專利名稱：數(shù)據(jù)處理電路及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種數(shù)據(jù)處理電路及方法，且特別是有關(guān)于一種可以 降低硬件成本的存儲(chǔ)器模塊的數(shù)據(jù)處理電路及方法。
背景技術(shù)：
存儲(chǔ)器是應(yīng)用于現(xiàn)今的多種數(shù)據(jù)儲(chǔ)存的用途。請(qǐng)參照?qǐng)D1，其繪示傳
統(tǒng)存儲(chǔ)器的一例的示意圖。存儲(chǔ)器100包括多條字線WL、多條位線BL 以及多個(gè)存儲(chǔ)單元區(qū)塊，例如為第一存儲(chǔ)單元區(qū)塊110及第二存儲(chǔ)單元區(qū) 塊120。每一個(gè)存儲(chǔ)單元區(qū)塊包括多個(gè)存儲(chǔ)單元，該多個(gè)存儲(chǔ)單元是以陣 列形式排列，每一個(gè)存儲(chǔ)單元包括一晶體管。此外，單一存儲(chǔ)單元區(qū)塊包 括多個(gè)Y型多任務(wù)器，每一個(gè)Y型多任務(wù)器均耦接至感測(cè)放大器(sense amplifier) 130。
若存儲(chǔ)器是一預(yù)編程存儲(chǔ)器(pre-programmed memory),則在存儲(chǔ)器 送交至客戶之前，須先將所預(yù)期的數(shù)據(jù)編程于存儲(chǔ)器中。此時(shí)，若存儲(chǔ)器 的操作區(qū)間不足，則存儲(chǔ)器可能于對(duì)存儲(chǔ)單元進(jìn)行編程的過程中產(chǎn)生錯(cuò) 誤。因此，存儲(chǔ)器通常于制造出后會(huì)進(jìn)行一邊緣閾值電壓測(cè)試(margin VT test),以找出產(chǎn)生編程錯(cuò)誤的行(column)存儲(chǔ)單元，并利用修復(fù)(repair) 單元區(qū)塊140內(nèi)的行修復(fù)單元進(jìn)行行修復(fù)(column repair)的動(dòng)作，以取 代產(chǎn)生編程錯(cuò)誤的行存儲(chǔ)單元。然而，如此一來，存儲(chǔ)器100必須準(zhǔn)備額 外的修復(fù)單元區(qū)塊140，使得存儲(chǔ)器100的硬件成本上升。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種數(shù)據(jù)處理電路及方法，且 特別是存儲(chǔ)器模塊的數(shù)據(jù)處理電路及方法，利用多位錯(cuò)誤校正碼以節(jié)省行 修改單元，使得存儲(chǔ)器可利用容量增加，并降低存儲(chǔ)器的硬件成本。
根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提出一種存儲(chǔ)器模塊的數(shù)據(jù)處理電路，包括一分頁緩沖器(pagebuffer)、 一第一特征群(syndrome)計(jì)算器及一第二 特征群計(jì)算器、 一鍵方程式(key equation)裝置、一Chien搜尋裝置、一 地址計(jì)數(shù)器、 一閂鎖器、 一切換裝置以及一校正單元。分頁緩沖器用以儲(chǔ) 存一 目標(biāo)頁數(shù)據(jù)。第一特征群計(jì)算器及一第二特征群計(jì)算器用以依據(jù)目標(biāo) 頁數(shù)據(jù)得到一第一特征群多項(xiàng)式及一第二特征群多項(xiàng)式，并分別儲(chǔ)存目標(biāo) 頁數(shù)據(jù)為一第一字碼(codeword)及一第二字碼。鍵方程式裝置用以依據(jù) 第一特征群多項(xiàng)式及第二特征群多項(xiàng)式得到一錯(cuò)誤位置(erratalocator)多 項(xiàng)式，并依據(jù)錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式、第一字碼及第二字碼得到一第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù) (error count)及一第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)。Chien搜尋裝置用以依據(jù)錯(cuò)誤位置多項(xiàng) 式得到一組參考碼。地址計(jì)數(shù)器用以儲(chǔ)存多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址。閂鎖器 耦接至地址計(jì)數(shù)器，并用以暫存該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址。切換裝置耦接 至鍵方程式裝置、閂鎖器及分頁緩沖器，用以依據(jù)該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地 址、第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)，輸出一讀取頁數(shù)據(jù)。校正單元用以依 據(jù)此組參考碼校正讀取頁數(shù)據(jù)以得到一校正后的讀取頁數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明的第二方面，提出一種數(shù)據(jù)處理方法。從一存儲(chǔ)單元陣列 讀取并儲(chǔ)存多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址。依據(jù)目標(biāo)頁數(shù)據(jù)得到一第一特征群多 項(xiàng)式及一第二特征群多項(xiàng)式，并分別儲(chǔ)存目標(biāo)頁數(shù)據(jù)為一第一字碼及一第 二字碼。