專利名稱：多層光盤片燒錄方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)一種光驅(qū)，尤其是關(guān)于光驅(qū)在光盤片各數(shù)據(jù)層不同燒錄方向中，燒錄 數(shù)據(jù)的方法。
背景技術(shù)：
光驅(qū)是利用投射直徑約0. 85至2. 11 μ m微小光點至光盤片，接收光盤片的反射 光，藉反射光量差異所形成的電信號，控制光驅(qū)循數(shù)據(jù)軌辨讀光盤片上的數(shù)據(jù)。由于反射光 點相當(dāng)微小，轉(zhuǎn)換的電信號相對非常微弱，不僅需增益放大，且要確保反射光點正確投射在 接收的位置，才能穩(wěn)定控制循軌，以提高燒錄質(zhì)量。如圖1所示，為先前光驅(qū)1循軌控制方式，是利用差分推挽方法(Differential Push Pull Method,簡稱DPP)，由讀取頭2投射光束至光盤片3，形成反射光經(jīng)感光裝置4 接收。感光裝置4分為主感光部如及兩個子感光部4b、4c，主感光部如由接收部A、B、C、 D所組成，而子感光部4b由接收部E、F所組成，另一子感光部如則由接收部G及H所組成。 反射光包含三個反射光點(Spot) 5a,5b及5c，分別投射至主感光部如及兩個子感光部4b、 4c。主感光部如根據(jù)接收部A、B、C、D分別接收反射光點fe的光量，形成主推挽信號(簡 稱MPP)，即MPP = (A+D)-(B+C)。兩個子感光部4b,4c根據(jù)接收部E、F、G、H分別接收反射 光點的光量，形成子推挽信號(簡稱SPP)，即SPP = (F-E)-(H-G)。讓循軌誤差信號 (Tracking Error,簡稱TE)，TE = K* (MPP_Ks*SPP)，其中外部增益K用以放大循軌誤差信 號，而內(nèi)部增益Ks是在投射光束對正數(shù)據(jù)軌6時，尋找最佳內(nèi)部增益讓TE = 0，以便利用 TE的變化，控制投射光束鎖住數(shù)據(jù)軌6移動。然而，最佳內(nèi)部增益設(shè)定時，投射光束的物鏡7 —般位于讀取頭2的中心。由于讀 取頭2的光學(xué)結(jié)構(gòu)設(shè)計，當(dāng)微致動器8移動物鏡7離開中心時，尤其在燒錄多數(shù)據(jù)層光盤 片，物鏡7隨著各層不同特定燒錄方向偏向一邊，光反射光點(Spot)5ajb及5c投射位置 會產(chǎn)生偏移，如虛線位置所示。接收部A、B、C、D、E、F、G、H接收光量的狀態(tài)隨之改變，原來 設(shè)定的最佳內(nèi)部增益即非最佳內(nèi)部增益，TE = 0的位置已有所偏移，不能讓投射光束鎖住 數(shù)據(jù)軌6正確位置，導(dǎo)致無法穩(wěn)定控制讀取頭2精確移動，進而影響光盤片的燒錄，造成信 號質(zhì)量及可靠性降低。因此，先前的多層光盤片，在各層的燒錄上，仍有問題亟待解決。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種多層光盤片燒錄方法，通過物鏡在各偏側(cè)的最佳內(nèi)部 增益，以消除物鏡偏離中心時的循軌誤差信號偏移量。本發(fā)明的另一目的在于提供一種多層光盤片燒錄方法，根據(jù)光盤片各數(shù)據(jù)層的燒 錄方向，選用相對應(yīng)的偏側(cè)的最佳內(nèi)部增益，以增加各數(shù)據(jù)層的燒錄穩(wěn)定。為了達(dá)到前述發(fā)明的目的，本發(fā)明的多層光盤片燒錄方法，測量及記錄物鏡位于 讀取頭兩側(cè)的最佳內(nèi)部增益；由光盤片各數(shù)據(jù)層特定的燒錄方向，檢查光盤片燒錄方向， 向光盤片外側(cè)燒錄時，選取外側(cè)最佳內(nèi)部增益，向光盤片內(nèi)側(cè)燒錄時，選取內(nèi)側(cè)最佳內(nèi)部增益，產(chǎn)生循軌誤差信號，進行燒錄。本發(fā)明多層光盤片燒錄方法，測量物鏡位于讀取頭中心循軌誤差信號的電流電 平，作為參考基準(zhǔn)；將物鏡移離讀取頭的中心，靠向讀取頭的一側(cè)且對正數(shù)據(jù)軌；利用預(yù)定 負(fù)內(nèi)部增益，測量循軌誤差信號的電平，減去參考基準(zhǔn)，取得負(fù)內(nèi)部增益的循軌誤差信號偏 移量；利用預(yù)定正內(nèi)部增益，測量循軌誤差信號的電平，減去參考基準(zhǔn)，取得正內(nèi)部增益的 循軌誤差信號偏移量；由正負(fù)內(nèi)部增益的循軌誤差信號偏移量，以偏移量等于零，內(nèi)插獲得 該側(cè)的最佳內(nèi)部增益；檢查未完成測量，則將物鏡靠向讀取頭的另一側(cè)，繼續(xù)測量，直到完 成讀取頭兩側(cè)最佳內(nèi)部增益的測量。


