專利名稱：：回路控制裝置及其方法
技術領域：
：本發(fā)明是有關于電子裝置，尤其是有關于回路控制裝置及其方法。
背景技術：
：圖1A為一現(xiàn)有技術的光學儲存裝置。一般來說，儲存在光盤片中的數(shù)據(jù)在傳送至解碼器的前，會先經(jīng)過放大和數(shù)字化的步驟，以將信號的振幅調(diào)整為一目標值。可變增益放大器102，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器104和自動益增控制器106形成一個自動增益控制器回路，用來調(diào)整光學信號#RF的增益。而空白檢測器110提供一額外的數(shù)據(jù)通路，用以檢測光學信號#RF的一空白狀態(tài)(blankness)，其中光學信號#RF的空白狀態(tài)對應于光盤片上一軌道中的至少一空白未燒錄區(qū)段(blanksector)。如果光學信號#RF的振幅大小低于一臨界值，則該光學信號#RF對應該空白狀態(tài)，因此解碼器108不啟動，而對應的光盤片記錄區(qū)段(recordingsector)則判定為空白未燒錄區(qū)段。相對的，如果光學信號#RF不是空白狀態(tài)，則空白檢測器110傳送一致能信號#en至該解碼器108，使解碼器108啟動，以對模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器104輸出的數(shù)據(jù)信號#DATA進行解碼處理。圖1B為定義空白狀態(tài)的示意圖。當光學信號#RF的振幅大小低于臨界值(+th和-th)時，則對應的記錄區(qū)段則視為空白區(qū)段。相對的，當光學信號#RF的振幅大小超過臨界值信號時，則對應的記錄區(qū)段則視為非空白區(qū)段，因此啟動解碼器108對數(shù)據(jù)信號#DATA進行處理。圖2為現(xiàn)有技術用于電子裝置，例如光學儲存裝置，的回路控制電路。該回路控制電路主要包含由可變增益放大器(VGA)202，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)204，峰谷值檢測器206和自動增益控制器(AGC)208所組成的自動增益控制回路，以及由可變增益放大器202，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器204，偏移控制器210和加法器212組成的偏移控制回路?？勺冊鲆娣糯笃?02將接收的一數(shù)據(jù)信號#RF放大，接著傳送至模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器204。如果數(shù)據(jù)信號#RF的振幅未調(diào)整至適當?shù)姆秶M數(shù)字轉(zhuǎn)換器204就沒辦法正確的取樣數(shù)據(jù)信號#RF以產(chǎn)生數(shù)字數(shù)據(jù)DATA。因此，自動增益控制器208通過產(chǎn)生一增益值#gain用以調(diào)節(jié)該數(shù)據(jù)信號#RF的振幅，而該增益值#gain是由峰谷值檢測器206的檢測結果來決定。自動增益控制器208根據(jù)峰谷值檢測器206所輸出的峰值及谷值#PB以一步進步階(stepsize)改變增益值#gain(A版renew)。整個增益控制回路遞回地進行，使數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA的振幅漸漸的逼進目標值。因此步進步階的大小與增益控制回路的收斂速率成正比。同樣的，偏移控制器210檢測數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA的偏移狀況，并產(chǎn)生偏移信號#offset來補償它。在數(shù)據(jù)信號#RF送至可變增益放大器202的前，加法器212可直接將該偏移信號#offset補償至數(shù)據(jù)信號#RF中，而偏移控制器210還使用另一步進步階遞回地漸次更新該偏移信號#offset。借此，整個回路控制機制使數(shù)據(jù)信號#RF的偏移狀況漸漸的修正回來。圖3為各種情況的波形圖。圖中顯示，從前端獲取的數(shù)據(jù)信號#RF其振幅未必適合后續(xù)處理。舉例來說，在階段t1，數(shù)據(jù)信號#RF小于目標值(正目標值+target和負目標值-target)，而增益控制回路漸次地將數(shù)據(jù)信號#RF調(diào)整趨近該目標值。在階段t2，數(shù)據(jù)信號#RF的振幅超過了目標值，所以增益控制回路會遞回地調(diào)整振幅使其趨近目標值。階段t3和t4則是偏移補償?shù)睦?。圖2所述的偏移控制回路通過回饋控制漸次地調(diào)整數(shù)據(jù)信號#RF，確保數(shù)據(jù)信號#RF在傳送到模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器204時其振幅趨近正確的目標值。然而，回路的運轉(zhuǎn)需要花時間，如果步進步階太小則收斂速度太低，數(shù)據(jù)信號#RF的振幅需要花相當長的時間才能趨近目標值。相反的，如果步進步階太大使得收斂速度調(diào)較快，但整個回饋機制也會表現(xiàn)得不穩(wěn)定，而降低模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器204所接收到的信號品質(zhì)。因此，如何調(diào)整步進步階，是一個很重要的問題。請參考圖4。圖4為一光學儲存介質(zhì)的剖面示意圖。如圖4所示，從最內(nèi)圈到最外圈的區(qū)域分別為內(nèi)部驅(qū)動區(qū)(innerdrivearea)、導入?yún)^(qū)(lead-inzone)、數(shù)據(jù)區(qū)(datazone)、導出區(qū)(lead-outzone)及外部驅(qū)動區(qū)(outerdrivearea)。內(nèi)部驅(qū)動區(qū)包含不同子區(qū)如初始區(qū)(initialzone)、內(nèi)部盤片測試區(qū)(innerdisctestzone)、計數(shù)試運轉(zhuǎn)區(qū)(countzonerun-in)、內(nèi)部盤片計數(shù)區(qū)(innerdisccountzone)、內(nèi)部盤片管理區(qū)(innerdiscadministrationzone)以及數(shù)據(jù)表區(qū)(tableofcontentszone)。內(nèi)部盤片測試區(qū)用來提供給光學儲存裝置以執(zhí)行盤片測試與最佳功率控制(OptimizedPowerControl，OPC)。光學儲存裝置以不同功率的激光束發(fā)射至一光學儲存介質(zhì)的內(nèi)部碟片測試區(qū)而形成復數(shù)個不同的標記。然后，通過讀取這些標記所得到的再生信號，則被擷取以作為調(diào)整發(fā)射功率的參考信息。因此，光學儲存裝置便可控制發(fā)射的激光束具有最佳的發(fā)射功率。而最佳功率是根據(jù)記錄數(shù)據(jù)再生信號的波形不對稱性所產(chǎn)生。在先前技術中，記錄數(shù)據(jù)再生信號的波形不對稱性是以模擬的方式來測量，因而需要花費較多的布局空間與較復雜的設計。當只讀光盤片(例如DVD-ROM)或者可記錄光盤片(例如DVD-RAM)的數(shù)據(jù)燒錄密度越來越高時，例如傾斜或者軌道錯誤(mis-track)的伺服誤差將嚴重影響信號的品質(zhì)。尤其是于可記錄光盤片中，在燒錄期間所發(fā)生的伺服誤差將影響燒錄品質(zhì)，以及于數(shù)據(jù)再生(reproduction)期間的伺服誤差還將嚴重影響信號的品質(zhì)。在DVD-RAM光盤片中，信息燒錄于包含凸紋軌(LandTrack)以及凹紋軌(GrooveTrack)的軌道中，而凸紋軌(LandTrack)以及凹紋軌(GrooveTrack)于光盤片旋轉(zhuǎn)一圈(360°)時將彼此交替。凸紋軌(LandTrack)以及凹紋軌(GrooveTrack)于啟始階段是用來引導定軌(trackingguide)以減少于高密度且窄距軌道間的干擾。各軌道區(qū)分為復數(shù)個具有相同規(guī)格的區(qū)段(sector)。在制造光盤片時，會在各區(qū)段之間嵌入首標區(qū)域(Header)。區(qū)段的物理地址記錄于首標區(qū)域中。各區(qū)段都包括數(shù)據(jù)區(qū)域以及記錄物理識別數(shù)據(jù)(physicalidentificationdata，PID)的首標區(qū)域。