拾取裝置的副推挽信號振幅水平特性的說明圖。圖21是表示光拾取裝置的副推挽信號振幅水平特性的說明圖。圖22是表示光拾取裝置的循跡誤差相位差特性的說明圖。圖23是表示光拾取裝置的循跡誤差相位差特性的說明圖。圖24是表示光拾取裝置的循跡誤差相位差特性的說明圖。圖25是表示光盤裝置、光拾取裝置的第五實施方式的概要圖。圖26是表示以往的光拾取裝置的光學系統(tǒng)的圖。圖27是用于說明三光束方式的圖。圖觀是用于說明直線排列方式的圖。圖四是用于說明以往的二波長對應衍射光柵的圖。圖30是用于說明以往的其它二波長對應衍射光柵的圖。附圖標記說明20,320,340衍射光柵部(衍射光柵)；20a.30a.40a衍射面部(面部)；21、22、341,342半平面(區(qū)域部)；21w、22w、31w、32w、33w、40w、41w、44w寬度；26、35、37、45、46、47邊界線部(邊界部)；30m、40m中央部；31、41第一區(qū)域部(區(qū)域部)；32、42第二區(qū)域部(區(qū)域部)；33、43第三區(qū)域部(區(qū)域部)；42w、43w分割部寬度(寬度)；44第四區(qū)域部(區(qū)域部)；48—個區(qū)域部；49另一區(qū)域部；50、360、361、362光學玻璃板(玻璃基板)；50a平面部；61激光單元(發(fā)光元件)；61a發(fā)光面；62第一光源(光源)；63第二光源(光源)；64A、64B、64C、64D衍射光柵；65耦合透鏡；65ii受光元件；66,230偏振光分束器；67J40準直透鏡；681/4波長板；69反射鏡；70、250物鏡；70a光瞳面部；70b,70c光的直徑(直徑)；71,72平行平板(像散元件)；73A.73B.270光檢測器(光檢測裝置)；73s同一受光面部(受光面部)；74、75、沘0、四0受光區(qū)域(區(qū)域)；74A、75A主受光部(受光部);74Aa、74Ab、74Ac、74Ad、74AL、74AR、74Ba、74Bb、74Bc、74Bd、74BL、74BR、74Ca、74Cb、74Cc、74Cd、74CL、74CR、75Aa、75Ab、75Ac、75Ad、75Ba、75Bb、75Bc、75Bd、75Ca、75Cb、75Cc、75Cd片段(光檢測面部)；74Ax、74Ay、74Bx、74By、74Cx、74Cy、75Ax、75Ay、75Bx、75By、75Cx、75Cy分割線；74B、74C、75B、75C副受光部(受光部)；76A、76B運算部；77A、77B、77C、78A差動放大器(減法器)；77D、77E、77F、77G、77H、77I、78C、510加法器；77DL1、77DR1、77EL1、77ER1、77FL1、77FR1、77GL1、77GR1、77HL1、77HR1、77IL1、77IR1電流/電壓轉換放大器(放大器)；77DL2、77DR2、77EL2、77ER2、77FL2、77FR2、77GL2、77GR2、77HL2、77HR2、77IL2、77IR2后級放大器(放大器)；78B.78BV增幅放大器(增幅器)；79物鏡驅動部(驅動部)；80、100:主光點(光點)；81、82、101、102副光點(光點)；90i、90ii、200主檢測光點(光點)；91i、91ii、92i、92ii、201、202副檢測光點(光點)；200a、200b,200c受光面(受光部)；210半導體激光元件；260檢測透鏡；300A.300B二波長對應衍射光柵(衍射光柵)；302第一衍射面部(衍射面部)；304第二衍射面部(衍射面部)；400、500a、500b、500c、530減法器；D光盤(介質)；D80、DlOO軌道；D84內周側；D88外周側；Da信號層(信號面部)；DLO第一層(層)；DLl第二層(層)；Dtp軌道間距(周期)；d光柵間隔；L法線距離；N法線；0、X發(fā)光點；0a,Xb、Xe、0(cd)、X(cd)、0(dvd)、X(dvd):照射點；S:面；Sll凹部；S12凸部；S21凹面；S22凸面；Si底面;Sii外表面；Siii、Siv側面；SA1、Sal、SA2、Sa、SB1、Sbl、SB2、Sb、SC1、&1、SC2、&推挽信號；SD1、Sdl、SD2加法副推挽信號(信號)；SE1、Sel、SE2循跡誤差信號(循跡誤差信號)；TAal、TAabl、TAbl、TAcl、TAcdl、TAdl、TALI、TARl、TBal、TBabl、TBbl、TBcl、TBcdl、TBdl、TBLl、TBRl、TCal、TCab1、TCb1、TCc1、TCcdl、TCdl、TCLl、TCRl光電轉換信號(信號)；UAal、UAbl、UAcl、UAdl、UBal、UBbl、UBcl、UBdl、UCal、UCbl、UCcl、UCdl受光輸出信號(信號)；Yp>Ys(cd),Ys(dvd),Yt(cd),Yt(dvd)間隔(距離)距離；θ衍射角;δ間隔。