專利名稱：一次寫入型記錄介質、記錄裝置及其方法、以及重放裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種一次寫入型記錄介質、用于對其將被記錄在一次寫入型記錄介質上的數(shù)據進行記錄的記錄裝置和記錄方法、以及用于對記錄在一次寫入型記錄介質上的記錄數(shù)據進行重放的重放裝置和重放方法。
背景技術：
作為其可改善將記錄數(shù)據記錄在諸如光盤、磁盤、以及磁光盤這樣的高密度記錄介質上并讀取該記錄數(shù)據的可靠性的技術，存在缺陷管理。也就是說，當記錄介質上存在劃痕或粉塵或者磨損(其被整體稱為“缺陷”)時，將要記錄在或者已記錄在該缺陷位置上的數(shù)據記錄在記錄介質的另一區(qū)域(其被稱為“備用區(qū)”)中。如上所述，通過將由于該缺陷而可能不完全或者不完善記錄的或者讀取的記錄數(shù)據撤離到備用區(qū)，可改善記錄及讀取記錄數(shù)據的可靠性(參考公開號為NO.Hei 11-185390的日本專利申請)。
通常，形成了缺陷列表以執(zhí)行缺陷管理。在缺陷列表上，存在有所記錄的用于表示缺陷在記錄介質上的位置的地址信息以及這樣的地址信息，該地址信息用于表示將要記錄在或者已記錄在缺陷位置上的數(shù)據所要撤離到的備用區(qū)中的一位置(例如，備用區(qū)中的記錄位置)。
通常，當對記錄介質進行初始化或者格式化時形成缺陷列表。當將記錄數(shù)據記錄在記錄介質上時也形成缺陷列表。當若干次的對記錄數(shù)據進行記錄和重寫時，每當記錄和重寫記錄數(shù)據時，則形成或者更新缺陷列表。
當將記錄數(shù)據記錄在記錄介質上時，參考缺陷列表。這可將記錄數(shù)據記錄在其遠離缺陷位置的記錄介質上。另一方面，當對記錄在記錄介質上的記錄數(shù)據進行重放或讀取時，也參考該缺陷列表。根據該缺陷列表，因此這可安全的讀取記錄在正常記錄區(qū)域中的記錄數(shù)據以及因為存在缺陷而記錄在備用區(qū)中的記錄數(shù)據。
通常將缺陷列表記錄在下述記錄介質上的特定區(qū)域中，所述特定區(qū)域是形成或更新缺陷列表的對象。下一次當對記錄在記錄介質上的記錄數(shù)據進行重放時或者當對其他記錄數(shù)據進行重寫或又進行記錄時，從記錄介質中讀取該缺陷列表。此后讀取裝置在讀取操作中或者重放裝置在重放操作中參考該缺陷列表。

發(fā)明內容
將缺陷列表記錄在記錄介質的特定區(qū)域中。例如，就其利用藍色激光的可重寫光盤而言，將缺陷列表記錄在該盤片的導入區(qū)或導出區(qū)中所保留的預定區(qū)域中(以下簡稱為“缺陷管理區(qū)”)。
如上所述，每當記錄和重寫記錄數(shù)據時，則更新該缺陷列表。此后，每當通過對記錄數(shù)據進行記錄和重寫來更新缺陷列表時，則覆蓋記錄介質上的缺陷管理區(qū)中的其即就是記錄與重寫對象的缺陷列表。也就是說，每當對缺陷列表進行更新時，則重寫缺陷管理區(qū)中的缺陷列表。
僅在記錄介質是可重寫的情況下可實現(xiàn)通過重寫來對缺陷列表進行更新。在記錄介質是所謂的諸如一次寫入型光盤這樣的“一次寫入型記錄介質”的情況下，必須使用另一方法以實現(xiàn)對缺陷列表的更新。例如，作為其可實現(xiàn)對缺陷列表進行更新的方法，可想得到的方法是每當對缺陷列表進行更新時，則將所更新的缺陷列表記錄在一次寫入型記錄介質上的新的未記錄的或者空白區(qū)域中。
然而，根據這個方法，每當對缺陷列表進行更新時，必須保留或確保一區(qū)域以記錄所更新的缺陷列表。還必須預先估計更新缺陷列表的次數(shù)并且預先保留足夠大的缺陷管理區(qū)以記錄上述次數(shù)的缺陷列表。在任何情況下，為了實現(xiàn)對一次寫入型記錄介質上的缺陷列表進行更新，因此與對缺陷列表進行重寫或覆蓋這樣一種情況相比，必須保留很大的區(qū)域以記錄該缺陷列表(例如，較大的缺陷管理區(qū))。
其結果是，一次寫入型記錄介質的數(shù)據結構不同于可重寫型記錄介質的數(shù)據結構，這會造成就讀取記錄在記錄介質上的數(shù)據而言其相互不兼容這樣的問題。例如，增大導入區(qū)中的缺陷管理區(qū)會使導入區(qū)延伸，這會導致一次寫入型記錄介質與可重寫型記錄介質之間的導入區(qū)的范圍不同。因此，兩個記錄介質變得不可兼容，這會導致用于現(xiàn)有可重寫型記錄介質的驅動裝置不能對一次寫入型記錄介質上的數(shù)據進行重放這樣的問題。