圖5A顯示DVD-RAM光盤片的凸紋軌的物理形狀，而圖5B顯示于凸紋軌所讀取的頻道1信號(Readchannel1signal)的波形示意圖。在此，首標區(qū)域重復的設置于各軌道的每個區(qū)段中。每一首標區(qū)域中具有相同數(shù)據(jù)結構的四個物理識別數(shù)據(jù)(PID1至PID4)。物理識別數(shù)據(jù)PID1與PID2設置于脫離軌道中心一既定量而物理識別數(shù)據(jù)PID3與PID4以相反于物理識別數(shù)據(jù)PID1與PID2的方向而設置于脫離軌道中心該既定量，因此即使激光點500脫離了軌道中心，仍可正確地讀取物理識別數(shù)據(jù)(PID1至PID4)。圖5B所示的讀取頻道1信號，其中標號ISHD1、ISHD2、ISHD3、以及ISHD4分別代表可變頻率振蕩信號(variable-frequencyoscillator，VFO)的首標區(qū)Header1、Header2、Header3、以及Header4的直流谷值(DCbottom)。同理的，物理識別數(shù)據(jù)(PID1至PID4)于凹紋軌的配置位置與于凸紋軌相反，圖6A顯示DVD-RAM光盤片的凹紋軌的物理形狀，而圖6B顯示于凹紋軌所讀取的頻道1信號(Readchannel1signal)的波形。圖7顯示圖5A與圖5B中所顯示的首標區(qū)域的放大圖。在首標區(qū)域的結構中，物理識別數(shù)據(jù)PID1、PID2以及物理識別數(shù)據(jù)PID3與PID4以相反方向設置于脫離軌道中心一既定量的位置。各物理識別數(shù)據(jù)包含VFO信號以及ID信號。其中，VFO信號具有特定頻率用來同步以及檢測ID信號。ID信號顯示區(qū)段的物理地址。VFO信號具有4T的記錄格式(T為時鐘信號的周期)。如圖7所示，首標區(qū)域包括VFO1區(qū)域701以及PID1702、VFO2區(qū)域703以及PID2704、VFO3區(qū)域705以及PID3706、以及VFO4區(qū)域707以及PID4708。在圖7中，當激光點700穿過凹紋軌的首標區(qū)域，可以得到如圖8所示的讀取頻道1信號#RF。在圖8中，VFO1信號802對應于圖7的VFO1區(qū)域701，而VFO3信號803對應于圖7的VFO3區(qū)域705。圖9顯示傳統(tǒng)用以檢測DVD-RAM光盤片的軌道中心誤差以及傾斜誤差的裝置。峰值檢測電路901檢測讀取頻道1信號#RF的峰值并產(chǎn)生峰值信號，而谷值檢測電路902檢測讀取頻道1信號#RF的谷值并產(chǎn)生谷值信號。取樣保持電路903A及903B分別取樣于區(qū)域VFO1以及VFO3的峰值以及谷值信號，并保存所取樣的信號直到被模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(analogtodigitalconverters，ADC)905A以及905B取樣為止。其中，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器905A以及905B為低取樣速率的模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器。軌道中心誤差檢測器907根據(jù)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器905A以及905B所取樣的峰值以及谷值計算軌道中心誤差。傾斜誤差檢測器909根據(jù)模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器905B所取樣的谷值計算傾斜誤差。然而，由于取樣保持電路903A及903B為模擬電路，相較于數(shù)字電路，需要較復雜的電路設計以達高正確性。再者，取樣保持電路903A及903B的取樣次數(shù)受限于其切換頻率。因此，要在短時間內(nèi)更頻繁的使用取樣保持電路903A及903B來檢測讀取頻道1信號#RF是非常困難的，因而降低了檢測正確性。若要更頻繁的檢測讀取頻道1信號#RF，必須使用更復雜的取樣保持電路。然而，此舉將導致用以檢測DVD-RAM光盤片的軌道中心誤差以及傾斜誤差的裝置的成本以及尺寸增加。
發(fā)明內(nèi)容下列實施例具體的說明如何以較佳的方式實現(xiàn)本發(fā)明。實施例僅供說明一般應用的方式，而非用以限縮本發(fā)明的范圍。實際范圍以權利要求范圍所列為準。其中一實施例為一種光學儲存裝置，用以從一光盤片獲取的一光學信號進行回路控制。當中包含一可變增益放大器，可根據(jù)一增益值將該光學信號放大。一峰谷值檢測器檢測該放大后的光學信號的一峰值和一谷值。一模式控制器將該峰值和該谷值與一臨界值比較，以產(chǎn)生一第一控制信號。一信號控制回路根據(jù)該峰值和該谷值而產(chǎn)生的一第一步階更新該增益值。該第一步階受該第一控制信號調(diào)節(jié)。進一步地，該光學儲存裝置可包含一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器，用以取樣該可變增益放大器的輸出以產(chǎn)生一數(shù)據(jù)信號。該峰谷值檢測器根據(jù)該數(shù)據(jù)信號找出該峰值和該谷值。在一實施例中，該信號控制回路包含一自動增益控制器。該模式控制器包含一第一比較器和一第二比較器，將該峰值與谷值各別與一正高臨界值和一負高臨界值比較。一第一模式判斷器耦接該第一比較器和該第二比較器的輸出端。如果該峰值超出該正高臨界值，該第一比較器輸出一真值，否則輸出一假值。如果該谷值低于該負高臨界值，該第二比較器輸出一直值，否則輸出一假值。如果該第一比較器和第二比較器同時輸出真值，則該第一模式判斷器輸出該第一控制信號至該自動增益控制器。該第一比較器進一步將該峰值與一正低臨界值比較，該正低臨界值低于該正高臨界值。同樣的，該第二比較器進一步將該谷值與一負低臨界值比較，該負低臨界值高于該負高臨界值。如果該峰值低于該正低臨界值，該第一比較器輸出一真值，否則輸出一假值。如果該谷值高于該負低臨界值，該第二比較器輸出一直值，否則輸出一假值。如果該第一比較器和第二比較器同時輸出真值，則該第一模式判斷器輸出該第一控制信號至該自動增益控制器。具體上該第一模式判斷器可以是一與門(AND)。如果該第一控制信號為一真值，該自動增益控制器增加該第一步階以加速該可變增益放大器、模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器和自動增益控制器所形成的增益控制回路。在另一實施例中，該信號控制回路包含下列元件。一偏移控制器檢測該數(shù)據(jù)信號的偏移狀況，產(chǎn)生一偏移信號以消除該光學信號的偏移。一加法器在該光學信號輸入該可變增益放大器的前以偏移信號更新該光學信號。該模式控制器根據(jù)該峰值和該谷值與該臨界值的比較結果產(chǎn)生一第二控制信號。該偏移信號系依據(jù)一第二步階更新，而該第二步階由該第二控制信號調(diào)節(jié)。該模式控制器中，一第一比較器將該峰值與一正高臨界值比較，一第二比較器將該谷值與一負高臨界值比較。一第二模式判斷器，耦接該第一比較器和該第二比較器的輸出端。如果該峰值超出該正高臨界值，該第一比較器輸出一真值，否則輸出一假值。如果該谷值低于該負高臨界值，該第二比較器輸出一直值，否則輸出一假值。如果該第一比較器和第二比較器其中的一輸出真值，則該第二模式判斷器輸出該第二控制信號至該偏移控制器。該第二模式判斷器為一或門(OR)或一異或門(XOR)。如果該第一控制信號為一真值，則該偏移控制器增加該第二步階以加速該可變增益放大器、模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器、偏移控制器和加法器所形成的偏移控制回路。另一實施例提出實現(xiàn)于上述光學儲存裝置中的回路控制方法。雖然本發(fā)明以較佳實施例說明如上，但可以理解的是本發(fā)明的范圍未必如此限定。相對的，任何基于相同精神或?qū)ΜF(xiàn)有技術技術者為顯而易見的改良皆在本發(fā)明涵蓋范圍內(nèi)。因此權利要求范圍必須以最廣義的方式解讀。本發(fā)明減小了用以檢測DVD-RAM光盤片的軌道中心誤差以及傾斜誤差的裝置的成本以及尺寸。圖1A為一現(xiàn)有技術的光學儲存裝置。圖1B為定義空白狀態(tài)的示意圖。圖2為現(xiàn)有技術的光學儲存裝置所用的回路控制電路。圖3為各種情況的波形圖。圖4顯示一光儲存介質(zhì)的剖面圖。圖5A顯示DVD-RAM光盤片的凸紋軌的物理形狀。圖5B顯示于凸紋軌的讀取頻道1信號的波形。圖6A顯示DVD-RAM光盤片的凹紋軌的物理形狀。