具體實施例方式23下面，根據附圖詳細說明本發(fā)明所涉及的光拾取裝置以及具備光拾取裝置的光盤裝置的實施方式。實施例1光拾取裝置的光學系統(tǒng)》圖1是本發(fā)明的一個實施方式所涉及的光拾取裝置的光學配置圖，圖2和圖3是用于說明本發(fā)明的一個實施方式所涉及的光拾取裝置的說明圖。此外，該光拾取裝置對應⑶標準(⑶-ROM、⑶-R、⑶-RW等)或者DVD標準(DVD-ROM、DVD-RAM(版本1、2·0、2·1)、DVD-R、DVD+R、DVD-RW、DVD+RW等)的光盤D等介質D。介質用于記錄信息并作為媒介或者用于記錄信息并進行傳遞。例如，此處的介質是指保存數據、信息、信號等的盤等。一個軌道從大致呈圓板狀的光盤D的內周側D84向外周側D88形成為大致螺旋狀。作為盤，列舉出上述各種光盤。另外，例如還列舉出“CBHD(ChinaBlueHigh-Definition:中國藍光高清光盤)”標準(例如，原名為“CH-DVD”標準)等的光盤(未圖示)，該“CBHD”標準等的光盤是基于中國規(guī)定的標準的光盤。另外，作為盤，例如還列舉出在盤兩面設置信號面并能夠進行數據寫入/刪除、數據重寫等的光盤D等。另外，作為盤，例如還列舉出設置兩層信號面并能夠進行數據寫入/刪除、數據重寫等的光盤D等。另外，例如還列舉出設置三層信號面并能夠進行數據寫入/刪除、數據重寫等的“HDDVD”用光盤(未圖示)等。另外，例如還列舉出設置四層信號面并能夠進行數據寫入/刪除、數據重寫等的“Blu-rayDisc”用光盤(未圖示)等。另外，還列舉出通過對盤的標簽面?zhèn)鹊纫舱丈浼す鈦砟軌蜻M行寫入標簽等的各種處理的光盤D等。光盤D的信號層Da例如由金屬薄膜等金屬層等形成。在由金屬薄膜等形成的信號層Da中記錄信息、數據等。具備光拾取裝置的光盤裝置例如能夠對應上述各種盤。利用具備光拾取裝置的光盤裝置，來對記錄在各種光盤中的信息等數據進行再現。另外，利用具備光拾取裝置的光盤裝置，來對各種光盤進行信息等的數據記錄等。該光拾取裝置中的光盤D的聚光點的聚焦檢測法例如是基于像散法的檢測法。像散法是指例如通過檢測由具有像散的光學系統(tǒng)成像得到的點像失真來檢測聚光點的移動的方法。另外，作為聚焦檢測法，例如列舉基于差動像散法的檢測法等。如上所述，差動像散法是指例如通過檢測由具有像散的光學系統(tǒng)成像得到的點像失真來檢測聚光點的移動的方法。另外，差動像散法是指例如從在主光點處生成的焦點誤差信號中減去乘以規(guī)定的系數后的、在副光點處生成的焦點誤差信號來生成焦點誤差信號的方法，將推挽泄漏(,ν工&漏)抑制為較小。該光拾取裝置中的聚光點的聚焦檢測法例如是基于像散法、差動像散法等的檢測法。具體地說，該光拾取裝置為具備基于差動像散法的光學系統(tǒng)的光拾取裝置。此外，作為聚焦檢測法，例如也可以利用傅科(Rmcault)法、刀口(Knife-edge)法等其它檢測法或者與差動像散法合用。根據各光盤D的種類等，適當地自動選擇例如差動像散法等各聚焦檢測法。另外，該光拾取裝置中的光盤D的聚光點的循跡檢測法例如是基于差動推挽法、相位差法等的檢測法。如上所述，差動推挽法是指例如利用數據讀寫用的主光束和對位置偏移的校正信號進行檢測的兩個副光束來檢測聚光點的移動的方法。另外，作為循跡檢測法，例如列舉出基于包含相位差法等的DPD(DifferentialPhaseDetection差動相位檢測)法檢測法等。具體地說，作為循跡檢測法，例如列舉出基于由四分割型光檢測裝置73A檢測出的相位差信號的相位差法。該光拾取裝置中的聚光點的循跡檢測法例如利用基于DPP法、DPD法、相位差法、外差檢波法等的檢測法或者合用這些方法。另外，根據各光盤D的種類等，適當地自動選擇例如相位差法等各循跡檢測法。另外，該光拾取裝置的光檢測裝置73A例如構成為光檢測器73A。激光單元61是在同一發(fā)光面61a上具有第一光源62和第二光源63的多激光單元，該第一光源62發(fā)出適于⑶標準的紅外波長頻帶765nm840nm的第一波長(例如782nm)的第一激光，該第二光源63發(fā)出適于DVD標準的紅色波長頻帶630nm685nm的第二波長(例如655nm)的第二激光。激光單元61構成為能夠射出第一激光和第二激光這兩種波長的激光的例如二波長發(fā)光元件61，該第二激光為波長與第一激光的波長不同且比第一激光的波長短的激光。這樣，激光單元61是能夠射出多種波長的激光的發(fā)光元件61。此外，第一光源62、第二光源63構成半導體激光元件。