因此本發(fā)明的一個目的就是提供一次寫入型記錄介質，該記錄介質具有缺陷管理功能并且與可重寫型記錄介質相兼容；用于將記錄數(shù)據記錄在一次寫入型記錄介質上的記錄裝置和記錄方法；以及用于對記錄在一次寫入型記錄介質上的記錄數(shù)據進行重放的重放裝置和重放方法。
本發(fā)明的上述目的是通過這樣一種一次寫入型記錄介質來實現(xiàn)的，該一次寫入型記錄介質具有一數(shù)據區(qū)，該數(shù)據區(qū)用于將記錄數(shù)據記錄在其中；一控制信息記錄區(qū)，該控制信息記錄區(qū)將用于對數(shù)據區(qū)中的記錄和/或讀取操作進行控制的信息記錄在其中，該控制信息記錄區(qū)包括用于將數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中的確定的缺陷管理區(qū)；以及一臨時缺陷管理區(qū)，該臨時缺陷管理區(qū)用于將數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息臨時記錄在其中，臨時缺陷管理區(qū)位于控制信息記錄區(qū)與數(shù)據區(qū)之間。
本發(fā)明的上述目的還是通過用于將記錄數(shù)據記錄在本發(fā)明上述一次寫入型記錄介質上的記錄裝置來實現(xiàn)的，該記錄裝置具有第一記錄設備，該第一記錄設備用于將記錄數(shù)據記錄在數(shù)據區(qū)中；存儲設備，該存儲設備用于將缺陷管理信息存儲在其中；第二記錄設備，該第二記錄設備用于將存儲在存儲設備中的缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中；以及第三記錄設備，該第三記錄設備用于將存儲在存儲設備中的缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中。
本發(fā)明的上述目的還是通過用于對記錄在本發(fā)明上述一次寫入型記錄介質上的記錄數(shù)據進行重放的重放裝置來實現(xiàn)的，該重放裝置具有存儲設備；第一讀取設備，該第一讀取設備用于讀取記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息并且將所讀取的缺陷管理信息存儲在存儲設備中；以及重放設備，該重放設備用于根據存儲在存儲設備中的缺陷管理信息來對記錄在數(shù)據區(qū)中的記錄數(shù)據進行重放。
本發(fā)明的上述目的還是通過下述第一計算機程序指令來實現(xiàn)的，所述指令切實的具體體現(xiàn)為計算機可執(zhí)行的指令程序以使計算機起本發(fā)明上述記錄裝置(包括其各個方面)的作用。
本發(fā)明的上述目的還是通過下述第二計算機程序指令來實現(xiàn)的，所述指令切實的具體體現(xiàn)為計算機可執(zhí)行的指令程序以使計算機起本發(fā)明上述重放裝置(包括其各個方面)的作用。
本發(fā)明的上述目的還是通過計算機可讀介質中的第一計算機程序產品來實現(xiàn)的，該第一計算機程序產品切實的具體體現(xiàn)為計算機可執(zhí)行的指令程序以使計算機起本發(fā)明上述記錄裝置(包括其各個方面)的作用。
本發(fā)明的上述目的還是通過計算機可讀介質中的第二計算機程序產品來實現(xiàn)的，該第二計算機程序產品切實的具體體現(xiàn)為計算機可執(zhí)行的指令程序以使計算機起本發(fā)明上述重放裝置(包括其各個方面)的作用。
根據本發(fā)明的第一或者第二計算機程序產品，通過將程序產品從諸如ROM、CD-ROM、DVD-ROM、硬盤等等這樣的用于存儲計算機程序產品的記錄介質裝載到計算機中，或者通過經由通信設備而將其即就是載波的計算機程序產品下載到計算機中，可相對容易的具體體現(xiàn)本發(fā)明的上述記錄裝置或者重放裝置。更具體地說，第一或者第二計算機程序產品具有計算機可讀代碼(或者計算機可讀命令)以使計算機起本發(fā)明上述記錄裝置或者重放裝置的作用。
本發(fā)明的上述目的還是通過用于將記錄數(shù)據記錄在本發(fā)明上述一次寫入型記錄介質上的記錄方法來實現(xiàn)的，該記錄方法具有第一記錄處理，該第一記錄處理將記錄數(shù)據記錄在數(shù)據區(qū)中；缺陷管理信息產生處理，該缺陷管理信息產生處理產生或者更新缺陷管理信息；第二記錄處理，該第二記錄處理將在缺陷管理信息產生處理中所產生的或者所更新的缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中；結束命令處理，該結束命令處理發(fā)出了用于表示使記錄介質結束的一命令；以及第三記錄處理，在結束命令處理中發(fā)出了用于表示要結束的命令的情況下，該第三記錄處理將在缺陷管理信息產生處理中所產生的或者所更新的缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中。