依據(jù)第一特征群多項(xiàng)式及第二特征群多項(xiàng)式得到一錯(cuò)誤位置多項(xiàng) 式，并依據(jù)錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式、第一字碼及第二字碼得到一第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及 一第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)。依據(jù)錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式得到一組參考碼。依據(jù)該多個(gè)編程 錯(cuò)誤位的地址、第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)，輸出一讀取頁數(shù)據(jù)。依據(jù) 此組參考碼校正讀取頁數(shù)據(jù)以得到一校正后的讀取頁數(shù)據(jù)。
為讓本發(fā)明的上述內(nèi)容能更明顯易懂，下文特舉一較佳實(shí)施例，并配 合所附圖式，作詳細(xì)說明如下


圖1繪示傳統(tǒng)存儲(chǔ)器的一例的示意圖。
圖2繪示依照本發(fā)明較佳實(shí)施例的存儲(chǔ)器模塊的數(shù)據(jù)處理電路的方塊圖。
圖3繪示依照本發(fā)明較佳實(shí)施例的第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)的部份示意圖。
圖4繪示依照本發(fā)明較佳實(shí)施例的存儲(chǔ)器模塊的數(shù)據(jù)處理方法的流程圖。
主要元件符號(hào)說明
100:存儲(chǔ)器
110:第一存儲(chǔ)單元區(qū)塊
120:第二存儲(chǔ)單元區(qū)塊
130:感測(cè)放大器
140:修復(fù)單元區(qū)塊
200:數(shù)據(jù)處理電路
210:感測(cè)放大器
220:分頁緩沖器
230:第一特征群計(jì)算器
240:第二特征群計(jì)算器
250:鍵方程式裝置
260:Chien搜尋裝置
270:地址計(jì)數(shù)器
280:閂鎖器
290:切換裝置
295:校正單元
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明提供一種數(shù)據(jù)處理電路及方法，且特別是一種存儲(chǔ)器模塊的數(shù)
據(jù)處理電路及方法，利用多位(multi-bit)錯(cuò)誤校正碼(ECC)以節(jié)省行 修改單元，增加存儲(chǔ)器的整體可利用容量，使得存儲(chǔ)器的硬件成本降低。 存儲(chǔ)器是應(yīng)用于現(xiàn)今的多種數(shù)據(jù)儲(chǔ)存的用途。其中，確保儲(chǔ)存于存儲(chǔ) 器中的數(shù)據(jù)的完整性是存儲(chǔ)器設(shè)計(jì)上很重要的一環(huán)，通常使用錯(cuò)誤校正碼 (Error Correction Code, ECC)來達(dá)成此項(xiàng)要求。然而，由于存儲(chǔ)器的容 量越來越大，傳統(tǒng)用以檢測(cè)并校正l位錯(cuò)誤的錯(cuò)誤校正碼，例如漢明碼，已經(jīng)不再使用，而被可以檢測(cè)并校正多位錯(cuò)誤的錯(cuò)誤校正碼所取代。
請(qǐng)參照?qǐng)D2，其繪示依照本發(fā)明較佳實(shí)施例的存儲(chǔ)器模塊的數(shù)據(jù)處理
電路的方塊圖。數(shù)據(jù)處理電路200包括一感測(cè)放大器210 (非必要元件， 可在數(shù)據(jù)處理電路200之內(nèi)，也可在數(shù)據(jù)處理電路200之外)、 一分頁緩 沖器(page buffer) 220、 一第一特征群計(jì)算器(syndrome calculator) 230 及一第二特征群計(jì)算器240、 一鍵方程式(key叫uation)裝置250、 一 Chien 搜尋裝置260、 一地址計(jì)數(shù)器(address counter) 270、 一閂鎖器(latch) 280、 一切換裝置290以及一校正單元295。數(shù)據(jù)處理電路200實(shí)質(zhì)上是位 于存儲(chǔ)器模塊內(nèi)，且存儲(chǔ)器模塊實(shí)質(zhì)上更包括一存儲(chǔ)單元陣列(未繪示于 圖)。
感測(cè)放大器210用以從存儲(chǔ)單元陣列讀取一 目標(biāo)頁數(shù)據(jù)(page data), 此目標(biāo)頁數(shù)據(jù)實(shí)質(zhì)上包括多個(gè)錯(cuò)誤校正碼。感測(cè)放大器210將此目標(biāo)頁數(shù) 據(jù)儲(chǔ)存至分頁緩沖器220，其中，分頁緩沖器220例如為一靜態(tài)隨機(jī)存取 存儲(chǔ)器(SRAM)。此外，存儲(chǔ)器模塊通常于制造出后會(huì)進(jìn)行一邊緣閾值電 壓測(cè)試，以找出產(chǎn)生編程錯(cuò)誤的行存儲(chǔ)單元。若邊緣閾值電壓測(cè)試找到產(chǎn) 生編程錯(cuò)誤的存儲(chǔ)單元，則目標(biāo)頁數(shù)據(jù)實(shí)質(zhì)上包括多個(gè)編程正確位及多個(gè) 編程錯(cuò)誤位，該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址會(huì)被儲(chǔ)存于地址計(jì)數(shù)器270內(nèi)。閂 鎖器280耦接至地址計(jì)數(shù)器270，用以暫存該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址。
接下來以目標(biāo)頁數(shù)據(jù)包括"10X0......0X11"及三位的錯(cuò)誤校正碼為例