從構成激光單元61的第一光源62和/或第二光源63例如射出0.2mff以上且500mff(毫瓦)以下、具體地說是2mW以上且400mW以下的輸出值的激光。例如在設為小于0.2mW的輸出值的激光的情況下，照射至光盤D之后被反射到達光檢測器73A的激光的光量不足。在再現光盤D的各數據等時，以例如0.2mff以上、優(yōu)選0.5mff以上、更優(yōu)選2mW以上且20mW以下的程度的幾mW幾十mW的輸出值的激光是足夠的。在向光盤D寫入各數據等時，需要幾十mW幾百mW的輸出值的激光。例如在向光盤D高速地寫入各數據等時，有時需要400mW、500mW等這樣高的輸出值的脈沖激光。激光單元61例如構成為散熱性好的大致圓筒狀或者大致圓柱狀的CAN封裝型的激光二極管。根據光拾取裝置的設計/標準等，也可以利用例如能夠對應薄型化、小型化等的大致板狀的引線框架封裝型的激光二極管(未圖示)來代替CAN封裝型的激光單元61。從第一光源62和第二光源63分別射出的第一激光和第二激光通過被四分割等分割成多個部分的衍射光柵64A發(fā)生衍射以產生由主光束(0次光)以及兩個副光束(士1次衍射光束)形成的至少三光束，之后，通過例如耦合透鏡65i調整擴張角并經平板型的偏振光分束器66的偏振光濾波器面進行反射。經偏振光分束器66反射的激光在通過作為光學透鏡的準直透鏡67成為平行光之后，通過1/4波長板68被變換為圓偏振光，再通過反射鏡69光軸被彎折而被入射至作為光學透鏡的物鏡70，通過物鏡70會聚后被照射到光盤D上。此外，為了能夠對應具有第一層DLO和第二層DLl(圖2)這種多個層DLO、DLl的光盤D，物鏡70以能夠大致沿著物鏡70的光軸方向(P軸方向)進行移動的狀態(tài)被配置在光拾取裝置中。通過將物鏡70以能夠大致沿著物鏡70的光軸方向(P軸方向)進行移動的狀態(tài)配置在光拾取裝置中，來構成能夠對應具有多個信號層Da的光盤D的光拾取裝置。另外，物鏡70以能夠大致沿著盤半徑方向(R軸方向)進行移動的狀態(tài)配置在光拾取裝置中以能夠在光盤D的信號層Da的軌道等上正確地進行跟蹤。根據光拾取裝置的設計/標準等，為了能夠對應具有第一層DLO和第二層DLl(圖2)這種多個層DLO、DLl的光盤D，準直透鏡67以能夠大致沿著準直透鏡67的光軸方向進行移動的狀態(tài)被配置在光拾取裝置中。通過將準直透鏡67以能夠大致沿著準直透鏡67的光軸方向進行移動的狀態(tài)配置在光拾取裝置中，來構成能夠更可靠地對應具有多個信號層Da的光盤D的光拾取裝置。如上所述，衍射光柵64A、耦合透鏡65i、偏振光分束器66、準直透鏡67、1/4波長板68、反射鏡69、物鏡70等是聚光光學系統(tǒng)的一例。通過物鏡70和衍射光柵64A，由衍射光柵64A分支得到的主光束和兩個副光束被聚光，從而使與主光束對應的主光點和與兩個副光束對應的兩個副光點與細長的軌道大致平行或者傾斜地大致排成一列而照射到光盤D的軌道。此外，根據光拾取裝置的設計/標準等，例如也可以不配備耦合透鏡陽51)而省略。另外，在圖1中，示出了在準直透鏡67與反射鏡69之間配置1/4波長板68的光拾取裝置的光學配置例，但是，根據光拾取裝置的設計/標準等，例如也可以不將1/4波長板(68)配置在準直透鏡(67)與反射鏡(69)之間，而能夠使用在偏振光分束器(66)與準直透鏡(67)之間配置1/4波長板(68)的光拾取裝置。對本申請的附圖標記附加的括號0是為了便于說明與附圖所示的結構稍有不同的結構而使用的。另外，在能夠向光盤D記錄信號的光拾取裝置中，受光元件65ii例如被配置在偏振光分束器66的周圍附近，該受光元件65ii監(jiān)測從激光單元61射出的激光并進行反饋以控制激光單元61。例如使適合于各種光盤D的波長的各激光與各自的光學特性相應地發(fā)生衍射的衍射光柵64A在入射面上以光軸為中心例如形成為大致環(huán)狀，物鏡70被設計成使由該衍射光柵衍射分支得到的三個光束針對各光盤D校正球面像差并具有聚光作用。并且，通過大致沿著焦點方向(圖1中所示的P軸方向)、循跡方向(圖1中所示的R軸方向、即與表示軌道的形成方向的Q軸正交且與P軸正交的方向)、傾斜方向(透鏡擺動方向)驅動物鏡70，來從物鏡70向光盤D照射激光以使激光聚焦于光盤D的信號層Da，并且激光跟蹤光盤D的規(guī)定的軌道。被光盤D的信號層Da調制并反射的激光返回到物鏡70，經由回路到達偏振光分束器66，該回路的中間部分與去路大致相同。在向光盤D的信號層Da照射例如右旋轉的激光時，被反射的激光成為例如被反轉為左旋轉的激光的狀態(tài)的圓偏振光。另外，在向光盤D前進的去路中例如原本是S偏振光的激光在回路中例如成為P偏振光的激光而從1/4波長板68射出，P偏振光的激光被入射至偏振光分束器66。