專利名稱：一種存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種存儲(chǔ)器測(cè)試方法，尤其涉及一種存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
目前對(duì)于存儲(chǔ)器芯片的測(cè)試，已經(jīng)有一些成熟的算法在設(shè)計(jì)測(cè)試方法時(shí)被廣泛使 用，如March、Walk、Gallop、Damier、Movi等算法。但是因?yàn)橐陨纤惴ǘ际腔谝欢ǖ捻樞?對(duì)全地址空間進(jìn)行遍歷，隨著對(duì)測(cè)試要求的充分性和存儲(chǔ)器空間的不斷增加，測(cè)試步驟隨 之成倍的增加，測(cè)試所需的時(shí)間和資源也成倍的增加。然而對(duì)于在板測(cè)試，通常在模塊生產(chǎn) 下線后對(duì)單模塊的測(cè)試時(shí)間和效率都有嚴(yán)格要求，存儲(chǔ)器芯片測(cè)試算法的高時(shí)間消耗顯然 不能與實(shí)際的測(cè)試需要相適應(yīng)。另外對(duì)于在板存儲(chǔ)器的測(cè)試，還必須考慮到PCB板和板上 其它器件對(duì)被測(cè)存儲(chǔ)器的影響。由于在板測(cè)試在時(shí)間和效率上的嚴(yán)格要求，對(duì)單片存儲(chǔ)器 芯片的測(cè)試方法并不適用于存儲(chǔ)器的在板測(cè)試，因此許多經(jīng)典的測(cè)試算法并不完全適用于 嵌入式存儲(chǔ)器在板測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的為提供一種存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法，其具有高時(shí)效性，解決了現(xiàn)有存
儲(chǔ)器芯片測(cè)試所帶來(lái)的高時(shí)間消耗的技術(shù)問(wèn)題。 本發(fā)明的技術(shù)解決方案為 —種存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法，其特殊之處在于，包括以下步驟 1)先測(cè)試控制線，如果不通過(guò)故障信息顯示和處理，測(cè)試結(jié)果輸出到測(cè)試報(bào)告管 理程序，測(cè)試結(jié)束； 2)如果通過(guò)進(jìn)行花碼數(shù)據(jù)輸入法測(cè)試，對(duì)數(shù)據(jù)線和地址線進(jìn)行初測(cè)，其故障的規(guī) 律可以為故障芯片定位提供幫助； 3)再利用01步進(jìn)法將測(cè)試故障定位到具體那根數(shù)據(jù)線和地址線，還測(cè)試部分覆 蓋的存儲(chǔ)單元，如果不通過(guò)故障信息顯示和處理，測(cè)試結(jié)果輸出到測(cè)試報(bào)告管理程序，測(cè)試 結(jié)束； 4)如果通過(guò)再通過(guò)March算法測(cè)試對(duì)存儲(chǔ)器的全地址空間進(jìn)行全面測(cè)試，無(wú)論通 過(guò)還是不通過(guò)均故障信息顯示和處理，測(cè)試結(jié)果輸出到測(cè)試報(bào)告管理程序，測(cè)試結(jié)束。
上述花碼數(shù)據(jù)輸入法具體是對(duì)于測(cè)試輸入的數(shù)據(jù)，根據(jù)距離效應(yīng)選取兩組差異 最大的花碼數(shù)據(jù)作為輸入數(shù)據(jù)；在選擇測(cè)試地址時(shí)，由于線路傳輸具有電容效應(yīng)，在每寫完 一組后，再按寫時(shí)的順序讀出，選取的地址為與數(shù)據(jù)輸入相同的花碼。 