做說明，其中，"X"是表示編程錯(cuò)誤位，其它位為編程正確位。感測(cè)放大 器210將目標(biāo)頁數(shù)據(jù)送至第一特征群計(jì)算器230及第二特征群計(jì)算器240。 第一特征群計(jì)算器230及第二特征群計(jì)算器240依據(jù)目標(biāo)頁數(shù)據(jù)會(huì)分別得 到一第一特征群多項(xiàng)式(syndrome polynomial)及一第二特征群多項(xiàng)式， 此第一特征群多項(xiàng)式及第二特征群多項(xiàng)式是被傳送至鍵方程式裝置250。 此外，第一特征群計(jì)算器230將目標(biāo)頁數(shù)據(jù)中的多個(gè)編程錯(cuò)誤位設(shè)置為 "1"，以儲(chǔ)存目標(biāo)頁數(shù)據(jù)為第一字碼(codeword),第一字碼例如為 "1010......0111"。第二特征群計(jì)算器240將目標(biāo)頁數(shù)據(jù)中的多個(gè)編程錯(cuò)誤
位設(shè)置為"0"，以儲(chǔ)存目標(biāo)頁數(shù)據(jù)為第二字碼，第二字碼例如為 "1000......0011"。
鍵方程式裝置250依據(jù)所接收的第一特征群多項(xiàng)式及第二特征群多項(xiàng)式得到一錯(cuò)誤位置(errata locator)多項(xiàng)式，并將錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式傳送到 Chien搜尋裝置260。 Chien搜尋裝置260依據(jù)錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式得到一組參 考碼。此外，鍵方程式裝置250更依據(jù)錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式對(duì)第一字碼
"ioio......oiir及第二字碼"iooo......ooir，進(jìn)行判斷，以分別得到一第一
錯(cuò)誤計(jì)數(shù)(error count)及一第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)。
請(qǐng)參照?qǐng)D3，其繪示依照本發(fā)明較佳實(shí)施例的第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及第二錯(cuò) 誤計(jì)數(shù)的部份示意圖。茲以目標(biāo)頁數(shù)據(jù)包括六個(gè)編程錯(cuò)誤位為例做說明。 因?yàn)槟繕?biāo)頁數(shù)據(jù)包括三位的錯(cuò)誤校正碼，故鍵方程式裝置250可以得到錯(cuò) 誤位置多項(xiàng)式，且可以判斷第一字碼"IOIO......Olll"及第二字碼
"誦......ooir，是否正確。若六個(gè)編程錯(cuò)誤位的正確數(shù)據(jù)例如為"iiiiir，
則第一特征群計(jì)算器230所得到的第一字碼對(duì)于此六個(gè)位而言是完全正 確，鍵方程式裝置250得到第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)為"0"。同時(shí)，第二特征群計(jì)算 器240所得到的第二字碼對(duì)于此六個(gè)位而言是完全錯(cuò)誤，且因?yàn)殄e(cuò)誤校正 碼只有三位，故鍵方程式裝置250得到第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)為"3"。
若六個(gè)編程錯(cuò)誤位的正確數(shù)據(jù)例如為"111110"，則第一特征群計(jì)算器 230所得到的第一字碼對(duì)于此六個(gè)位而言具有一位錯(cuò)誤，鍵方程式裝置250 得到第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)為'T'。同時(shí)，第二特征群計(jì)算器240所得到的第二字 碼對(duì)于此六個(gè)位而言具有五位錯(cuò)誤，且因?yàn)殄e(cuò)誤校正碼只有三位，故鍵方 程式裝置250得到第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)為"3"。
若六個(gè)編程錯(cuò)誤位的正確數(shù)據(jù)例如為"111100"，則第一特征群計(jì)算器 230所得到的第一字碼對(duì)于此六個(gè)位而言具有二位錯(cuò)誤，鍵方程式裝置250 得到第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)為"2"。同時(shí)，第二特征群計(jì)算器240所得到的第二字 碼對(duì)于此六個(gè)位而言具有四位錯(cuò)誤，且因?yàn)殄e(cuò)誤校正碼只有三位，故鍵方 程式裝置250得到第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)為"3"。
若六個(gè)編程錯(cuò)誤位的正確數(shù)據(jù)例如為"111000"，則第一特征群計(jì)算器 230所得到的第一字碼對(duì)于此六個(gè)位而言具有三位錯(cuò)誤，鍵方程式裝置250 得到第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)為"3"。同時(shí)，第二特征群計(jì)算器240所得到的第二字 碼對(duì)于此六個(gè)位而言具有三位錯(cuò)誤，鍵方程式裝置250得到第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù) 為"3"。
若六個(gè)編程錯(cuò)誤位的正確數(shù)據(jù)例如為"110000"，則第一特征群計(jì)算器230所得到的第一字碼對(duì)于此六個(gè)位而言具有四位錯(cuò)誤，且因?yàn)殄e(cuò)誤校正