本發(fā)明的上述目的還是通過用于對記錄在本發(fā)明上述一次寫入型記錄介質上的記錄數(shù)據進行重放的重放方法來實現(xiàn)的，該重放方法具有檢測處理，該檢測處理檢測記錄介質是否已結束；第一讀取處理，在檢測到一次寫入型記錄介質并未結束的情況下，該第一讀取處理讀取記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息并且將所讀取的缺陷管理信息存儲在存儲設備中；第二讀取處理，在檢測到一次寫入型記錄介質已結束的情況下，該第二讀取處理讀取記錄在確定的缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息并且將所讀取的缺陷管理信息存儲在存儲設備中；以及重放處理，該重放處理根據存儲在存儲設備中的缺陷管理信息來對記錄在數(shù)據區(qū)中的記錄數(shù)據進行重放。
從下面對實施例的描述和示例中可顯而易見的得知本發(fā)明的這些功能及其他優(yōu)點。


圖1示意性的給出了本發(fā)明一次寫入型記錄介質一實施例的示意圖；圖2給出了本發(fā)明記錄裝置第一實施例的方框圖；圖3給出了本發(fā)明記錄裝置第二實施例的方框圖；圖4給出了本發(fā)明記錄裝置第三實施例的方框圖；圖5給出了本發(fā)明記錄裝置第四實施例的方框圖；圖6給出了本發(fā)明記錄裝置第五實施例的方框圖；圖7給出了本發(fā)明重放裝置第一實施例的方框圖；圖8給出了本發(fā)明重放裝置第二實施例的方框圖；圖9示意性的給出了本發(fā)明一次寫入型記錄介質一示例的示意圖；圖10示意性的給出了該示例中的缺陷管理信息的內容的示意圖；圖11示意性的給出了該示例中的缺陷列表的一個示例的示意圖；圖12示意性的給出了該示例中的臨時缺陷管理區(qū)的記錄內容的一個示例的示意圖；圖13給出了該示例中的確定的缺陷管理區(qū)的記錄內容的一個示例的示意圖；圖14給出了其即就是本發(fā)明錄放裝置一示例的記錄/重放裝置的方框圖；圖15給出了該示例中的記錄/重放裝置的盤片驅動器的方框圖；圖16給出了該示例中的記錄/重放裝置的后端方框圖；圖17給出了該示例中的記錄/重放裝置的初始設置操作的流程圖；圖18給出了其包括有該示例中的記錄/重放裝置的記錄操作的操作流程圖；圖19給出了該示例中的記錄/重放裝置的結束操作的流程圖；圖20給出了該示例中的彈出記錄/重放裝置的操作流程圖；圖21給出了該示例中的記錄/重放裝置的重放操作的流程圖；以及圖22示意性的給出了本發(fā)明一次寫入型記錄介質另一示例的示意圖。
具體實施例方式
在下文中參考附圖，對本發(fā)明的實施例進行說明。
(記錄介質的實施例)參考附圖對本發(fā)明記錄介質的一實施例進行說明。順便說一下，用于對本發(fā)明實施例進行說明所使用的附圖具體體現(xiàn)了本發(fā)明的記錄介質、記錄裝置、或者重放裝置的組成元件等等，其目的只是為了說明技術思想。各個組成元件的形狀、大小、位置、連接關系等等并不局限于附圖。
圖1給出了將要記錄在或者已記錄在扁圓形記錄介質10上的數(shù)據或者信息的結構，所述扁圓形記錄介質10是本發(fā)明記錄介質的一實施例。圖1左側是扁圓形記錄介質10的內圓周側。
記錄介質10是諸如光盤、磁盤、磁光盤、電介質記錄盤這樣的扁圓形記錄介質。記錄介質10是諸如一次寫入記錄盤這樣的其僅可在每個位置記錄一次記錄數(shù)據的一次寫入型記錄介質。
如圖1所示，記錄介質10具有數(shù)據區(qū)11；控制信息記錄區(qū)12；確定的缺陷管理區(qū)13，該確定的缺陷管理區(qū)13位于控制信息記錄區(qū)12之中；以及臨時缺陷管理區(qū)14。它還具有位于數(shù)據區(qū)11外圓周側上的另一控制信息記錄區(qū)(未說明)。
數(shù)據區(qū)11用于將“記錄數(shù)據”一次記錄或者寫入在其中?？刂菩畔⒂涗泤^(qū)12用于將用于對數(shù)據區(qū)11中的記錄和讀取進行控制的控制信息一次記錄或者寫入在其中。