回路中的P偏振光的激光大致透過偏振光分束器66。返回到偏振光分束器66的激光透過第一平行平板71，該第一平行平板71為了校正例如透過偏振光分束器66時的像散而傾斜配置。另外，透過了第一平行平板71的激光透過被傾斜配置的第二平行平板72，由此被附加作為向光盤D照射的激光的焦點誤差成分的像散的同時由偏振光分束器66和第一平行平板71產生的彗形像差被校正之后，激光被引向光檢測器73A。其結果，光檢測器73A根據由第二平行平板72引導的激光來生成循跡誤差信號、焦點誤差信號等。根據光拾取裝置的設計/標準等，第一平行平板71和第二平行平板72例如設為像散元件71、72。例如第一像散元件71和第二像散元件72也是光拾取裝置的聚光光學系統(tǒng)的一例。另外，代替第一平行平板71和第二平行平板72，例如也可以利用變形透鏡(anamorphiclens)(未圖示)等感應透鏡(sensorlens)(未圖示)等來作為像散元件，該變形透鏡等傳感器透鏡能夠通過使激光產生像散并根據像散法/差動像散法等進行照射在光盤D的信號層Da的聚光點80的聚焦檢測。26光檢測器73A用于接收從光盤D反射的激光，將其信號轉換為循跡誤差信號、焦點誤差信號等電信號，來使附有構成光拾取裝置的物鏡70的透鏡支架(未圖示)等伺服機構(未圖示)進行動作。伺服是指，例如測量控制對象的狀態(tài)并與預先決定的基準值進行比較來自動地進行修正控制的機構等。另外，光檢測器73A用于接收從光盤D反射的激光，將其信號轉換為電信號，來檢測記錄于光盤D中的數據/信息/信號等。向光盤D照射的第一波長光和第二波長光的主光點80的位置》下面，使用圖2和圖3說明向光盤D照射的第一波長光和第二波長光的主光點80的位置。激光單元61中的第一光源62的配置位置與激光單元61中的第二光源63的配置位置不同。因此，例如在光拾取裝置位于光盤D的最內周側D84時、或者在光拾取裝置位于光盤D的最外周側D88時、或者在光拾取裝置位于光盤D的最內周側D84至最外周側D88之間的某處時，如下兩個主光點80的形成位置在大致沿著盤半徑方向(R軸方向)的線上相差幾μm幾十μπι左右第一波長光在與第一波長光對應的基于⑶標準的光盤D的信號面部Da上形成的主光點80在大致沿著盤半徑方向(R軸方向)上的位置；第二波長光在與第二波長光對應的基于DVD標準的光盤D的信號面部Da上形成的主光點80在大致沿著盤半徑方向(R軸方向)上的位置。在利用具備一個物鏡70的光拾取裝置向基于CD標準的光盤D照射激光時、或者向基于DVD標準的光盤D照射激光時，CD用激光在基于CD標準的光盤D的盤半徑方向上的聚光位置和DVD用激光在基于DVD標準的光盤D的盤半徑方向上的聚光位置不同。另外，例如在光拾取裝置位于光盤D的最內周側D84時、或者在光拾取裝置位于光盤D的最外周側D88時、或者在光拾取裝置位于光盤D的最內周側D84至最外周側D88之間的某處時，相比于映現在與第一波長光對應的基于CD標準的大致圓板狀的光盤D的信號面部Da上的第一波長光的主光點80大致沿盤半徑方向(R軸方向)的照射位置，映現在與第二波長光對應的基于DVD標準的大致圓板狀的光盤D的信號面部Da上的第二波長光的主光點80大致沿盤半徑方向(R軸方向)的照射位置向大致圓板狀的光盤D的內周側D84更靠近幾ym幾十μ左右。此外，根據光拾取裝置的設計/標準等，例如也能夠以如下方式構成光拾取裝置在光拾取裝置位于光盤D的最內周側D84時、或者在光拾取裝置位于光盤D的最外周側D88時、或者在光拾取裝置位于光盤D的最內周側D84至最外周側D88之間的某處時，相比于映現在與第二波長光對應的基于DVD標準的大致圓板狀的光盤D的信號面部Da上的第二波長光的主光點80大致沿盤半徑方向(R軸方向)的照射位置，映現在與第一波長光對應的基于CD標準的大致圓板狀的光盤D的信號面部Da上的第一波長光的主光點80大致沿盤半徑方向(R軸方向)的照射位置向大致圓板狀的光盤D的內周側D84更靠近幾μπι幾十μm左右。相比于與第一波長光對應的基于⑶標準的光盤D的信號面部Da上的凹坑等的大小，與第二波長光對應的基于DVD標準的光盤D的信號面部Da上的凹坑等的大小更小。另外，相比于照射/形成在與第一波長光對應的基于CD標準的光盤D的信號面部Da上的光點80的大小，照射/形成在與第二波長光對應的基于DVD標準的光盤D的信號面部Da上的光點80的大小更小。由此，以波長比基于CD標準的第一波長光的波長短的基于DVD標準的第二波長光大致位于光拾取裝置的光學系統(tǒng)中心軸的方式構成光拾取裝置。向光盤D照射的第一波長光和第二波長光的主光點80與副光點81、82的間隔Υρ下面，使用圖4、圖5來說明向光盤D照射的第一波長光和第二波長光的主光點80與副光點81、82的間隔Υρ。