圖6B顯示于凹紋軌的讀取頻道1信號的波形。圖7顯示圖5A與圖5B中所顯示的首標區(qū)域的放大圖。圖8顯示當光點經(jīng)過凹紋軌的首標區(qū)域時所得的讀取頻道1信號。圖9顯示傳統(tǒng)用以檢測DVD-RAM光盤片的軌道中心誤差以及傾斜誤差的裝置。圖10為一光學儲存裝置的實施例。圖11A為圖10中臨界值產(chǎn)生器的實施例。圖11B表示增益和控制信號#ctr1的關系圖。圖12為圖10中空白檢測器的實施例。圖13為本發(fā)明實際應用時的波形變化示意圖。圖14為檢測空白狀態(tài)的流程圖。圖15為本發(fā)明實施例的一的回路控制電路。圖16為圖15中模式控制器的實施例。圖17為本發(fā)明實施例之下產(chǎn)生的波形圖。圖18為本發(fā)明回路控制方法的流程圖。圖19顯示根據(jù)本發(fā)明一實施例所述的不對稱性測量裝置。圖20顯示根據(jù)本發(fā)明另一實施例所述的不對稱性測量裝置。圖21顯示根據(jù)本發(fā)明一實施例所述的不對稱性測量的時序圖。圖22顯示根據(jù)本發(fā)明另一實施例所述的不對稱性測量的時序圖。圖23顯示根據(jù)本發(fā)明一實施例所述的光盤片的軌道中心補償以及傾斜控制的方塊圖。圖24A顯示根據(jù)本發(fā)明實施例所述的檢測電路以及ADC的方塊圖。圖24B顯示根據(jù)本發(fā)明另一實施例所述的檢測電路以及ADC的方塊圖。圖25顯示根據(jù)本發(fā)明一實施例所述的軌道中心誤差以及傾斜誤差的時序圖。圖26顯示根據(jù)本發(fā)明一實施例所述的用以執(zhí)行軌道中心誤差以及傾斜誤差所使用的無效信號INVALID的時序圖。附圖標號102、1902、2002、202、2402～可變增益放大器104、1904、204、2305、905A、905B～模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器106、208～自動增益控制器108～解碼器110、1020～空白檢測器206～峰谷值檢測器210～偏移控制器212～加法器701～VFO1區(qū)域703～VFO2區(qū)域705～VFO3區(qū)域707～VFO4區(qū)域702、704、706、708、PID1、PID2、PID3、PID4～物理識別數(shù)據(jù)802～VFO1信號803～VFO3信號901～峰值檢測電路902～谷值檢測電路903A、903B～取樣保持電路907～軌道中心誤差檢測器909～傾斜誤差檢測器1010～臨界值信號產(chǎn)生器1020～空白檢測器1102～控制器1104～乘法器1106～加法器1202、2001、2403C、2403D～高通濾波器1204～遲滯元件1206～計數(shù)器1500～模式控制器1610～第一比較器1620～第二比較器1640～第一模式判斷器1630～第二模式判斷器1900～不對稱性測量裝置1901～偏移單元1903、2003、2404～等化器1905～檢測單元1906～不對稱性計算單元1907～比較器1910、2010、2304～信號調(diào)整模塊2000～不對稱性測量裝置2301～DVD-RAM光盤片2302～光學讀取頭2303～光學檢測器2306～檢測電路2306A～光學傾斜誤差檢測器2306B～軌道中心檢測器2307A、2307B～低通濾波器2308～傾斜控制器2309～推挽式檢測器2310～尋軌控制器2403A、2403B～偏移控制器#ctrl、#ctrl1、#ctrl2、C1、C2、C4、C5、C6、TLctrl、#DATA～數(shù)字數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)信號#en～致能信號#gain～增益值#hold～暫停信號#offset、b1、b2～偏移值#PB～峰值、谷值#RF～讀取頻道1信號、檢測信號、光學信號#RF’～調(diào)整檢測信號#slope、a1、a2～斜率值#th、+th、-th～臨界值、臨界值信號b1～空白信號Header1、Header2、Header3、Header4～首標區(qū)INVALID～無效信號P1～預定值S1～記錄數(shù)據(jù)再生信號S2、SD～數(shù)字信號TC～軌道中心誤差TL～光學傾斜誤差TC_ctrl～控制信號t1、t2、t3、t4～階段y1、y2～直線z～曲線具體實施方式以下將介紹根據(jù)本發(fā)明所述的較佳實施例。必須說明的是，本發(fā)明提供了許多可應用的發(fā)明概念，所揭露的特定實施例僅是說明達成以及使用本發(fā)明的特定方式，不可用以限制本發(fā)明的范圍。圖10為一光學儲存裝置的實施例。本實施例的架構不同于以往。空白檢測器1020使用從模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器輸出的數(shù)據(jù)信號#DATA來檢測空白狀態(tài)，借此節(jié)省圖1所示空白檢測器110數(shù)據(jù)路徑上的電路成本?？瞻讬z測器1020以數(shù)字電路的方式實現(xiàn)，成本更低于模擬電路。在圖1中，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器輸出的數(shù)據(jù)信號#DATA被送至自動益增控制器106，而自動益增控制器106產(chǎn)生一控制信號#ctrl至可變增益放大器102以調(diào)整光學信號#RF的增益值。借此數(shù)據(jù)信號#DATA的大小在遞回調(diào)整的過程中漸漸逼近一目標值。由于數(shù)據(jù)信號#DATA的大小一直在變動中，空白檢測器1020可能判斷錯誤。為了確保判斷正確，本發(fā)明提出一種臨界值信號產(chǎn)生器1010，用以提供動態(tài)的臨界值信號#th，正比于控制信號#ctrl。當數(shù)據(jù)信號#DATA被放大時該臨界值信號#th也被放大，使得空白檢測器1020檢測空白狀態(tài)的功能不受到可變增益放大器102增益的影響。如果空白狀態(tài)持續(xù)了一段時間，該自動增益控制器回路可能又逐漸的把光學信號#RF的增益放大到趨近于該目標值，形成我們不樂見的發(fā)散現(xiàn)象。因此在空白檢測器1020中另有一個功能來解決這個問題。如果該數(shù)據(jù)信號#DATA的大小沒超過臨界值信號#th，表示光學信號#RF是處于空白狀態(tài)。這時空白檢測器1020發(fā)出一暫停信號#hold給自動益增控制器106，命令它暫停更新控制信號#ctrl。如此一來，可以使空白狀態(tài)下的光學信號#RF的增益就保持不變。在此同時空白檢測仍然持續(xù)在進行。當發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)信號#DATA是非空白狀態(tài)時，則自動益增控制器106重新啟動，繼續(xù)更新控制信號#ctrl，以恢復自動增益控制器回路的功能。圖11A為圖10中臨界值信號產(chǎn)生器1010的一實施例。圖11B表示增益和控制信號#ctrl的關系圖。臨界值信號#th基本上和可變增益放大器102中的增益一樣，都正比于控制信號#ctrl。為了簡化該臨界值信號產(chǎn)生器1010的實現(xiàn)，可采用數(shù)字電路以近似運算的方式來產(chǎn)生該線性關系。在圖11B中，曲線z代表可變增益放大器102根據(jù)控制信號#ctrl產(chǎn)生的增益值。直線y1和y2代表臨界值信號產(chǎn)生器1010使用的近似曲線，用來產(chǎn)生臨界值信號#th。臨界值信號產(chǎn)生器1010包含一加法器1106，一控制器1102和一乘法器1104。直線y1和y2可以表示為yn＝anx+bn其中n是整數(shù)，an是斜率，而bn是偏移值。在圖11A中，控制器1102根據(jù)控制信號#ctrl的大小產(chǎn)生一斜率值#slope和一偏移值#offset。接著乘法器1104將控制信號#ctrl乘以斜率值#slope，而相乘結果送至加法器1106，與該偏移值#offset相加，以產(chǎn)生臨界值信號#th?？刂菩盘?ctrl的大小可以區(qū)分為復數(shù)個范圍，每一范圍對應一組不同的斜率值和偏移值。舉例來說，在圖11B中n等于2，所以使用兩條直線來近似曲線z。當該控制信號#ctrl的大小為第一范圍，則該控制器1102產(chǎn)生斜率值a1以及偏移值b1。當該控制信號#ctrl的大小為第二范圍，則該控制器1102產(chǎn)生斜率值a2以及偏移值b2。n的值不限定為2，而數(shù)字越大可以得到越精確的近似結果。此外，臨界值信號產(chǎn)生器1010也可以包含一數(shù)字查詢表，查詢表中包含不同的控制信號#ctrl，以及其對應的不同的臨界值信號#th。