可將記錄在記錄介質10上的信息或者數(shù)據分為記錄數(shù)據和控制信息。記錄數(shù)據是諸如圖像數(shù)據、音頻數(shù)據、文本數(shù)據、內容數(shù)據、計算機程序等等這樣的其主要是重放或者執(zhí)行的對象的數(shù)據。另一方面，控制信息是用于對數(shù)據區(qū)11中的記錄和讀取進行控制的信息，該信息例如是用于表示記錄介質10的屬性及類型的信息；用于對記錄數(shù)據的地址進行管理的信息；用于對驅動裝置的記錄和讀取操作進行控制的信息等等。不總是根據其內容可對記錄數(shù)據和控制信息進行清楚的分類。然而，控制信息主要直接用于驅動裝置的操作控制，同時記錄數(shù)據僅僅主要是記錄與讀取的對象并且主要用在后端或者主機的數(shù)據重放操作或者程序執(zhí)行操作中。根據其特性差異等等，將記錄數(shù)據記錄在數(shù)據區(qū)11中并且將控制信息記錄在控制信息記錄區(qū)12中。
確定的缺陷管理區(qū)13包含在控制信息記錄區(qū)12之中。確定的缺陷管理區(qū)13用于將數(shù)據區(qū)11的缺陷管理信息記錄在其中。
臨時缺陷管理區(qū)14位于控制信息記錄區(qū)12與數(shù)據區(qū)11之間。臨時缺陷管理區(qū)14用于將數(shù)據區(qū)11的缺陷管理信息臨時記錄在其中。
缺陷管理信息用于缺陷管理。缺陷管理如下。當記錄介質10中或者其上存在諸如劃痕、粉塵、或者磨損這樣的缺陷時，將記錄數(shù)據記錄在其遠離缺陷位置的一位置上。同時，將最初記錄在或者已記錄在缺陷位置上的記錄數(shù)據記錄在記錄介質10上的備用區(qū)中。此外，還執(zhí)行以下操作以作為缺陷管理的一部分當對記錄在記錄介質10上的記錄數(shù)據進行重放時，識別缺陷位置的一操作；以及從備用區(qū)中讀取最初記錄在或者已記錄在缺陷位置上的記錄數(shù)據。
缺陷列表用于缺陷管理。在缺陷列表上，存在有所記錄的用于表示缺陷在記錄介質上的位置的地址信息以及這樣的地址信息，該地址信息用于表示最初記錄在或者已記錄在缺陷位置上的數(shù)據所備擇記錄在備用區(qū)中的一位置。當將記錄數(shù)據記錄在記錄介質10上時(例如當核對時)，形成或更新缺陷列表。此外，隨著連續(xù)的使用記錄介質10，缺陷改變或者增加了。例如，在使用記錄介質10的過程中，指紋經常留在記錄面上。因此，每當對記錄介質10進行記錄和/或重放時，形成或更新缺陷列表。該缺陷列表包含在缺陷管理信息之中。
如圖1所示，記錄介質10上存在有臨時缺陷管理區(qū)14和確定的缺陷管理區(qū)13。這兩個缺陷管理區(qū)都用于記錄缺陷管理信息。然而，這兩個缺陷管理區(qū)它們自己有不同的目的，并且其物理結構彼此不同。
臨時缺陷管理區(qū)14用于將缺陷管理信息臨時記錄在其中。例如，臨時缺陷管理區(qū)14用于將缺陷管理信息記錄在其中，直到記錄介質10結束。具體地說，如果當對記錄介質10進行初始化或者格式化時形成了缺陷管理信息，那么將該缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)14中。如果當對記錄數(shù)據進行記錄時更新缺陷管理信息，那么將缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)14中。
臨時缺陷管理區(qū)14是其比確定的缺陷管理區(qū)13要大的一區(qū)域。此目的是記錄多個缺陷管理信息，以與當對其進行若干次更新時對缺陷管理信息進行更新的次數(shù)相對應。這基于這樣的事實，即不能覆蓋相同位置上的已更新缺陷管理信息，因為記錄介質10是一次寫入型記錄介質，這僅可在每個位置記錄一次。例如，臨時缺陷管理區(qū)14足夠的大以可將缺陷管理信息兩次或更多次的記錄在其中。
臨時缺陷管理區(qū)14位于控制信息記錄區(qū)12與數(shù)據區(qū)11之間。如上所述，臨時缺陷管理區(qū)14相對很大。因此如果希望該區(qū)域位于控制信息記錄區(qū)12中，那么只好選擇使控制信息記錄區(qū)12延伸。然而，在該實施例中，不必使控制信息記錄區(qū)12延伸以保留或者確保臨時缺陷管理區(qū)14，因為臨時缺陷管理區(qū)14位于控制信息記錄區(qū)12之外。此外，記錄在臨時缺陷管理區(qū)14中的信息是缺陷管理信息，并且考慮到其特性，這不是記錄數(shù)據而是控制信息。因此，不可取的是使臨時缺陷管理區(qū)14位于其用于記錄“記錄數(shù)據”的數(shù)據區(qū)11中。在該實施例中，臨時缺陷管理區(qū)14位于數(shù)據區(qū)11之外，以便可避免這種不可取的情況。