圖4是用于說明本發(fā)明的一個實施方式所涉及的衍射光柵的圖，圖5是用于說明本發(fā)明的一個實施方式所涉及的直線排列方式中的光盤上的聚光點配置以及循跡誤差信號檢測系統(tǒng)的概要的圖。本實施方式的光拾取裝置可以對應CD標準和DVD標準中的任一個標準的光盤D。此外，CD-ROM、CD-R、CD-Rff等CD標準的光盤D的軌道間距Dtp、DVD-ROM、DVD-R、DVD+R、DVD-RW、DVD+RW的光盤D的軌道間距Dtp、DVD-RAM(版本1)的光盤D的軌道間距Dtp以及DVD-RAM(版本2.0、2.1)的光盤D的軌道間距Dtp不同，但是在各附圖中，為了便于說明，統(tǒng)一畫出了各種光盤D。另外，為了便于說明，設照射/形成在光盤D的信號面部Da上的各光點80、81、82的形狀/配置/形態(tài)等為所畫出的形狀/配置/形態(tài)等。設衍射光柵64A(圖4)為具有與DVD用衍射光柵20大致相同結構的廉價的對應直線排列方式的衍射光柵64A。衍射光柵64A不使用對應三光束方式的CD用衍射光柵，而僅由對應直線排列方式的DVD用衍射光柵20構成。本申請的衍射光柵是指例如形成有使光發(fā)生衍射的衍射面部的部件，例如被稱為直線排列型衍射光柵等。另外，本申請圖示的衍射光柵等是為了便于容易理解各詳細部分而畫出的。被入射至對應直線排列方式的衍射光柵64A的光通過對應直線排列方式的衍射光柵64A被分為一個第一主光束以及至少兩個第一副光束。首先，針對入射至對應直線排列方式的衍射光柵64A的第一波長為CD標準的波長、入射至對應直線排列方式的衍射光柵64A的第二波長為DVD標準的波長的情況進行說明。將第一波長設為⑶標準的波長λ(cd)。設第一波長λ(cd)為大致765nm840nm。另外，將第二波長設為DVD標準的波長λ(dvd)。設第二波長λ(dvd)為大致630nm685nm。另外，將向與第一波長光對應的第一光盤D照射了一個第一主光束以及至少兩個第一副光束時處于第一主光束的光點80的大致中心部的照射點Oa與處于第一副光束的光點81的大致中心部的照射點脅之間的間隔Yp設為Ypl。另外，將向與第一波長光對應的第一光盤D照射了一個第一主光束以及至少兩個第一副光束時處于第一主光束的光點80的大致中心部的照射點Oa與處于第一副光束的光點82的大致中心部的照射點)(C之間的間隔Yp設為Ypl。另外，將向與第二波長光對應的第二光盤D照射了一個第二主光束以及至少兩個第二副光束時處于第二主光束的光點80的大致中心部的照射點Oa與處于第二副光束的光點81的大致中心部的照射點脅之間的間隔Yp設為Yp2。另外，將向與第二波長光對應的第二光盤D照射了一個第二主光束以及至少兩個第二副光束時處于第二主光束的光點80的大致中心部的照射點Oa與處于第二副光束的光點82的大致中心部的照射點)(C之間的間隔Yp設為Yp2。在這樣進行了定義時，例如假設下式⑷。權利要求1.一種光拾取裝置，其特征在于，至少具備發(fā)光元件，其至少能夠射出第一波長光和第二波長光；以及衍射光柵，其將上述第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束，并且將上述第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束，其中，在將向與上述第一波長光對應的第一介質照射了上述第一主光束和上述第一副光束時上述第一主光束與上述第一副光束的間隔設為Ypl，將向與上述第二波長光對應的第二介質照射了上述第二主光束和上述第二副光束時上述第二主光束與上述第二副光束的間隔設為Yp2的情況下，滿足下式(1)2.一種光拾取裝置，其特征在于，至少具備發(fā)光元件，其至少能夠射出第一波長光和第二波長光；以及衍射光柵，其將上述第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束，并且將上述第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束，其中，在將向與上述第一波長光對應的第一介質照射了上述第一主光束和上述第一副光束時上述第一主光束的光強度相對于上述第一主光束的光強度與上述第一副光束的光強度的總和的光效率比設為Al，將向與上述第二波長光對應的第二介質照射了上述第二主光束和上述第二副光束時上述第二主光束的光強度相對于上述第二主光束的光強度與上述第二副光束的光強度的總和的光效率比設為Α2的情況下，滿足下式(2)和下式(3)0.90<Al<0.94...(2)0.87<Α2<0.91…⑶。3.