上述01步進(jìn)法是指改進(jìn)Movi算法在輸入數(shù)據(jù)為全0或全l的背景下，尋址順 序?yàn)槭沟刂肪€的每一位順序逐次變高或變低的地址序列，它用地址線遍歷代替全地址空間 遍歷，地址移位序列中僅包含1og2N+l個(gè)選擇的地址單元，即表1所示碼字所表示的地址單 元，其測(cè)試時(shí)間降為(1og2N+l)XT; 該測(cè)試算法先寫單元，后讀單元，先按照地址位從低到高移位的順序?qū)懭耄侔凑?br> 4地址位從高到低移位的順序讀出作比對(duì)； 上述讀寫操作共進(jìn)行兩次，地址移位序列先選取在全0的背景下移位l，再選取在 全l的背景下移位0。 上述March算法具體是對(duì)一個(gè)單元進(jìn)行完寫0、讀0寫1的操作后，再順次向下 一個(gè)單元進(jìn)發(fā)，它對(duì)存儲(chǔ)器的單個(gè)單元靜態(tài)故障、單個(gè)單元?jiǎng)討B(tài)故障、靜態(tài)耦合故障都有較 強(qiáng)的診斷能力。 上述距離效應(yīng)即兩個(gè)測(cè)試向量的海明距離是指兩個(gè)測(cè)試向量相應(yīng)位不同的個(gè)數(shù) 越大，它們能檢測(cè)到的不同故障數(shù)越多。 上述電容效應(yīng)具體是指寫入數(shù)據(jù)并立即讀出，即使線路開路故障也不一定能檢測(cè) 出。 上述選取的地址為與數(shù)據(jù)輸入相同的花碼具體實(shí)現(xiàn)是如果地址線比數(shù)據(jù)線位數(shù) 多，則補(bǔ)1 ，直到選取的地址為與數(shù)據(jù)輸入相同的花碼。
上述測(cè)試控制線是用程控萬(wàn)用表測(cè)試控制線。
上述存儲(chǔ)器可以是嵌入式存儲(chǔ)器。 上述01步進(jìn)法的測(cè)試算法共使用了存儲(chǔ)器地址空間的(log2N+l) X 2個(gè)單元。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)為 1、具有高時(shí)效性。本發(fā)明要求首先應(yīng)具有高時(shí)效性，其次應(yīng)對(duì)線路故障有高故障 覆蓋率，再次應(yīng)兼顧存儲(chǔ)器芯片自身故障的檢測(cè)。 2、具有較好的故障覆蓋率。本發(fā)明同時(shí)覆蓋了存儲(chǔ)器芯片自身故障和電路板線路 故障，在測(cè)試需求和測(cè)試耗費(fèi)間取得了較好的平衡，有較好的故障覆蓋率和時(shí)效性。


圖1為本發(fā)明測(cè)試程序流程圖。
具體實(shí)施例方式參見圖l，本發(fā)明的測(cè)試方法按順序主要分為三步測(cè)試第一步花碼數(shù)據(jù)輸入法 測(cè)試，第二步01步進(jìn)法測(cè)試數(shù)據(jù)線和地址線，第三步March算法測(cè)試。第一步基本只測(cè)數(shù) 據(jù)線和地址線，初測(cè)，如果不是存儲(chǔ)器故障則其故障的規(guī)律可以故障芯片定位提供幫助；第 二步故障定位到具體那根數(shù)據(jù)/地址線，還可測(cè)試部分存儲(chǔ)單元；第三步存儲(chǔ)器測(cè)試。
1.用花碼數(shù)據(jù)輸入法測(cè)試 對(duì)于測(cè)試輸入的數(shù)據(jù)，根據(jù)距離效應(yīng)(兩個(gè)測(cè)試向量的海明距離-兩個(gè)測(cè)試向量 相應(yīng)位不同的個(gè)數(shù)越大，它們能檢測(cè)到的不同故障數(shù)越多)選取兩組差異最大的花碼數(shù)據(jù) 作為數(shù)據(jù)輸入，設(shè)數(shù)據(jù)總線為16位，兩組數(shù)據(jù)輸入為0000和FFFF， 5555和AAAA (即花碼)。 在選擇測(cè)試地址時(shí)，由于線路傳輸具有電容效應(yīng)(寫入數(shù)據(jù)并立即讀出，即使線路開路故 障也不一定能檢測(cè)出)，在每寫完一組后，再按寫時(shí)的順序讀出，選取的地址為與數(shù)據(jù)輸入 相同的花碼，如果地址線比數(shù)據(jù)線位數(shù)多，則補(bǔ)l，直到補(bǔ)到選取的地址為與數(shù)據(jù)輸入相同 的花碼位數(shù)相同。地址與數(shù)據(jù)碼字相同，為了便于比對(duì)，如果地址上的數(shù)據(jù)不是地址碼字， 則該碼字對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)/地址線故障。