如上所述通過使臨時缺陷管理區(qū)14位于控制信息記錄區(qū)12與數(shù)據區(qū)11之間，臨時缺陷管理區(qū)14可位于記錄介質10上，而無需使控制信息記錄區(qū)12延伸并且無需使臨時缺陷管理區(qū)14位于數(shù)據區(qū)11中。這可使一次寫入型記錄介質10與一般的可重寫型記錄介質之間相兼容。
另一方面，確定的缺陷管理區(qū)13用于確定的將缺陷管理信息記錄在其中。例如，當記錄介質10結束時，缺陷管理信息不再更新并且可確定缺陷管理信息的內容，確定的缺陷管理區(qū)13用于將缺陷管理信息記錄在其中。
確定的缺陷管理區(qū)13是其比臨時缺陷管理區(qū)14要小的一區(qū)域。這是因為其全部需要將其內容確定的或者固定的至少一個缺陷管理信息記錄在該區(qū)域中。
確定的缺陷管理區(qū)13位于控制信息記錄區(qū)12之中。通常流行的大多數(shù)可重寫型記錄介質具有這樣的結構，即缺陷管理區(qū)位于控制信息記錄區(qū)之中。此外，此后所發(fā)展的大多數(shù)可重寫型記錄介質可預見的具有這樣的結構，即缺陷管理區(qū)位于控制信息記錄區(qū)之中。一個原因如下。例如，鑒于其特性，記錄在缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息屬于控制信息并且主要直接用于驅動裝置的操作控制。因此將其與其他控制信息記錄在控制信息記錄區(qū)中這是合理的并且是有效的。另一原因如下。例如，在可重寫型記錄介質的情況下，即使多次更新缺陷管理信息，也足以覆蓋位于缺陷管理區(qū)中相同位置上的已更新缺陷管理信息。因此足以確保其上記錄至少一組缺陷管理信息的缺陷管理區(qū)相對很窄，并且不必使控制信息記錄區(qū)延伸。在該實施例中，通過使確定的缺陷管理區(qū)13位于控制信息記錄區(qū)12中來采用與一般可重寫型記錄介質相同的結構。這可使一次寫入型記錄介質10與一般可重寫型記錄介質之間相兼容。
現(xiàn)在，對其使用臨時缺陷管理區(qū)14和確定的缺陷管理區(qū)13的方法的一個示例進行具體說明。當用戶將記錄介質10插入或者加載到記錄裝置中并且開始記錄以便將“記錄數(shù)據”記錄在記錄介質10上時，通過記錄裝置而將記錄數(shù)據記錄在記錄介質10上的數(shù)據區(qū)11中。此時，對每個預定塊中的記錄數(shù)據進行核對。當通過核對而檢測到不完全的記錄時，估計到在記錄位置上存在缺陷。根據該估計，形成或者更新缺陷管理信息(缺陷列表)。此后，在結束對記錄數(shù)據進行記錄的一系列操作之后，通過記錄裝置而將所形成的或者所更新的缺陷管理信息記錄在記錄介質10上的臨時缺陷管理區(qū)14中。
用戶可多次將記錄介質插入到記錄裝置中或者使其多次從記錄裝置中彈出，這可將各種記錄數(shù)據記錄在記錄介質10上。由于用戶要做多次，因此在某些情況下，會將新的灰塵附著在記錄介質10上。因此，每當將記錄數(shù)據記錄在記錄介質10上時，記錄裝置對存在于數(shù)據區(qū)11中的缺陷進行檢測、更新缺陷管理信息、并且將所更新的缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)14中。此時，因為記錄介質10是一次寫入型(例如不可重寫的)，因此不能覆蓋信息。因而，例如，將所更新的缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)14中的其緊接在最后所記錄缺陷管理信息的區(qū)域之后的一未記錄區(qū)域。臨時缺陷管理區(qū)14足夠的大以將缺陷管理信息若干次的記錄在未記錄區(qū)域中的一排或者并行序列中。
當完全將記錄數(shù)據記錄在記錄介質10上時，用戶結束記錄介質10。例如，因為記錄裝置具有結束功能，因此用戶操作該記錄裝置以結束記錄介質10。通過結束記錄裝置的操作，可從記錄在記錄介質10上的臨時缺陷管理區(qū)14中的多個新的和舊的缺陷管理信息中讀取最新的缺陷管理信息。將信息記錄在記錄介質10上的確定的缺陷管理區(qū)13中。
此后，用戶將已結束的記錄介質10插入到用于一般可重寫型記錄介質的重放裝置中以對記錄在記錄介質10上的記錄數(shù)據進行重放。此時，重放裝置讀取記錄在記錄介質10上的確定的缺陷管理區(qū)13中的缺陷管理信息，并且讀取記錄在記錄介質10上的數(shù)據區(qū)11中的記錄數(shù)據并對其進行重放，同時參考所讀取的缺陷管理信息。該重放裝置用于一般的可重寫型記錄介質，而不是特定用于一次寫入型記錄介質10。然而，如上所述，記錄介質10具有與一般可重寫型記錄介質的兼容性，以便用于可重寫型記錄介質的重放裝置可對本實施例的記錄裝置記錄在記錄介質10上的記錄數(shù)據進行準確的重放。