曲線z通常是在現(xiàn)有技術的校準程序中就能決定，因此臨界值信號產(chǎn)生器1010的設定也可以在校準的時候一并設定。圖12為圖10中空白檢測器1020的一實施例。該空白檢測器1020包含三個數(shù)字元件，高通濾波器1202，遲滯元件(hysteresis)1204和計數(shù)器1206。該高通濾波器1202過濾數(shù)據(jù)信號#DATA中的低頻成份，留下高頻的部份。該遲滯元件1204耦接高通濾波器1202，將該數(shù)據(jù)信號#DATA量化為一種方波信號的形式，只有0和1兩種狀態(tài)，各具有不同的工作周期(duration)。該計數(shù)器1206統(tǒng)計該方波信號的工作周期以產(chǎn)生一計數(shù)值，并利用該計數(shù)值來判斷光學信號#RF的空白狀態(tài)是否成立。臨界值信號#th可以輸入至遲滯元件1204中，用以調(diào)整產(chǎn)生方波信號的靈敏度。當高通濾波器1202輸出的數(shù)據(jù)信號#DATA在振幅大小低于臨界值信號#th對應的振幅大小程度時輸出低邏輯位準信號，當高通濾波器1202輸出的數(shù)據(jù)信號#DATA在振幅大小高于臨界值信號#th對應的振幅大小程度時輸出高邏輯位準信號，以形成該方波信號。而計數(shù)器1206在計數(shù)方波信號的工作周期時，若檢測到低邏輯位準方波信號時，即判斷為空白狀態(tài)。當計數(shù)器1206檢測到高邏輯位準方波信號時，即判斷為非空白狀態(tài)，并送出致能信號#en將解碼器108啟動，使解碼器108開始對數(shù)據(jù)信號#DATA進行解碼處理。于另一實施例中，臨界值信號#th也可以輸入至計數(shù)器1206中，用以改變空白狀態(tài)是否成立的判斷標準。舉例來說，若檢測到低邏輯位準方波信號的計數(shù)值超過對應于臨界值信號#th的一預定計數(shù)值時，即判斷為空白狀態(tài)。當計數(shù)器1206檢測到高邏輯位準方波信號時，即判斷為非空白狀態(tài)，并送出致能信號#en將解碼器108啟動，使解碼器108開始對數(shù)據(jù)信號#DATA進行解碼處理。圖13為本發(fā)明實際應用時的波形變化示意圖。在t1階段，數(shù)據(jù)信號#DATA的大小并未超過臨界值信號#th，所以光學信號#RF被回報為空白狀態(tài)，而自動益增控制器106受暫停信號#hold的控制而暫停更新，使臨界值信號#th維持不變的值。在t2階段，數(shù)據(jù)信號#DATA超過臨界值信號#th，所以自動增益控制器回路恢復運作，漸漸的將數(shù)據(jù)信號#DATA放大而趨近于目標值(+-target)。同時，臨界值信號#th也隨著數(shù)據(jù)信號#DATA的增益變大而放大。在t3階段中，數(shù)據(jù)信號#DATA的大小回復小于臨界值信號#th，即進入另一段空白狀態(tài)。值得注意的是此時的臨界值信號#th比t1階段時的臨界值信號#th還高。如果臨界值信號#th未能動態(tài)調(diào)整，則t3階段的數(shù)據(jù)信號#DATA可能被固定的臨界值信號#th誤判斷為非空白狀態(tài)。在t3階段既然已判斷為空白狀態(tài)，則自動增益控制器回路又進入暫停狀態(tài)，使臨界值信號#th和可變增益放大器102的增益一樣都維持在不變的值。在t4階段中表示數(shù)據(jù)信號#DATA出現(xiàn)了超過目標值的情況，所以自動增益控制器回路遞回的運作使其趨近于目標值(+-target)。而在此同時，臨界值信號#th的值也隨著增益下降。上述的例子說明了本發(fā)明動態(tài)地調(diào)整臨界值信號#th來避免錯誤的判斷結果。圖14為檢測空白狀態(tài)的流程圖。在步驟1402中，可變增益放大器102根據(jù)控制信號#ctrl將光學信號#RF放大。在步驟1404中，該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器將光學信號#RF取樣以得到一數(shù)據(jù)信號#DATA。在步驟1406中，該自動益增控制器106根據(jù)數(shù)據(jù)信號#DATA的大小更新控制信號#ctrl。在步驟1408中，臨界值信號產(chǎn)生器1010根據(jù)控制信號#ctrl提供一臨界值信號#th。在步驟1410中，空白檢測器1020根據(jù)臨界值信號#th檢測數(shù)據(jù)信號#DATA的空白狀態(tài)。在步驟1412中，如果數(shù)據(jù)信號#DATA不是空白狀態(tài)，則啟動解碼器108對該數(shù)據(jù)信號#DATA進行解碼。在步驟1414中，如果該數(shù)據(jù)信號#DATA是空白狀態(tài)，則空白檢測器1020關閉解碼器108，并暫停自動益增控制器106的運作使自動增益控制器回路不動作。圖15為本發(fā)明實施例的一的回路控制電路。其該控制回路可應用于一光學儲存裝置中，用以對從一光盤片獲取的一光學信號進行回路控制，該光學信號載有相對應的數(shù)據(jù)，但本發(fā)明并不以此為限?？勺冊鲆娣糯笃?02，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器204，峰谷值檢測器206和自動增益控制器208形成了一個信號控制回路，控制數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA的增益。模式控制器1500判斷臨界值和振幅的相對狀態(tài)，借以調(diào)整在自動增益控制器208和偏移控制器210中所使用的步進步階。可變增益放大器202根據(jù)增益值#gain放大數(shù)據(jù)信號#RF，而模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器204取樣放大后的數(shù)據(jù)信號#RF以產(chǎn)生數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA。隨后，峰谷值檢測器206檢測數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA中峰值和谷值#PB的大小。模式控制器1500判斷該峰值是否超過正高臨界值+Hth。正高臨界值+Hth可以是一個大于或等于正目標值+target的值。同樣的，負高臨界值-Hth是個小于等于負目標值-target的值。如果數(shù)據(jù)信號#RF被可變增益放大器202過度放大，使峰值超過正高臨界值+Hth而谷值低于負高臨界值-Hth，則模式控制器1500發(fā)出一第一控制信號#ctrl1通知自動增益控制器208增加步進步階，而增益值#gain則依據(jù)峰值和谷值#PB和調(diào)整后的該步進步階而更新，借此使增益控制回路的收斂速度加快。在該回路控制電路中，可變增益放大器202，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器204，偏移控制器210和加法器212組成了另一個信號控制回路，用以進行偏移補償。如果只有峰值或谷值其中之一超過了目標值(正目標值+target或負目標值-target)，則表示發(fā)生了如圖3中階段t3和t4所示的偏移。同樣的，模式控制器1500通過正高臨界值+Hth和負高臨界值-Hth判斷偏移是否發(fā)生。如果檢測到偏移，就發(fā)出一第二控制信號#ctrl2通知偏移控制器210增加步進步階，使偏移控制回路的收斂速度加快。接著根據(jù)數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA和調(diào)整后的步進步階，計算出偏移信號#offset。加法器212耦接在偏移控制器210和可變增益放大器202之間，負責先將偏移信號#offset補償至數(shù)據(jù)信號#RF中才送至可變增益放大器202進行放大。圖16為圖15中模式控制器1500的實施例。在該模式控制器1500中包含了一第一比較器1610和一第二比較器1620，各別將峰值谷值#PB與正高臨界值+Hth、負高臨界值-Hth進行比較。如果峰值超過正高臨界值+Hth，第一比較器1610輸出一真值，否則輸出一假值。第一模式判斷器1640耦接第一比較器1610和第二比較器1620的輸出端。同樣的，如果谷值比負高臨界值-Hth低，第二比較器1620輸出真值，反的則輸出假值。當數(shù)據(jù)信號#RF被過度放大時，第一比較器1610和第二比較器1620都會輸出真值，而第一模式判斷器1640將第一控制信號#ctrl1輸出至自動增益控制器208。