一種光拾取裝置，其特征在于，至少具備發(fā)光元件，其至少能夠射出第一波長光和第二波長光；以及衍射光柵，其與上述第二波長光對應，其中，上述發(fā)光元件中的上述第一波長光的發(fā)光位置與上述第二波長光的發(fā)光位置不同，與此對應地，與上述第一波長光對應的第一介質上的上述第一波長光的聚光位置和與上述第二波長光對應的第二介質上的上述第二波長光的聚光位置不同。4.根據權利要求3所述的光拾取裝置，其特征在于，與大致呈圓板狀的上述第一介質上的上述第一波長光的聚光位置相比，大致呈圓板狀的上述第二介質上的上述第二波長光的聚光位置更靠近大致呈圓板狀的介質的內周側。5.一種光拾取裝置，其特征在于，將權利要求1所述的光拾取裝置與權利要求2所述的光拾取裝置合并而形成。6.一種光拾取裝置，其特征在于，將權利要求1所述的光拾取裝置與權利要求3所述的光拾取裝置合并而形成。7.一種光拾取裝置，其特征在于，將權利要求2所述的光拾取裝置與權利要求3所述的光拾取裝置合并而形成。8.一種光拾取裝置，其特征在于，將權利要求1所述的光拾取裝置、權利要求2所述的光拾取裝置以及權利要求3所述的光拾取裝置合并而形成。9.一種光拾取裝置，其特征在于，至少具備衍射光柵，其將第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束，將第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束，具有與上述第二波長光對應的衍射面部；以及光檢測器，其具有被照射上述第一主光束的第一主受光部、被照射上述第一副光束的第一副受光部、被照射上述第二主光束的第二主受光部及被照射上述第二副光束的第二副受光部，其中，相對于標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離，上述第一主受光部與上述第一副受光部之間的距離被變更。10.根據權利要求9所述的光拾取裝置，其特征在于，變更后的上述第一主受光部與上述第一副受光部之間的上述距離被設定成比上述標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離長。11.根據權利要求9所述的光拾取裝置，其特征在于，在將上述標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離的值設為100%的值時，變更后的上述第一主受光部與上述第一副受光部之間的上述距離的值相對于上述標準化的第一主受光部與第一副受光部之間的距離的值被設定為大致111%的值。12.根據權利要求9所述的光拾取裝置，其特征在于，在將標準化的第二主受光部與第二副受光部之間的距離的值設為100%的值時，上述第二主受光部與上述第二副受光部之間的上述距離的值相對于上述標準化的第二主受光部與第二副受光部之間的距離的值被設定為大致100%的值。13.一種光拾取裝置，其特征在于，至少具備衍射光柵，其將第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束，將第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束，具有與上述第二波長光對應的衍射面部；以及光檢測器，其具有被照射上述第一主光束的第一主受光部、被照射上述第一副光束的第一副受光部、被照射上述第二主光束的第二主受光部及被照射上述第二副光束的第二副受光部，其中，以上述第一主受光部為中心配置一對位置被變更的上述第一副受光部，在前側的上述第一副受光部、中央的上述第一主受光部以及后側的上述第一副受光部并列設置時，前側的上述第一副受光部、中央的上述第一主受光部以及后側的上述第一副受光部的分光比相對于標準化的前側的第一副受光部、中央的第一主受光部以及后側的第一副受光部的分光比被變更。14.根據權利要求13所述的光拾取裝置，其特征在于，以上述第一主受光部為中心配置一對位置被變更的上述第一副受光部，在前側的上述第一副受光部、中央的上述第一主受光部以及后側的上述第一副受光部并列設置時，前側的上述第一副受光部、中央的上述第一主受光部以及后側的上述第一副受光部的分光比被設為大致1(20洸)1。15.根據權利要求13所述的光拾取裝置，其特征在于，以上述第二主受光部為中心配置一對上述第二副受光部，在前側的上述第二副受光部、中央的上述第二主受光部以及后側的上述第二副受光部并列設置時，前側的上述第二副受光部、中央的上述第二主受光部以及后側的上述第二副受光部的分光比被設為大致1(1218)1。16.