圖1為先前技術(shù)光驅(qū)循軌控制方法的示意圖。圖2為讀取頭向光盤片外圈循軌移動的示意圖。圖3為讀取頭向光盤片內(nèi)圈循軌移動的示意圖。圖4為本發(fā)明外側(cè)最佳內(nèi)部增益的設(shè)定的示意圖。圖5為本發(fā)明第一實施例多層光盤片燒錄方法的流程圖。圖6為本發(fā)明第二實施例多層光盤片燒錄方法的流程圖。[主要元件標(biāo)號說明]10光盤片11數(shù)據(jù)軌12讀取頭13 物鏡
具體實施例方式有關(guān)本發(fā)明為達(dá)成上述目的，所采用的技術(shù)手段及其功效，茲舉較佳實施例，并配 合圖式加以說明如下。請參考圖2，顯示讀取頭向光盤片外圈循軌移動的狀態(tài)。光盤片10的數(shù)據(jù)軌11為 螺旋狀，由光盤片10的內(nèi)圈逐漸盤繞至外圈。讀取頭12利用物鏡13投射的三光束，形成循 軌誤差信號，控制讀取頭12循著數(shù)據(jù)軌11移動。循軌移動時，粗調(diào)移動讀取頭12后，對讀 取頭12涵蓋的數(shù)據(jù)軌11，讀取頭12本身不動，而是借著微致動器移動物鏡13循著數(shù)據(jù)軌 11移動。因此，在讀取頭12向光盤片10外圈方向移動燒錄數(shù)據(jù)時，物鏡13由虛線所示的 讀取頭12中心位置，偏向讀取頭12靠光盤片10外圈的外側(cè)。造成光學(xué)結(jié)構(gòu)的偏移改變， 導(dǎo)致物鏡13在讀取頭12中心位置所獲得的最佳內(nèi)部增益，無法讓讀取頭12鎖住數(shù)據(jù)軌11 正確位置移動，將數(shù)據(jù)記號燒錄在不正確的位置。反之，如圖3所示，顯示讀取頭12向光盤 片內(nèi)圈循軌移動的狀態(tài)。在讀取頭12向光盤片10內(nèi)圈方向移動燒錄數(shù)據(jù)時，物鏡13由虛 線所示的讀取頭12中心位置，偏向讀取頭12靠光盤片10內(nèi)圈的內(nèi)側(cè)。同樣造成光學(xué)結(jié)構(gòu) 的偏移改變，物鏡13在讀取頭12中心位置，所獲得的最佳內(nèi)部增益無法再適用，亦無法使 用物鏡13偏向讀取頭12外側(cè)所設(shè)定的最佳內(nèi)部增益。就多層光盤片，各數(shù)據(jù)層均具有特定的燒錄方向，且相鄰數(shù)據(jù)層的燒錄方向恰相 反。以雙層光盤片為例，第0數(shù)據(jù)層的燒錄方向設(shè)定向光盤片10外圈燒錄，而第1數(shù)據(jù)層的燒錄方向則設(shè)定向光盤片10內(nèi)圈燒錄。因此對多層光盤片燒錄最佳內(nèi)部增益的設(shè)定，必 需依據(jù)向光盤片10內(nèi)圈或外圈燒錄方向，機動選擇不同的最佳內(nèi)部增益，產(chǎn)生正確的循軌 誤差信號，減少循軌位置的偏移量，才能確保穩(wěn)定燒錄。如圖4所示，為本發(fā)明物鏡靠向讀取頭外側(cè)最佳內(nèi)部增益的設(shè)定過程。首先在物 鏡位于讀取頭中心對正數(shù)據(jù)軌，測量循軌誤差信號的電平，例如電流電平(DC Level)，作為 循軌誤差信號偏移大小的參考基準(zhǔn)TEr。接著將物鏡移離讀取頭的中心，靠向讀取頭的外側(cè) 對正數(shù)據(jù)軌，利用預(yù)定負(fù)內(nèi)部增益Ksn，例如Ksn = _6db，測量循軌誤差信號的電平TEnJP TEn = K* (MPP-Ksn^SPP)。將電平TEn減去參考基準(zhǔn)TEr，取得負(fù)內(nèi)部增益Ksn = _6db時的循 軌誤差信號偏移量TEofsn，即TEofsn = TEn-TEr,以獲得點η (Ksn，Teofsn)。再利用預(yù)定正 內(nèi)部增益Ksp，例如Ksp = 6db，測量循軌誤差信號的電平TEp，即TEp = K* (MPP_Ksp*SPP)。 