如上所述，根據記錄介質10，臨時缺陷管理區(qū)14位于控制信息記錄區(qū)12與數(shù)據區(qū)11之間，以便記錄介質10可確保與一般可重寫型記錄介質的兼容性，雖然該記錄介質10是一次寫入型。因此，用于一般可重寫型記錄介質等等的重放裝置可對記錄在記錄介質10上的記錄數(shù)據進行準確的重放。
(記錄介質實施例中的各個方面)
在圖1中的記錄介質10上，臨時缺陷管理區(qū)14位于其位于記錄介質10內圓周側上的控制信息記錄區(qū)12與數(shù)據區(qū)11之間。然而，如果記錄介質的外圓周側上存在控制信息記錄區(qū)，那么臨時缺陷管理區(qū)位于其位于記錄介質外圓周側上的控制信息記錄區(qū)與數(shù)據區(qū)之間。
此外，如果記錄介質上的數(shù)據區(qū)的內外圓周側上都存在控制信息記錄區(qū)，那么第一臨時缺陷管理區(qū)位于其位于內圓周側上的控制信息記錄區(qū)與數(shù)據區(qū)之間，并且第二臨時缺陷管理區(qū)位于其位于外圓周側上的控制信息記錄區(qū)與數(shù)據區(qū)之間。
此外，如果記錄介質是雙層盤片，那么可為每層提供一個或多個臨時缺陷管理區(qū)。
順便說一下，確定的缺陷管理區(qū)不僅位于其位于記錄介質內圓周側上的控制信息記錄區(qū)中，而且還位于其位于記錄介質外圓周側上的控制信息記錄區(qū)中。此外，在雙層盤片的情況下，可為每層提供一個或多個確定的缺陷管理區(qū)。
如上所述，每個臨時缺陷管理區(qū)最好是足夠的大以將缺陷管理信息多次記錄在未記錄區(qū)域中的一排中。此外，如果將其具有相同內容的缺陷管理信息冗余的多次(例如兩次)記錄在臨時缺陷管理區(qū)的未記錄區(qū)域的一排中，那么可提高對缺陷管理信息進行記錄的穩(wěn)定性或者必然性。為了實現(xiàn)此，臨時缺陷管理區(qū)最好是足夠的大以多次將缺陷管理信息記錄在未記錄區(qū)域的一排中或者順序記錄在未記錄區(qū)域中。
(記錄裝置的第一實施例)對本發(fā)明記錄裝置的第一實施例進行說明。圖2給出了本發(fā)明記錄裝置第一實施例。圖2中的是用于將記錄數(shù)據記錄在一次寫入型記錄介質上的記錄裝置20，這可僅僅將記錄數(shù)據一次記錄在每個位置上，該記錄介質具有(i)數(shù)據區(qū)，該數(shù)據區(qū)用于將記錄數(shù)據記錄在其中；(ii)控制信息記錄區(qū)，該控制信息記錄區(qū)用于將其用于對數(shù)據區(qū)中的記錄和讀取進行控制的信息記錄在其中，該控制信息記錄區(qū)包括確定的缺陷管理區(qū)，該確定的缺陷管理區(qū)用于將數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中；以及(iii)臨時缺陷管理區(qū)，該臨時缺陷管理區(qū)用于臨時將數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中，臨時缺陷管理區(qū)位于控制信息記錄區(qū)與數(shù)據區(qū)之間。例如，記錄裝置20用于將“記錄數(shù)據”記錄在上述記錄介質10上。
如圖2所示，記錄裝置20具有第一記錄設備21；存儲設備22；第二記錄設備23；以及第三記錄設備24。
第一記錄設備21將記錄數(shù)據記錄在數(shù)據區(qū)中。如果記錄介質是光盤，那么第一記錄設備21可通過光學拾取器、用于對光學拾取器進行控制的控制器等等來實現(xiàn)。順便說一下，如果記錄介質是光學型，那么光學拾取器最好是用作用于將數(shù)據或者信息直接記錄在記錄介質上的設備。然而，如果記錄介質是諸如磁、磁光、以及其利用介電常數(shù)的變化的類型這樣的其他類型，那么可使用其適合于記錄介質類型的拾取器、磁頭、探頭等等。
存儲設備22將缺陷管理信息存儲在其中。例如，存儲設備22可通過存儲器等等來實現(xiàn)。
第二記錄設備23將存儲在存儲設備22中的缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。如果記錄介質是光盤，那么第二記錄設備23可通過光學拾取器、用于對光學拾取器進行控制的控制器等等來實現(xiàn)。
第三記錄設備24將存儲在存儲設備22中的缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中。如果記錄介質是光盤，那么第三記錄設備24可通過光學拾取器、用于對光學拾取器進行控制的控制器等等來實現(xiàn)。