碼只有三位，故鍵方程式裝置250得到第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)為"3"。同時(shí)，第二 特征群計(jì)算器240所得到的第二字碼對(duì)于此六個(gè)位而言具有二位錯(cuò)誤，鍵 方程式裝置250得到第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)為"2"。
若六個(gè)編程錯(cuò)誤位的正確數(shù)據(jù)為"100000"，則第一特征群計(jì)算器230 所得到的第一字碼對(duì)于此六個(gè)位而言具有五位錯(cuò)誤，且因?yàn)殄e(cuò)誤校正碼只 有三位，故鍵方程式裝置250得到第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)為"3"。同時(shí)，第二特征 群計(jì)算器240所得到的第二字碼對(duì)于此六個(gè)位而言具有一位錯(cuò)誤，鍵方程 式裝置250得到第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)為"l"。
若六個(gè)編程錯(cuò)誤位的正摘數(shù)據(jù)例如為"000000"，則第一特征群計(jì)算器 230所得到的第一字碼對(duì)于此六個(gè)位而言是完全錯(cuò)誤，且因?yàn)殄e(cuò)誤校正碼 只有三位，故鍵方程式裝置250得到第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)為"3"。同時(shí)，第二特 征群計(jì)算器240所得到的第二字碼對(duì)于此六個(gè)位而言是完全正確，鍵方程 式裝置250得到第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)為"0"。此外，鍵方程式裝置250于得到第 一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)之后，更對(duì)第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)進(jìn)行 比較。
切換裝置290例如為一多任務(wù)器，耦接至鍵方程式裝置250及分頁緩 沖器220，并受控于閂鎖器280，用以依據(jù)編程錯(cuò)誤位的地址、第一錯(cuò)誤 計(jì)數(shù)及第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)，輸出一讀取頁數(shù)據(jù)。當(dāng)輸出地址不是編程錯(cuò)誤位的 地址時(shí)，閂鎖器280使得切換裝置290輸出儲(chǔ)存于分頁緩沖器220中相對(duì) 應(yīng)的編程正確位。當(dāng)輸出地址為編程錯(cuò)誤位的地址，且第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)小于 第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)時(shí)，代表較多的編程錯(cuò)誤位的正確數(shù)值為"l"，故閂鎖器280 使得切換裝置290依據(jù)第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)輸出"l"以取代編程錯(cuò)誤位。
當(dāng)輸出地址為編程錯(cuò)誤位的地址，且第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)大于第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù) 時(shí)，代表較多的編程錯(cuò)誤位的正確數(shù)值為"O"，故閂鎖器280使得切換裝 置290依據(jù)第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)輸出"O，，以取代編程錯(cuò)誤位。當(dāng)輸出地址為編程 錯(cuò)誤位的地址，且第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)等于第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)時(shí)，代表編程錯(cuò)誤位的 正確數(shù)值為'T，或"O"的數(shù)目相等，故閂鎖器280使得切換裝置290輸出"l" 或"O"以取代編程錯(cuò)誤位。
切換裝置2卯輸出讀取頁數(shù)據(jù)至校正單元295。校正單元295例如為一互斥或門，用以將此組參考碼及讀取頁數(shù)據(jù)中相對(duì)應(yīng)的位進(jìn)行互斥或的 運(yùn)算，以得到一校正后的讀取頁數(shù)據(jù)。
本發(fā)明還提供一種存儲(chǔ)器模塊的數(shù)據(jù)處理方法。請(qǐng)參照?qǐng)D4，其繪示 依照本發(fā)明較佳實(shí)施例的存儲(chǔ)器模塊的數(shù)據(jù)處理方法的流程圖。于步驟
S400中，從一存儲(chǔ)單元陣列讀取并儲(chǔ)存一目標(biāo)頁數(shù)據(jù)，且當(dāng)目標(biāo)頁數(shù)據(jù)包 括多個(gè)編程錯(cuò)誤位時(shí)，儲(chǔ)存該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址。于步驟S410中， 依據(jù)目標(biāo)頁數(shù)據(jù)得到一第一特征群多項(xiàng)式及一第二特征群多項(xiàng)式，并分別 儲(chǔ)存目標(biāo)頁數(shù)據(jù)為一第一字碼及一第二字碼。