2.用01步進(jìn)法測(cè)試
現(xiàn)有的移動(dòng)倒轉(zhuǎn)法Movi的基本思想是在輸入數(shù)據(jù)為全0或全1的背景下，以某種特定的尋址順序使每個(gè)單元的內(nèi)容倒轉(zhuǎn)為l，再倒轉(zhuǎn)為O，如此反復(fù)進(jìn)行地址空間遍歷完終止。但是它的時(shí)間消耗較大，對(duì)于一個(gè)N單元的存儲(chǔ)器來(lái)說(shuō)，地址線為1og2N條，按照現(xiàn)有Movi算法地址遍歷的操作就要進(jìn)行1og2N輪，設(shè)T為單地址單元操作時(shí)間，則測(cè)試時(shí)間=1og2NXNXT。例如一個(gè)64k的存儲(chǔ)器，就要對(duì)全地址空間遍歷16次，即時(shí)間消耗是1MXT，可見這種算法的時(shí)效性無(wú)法滿足存儲(chǔ)器在板測(cè)試的要求。 但如果對(duì)移位的地址空間進(jìn)行精簡(jiǎn)壓縮，使其只需遍歷較少的地址序列就可以接近Movi算法原有的診斷能力，那么這種改進(jìn)型的Movi算法將可以在較少的時(shí)間消耗下，滿足故障覆蓋率的要求。 本發(fā)明的改進(jìn)Movi算法是在輸入數(shù)據(jù)為全0或全1的背景下，尋址順序?yàn)檫@樣的地址序列使地址線的每一位順序逐次變高或變低，如表1所示，可以看出1或0好像從地址線低位向高位一步一步前進(jìn)，所以將其稱之為01步進(jìn)法。這種改進(jìn)可以有效的提高測(cè)試的時(shí)效性它用地址線遍歷代替全地址空間遍歷，地址移位序列中僅包含1og2N+l個(gè)特殊的地址單元，即選擇的地址單元，表1所示碼字所表示的地址單元。其實(shí)質(zhì)是用遍歷特殊的地址單元來(lái)代替遍歷全地址空間，可快速定位故障到具體那根數(shù)據(jù)/地址線，還可測(cè)試部分存儲(chǔ)單元，測(cè)試時(shí)間降為(1og2N+l) XT，由于移位地址空間的壓縮而大大縮短了測(cè)試時(shí)間，而且其測(cè)試時(shí)間幾乎不受存儲(chǔ)器空間大小的影響。
步進(jìn)l步進(jìn)o
0000000000000001 0000000000000010 00000000000001001111111111111111 1111111111111110 1111111111111101 1111111111111011
0100000000000000 10000000000000001011111111111111 0111111111111111 表1逐次01步進(jìn)產(chǎn)生的地址序列 對(duì)于輸入的數(shù)據(jù)，為了便于程序讀出比對(duì)并且兼顧數(shù)據(jù)線測(cè)試，采用與花碼數(shù)據(jù)輸入法類似的方法，即把需測(cè)試的地址作為數(shù)據(jù)寫入該地址單元。 在實(shí)際應(yīng)用中，測(cè)試程序先寫單元，后讀單元。先按照地址位從低到高移位的順序?qū)懭?，再按照地址位從高到低移位的順序讀出作比對(duì)。上述讀寫操作共進(jìn)行兩次地址移位序列先選取在全0的背景下移位l，再選取在全1的背景下移位0。程序共使用了存儲(chǔ)器地址空間的(log2N+l) X2個(gè)單元。 雖然這種算法對(duì)地址空間的壓縮方法比較粗糙，但由于主要測(cè)試目的是為了檢測(cè)出地址線的故障，并不需要精確定位到地址單元。這種方法對(duì)地址線逐位進(jìn)行測(cè)試，可以將故障定位到某條地址線，其時(shí)效性和故障偵測(cè)能力均滿足了測(cè)試需求。顯然這種方法同時(shí)也可以測(cè)試數(shù)據(jù)線并對(duì)芯片自身故障有一定覆蓋，所以這是一種行之有效的方法。