具體上該第一模式判斷器1640可以是一個與門(AND)，而第一控制信號#ctrl1可以是位0和1，代表自動增益控制器208的運作模式可切換于一快速模式和一正常模式。如果第一控制信號#ctrl1的值是1，表示快速模式，則自動增益控制器208將步進步階設為一較大的值。相對的，當?shù)谝豢刂菩盘?ctrl1為0時，表示正常模式，步進步階的值設為一較小的值。此外，第二模式判斷器1630還耦接于第一比較器1610和第二比較器1620的輸出端。當偏移發(fā)生時，只有第一比較器1610或第二比較器1620其中之一會輸出真值，這時第二模式判斷器1630發(fā)出一第二控制信號#ctrl2給偏移控制器210。在本實施例中，第二模式判斷器1630是一個異或門(XOR)。但是用或門(OR)實現(xiàn)也是可以的。另一方面，當數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA的振幅過小的時候，也會觸發(fā)加速模式。舉例來說，第一比較器1610尚可將該峰值與低于目標值的一正低臨界值+Lth比較，而第二比較器1620也將谷值與高于負目標值的一負低臨界值-Lth比較。如果峰值低于正低臨界值+Lth，第一比較器1610輸出一真值，否則輸出一假值。如果谷值比負低臨界值-Lth還高，則第二比較器1620輸出真值。當數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA振幅過小，致使第一比較器1610和第二比較器1620同時輸出真值時，第一模式判斷器1640就發(fā)出具有1值的第一控制信號#ctrl1至自動增益控制器208以啟動加速模式。正低臨界值+Lth和負低臨界值-Lth也可以用在偏移的判斷上。圖17為本發(fā)明實施例之下產(chǎn)生的波形圖。階段t1顯示一低于目標值的數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA，以兩階段放大至目標值。當峰值低于正低臨界值+Lth時，自動增益控制器208運作于加速模式，所以包絡線的斜率較陡。谷值的變化原理和峰值是相同的，因具有對稱性。隨著數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA的振幅增加，峰值超過正低臨界值+Lth的時候，則增益控制回路回到正常模式，所以顯示出較平緩的斜率。步進步階的調(diào)整可使增益控制回路在振幅與目標值差距很大的時候快速收斂，并在振幅接近目標值時維持穩(wěn)定。階段t2顯示一高于目標值的數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA，趨近目標值的步驟分為兩個階段。首先，當數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA中的峰值超過正高臨界值+Hth時，自動增益控制器208運作于加速模式，由圖可見其斜率是較陡的。隨著增益控制回路的遞回收斂，數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA的振幅降至低于正高臨界值+Hth，于是增益控制回路回到正常模式，以較平緩的斜率向目標值趨近。該正高臨界值+Hth具體上可以和正目標值+target為同一值(負高臨界值-Hth和負目標值-target也一樣)，如此一來過度放大的數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA只會以加速模式進行收斂。階段t3顯示偏移的狀況。谷值低于負目標值-target，但是峰值不超過正目標值+target。圖15的偏移控制器210將偏移信號#offset值加入數(shù)據(jù)信號#RF以補償這些偏移。由圖可見，當谷值低于負高臨界值-Hth時，偏移控制器210受第二控制信號#ctrl2的觸發(fā)運作于加速模式，包絡線的斜率是較陡的。偏移的狀況可能與過度放大或是放大不足的情況復合發(fā)生，所以自動增益控制器208和偏移控制器210可能會交替運作以達成目標值。階段t4是另一種偏移的例子。峰值超過正目標值+target但是谷值不超過負目標值-target。在峰值降至正高臨界值+Hth以下之前，數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA以加速模式進行補償。最后在時間點P回到正常模式。隨后自動增益控制器208符合啟動的條件，開始進行增益控制，將數(shù)字數(shù)據(jù)#DATA趨近至目標值。圖18為本發(fā)明回路控制方法的流程圖。在步驟1802中，自動增益控制器208判斷是否需要進行增益控制。如果需要，進行步驟1804，檢測峰值和谷值來決定運作模式。如果峰值高于正高臨界值+Hth，而且谷值低于負高臨界值-Hth，則于步驟1806中進行加速模式，自動增益控制器208使用較高的步進步階來更新增益值#gain。否則，于步驟1808中進行正常模式。同樣是在步驟1806中，如果峰值低于正低臨界值+Lth而且谷值高于負低臨界值-Lth，也會啟動加速模式。在步驟1810中，偏移控制器210判斷是否需要進行偏移補償。如果是，則進行步驟1812，決定運作模式為何。如果峰值或谷值其中之一超過了正高臨界值+Hth/負高臨界值-Hth，則于步驟1818中進行加速模式。否則于步驟1814中進行正常模式。當所有步驟完成時，程序返回步驟1802。請參考圖19。圖19為一根據(jù)本發(fā)明的一第一實施例的不對稱性測量裝置1900的示意圖。不對稱性測量裝置1900包含一信號調(diào)整模塊1910、一模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器1904、一檢測單元1905、一不對稱性計算單元1906以及一比較器1907。信號調(diào)整模塊1910用來調(diào)整記錄數(shù)據(jù)再生信號S1；模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器1904耦接于信號調(diào)整模塊1910用來將調(diào)整后的記錄數(shù)據(jù)再生信號S1轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號S2；檢測單元1905耦接于模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器1904，用以根據(jù)一控制信號C2來檢測數(shù)字信號S2的復數(shù)個值。例如，當控制信號C2為高準位時，檢測單元1905檢測數(shù)字信號S2的復數(shù)個值；反之，當控制信號C2為低準位時，檢測單元1905不檢測數(shù)字信號S2的復數(shù)個值。而數(shù)字信號S2的復數(shù)個值包含了數(shù)字信號S2的峰值(peakvalue)、谷值(bottomvalue)以及平均值(averagevalue)。不對稱性計算單元1906耦接于檢測單元1905以根據(jù)檢測單元1905所得到的復數(shù)個值來計算數(shù)字信號S2的不對稱值。而比較器1907便將不對稱性計算單元1906所得出的不對稱值與一預定值P1作比較，以得出一比較結果。因此光學儲存裝置便可根據(jù)該比較結果來調(diào)整發(fā)射激光束的功率。信號調(diào)整模塊1910包含一偏移(offset)單元1901、一可調(diào)增益放大器(VariableGainAmplifier，VGA)1902與一等化器(equalizer)1903。偏移單元1901耦接于記錄數(shù)據(jù)再生信號S1與可調(diào)增益放大器1902之間用以調(diào)整記錄數(shù)據(jù)再生信號S1的偏移值；可調(diào)增益放大器1902用來放大調(diào)整后的記錄數(shù)據(jù)再生信號S1；等化器1903耦接于可調(diào)增益放大器1902的輸出端，用來等化放大后的記錄數(shù)據(jù)再生信號S1。偏移單元1901的操作頻寬為可調(diào)，且可根據(jù)控制信號C1來作調(diào)整。例如，當控制信號C1為高準位時，偏移單元1901的操作頻寬便可設為高頻寬帶；反之，當控制信號C1為低準位時，偏移單元1901的操作頻寬便可設為低頻寬帶。不對稱性計算單元1906所產(chǎn)生的不對稱值包含了如貝他值(betavalue，β)。貝他值可根據(jù)下列公式產(chǎn)生β＝(A1+A2)/(A1-A2)，A1＝PK-DC及A2＝BT-DC，其中β代表貝他值、PK代表峰值、DC代表平均值以及BT代表谷值。此外，于本發(fā)明另一實施例中，燒錄于光學儲存介質(zhì)軌道上的標記(marks)具有不同的長度用以表示不同的數(shù)據(jù)信息。