于步驟S420中，依據(jù)第一特征群多項(xiàng)式及第二特征群多項(xiàng)式得到一 錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式，并依據(jù)錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式、第一字碼及第二字碼得到一第 一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及一第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)。于步驟S430中，依據(jù)錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式得 到一組參考碼。于步驟S440中，依據(jù)該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址、第一錯(cuò) 誤計(jì)數(shù)及第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)，輸出一讀取頁數(shù)據(jù)。于步驟S450中，依據(jù)此組 參考碼校正該讀取頁數(shù)據(jù)以得到一校正后的讀取頁數(shù)據(jù)。
上述的存儲(chǔ)器模塊的數(shù)據(jù)處理方法，其操作原理已詳述于存儲(chǔ)器模塊 的數(shù)據(jù)處理電路200中，故于此不再詳述。
本發(fā)明上述實(shí)施例所揭露的存儲(chǔ)器模塊的數(shù)據(jù)處理電路及方法，是利 用多位的錯(cuò)誤校正碼對(duì)編程錯(cuò)誤位進(jìn)行校正的動(dòng)作，故得以節(jié)省行修改單 元，增加存儲(chǔ)器的整體可利用容量，使得存儲(chǔ)器的硬件成本降低。此外， 于上述的實(shí)施例中，是利用第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)選擇較多的編程 錯(cuò)誤位的正確數(shù)值并輸出該正確數(shù)值。如此一來，對(duì)于m位的錯(cuò)誤校正碼 而言，即可以修正2m位的編程錯(cuò)誤位，更是大幅節(jié)省行修改單元的需求
綜上所述，雖然本發(fā)明已以一較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限 定本發(fā)明。本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者，在不脫離本發(fā)明的精 神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動(dòng)與潤(rùn)飾。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視權(quán) 利要求所界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1、一種數(shù)據(jù)處理電路，其特征在于，包括一分頁緩沖器，用以儲(chǔ)存一目標(biāo)頁數(shù)據(jù)；一第一特征群計(jì)算器及一第二特征群計(jì)算器，用以依據(jù)該目標(biāo)頁數(shù)據(jù)分別得到一第一特征群多項(xiàng)式及一第二特征群多項(xiàng)式，并分別儲(chǔ)存該目標(biāo)頁數(shù)據(jù)為一第一字碼及一第二字碼；一鍵方程式裝置，用以依據(jù)該第一特征群多項(xiàng)式及該第二特征群多項(xiàng)式得到一錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式，并依據(jù)該錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式、該第一字碼及該第二字碼得到一第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及一第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)；一Chien搜尋裝置，用以依據(jù)該錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式得到一組參考碼；一地址計(jì)數(shù)器，用以儲(chǔ)存多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址；一閂鎖器，耦接至該地址計(jì)數(shù)器，并用以暫存該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址；一切換裝置，耦接至該鍵方程式裝置、該閂鎖器及該分頁緩沖器，用以依據(jù)該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址、該第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及該第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)，輸出一讀取頁數(shù)據(jù)；以及一校正單元，用以依據(jù)該組參考碼校正該讀取頁數(shù)據(jù)以得到一校正后的讀取頁數(shù)據(jù)。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理電路，其特征在于，該目標(biāo)頁數(shù) 據(jù)包括多個(gè)編程正確位及該多個(gè)編程錯(cuò)誤位，該分頁緩沖器儲(chǔ)存該多個(gè)編 程正確位及該多個(gè)編程錯(cuò)誤位，該第一特征群計(jì)算器將該多個(gè)編程錯(cuò)誤位 設(shè)置為"l"以儲(chǔ)存該目標(biāo)頁數(shù)據(jù)為該第一字碼，該第二特征群計(jì)算器將該 多個(gè)編程錯(cuò)誤位設(shè)置為"O"以儲(chǔ)存該目標(biāo)頁數(shù)據(jù)為該第二字碼。