3.用March算法測(cè)試存儲(chǔ)器全地址空間 前述方法只是對(duì)可快速檢測(cè)的故障進(jìn)行迅速定位，故障定位具體是數(shù)據(jù)按上述方法輸入后，再將數(shù)據(jù)讀出，數(shù)據(jù)讀出與期望不符即發(fā)生故障，并未全面測(cè)試嵌入式存儲(chǔ)器。實(shí)踐中雖然很少遇到存儲(chǔ)器芯片自身故障的情況，但仍存在此類測(cè)試需求。在高時(shí)效、低耗費(fèi)的要求下，在板測(cè)試不可能像芯片廠商那樣采用完整測(cè)試的方法。最簡(jiǎn)單的辦法是選用一種診斷能力較強(qiáng)、測(cè)試時(shí)間相對(duì)較短的算法。March算法是存儲(chǔ)器芯片測(cè)試應(yīng)用最廣的算法之一。其基本思想是對(duì)一個(gè)單元進(jìn)行完寫0、讀0寫1的操作后，再順次向下一個(gè)單元進(jìn)發(fā)，因而得名"March(行進(jìn))"算法。它對(duì)存儲(chǔ)器的單個(gè)單元靜態(tài)故障、單個(gè)單元?jiǎng)討B(tài)故障、靜態(tài)耦合故障都有較強(qiáng)的診斷能力。另外，March算法的復(fù)雜度與被測(cè)存儲(chǔ)空間呈線性關(guān)系，測(cè)試時(shí)間相對(duì)較短。由于它的這些特點(diǎn)，我們采用March算法對(duì)存儲(chǔ)器全地址空間進(jìn)行在板測(cè)試。這一步耗時(shí)最長(zhǎng)，在實(shí)際應(yīng)用中，如果前兩步測(cè)試沒(méi)有通過(guò)，則不進(jìn)行這項(xiàng)測(cè)試以減少時(shí)間消耗。由于時(shí)間開銷太大，第三步是個(gè)可選擇的步驟，如無(wú)此需求，可以不進(jìn)行。
權(quán)利要求
一種存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟1)先測(cè)試控制線，如果不通過(guò)故障信息顯示和處理，測(cè)試結(jié)果輸出到測(cè)試報(bào)告管理程序，測(cè)試結(jié)束；2)如果通過(guò)進(jìn)行花碼數(shù)據(jù)輸入法測(cè)試，對(duì)數(shù)據(jù)線和地址線進(jìn)行初測(cè)，其故障的規(guī)律可以為故障芯片定位提供幫助；3)再利用01步進(jìn)法將測(cè)試故障定位到具體那根數(shù)據(jù)線和地址線，還測(cè)試部分覆蓋的存儲(chǔ)單元，如果不通過(guò)故障信息顯示和處理，測(cè)試結(jié)果輸出到測(cè)試報(bào)告管理程序，測(cè)試結(jié)束；4)如果通過(guò)再通過(guò)March算法測(cè)試對(duì)存儲(chǔ)器的全地址空間進(jìn)行全面測(cè)試，無(wú)論通過(guò)還是不通過(guò)均故障信息顯示和處理，測(cè)試結(jié)果輸出到測(cè)試報(bào)告管理程序，測(cè)試結(jié)束。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法，其特征在于所述花碼數(shù)據(jù)輸入法具體是對(duì)于測(cè)試輸入的數(shù)據(jù)，根據(jù)距離效應(yīng)選取兩組差異最大的花碼數(shù)據(jù)作為輸入數(shù)據(jù)；在選擇測(cè)試地址時(shí)，由于線路傳輸具有電容效應(yīng)，在每寫完一組后，再按寫時(shí)的順序讀出，選取的地址為與數(shù)據(jù)輸入相同的花碼。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法，其特征在于，所述01步進(jìn)法是指改進(jìn)Movi算法在輸入數(shù)據(jù)為全0或全1的背景下，尋址順序?yàn)槭沟刂肪€的每一位順序逐次變高或變低的地址序列，它用地址線遍歷代替全地址空間遍歷，地址移位序列中僅包含log2N+l個(gè)選擇的地址單元，即表1所示碼字所表示的地址單元，其測(cè)試時(shí)間降為(log2N+l) XT ;該測(cè)試算法先寫單元，后讀單元，先按照地址位從低到高移位的順序?qū)懭?