順便說一下，可以分別提供其構成了第一、第二、或者第三記錄設備的多組硬件，但是通常，一組就足夠了。例如，提供一個光學拾取器、一個控制器、以及用于對其與相對記錄設備相對應的控制器進行控制的三個軟件這已足夠了。
在下文中，對記錄裝置20的操作進行說明。第一記錄設備21將記錄數(shù)據記錄在一次寫入型記錄介質上的數(shù)據區(qū)中。在記錄裝置20中，當通過記錄介質或者其他通信線路而形成了或者獲得了其包括有下述缺陷列表的缺陷管理信息，所述缺陷列表用于表示缺陷在一次寫入型記錄介質上的位置等等時，存儲設備22將該缺陷管理信息存儲在其中。第二記錄設備23將存儲在存儲設備22中的缺陷管理信息記錄在記錄介質上的臨時缺陷管理區(qū)中。第二記錄設備23將缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中存在有多個時間選擇。例如，可想得到的選擇如下例如，緊接在對記錄介質進行初始化或者格式化之后；緊接在將一系列記錄數(shù)據記錄在記錄介質上之后；等等。第三記錄設備24將存儲在存儲設備22中的缺陷管理信息記錄在記錄介質的確定的缺陷管理區(qū)中。第三記錄設備24將缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中存在有多個時間選擇。例如，可想得到的選擇是當記錄介質結束時等等。
在其即就是記錄裝置20的記錄對象的記錄介質中，與上述記錄介質10的情況相同，通過使臨時缺陷管理區(qū)位于控制信息記錄區(qū)與數(shù)據區(qū)之間，可保留或者確保臨時缺陷管理區(qū)，而無需使控制信息記錄區(qū)延伸并且無需使其位于數(shù)據區(qū)中。因此，可確保一次寫入型記錄介質與可重寫型記錄介質之間的兼容性。此后，記錄裝置20的第二記錄設備23將缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。因此，可實現(xiàn)一次寫入型記錄介質中的缺陷管理，同時保持一次寫入型記錄介質與可重寫型記錄介質之間的兼容性。
此外，與上述記錄介質10的情況相同，通過使確定的缺陷管理區(qū)位于控制信息記錄區(qū)中，其即就是記錄裝置的記錄對象的記錄介質采用與可重寫型記錄介質相同的記錄結構。此后，記錄裝置20的第三記錄設備24將缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中。因此，可使一次寫入型記錄介質上的其內記錄有缺陷管理信息的區(qū)域與可重寫型記錄介質上的其內記錄有缺陷管理信息的區(qū)域相匹配。還可實現(xiàn)一次寫入型記錄介質與可重寫型記錄介質之間的兼容性。
同時，缺陷管理信息包括至少包括有下述信息的缺陷列表，所述信息用于表示缺陷在記錄介質的數(shù)據區(qū)中的位置。然而，不僅其用于表示缺陷在數(shù)據區(qū)中的位置的信息而且下述信息也包含在缺陷管理信息之中。也就是說，下述(a)定義信息和(b)缺陷列表包含在缺陷管理信息之中(a)定義信息，該定義信息用于表示數(shù)據區(qū)的位置；以及(b)缺陷列表，該缺陷列表包括缺陷位置信息以及備用區(qū)位置信息，該缺陷位置信息表示缺陷在數(shù)據區(qū)中的位置，該備用區(qū)位置信息表示將要記錄在缺陷位置上的記錄數(shù)據所備擇記錄的備用區(qū)的位置。
通常，將用于表示數(shù)據區(qū)的位置的位置信息記錄在現(xiàn)有可重寫型記錄介質的控制信息記錄區(qū)的缺陷管理區(qū)中。用于可重寫型記錄介質的重放裝置讀取該位置信息并且識別數(shù)據區(qū)在記錄介質上的位置。如果是這樣的話，那么通過將相同類型的位置信息的信息記錄在其即就是記錄裝置20的記錄對象的一次寫入型記錄介質上的確定的缺陷管理區(qū)中，可重寫型記錄介質的重放裝置可對一次寫入型記錄介質進行重放。因此，在該實施例中，用于表示數(shù)據區(qū)的位置的定義信息包含在缺陷管理信息之中，并且記錄設備24將該缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中。因此，可重寫型記錄介質的重放裝置可對下述一次寫入型記錄介質進行重放，即對所述一次寫入型記錄介質的結束已完成并且第三記錄設備24將缺陷管理信息記錄在所述一次寫入型記錄介質上的確定的缺陷管理區(qū)中。