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的數(shù)據(jù)處理電路，其特征在于，該鍵方程式 裝置依據(jù)該錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式對(duì)該第一字碼及該第二字碼進(jìn)行判斷，以分別 得到該第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及該第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)，并對(duì)該第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及該第二錯(cuò) 誤計(jì)數(shù)進(jìn)行比較。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的數(shù)據(jù)處理電路，其特征在于，該切換裝置 耦接至該分頁緩沖器及該鍵方程式裝置，并受控于該閂鎖器，當(dāng)輸出地址不是該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址時(shí)，該閂鎖器使得該切換裝置輸出儲(chǔ)存于該 分頁緩沖器中相對(duì)應(yīng)的該多個(gè)編程正確位。
5、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的數(shù)據(jù)處理電路，其特征在于，當(dāng)輸出地址 為該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址，且該第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)小于該第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)時(shí)，該閂鎖器使得該切換裝置依據(jù)該第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)輸出"r以取代該多個(gè)編程錯(cuò)誤位。
6、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的數(shù)據(jù)處理電路，其特征在于，當(dāng)輸出地址為該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址，且該第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)大于該第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)時(shí)，該閂鎖器使得該切換裝置依據(jù)該第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)輸出"o"以取代該多個(gè)編程錯(cuò)誤位。
7、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的數(shù)據(jù)處理電路，其特征在于，當(dāng)輸出地址 為該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址，且該第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)等于該第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)時(shí)， 該閂鎖器使得該切換裝置輸出"1"或"0"以取代該多個(gè)編程錯(cuò)誤位。
8、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理電路，其特征在于，該校正單元 為一互斥或門，用以將該組參考碼及該讀取頁數(shù)據(jù)中相對(duì)應(yīng)的位進(jìn)行互斥 或的運(yùn)算，以得到該校正后的讀取頁數(shù)據(jù)。
9、 一種數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，包括 從一存儲(chǔ)單元陣列讀取并儲(chǔ)存多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址；依據(jù)一目標(biāo)頁數(shù)據(jù)得到一第一特征群多項(xiàng)式及一第二特征群多項(xiàng)式， 并分別儲(chǔ)存該目標(biāo)頁數(shù)據(jù)為一第一字碼及一第二字碼；依據(jù)該第一特征群多項(xiàng)式及該第二特征群多項(xiàng)式得到一錯(cuò)誤位置多 項(xiàng)式，并依據(jù)該錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式、該第一字碼及該第二字碼得到一第一錯(cuò) 誤計(jì)數(shù)及一第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)；依據(jù)該錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式得到一組參考碼；依據(jù)該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址、該第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及該第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)， 輸出一讀取頁數(shù)據(jù)；以及依據(jù)該組參考碼校正該讀取頁數(shù)據(jù)以得到一校正后的讀取頁數(shù)據(jù)。