，再按照地址位從高到低移位的順序讀出作比對(duì)；上述讀寫操作共進(jìn)行兩次，地址移位序列先選取在全0的背景下移位l，再選取在全1的背景下移位O。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法，其特征在于，所述March算法具體是對(duì)一個(gè)單元進(jìn)行完寫0、讀0寫1的操作后，再順次向下一個(gè)單元進(jìn)發(fā)，它對(duì)存儲(chǔ)器的單個(gè)單元靜態(tài)故障、單個(gè)單元?jiǎng)討B(tài)故障、靜態(tài)耦合故障都有較強(qiáng)的診斷能力。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法，其特征在于所述距離效應(yīng)即兩個(gè)測(cè)試向量的海明距離是指兩個(gè)測(cè)試向量相應(yīng)位不同的個(gè)數(shù)越大，它們能檢測(cè)到的不同故障數(shù)越多。
6. 根據(jù)權(quán)利要求2所述存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法，其特征在于所述電容效應(yīng)具體是指寫入數(shù)據(jù)并立即讀出，即使線路開路故障也不一定能檢測(cè)出。
7. 根據(jù)權(quán)利要求2所述存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法，其特征在于所述選取的地址為與數(shù)據(jù)輸入相同的花碼具體實(shí)現(xiàn)是如果地址線比數(shù)據(jù)線位數(shù)多，則補(bǔ)1 ，直到選取的地址為與數(shù)據(jù)輸入相同的花碼。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1 7任一所述存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法，其特征在于所述測(cè)試控制線是用程控萬(wàn)用表測(cè)試控制線。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法，其特征在于所述存儲(chǔ)器是嵌入式存儲(chǔ)器。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述存儲(chǔ)器在板測(cè)試方法，其特征在于所述01步進(jìn)法的測(cè)試算法共使用了存儲(chǔ)器地址空間的(log2N+l) X2個(gè)單元。
全文摘要
一種存儲(chǔ)器測(cè)試方法，包括依次進(jìn)行的先測(cè)試控制線、花碼數(shù)據(jù)輸入法測(cè)試、01步進(jìn)法測(cè)試以及March算法測(cè)試步驟。本發(fā)明要求首先應(yīng)具有高時(shí)效性，其次應(yīng)對(duì)線路故障有高故障覆蓋率，再次應(yīng)兼顧存儲(chǔ)器芯片自身故障的檢測(cè)；同時(shí)覆蓋了存儲(chǔ)器芯片自身故障和電路板線路故障，在測(cè)試需求和測(cè)試耗費(fèi)間取得了較好的平衡，有較好的故障覆蓋率和時(shí)效性。適合用于各種存儲(chǔ)器的在板測(cè)試。
文檔編號(hào)G11C29/00GK101770812SQ20081023658
公開日2010年7月7日 申請(qǐng)日期2008年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月31日
發(fā)明者葉關(guān)山, 崔強(qiáng), 彭剛鋒 申請(qǐng)人:中國(guó)航空工業(yè)第一集團(tuán)公司第六三一研究所