一種光拾取裝置，其特征在于，至少具備衍射光柵，其將第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束，將第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束，具有與上述第二波長光對應的衍射面部；以及光檢測器，其具有被照射上述第一主光束的第一主受光部、被照射上述第一副光束的第一副受光部、被照射上述第二主光束的第二主受光部以及被照射上述第二副光束的第二副受光部，其中，相對于標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值，上述第一主受光部的受光靈敏度的值被變更或者設為與上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值相同，相對于標準化的第一副受光部的受光靈敏度的值，上述第一副受光部的受光靈敏度的值被變更。17.根據權利要求16所述的光拾取裝置，其特征在于，在將上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值設為100%的值時，相對于上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值，被變更或者設為與上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值相同的、上述第一主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%或者大致100%以下的低的值，在將上述標準化的第一副受光部的受光靈敏度的值設為100%的值時，相對于上述標準化的第一副受光部的受光靈敏度的值，變更后的上述第一副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%以上的高的值。18.根據權利要求16所述的光拾取裝置，其特征在于，在將上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值設為100%的值時，相對于上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值，被變更或者設為與上述標準化的第一主受光部的受光靈敏度的值相同的、上述第一主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致95%100%的值，在將上述標準化的第一副受光部的受光靈敏度的值設為100%的值時，相對于上述標準化的第一副受光部的受光靈敏度的值，變更后的上述第一副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致120%160%的值。19.根據權利要求16所述的光拾取裝置，其特征在于，在將標準化的第二主受光部的受光靈敏度的值設為100%的值時，相對于上述標準化的第二主受光部的受光靈敏度的值，上述第二主受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%的值，在將標準化的第二副受光部的受光靈敏度的值設為100%的值時，相對于上述標準化的第二副受光部的受光靈敏度的值，上述第二副受光部的受光靈敏度的值被設定為大致100%的值。20.一種光拾取裝置，其特征在于，至少具備衍射光柵，其將第一波長光至少分為第一主光束和第一副光束，將第二波長光至少分為第二主光束和第二副光束，具有與上述第二波長光對應的衍射面部；以及光檢測器，其具有被照射上述第一主光束的第一主受光部、被照射上述第一副光束的第一副受光部、被照射上述第二主光束的第二主受光部及被照射上述第二副光束的第二副受光部，其中，相對于從標準化的第一主受光部輸出的信號的值，從上述第一主受光部輸出的信號的值被變更或者設為與從標準化的第一主受光部輸出的信號的值相同，相對于從標準化的第一副受光部輸出的信號的值，從上述第一副受光部輸出的信號的值被變更。21.根據權利要求20所述的光拾取裝置，其特征在于，在將從上述標準化的第一主受光部輸出的信號的值設為100%的值時，相對于從上述標準化的第一主受光部輸出的信號的值，被變更或者設為與從上述標準化的第一主受光部輸出的信號的值相同的、從上述第一主受光部輸出的信號的值被設定為大致100%或者大致100%以下的低的值，在將從上述標準化的第一副受光部輸出的信號的值設為100%的值時，相對于從上述標準化的第一副受光部輸出的信號的值，變更后的從上述第一副受光部輸出的信號的值被設定為大致100%以上的高的值。22.根據權利要求20所述的光拾取裝置，其特征在于，在將從上述標準化的第一主受光部輸出的信號的值設為100%的值時，相對于從上述標準化的第一主受光部輸出的信號的值，被變更或者設為與從上述標準化的第一主受光部輸出的信號的值相同的、從上述第一主受光部輸出的信號的值被設定為大致95%100%的值，在將從上述標準化的第一副受光部輸出的信號的值設為100%的值時，相對于從上述標準化的第一副受光部輸出的信號的值，變更后的從上述第一副受光部輸出的信號的值被設定為大致120%160%的值。