10、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，該目標(biāo)頁數(shù) 據(jù)包括多個(gè)編程正確位及該多個(gè)編程錯(cuò)誤位，該儲(chǔ)存該目標(biāo)頁數(shù)據(jù)為該第 一字碼及該第二字碼的步驟包括將該多個(gè)編程錯(cuò)誤位設(shè)置為"l"以儲(chǔ)存該目標(biāo)頁數(shù)據(jù)為該第一字碼；以及'將該多個(gè)編程錯(cuò)誤位設(shè)置為"o"以儲(chǔ)存該目標(biāo)頁數(shù)據(jù)為該第二字碼。
11、 根據(jù)權(quán)利要求10所述的數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，更包括 依據(jù)該錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式對(duì)該第一字碼及該第二字碼進(jìn)行判斷，以分別得到該第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及該第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)；以及對(duì)該第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及該第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)進(jìn)行比較。
12、 根據(jù)權(quán)利要求11所述的數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，該輸出該 讀取頁數(shù)據(jù)的步驟包括當(dāng)輸出地址不是該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址時(shí)，輸出相對(duì)應(yīng)的該多個(gè)編程正確位；當(dāng)輸出地址為該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址，且該第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)小于該第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)時(shí)，輸出'T'以取代該多個(gè)編程錯(cuò)誤位；當(dāng)輸出地址為該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址，且該第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)大于該第 二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)時(shí)，輸出"O"以取代該多個(gè)編程錯(cuò)誤位；以及當(dāng)輸出地址為該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址，且該第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)等于該第 二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)時(shí)，輸出'T'或"O"以取代該多個(gè)編程錯(cuò)誤位。
13、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，該得到該校 正后的讀取頁數(shù)據(jù)的步驟是將該組參考碼及該讀取頁數(shù)據(jù)中相對(duì)應(yīng)的位 進(jìn)行互斥或的運(yùn)算，以得到該校正后的讀取頁數(shù)據(jù)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種數(shù)據(jù)處理電路及方法。從一存儲(chǔ)單元陣列讀取并儲(chǔ)存多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址。依據(jù)目標(biāo)頁數(shù)據(jù)得到一第一特征群多項(xiàng)式及一第二特征群多項(xiàng)式，并分別儲(chǔ)存目標(biāo)頁數(shù)據(jù)為一第一字碼及一第二字碼。依據(jù)第一特征群多項(xiàng)式及第二特征群多項(xiàng)式得到一錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式，并依據(jù)錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式、第一字碼及第二字碼得到一第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及一第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)。依據(jù)錯(cuò)誤位置多項(xiàng)式得到一組參考碼。依據(jù)該多個(gè)編程錯(cuò)誤位的地址、第一錯(cuò)誤計(jì)數(shù)及第二錯(cuò)誤計(jì)數(shù)，輸出一讀取頁數(shù)據(jù)。依據(jù)此組參考碼校正讀取頁數(shù)據(jù)以得到一校正后的讀取頁數(shù)據(jù)。
文檔編號(hào)G11C29/44GK101630535SQ20081017637
公開日2010年1月20日 申請(qǐng)日期2008年11月25日 優(yōu)先權(quán)日2008年7月15日
發(fā)明者黃世昌 申請(qǐng)人:旺宏電子股份有限公司