因此，記錄數(shù)據(jù)再生信號S1對應于不同的長度標記各自也具有不同的物理特征。例如，對應于長度較短標記(短T標記)的記錄數(shù)據(jù)再生信號S1，其峰值，谷值或平均值會不同于長度較長標記(長T標記)的記錄數(shù)據(jù)再生信號S1。所以，不對稱值可根據(jù)下列公式產(chǎn)生不對稱值＝((PKL+BTL)/2-(PKS+BTS)/2)/(PKL-BTL)，其中PKL代表對應長T標記的峰值、PKS代表對應短T標記的峰值、BTL代表對應長T標記的谷值、以及BTS代表對應短T標記的谷值。于一實施例中，例如blu-ray光學儲存介質(zhì)的長T標記為8T標記，以及blu-ray光學儲存介質(zhì)的短標記為2T標記。另外，數(shù)字信號S2還可提供給光學儲存裝置以作為數(shù)據(jù)檢測之用。請參考圖20。圖20為一根據(jù)本發(fā)明的一第二實施例的不對稱性測量裝置2000的示意圖。不對稱性測量裝置2000相似于不對稱性測量裝置1900，其中不同之處僅在于不對稱性測量裝置2000將圖19中的不對稱性測量裝置1900的信號調(diào)整模塊1910取代成為信號調(diào)整模塊2010，其余相同標號的元件功能完全相同，為了方便說明，圖20中相同于圖19的相關描述將省略不再贅述。信號調(diào)整模塊2010包含高通濾波器2001、可調(diào)增益放大器2002以及等化器2003。高通濾波器2001用來濾除記錄數(shù)據(jù)再生信號S1的低頻噪聲；可調(diào)增益放大器2002耦接于高通濾波器2001用來放大濾出的記錄數(shù)據(jù)再生信號S1；等化器2003耦接于可調(diào)增益放大器2002的輸出端用來等化放大后的記錄數(shù)據(jù)再生信號S1。高通濾波器2001的操作頻寬為可調(diào)，且可根據(jù)控制信號C1來作調(diào)整。例如，當控制信號C1為高準位時，高通濾波器2001的操作頻寬便可設為高頻寬帶；反之，當控制信號C1為低準位時，高通濾波器2001的操作頻寬便可設為低頻寬帶。請參考圖21。圖21為本發(fā)明的不對稱性測量方式的一第一時序圖。于圖21中，空白信號b1表示記錄數(shù)據(jù)再生信號是否是從光學儲存介質(zhì)的非空白區(qū)(如數(shù)據(jù)區(qū))中所產(chǎn)生的。也就是說，當空白信號b1為低準位時，表示記錄數(shù)據(jù)再生信號從光學儲存介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)中所產(chǎn)生；當空白信號b1為高準位時，表示記錄數(shù)據(jù)再生信號不是從光學儲存介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)中所產(chǎn)生。因此，控制信號C1便可根據(jù)空白信號b1所產(chǎn)生。于圖21中，當空白信號b1為低準位時，通過一第一延遲區(qū)間dt1之后，控制信號C1才被設為低準位。如此一來，偏移單元1901與高通濾波器2001的操作頻帶便可于第一延遲區(qū)間dt1之后被調(diào)整至低頻帶。除此之外，偏移單元1901與高通濾波器2001的操作頻率都設為高頻帶?？刂菩盘朇2(地址旗標信號)根據(jù)光學儲存介質(zhì)的地址所產(chǎn)生。于圖21中，于地址1(address1)與地址2(address2)間的所擷取的記錄數(shù)據(jù)再生信號S1讀取自以功率1(power1)的功率大小記錄于光學儲存介質(zhì)上的相對應標記；于地址2與地址3(address3)間的所擷取的記錄數(shù)據(jù)再生信號S1讀取自以功率2(power2)的功率大小記錄于光學儲存介質(zhì)上的相對應標記；于地址3與地址4(address4)間的所擷取的記錄數(shù)據(jù)再生信號S1讀取自以功率3(power3)的功率大小記錄于光學儲存介質(zhì)上的相對應標記。因此，當記錄數(shù)據(jù)再生信號S1產(chǎn)生后，再通過一段延遲，控制信號C2便會被設為高準位。而控制信號C2用來致能檢測單元1905去檢測數(shù)字信號S2的復數(shù)個值。如此一來，對應于功率1的不對稱值β1、對應于功率2的不對稱值β2、對應于功率3的不對稱值β3便可分別產(chǎn)生出來。請參考圖22。圖22為本發(fā)明的不對稱性測量方式的一第二時序圖。控制信號C1根據(jù)光學儲存介質(zhì)的地址所產(chǎn)生。于圖22中，于地址1(address1)與地址2(address2)間的所擷取的記錄數(shù)據(jù)再生信號S1讀取自以功率1(power1)的功率大小記錄于光學儲存介質(zhì)上的相對應標記；于地址2與地址3(address3)間的所擷取的記錄數(shù)據(jù)再生信號S1讀取自以功率2(power2)的功率大小記錄于光學儲存介質(zhì)上的相對應標記；于地址3與地址4(address4)間的所擷取的記錄數(shù)據(jù)再生信號S1讀取自以功率3(power3)的功率大小記錄于光學儲存介質(zhì)上的相對應標記。因此，當記錄數(shù)據(jù)再生信號S1產(chǎn)生后，經(jīng)過一第二延遲時間dt3后，控制信號C1才被設為低準位。如此一來，偏移單元1901與高通濾波器2001的操作頻率便可于控制信號C1為低準位時被調(diào)整至低頻帶。除此之外，偏移單元1901與高通濾波器2001的操作頻率都設為高頻帶?？刂菩盘朇2(地址旗標信號)根據(jù)光學儲存介質(zhì)的地址所產(chǎn)生。因此，當記錄數(shù)據(jù)再生信號S1產(chǎn)生后，再通過一段延遲，控制信號C2便會被設為高準位。而控制信號C2用來致能檢測單元1905去檢測數(shù)字信號S2的復數(shù)個值。如此一來，對應于功率1的不對稱值β1、對應于功率2的不對稱值β2、對應于功率3的不對稱值β3便可分別產(chǎn)生出來。本發(fā)明的精神在于以數(shù)字的方式去檢測記錄數(shù)據(jù)再生信號的復數(shù)個值并進而去計算其不對稱值。因此，用來檢測與計算的元件便可以較簡易的設計來完成。上述不對稱性測量的裝置與方法僅為示范利用不同功率標記的記錄數(shù)據(jù)再生信號來調(diào)整光學儲存裝置的發(fā)射功率的實施例而并非將本發(fā)明限縮于上述的實施例中。本發(fā)明可適用于任何根據(jù)預先標記的再生信號來動態(tài)調(diào)整功率的寫入動作中。圖23顯示根據(jù)本發(fā)明一實施例所述的光盤片的軌道中心補償以及傾斜控制的方塊圖。光學讀取頭2302具有光學檢測器2303，用以檢測激光的強度，并將檢測到的激光強度轉(zhuǎn)換為電子信號。光學檢測器2303可以包含預定數(shù)目的光學檢測元件。如前所述，DVD-RAM光盤片具有由凹紋軌以及凸紋軌所組成的信號軌道，數(shù)據(jù)能夠讀寫至凹紋軌以及凸紋軌，或者凹紋軌以及凸紋軌的一者。同樣的，如圖7所示，在各區(qū)段的開始位置具有交錯的首標區(qū)Header1、Header2、Header3、以及Header4。因此，當設定DVD-RAM光盤片2301時，或者在執(zhí)行讀寫動作時，由光學讀取頭2302的激光二極管所發(fā)出的激光將投射至DVD-RAM光盤片2301的軌道上，并由軌道反射的激光將反射至光學檢測器2303。再者，當光點通過DVD-RAM光盤片2301的首標區(qū)域(非寫入?yún)^(qū))時，光學檢測器2303根據(jù)分別由光學檢測元件所檢測并輸出的正比于激光強度的電子信號產(chǎn)生檢測信號(光學信號)#RF。因此，可以得到圖8所示的由讀取頻道1所檢測到的檢測信號#RF。為了使模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)2305正確將模擬檢測信號#RF轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，需要使用信號調(diào)整模塊2304來調(diào)整檢測信號#RF的信號位準使其位準值位于模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器2305的工作范圍中，并以位于工作范圍的中央附近為佳。在調(diào)整完檢測信號#RF的信號位準后，信號調(diào)整模塊2304產(chǎn)生了調(diào)整后的調(diào)整檢測信號#RF’并輸出至模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器2305。