將電平TEp減去參考基準(zhǔn)TEr，取得正內(nèi)部增益Ksp = 6db時的循軌誤差信號偏移量 TEofsp,即TEofsp = TEp-TEr，以獲得點p(Ksp，Teofsp)。由點ρ及點η的偏移直線L內(nèi) 插，與Teofs = O的交叉點Μ，就可快速獲得外側(cè)的最佳內(nèi)部增益Ksopt。同理，將物鏡移離讀取頭的中心，靠向讀取頭的內(nèi)側(cè)對正數(shù)據(jù)軌，依據(jù)前述獲得外 側(cè)的最佳內(nèi)部增益的過程，亦可獲得內(nèi)側(cè)的最佳內(nèi)部增益Ksopt。光驅(qū)可在燒錄前，先測量 外側(cè)及內(nèi)側(cè)的最佳內(nèi)部增益，記錄備用?；蛟跓洉r，測量外側(cè)及內(nèi)側(cè)的最佳內(nèi)部增益，再 依據(jù)光盤片的燒錄方向，判斷物鏡靠向讀取頭的內(nèi)或外側(cè)，選用相對應(yīng)偏側(cè)的最佳內(nèi)部增 益，改正循軌誤差信號偏移，達(dá)到正確燒錄。如圖5所示，為本發(fā)明第一實施例多層光盤片燒錄方法的流程。本發(fā)明利用燒錄 前完成測量內(nèi)外側(cè)最佳內(nèi)部增益，以改正循軌誤差信號偏移的詳細(xì)步驟，說明如下首先在 步驟Si，分別測量物鏡位于讀取頭內(nèi)側(cè)及外側(cè)的最佳內(nèi)部增益。進入步驟S2記錄內(nèi)側(cè)及外 側(cè)的最佳內(nèi)部增益，供燒錄時備用。在步驟S3檢查光盤片燒錄方向，可由燒錄的光盤片數(shù) 據(jù)層特定燒錄方向，判斷物鏡偏向讀取頭內(nèi)側(cè)或外側(cè)，當(dāng)向光盤片外側(cè)燒錄時，進入步驟S4 選取外側(cè)最佳內(nèi)部增益，產(chǎn)生循軌誤差信號，以鎖住數(shù)據(jù)軌移動，再進入步驟S6進行燒錄， 在進入當(dāng)向光盤片內(nèi)側(cè)燒錄時，進入步驟S5選取內(nèi)側(cè)最佳內(nèi)部增益，產(chǎn)生循軌誤差信號， 以鎖住數(shù)據(jù)軌移動，再進入步驟S6進行燒錄。如圖6所示，為本發(fā)明第二實施例多層光盤片燒錄方法的流程。本發(fā)明燒錄時測 量內(nèi)外側(cè)最佳內(nèi)部增益，改正循軌誤差信號偏移的詳細(xì)步驟，說明如下首先在步驟R1，測 量物鏡位于讀取頭中心循軌誤差信號的直流電平，作為循軌誤差信號偏移的參考基準(zhǔn)TEr。 在步驟R2，將物鏡移離讀取頭的中心，靠向讀取頭的一側(cè)且對正數(shù)據(jù)軌。步驟R3利用預(yù)定 負(fù)內(nèi)部增益，測量循軌誤差信號的直流電平，減去參考基準(zhǔn)TEr，取得負(fù)內(nèi)部增益的循軌誤 差信號偏移量TEofsn。再進入步驟R4，利用預(yù)定正內(nèi)部增益，測量循軌誤差信號的直流電 平，減去參考基準(zhǔn)TEr，取得正內(nèi)部增益的循軌誤差信號偏移量TEofsp。進入步驟R5由正 負(fù)內(nèi)部增益的循軌誤差信號偏移量所構(gòu)成的偏移直線，以偏移量等于零內(nèi)插獲得該側(cè)的最 佳內(nèi)部增益。接著進入步驟R6，檢查是否完成測量物鏡偏向讀取頭兩側(cè)的最佳內(nèi)部增益？假如 未完成測量，則進入步驟R7，將物鏡靠向讀取頭的另一側(cè)，回到步驟R3繼續(xù)測量，假如已完 成測量，則進入步驟R8，記錄測量所得兩側(cè)的最佳內(nèi)部增益，供燒錄時選擇使用。進入步驟 R9，燒錄時依據(jù)燒錄方向，選用相對應(yīng)偏側(cè)的最佳內(nèi)部增益，產(chǎn)生循軌誤差信號，最后進入步驟RlO進行燒錄。因此，本發(fā)明多層光盤片燒錄方法，就可通過根據(jù)光盤片各數(shù)據(jù)層特定的燒錄方 向，判斷物鏡偏靠讀取頭內(nèi)側(cè)或外側(cè)，選用相對應(yīng)的偏側(cè)的最佳內(nèi)部增益，消除物鏡偏離中 心時的循軌誤差信號偏移量，達(dá)到增加各數(shù)據(jù)層燒錄穩(wěn)定的目的。以上所述者，僅用以方便說明本發(fā)明的較佳實施例，本發(fā)明的范圍不限于該等較 佳實施例，凡依本發(fā)明所做的任何變更，于不脫離本發(fā)明的精神下，皆屬本發(fā)明權(quán)利要求的 范圍。