23.根據權利要求20所述的光拾取裝置，其特征在于，在將從標準化的第二主受光部輸出的信號的值設為100%的值時，相對于從上述標準化的第二主受光部輸出的信號的值，從上述第二主受光部輸出的信號的值被設定為大致100%的值，在將從標準化的第二副受光部輸出的信號的值設為100%的值時，相對于從上述標準化的第二副受光部輸出的信號的值，從上述第二副受光部輸出的信號的值被設定為大致100%的值。24.一種光拾取裝置，其特征在于，將權利要求9所述的光拾取裝置與權利要求13所述的光拾取裝置合并而形成。25.一種光拾取裝置，其特征在于，將權利要求9所述的光拾取裝置與權利要求16所述的光拾取裝置合并而形成。26.一種光拾取裝置，其特征在于，將權利要求9所述的光拾取裝置與權利要求20所述的光拾取裝置合并而形成。27.一種光拾取裝置，其特征在于，將權利要求13所述的光拾取裝置與權利要求16所述的光拾取裝置合并而形成。28.一種光拾取裝置，其特征在于，將權利要求13所述的光拾取裝置與權利要求20所述的光拾取裝置合并而形成。29.一種光拾取裝置，其特征在于，將權利要求9所述的光拾取裝置、權利要求13所述的光拾取裝置以及權利要求16所述的光拾取裝置合并而形成。30.一種光拾取裝置，其特征在于，將權利要求9所述的光拾取裝置、權利要求13所述的光拾取裝置以及權利要求20所述的光拾取裝置合并而形成。31.根據權利要求1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置，其特征在于，上述衍射光柵的衍射面部兼具將上述第一波長光至少分為上述第一主光束和上述第一副光束的衍射面部以及將上述第二波長光至少分為上述第二主光束和上述第二副光束的衍射面部。32.根據權利要求1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置，其特征在于，上述衍射光柵被分割為多個區(qū)域部。33.根據權利要求1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置，其特征在于，上述衍射光柵被分割為偶數個區(qū)域部。34.根據權利要求1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置，其特征在于，上述衍射光柵至少被分割為第一區(qū)域部、第二區(qū)域部、第三區(qū)域部以及第四區(qū)域部這四個區(qū)域部。35.根據權利要求1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置，其特征在于，還具備能夠射出多種波長光的發(fā)光元件。36.根據權利要求1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置，其特征在于，上述第一波長光的波長為大致765nm840nm，上述第二波長光的波長為大致630nm685nm。37.根據權利要求1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置，其特征在于，上述第一波長光的波長為大致630nm685nm，上述第二波長光的波長為大致340nm450nm。38.根據權利要求1、2、3、9、13、16、20中的任一項所述的光拾取裝置，其特征在于，能夠對應具有多個信號面部的介質。39.一種光盤裝置，其特征在于，至少具備權利要求1、2、3、9、13、16以及20中的任一項所述的光拾取裝置。全文摘要本發(fā)明構成抑制產生不需要的光的光拾取裝置以及具備光拾取裝置的光盤裝置。在光盤裝置的光拾取裝置中，相對于標準化的光檢測器的第一主受光部與第一副受光部之間的距離，光檢測器(73A)的第一主受光部(74A)與第一副受光部(74B、74C)之間的距離被變更。前側的第一副受光部(74B、74C)、中央的第一主受光部(74A)以及后側的第一副受光部(74B、74C)的分光比相對于標準化的前側的第一副受光部、中央的第一主受光部以及后側的第一副受光部的分光比被變更。相對于從標準化的第一主受光部輸出的信號的值，從第一主受光部(74A)輸出的信號的值被變更或者設為與從標準化的第一主受光部輸出的信號的值相同，相對于從標準化的第一副受光部輸出的信號的值，從第一副受光部(74B、74C)輸出的信號的值被變更。文檔編號G11B7/12GK102203860SQ200980143809公開日2011年9月28日申請日期2009年10月29日優(yōu)先權日2008年10月30日發(fā)明者佐藤實,市浦秀一,江泉清隆申請人:三洋電機株式會社