根據(jù)本發(fā)明一實施例，信號調(diào)整模塊2304具有一偏移控制裝置。根據(jù)本發(fā)明另一實施例，信號調(diào)整模塊2304具有一高通濾波器(HPF)。模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)2305將調(diào)整了偏移量的模擬調(diào)整檢測信號#RF’轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號SD。檢測電路2306包括光學傾斜誤差檢測器2306A以及軌道中心檢測器2306B。檢測電路2306根據(jù)數(shù)字信號SD檢測伺服檢測信號。由DVD-RAM光盤片2301所反射的激光會因為一些傾斜狀態(tài)而偏離預設的路徑，例如DVD-RAM光盤片2301的傾斜。光學傾斜誤差檢測器2306A檢測數(shù)字信號SD的直流谷值并根據(jù)檢測結果產(chǎn)生光學傾斜誤差TL。根據(jù)本發(fā)明一實施例，位于軌道中央的光學傾斜誤差TL可由公式(1)得知TL＝[(ISHD1+ISHD2)-(ISHD3+ISHD4)]/2I0(1)其中ISHD1、ISHD2、ISHD3以及ISHD4分別代表如圖6B所示的首標區(qū)Header1、Header2、Header3、Header4的VFO信號的直流谷值，而I0為鏡像區(qū)的直流位準。根據(jù)本發(fā)明另一實施例，光學傾斜誤差TL可根據(jù)將公式(1)簡化為公式(2)而得TL＝ISHD1-ISHD3(2)當?shù)玫焦鈱W傾斜誤差TL，光學傾斜誤差檢測器2306A輸出光學傾斜誤差TL。經(jīng)過低通濾波器2307A濾波后，濾波后的光學傾斜誤差TL輸出至傾斜控制器2308。傾斜控制器2308產(chǎn)生控制信號TL_ctrl以根據(jù)光學傾斜誤差TL校正DVD-RAM光盤片2301的光點入射角。尋軌控制包括由根據(jù)光束狀態(tài)所產(chǎn)生的電子信號檢測軌道誤差信號以及根據(jù)軌道誤差信號驅(qū)動于光學讀取頭的一尋軌促動器(actuator)以移動光學讀取頭的一目標鏡片至光盤片的徑向，因此改變光束的位置以追蹤目標軌道。根據(jù)本發(fā)明一實施例，推挽式(push-pull)檢測器2309由尋軌頻道(Trackingchannel)接收檢測信號，并根據(jù)尋軌頻道的檢測信號計算軌道誤差。為了補償由推挽式檢測器2309所估計的軌道誤差，軌道中央檢測器2306B檢測模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)2305所輸出的數(shù)字信號SD的峰值以及谷值，并根據(jù)檢測結產(chǎn)生軌道中心誤差TC。根據(jù)本發(fā)明一實施例，軌道中心誤差TC可由公式(3)得知TC＝(ISVFOHD1-ISVFOHD3)/(ISVFOHD1+ISVFOHD3)(3)其中ISVFOHD1以及ISVFOHD3分別為如圖6B所示的首標區(qū)Header1、Header3的VFO信號振幅。根據(jù)本發(fā)明另一實施例，軌道中心誤差TC可根據(jù)將公式(3)簡化為公式(4)而得TC＝ISVFOHD1-ISVFOHD3(4)當?shù)玫杰壍乐行恼`差TC后，軌道中央檢測器2306B輸出軌道中心誤差TC。經(jīng)過低通濾波器2307B濾波后，濾波后的軌道中心誤差TC輸出至尋軌控制器2310。尋軌控制器2310產(chǎn)生控制信號TC_ctrl以根據(jù)推挽式檢測器2309所估計的軌道誤差的位置校DVD-RAM光盤片2301的光點的位置。必須注意的是，光學傾斜誤差TL以及軌道中心誤差TC可根據(jù)首標區(qū)Header1以及Header3的VFO信號而得，其原因是因為首標區(qū)Header1以及Header3的信號振幅較為均勻且容易被檢測。然而，也可利用其他首標區(qū)域的VFO信號來檢測光學傾斜誤差TL以及軌道中心誤差TC。圖24A顯示根據(jù)本發(fā)明實施例所述的檢測電路2306以及ADC2305的方塊圖。檢測信號#RF提供至信號調(diào)整模塊2304以將信號位準調(diào)整至ADC2305的工作范圍中。信號調(diào)整模塊2304包括可變增益放大器(VGA)2402、偏移控制器2403A以及等化器(equalizer)2404。可變增益放大器2402調(diào)整檢測信號#RF的增益。偏移控制器2403A將檢測信號#RF的位準調(diào)整至ADC2305的工作范圍中。等化器2404等化檢測信號#RF以產(chǎn)生調(diào)整后的調(diào)整檢測信號#RF’。在此，偏移控制器2403A的操作頻寬為可調(diào)整的，且操作頻寬的調(diào)整受到時鐘產(chǎn)生裝置2401所提供的控制信號C4所控制。ADC2305將調(diào)整檢測信號#RF’轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號SD以供檢測電路2306檢測。檢測電路2306檢測ADC2305所輸出的數(shù)字信號SD，并分別提供所產(chǎn)生的光學傾斜誤差TL以及軌道中心誤差TC至傾斜控制器2308以及尋軌控制器2310。在此，檢測電路2306檢測數(shù)字信號SD的動作是受到時鐘產(chǎn)生裝置2401所提供的控制信號C5所控制。再者，偏移控制器2403B偏移數(shù)字信號SD以抵銷首標區(qū)Header2以及Header4的接面之間以及其他的信號偏移量。在使用偏移控制器2403B偏移數(shù)字信號SD后，數(shù)字信號SD即適合用作數(shù)據(jù)檢測。在此，偏移控制器2403B偏移數(shù)字信號SD的動作是受到時鐘產(chǎn)生裝置2401所提供的控制信號C6所控制。再者，傾斜控制器2308或?qū)ぼ壙刂破?310的輸出信號可根據(jù)無效信號INVALID而被抑制或忽略。圖24B顯示根據(jù)本發(fā)明另一實施例所述的檢測電路2306以及ADC2305的方塊圖。與圖24A不同之處在于偏移控制器2403A以及2403B由高通濾波器2403C以及2403D所取代，而用相同標號所標示的元件以相同動作操作。高通濾波器2403C的工作范圍為可調(diào)整的，并被時鐘產(chǎn)生裝置2401所提供的控制信號C4所控制。再者，高通濾波器2403D偏移數(shù)字信號SD以抵銷首標區(qū)Header2以及Header4的接面之間以及其他的信號偏移量。在使用高通濾波器2403D偏移數(shù)字信號SD后，數(shù)字信號SD即適合用作信號檢測。在此，高通濾波器2403D的工作范圍是可調(diào)整的，并受到時鐘產(chǎn)生裝置2401所提供的控制信號C6的控制。根據(jù)本發(fā)明一實施例，時鐘產(chǎn)生裝置2401可包括時鐘產(chǎn)生單元以根據(jù)既定波形產(chǎn)生控制信號C4、C5、C6。圖25顯示根據(jù)本發(fā)明一實施例所述的軌道中心誤差以及傾斜誤差的時序圖。信號IDGATE為由時鐘產(chǎn)生裝置2401所提供的首標預測信號。當信號IDGATE為高邏輯位準時，光學讀取頭2302位于DVD-RAM光盤片2301的首標區(qū)域，而信號IDGATE為低邏輯位準時，光學讀取頭2302位于DVD-RAM光盤片2301的數(shù)據(jù)區(qū)域。為了抵銷首標區(qū)域以及數(shù)據(jù)區(qū)域的信號偏移量，偏移控制器2403A以及高通濾波器2403C的頻寬由控制信號C4切換至高工作頻寬，而偏移控制器2403B以及高通濾波器2403D的頻寬由控制信號C6切換至高工作頻寬。偏移控制器2403A以及高通濾波器2403C的頻寬于控制信號C4為高邏輯位準時設定為高工作頻寬，而于控制信號C4為低邏輯位準時設定為低工作頻寬?？刂菩盘朇6的動作與控制信號C4類似，但與首標區(qū)Header1不同之處在于控制信號C6于首標區(qū)Header3的開始處同樣設定為高邏輯位準以抵銷首標區(qū)Header2與Header3的信號偏移以遂行數(shù)據(jù)檢測?？刂菩盘朇5于區(qū)域VFO1以及VFO3為高邏輯位準。檢測電路2306于控制信號C5為高邏輯位準時致能以檢測峰值、谷值以及均值。當通過區(qū)域VFO3后，即可計算軌道中心以及傾斜誤差。圖26顯示根據(jù)本發(fā)明一實施例所述的用以執(zhí)行軌道中心誤差以及傾斜誤差所使用的無效信號INVALID的時序圖。當發(fā)生檢測錯誤時，時鐘產(chǎn)生裝置2401設定無效信號INVALID并傳送至傾斜控制器2308或?qū)ぼ壙刂破?310，或忽略傾斜誤差檢測器2306A以及軌道中心檢測器2306B的檢測結果。