權(quán)利要求
1.一種多層光盤片燒錄方法，其步驟包含(1)測量物鏡位于讀取頭內(nèi)側(cè)及外側(cè)的最佳內(nèi)部增益；(2)記錄內(nèi)側(cè)及外側(cè)最佳內(nèi)部增益；(3)檢查光盤片燒錄方向，假如向光盤片外側(cè)燒錄時，選取外側(cè)最佳內(nèi)部增益，產(chǎn)生循 軌誤差信號，進入步驟G)，假如向光盤片內(nèi)側(cè)燒錄時，選取內(nèi)側(cè)最佳內(nèi)部增益，產(chǎn)生循軌誤 差信號，進入步驟；及(4)進行燒錄。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多層光盤片燒錄方法，其中該檢查燒錄方向是由燒錄的光盤 片數(shù)據(jù)層的燒錄方向判斷。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的多層光盤片燒錄方法，其中該多層光盤片各數(shù)據(jù)層均具有特 定的燒錄方向。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的多層光盤片燒錄方法，其中該多層光盤片相鄰數(shù)據(jù)層的燒錄 方向相反。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的多層光盤片燒錄方法，其中該光盤片為雙數(shù)據(jù)層，第0數(shù)據(jù)層 燒錄方向為向光盤片外側(cè)，第1數(shù)據(jù)層燒錄方向為向光盤片外側(cè)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多層光盤片燒錄方法，其中該步驟(1)測量步驟包含(1-1)測量物鏡位于讀取頭中心循軌誤差信號的電平，作為參考基準(zhǔn)；(1-2)將物鏡移離讀取頭的中心，靠向讀取頭的一側(cè)且對正數(shù)據(jù)軌；(1-3)利用預(yù)定負(fù)內(nèi)部增益，測量循軌誤差信號的電平，減去參考基準(zhǔn)，取得負(fù)內(nèi)部增 益的循軌誤差信號偏移量；(1-4)利用預(yù)定正內(nèi)部增益，測量循軌誤差信號的電平，減去參考基準(zhǔn)，取得正內(nèi)部增 益的循軌誤差信號偏移量；(1-5)由正負(fù)內(nèi)部增益的循軌誤差信號偏移量，內(nèi)插獲得該側(cè)的最佳內(nèi)部增益；及(1-6)檢查是否完成測量物鏡偏向讀取頭兩側(cè)的最佳內(nèi)部增益？假如未完成測量，則 將物鏡靠向讀取頭的另一側(cè)，回到步驟(1-3)繼續(xù)測量，假如已完成測量則入步驟O)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的多層光盤片燒錄方法，其中該正內(nèi)部增益的循軌誤差信號偏 移量與負(fù)內(nèi)部增益的循軌誤差信號偏移量構(gòu)成偏移直線，以偏移量等于零，內(nèi)插獲得最佳 內(nèi)部增益。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的多層光盤片燒錄方法，其中該正內(nèi)部增益為6db，負(fù)內(nèi)部增益 為-6db。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的多層光盤片燒錄方法，其中該測量的循軌誤差信號電平為電 流電平。
全文摘要
一種多層光盤片燒錄方法，測量及記錄物鏡位于讀取頭兩側(cè)的最佳內(nèi)部增益，由光盤片各數(shù)據(jù)層特定的燒錄方向，檢查光盤片燒錄方向，向光盤片外側(cè)燒錄時，選取外側(cè)最佳內(nèi)部增益，向光盤片內(nèi)側(cè)燒錄時，選取內(nèi)側(cè)最佳內(nèi)部增益，以減少循軌誤差信號偏移。
文檔編號G11B7/0045GK102044266SQ20091020701
公開日2011年5月4日 申請日期2009年10月23日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月23日
發(fā)明者陳松瑞, 黃朝群 申請人:廣明光電股份有限公司