圖26顯示一種檢測錯誤的例子。當控制信號C5設定時且無效信號INVALID為低邏輯位準時，如標號2600所示，設定無效信號INVALID以抑制傾斜控制器2308或?qū)ぼ壙刂破?310的輸出結果，或忽略傾斜誤差檢測器2306A以及軌道中心檢測器2306B的檢測結果。本發(fā)明雖以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明的范圍，任何熟習此項技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，可做些許的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當視權利要求范圍所界定的為準。權利要求1.一種電子裝置，對一數(shù)據(jù)信號進行回路控制，包含一可變增益放大器，根據(jù)一增益值將所述的數(shù)據(jù)信號放大；一峰谷值檢測器，檢測所述的放大后的數(shù)據(jù)信號的一峰值和一谷值；一模式控制器，耦接所述的峰谷值檢測器，將所述的峰值和所述的谷值與一臨界值比較，依此產(chǎn)生一第一控制信號；一信號控制回路，根據(jù)所述的第一控制信號產(chǎn)生一第一步階，并且根據(jù)所述的峰值和所述的谷值以所述的第一步階更新所述的增益值。2.如權利要求1所述的電子裝置，該裝置進一步包含一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器，耦接所述的可變增益放大器，取樣所述的可變增益放大器的輸出以產(chǎn)生一數(shù)字數(shù)據(jù)信號；其中所述的峰谷值檢測器根據(jù)所述的數(shù)字數(shù)據(jù)信號找出所述的峰值和所述的谷值。3.如權利要求1所述的電子裝置，其中所述的信號控制回路包含一自動增益控制器。4.如權利要求1所述的電子裝置，其中所述的模式控制器包含一第一比較器，將所述的峰值與一正高臨界值比較；一第二比較器，將所述的谷值與一負高臨界值比較；以及一第一模式判斷器，耦接所述的第一比較器和所述的第二比較器的輸出端；其中如果所述的峰值高于所述的正高臨界值，所述的第一比較器輸出一真值，否則輸出一假值；如果所述的谷值低于所述的負高臨界值，所述的第二比較器輸出一真值，否則輸出一假值；以及如果所述的第一比較器和第二比較器同時輸出真值，則所述的第一模式判斷器輸出所述的第一控制信號至所述的自動增益控制器。5.如權利要求4所述的電子裝置，其中所述的第一比較器進一步將所述的峰值與一正低臨界值比較，所述的正低臨界值小于所述的正高臨界值；所述的第二比較器進一步將所述的谷值與一負低臨界值比較，所述的負低臨界值大于所述的負高臨界值；以及如果所述的峰值低于所述的正低臨界值，所述的第一比較器輸出一真值，否則輸出一假值；如果所述的谷值高于所述的負低臨界值，所述的第二比較器輸出一直值，否則輸出一假值；以及如果所述的第一比較器和第二比較器同時輸出真值，則所述的第一模式判斷器輸出所述的第一控制信號至所述的自動增益控制器。6.如權利要求5所述的電子裝置，其中所述的第一模式判斷器為一與門。7.如權利要求5所述的電子裝置，其中所述的自動增益控制器根據(jù)所述的第一控制信號加大或縮小所述的第一步階以調(diào)整所述的可變增益放大器、模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器和自動增益控制器所形成的增益控制回路。8.如權利要求1所述的電子裝置，其中所述的信號控制回路包含一偏移控制器，耦接所述的增益放大器，檢測所述的數(shù)據(jù)信號的偏移狀況，產(chǎn)生一偏移信號以消除所述的數(shù)據(jù)信號的偏移；以及一加法器，耦接所述的偏移控制器的輸出端和所述的可變增益放大器的輸入端，在所述的數(shù)據(jù)信號輸入所述的可變增益放大器之前以偏移信號更新所述的數(shù)據(jù)信號；其中所述的模式控制器根據(jù)所述的峰值和所述的谷值與所述的臨界值的比較結果產(chǎn)生一第二控制信號；以及偏移控制器根據(jù)所述的第二控制信號產(chǎn)生一第二步階，并且以所述的第二步階更新所述的偏移信號。9.如權利要求8所述的電子裝置，其中所述的模式控制器包含一第一比較器，將所述的峰值與一正高臨界值比較；一第二比較器，將所述的谷值與一負高臨界值比較；以及一第二模式判斷器，耦接所述的第一比較器和所述的第二比較器的輸出端；其中如果所述的峰值高于所述的正高臨界值，所述的第一比較器輸出一真值，否則輸出一假值；如果所述的谷值低于所述的負高臨界值，所述的第二比較器輸出一真值，否則輸出一假值；以及如果所述的第一比較器和第二比較器其中之一輸出真值，則所述的第二模式判斷器輸出所述的第二控制信號至所述的偏移控制器。10.如權利要求9所述的電子裝置，其中所述的第二模式判斷器為一或門或一異或門。11.如權利要求9所述的電子裝置，其中所述的偏移控制器根據(jù)所述的第二控制信號加大或縮小所述的第二步階以調(diào)整所述的可變增益放大器、模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器、偏移控制器和加法器所形成的偏移控制回路。12.一回路控制方法，用以對一數(shù)據(jù)信號進行回路控制，包含根據(jù)一增益值將所述的數(shù)據(jù)信號放大；檢測所述的放大后的數(shù)據(jù)信號的一峰值和一谷值；將所述的峰值和所述的谷值與一臨界值比較，以產(chǎn)生一比較結果；以及根據(jù)所述的比較結果對所述的數(shù)據(jù)信號進行回路控制。13.如權利要求12所述的回路控制方法，進一步包含，取樣放大后的數(shù)據(jù)信號以產(chǎn)生一數(shù)字數(shù)據(jù)信號；其中所述的峰值和所述的谷值根據(jù)所述的數(shù)字數(shù)據(jù)信號而找出。14.如權利要求12所述的回路控制方法，其中對數(shù)據(jù)信號進行回路控制的步驟包含根據(jù)所述的比較結果以產(chǎn)生一第一步階；以及以所述的第一步階更新所述的增益值。15.如權利要求12所述的回路控制方法，其中將所述的峰值和所述的谷值與一臨界值比較的步驟包含將所述的峰值與一正高臨界值比較；將所述的谷值與一負高臨界值比較；以及如果所述的峰值高于所述的正高臨界值，而且所述的谷值低于所述的負高臨界值，則設定一第一控制信號至一真值。16.如權利要求15所述的回路控制方法，其中將所述的峰值和所述的谷值與一臨界值比較的步驟進一步包含將所述的峰值與一正低臨界值比較；將所述的谷值與一負低臨界值比較；以及如果所述的峰值低于所述的正低臨界值，而且所述的谷值高于所述的負低臨界值，則設定所述的第一控制信號至一真值。17.如權利要求16所述的回路控制方法，進一步包含，如果所述的第一控制信號為一真值，則加大所述的第一步階以加速所述的增益值的更新。18.如權利要求12所述的回路控制方法，其中對所述的數(shù)據(jù)信號進行回路控制的步驟包含檢測所述的數(shù)據(jù)信號的偏移狀況，產(chǎn)生一偏移信號以消除所述的數(shù)據(jù)信號的偏移；根據(jù)所述的峰值和所述的谷值與所述的臨界值的比較結果產(chǎn)生一第二控制信號；依據(jù)所述的第二控制信號產(chǎn)生一第二步階；以所述的第二步階更新所述的偏移信號；以及在放大所述的數(shù)據(jù)信號之前根據(jù)所述的偏移信號以偏移所述的數(shù)據(jù)信號。19.如權利要求18所述的回路控制方法，其中所述的第二控制信號的產(chǎn)生步驟包含將所述的峰值與一正高臨界值比較；將所述的谷值與一負高臨界值比較；以及如果所述的峰值高于所述的正高臨界值，或者所述的谷值低于所述的負高臨界值，則設定所述的第二控制信號至一真值。全文摘要本發(fā)明關于一種電子裝置，用以對一數(shù)據(jù)信號進行回路控制。當中包含一可變增益放大器，可根據(jù)一增益值將該數(shù)據(jù)信號放大。一峰谷值檢測器檢測該放大后的數(shù)據(jù)信號的一峰值和一谷值。一模式控制器將該峰值和該谷值與一臨界值比較，以產(chǎn)生一第一控制信號。一信號控制回路根據(jù)該第一控制信號產(chǎn)生一第一步階，并且根據(jù)該峰值和該谷值以該第一步階更新該增益值。本發(fā)明減小了用以檢測DVD－RAM光盤片的軌道中心誤差以及傾斜誤差的裝置的成本以及尺寸。文檔編號G11B7/00GK101086854SQ20071010967公開日2007年12月12日申請日期2007年6月5日優(yōu)先權日2006年6月5日發(fā)明者林郁軒,鄭裕申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司