用于可重寫型記錄介質的重放裝置讀取記錄在一次寫入型記錄介質上的確定的缺陷管理區(qū)中的定義信息并且根據該定義信息來識別數(shù)據區(qū)在一次寫入型記錄介質上的位置。因此，從邏輯上說，如果將該位置信息最終記錄為確定的缺陷管理區(qū)中的定義信息，那么可任意的設置數(shù)據區(qū)在一次寫入型記錄介質上的位置(雖然實際上通過標準等等來對其進行限制)。如果是這樣的話，那么例如當對一次寫入型記錄介質進行初始化或者格式化時，可保留很大的臨時缺陷管理區(qū)，并且僅僅通過更大，還可使數(shù)據區(qū)的開始地址向后移動。還可保留很大的臨時缺陷管理區(qū)，同時可保持與一次寫入型記錄介質和可重寫型記錄介質的重放有關的兼容性。
(記錄裝置的第二實施例)對本發(fā)明記錄裝置的第二實施例進行說明。圖3給出了本發(fā)明記錄裝置的第二實施例。與記錄裝置20一樣，圖3中的記錄裝置30具有第一記錄設備21；存儲設備22；第二記錄設備23；以及第三記錄設備24。記錄裝置30還具有第一缺陷管理信息產生設備31；以及第一記錄控制設備32。
第一缺陷管理信息產生設備31產生或者形成了與其上未記錄有記錄數(shù)據的記錄介質有關的缺陷管理信息，并且讓該信息存儲在存儲設備22中。
第一記錄控制設備32對第二記錄設備23進行控制以當?shù)谝蝗毕莨芾硇畔a生設備31產生了缺陷管理信息時而將該缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。
在下文中，對記錄裝置30的操作進行說明。例如，當對一次寫入型記錄介質進行初始化或者格式化時，第一缺陷管理信息產生設備31產生了與其上未記錄有記錄數(shù)據的記錄介質有關的缺陷管理信息。
當?shù)谝蝗毕莨芾硇畔a生設備31產生了缺陷管理信息時，第一記錄控制設備32對第二記錄設備23進行控制以將缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。第一記錄控制設備32控制第二記錄設備23以將缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的時間如下例如，當?shù)谝蝗毕莨芾硇畔a生設備31正在產生缺陷管理信息時，緊接在缺陷管理信息的產生結束之后；或者進一步，在缺陷管理信息的產生結束之后不久。
如上所述，根據記錄裝置30，可將在對記錄介質進行初始化或者格式化時所產生的缺陷管理信息記錄并保持在記錄介質的臨時缺陷管理區(qū)中。
(記錄裝置的第三實施例)對本發(fā)明記錄裝置的第三實施例進行說明。圖4給出了本發(fā)明記錄裝置的第三實施例。與記錄裝置20一樣，圖4中的記錄裝置40具有第一記錄設備21；存儲設備22；第二記錄設備23；以及第三記錄設備24。記錄裝置40還具有第二缺陷管理信息產生設備41；以及第二記錄控制設備42。
當?shù)谝挥涗浽O備21將記錄數(shù)據記錄在數(shù)據區(qū)中時，第二缺陷管理信息產生設備41產生或者更新缺陷管理信息，并且讓該信息存儲在存儲設備22中。
第二記錄控制設備42對第二記錄設備23進行控制以當?shù)诙毕莨芾硇畔a生設備41產生或者更新缺陷管理信息時而將該缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。
在下文中，對記錄裝置40的操作進行說明。例如，當將記錄數(shù)據記錄在數(shù)據區(qū)中時，記錄裝置40記錄每個預定塊的記錄數(shù)據并且在每次記錄在一個塊中時進行核對。第二缺陷管理信息產生設備41例如使用該核對結果。它產生或者更新缺陷管理信息，并且將該信息存儲在存儲設備22中。如上所述，當對記錄數(shù)據進行記錄時，它可產生或者更新缺陷管理信息，并且當重放時將該數(shù)據區(qū)中的缺陷反映成缺陷管理信息。
當?shù)诙毕莨芾硇畔a生設備41產生或者更新缺陷管理信息時，第二記錄控制設備42控制第二記錄設備23以將缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。第二記錄控制設備42控制第二記錄設備23以將缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的時間如下例如，當?shù)诙毕莨芾硇畔a生設備41正在產生缺陷管理信息時，緊接在缺陷管理信息的產生結束之后；或者進一步，在缺陷管理信息的產生結束之后不久。
如上所述，根據記錄裝置40，可當重放時反映出數(shù)據區(qū)中的缺陷、將該缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中、并且保持該信息。
(記錄裝置的第四實施例)對本發(fā)明記錄裝置的第四實施例進行說明。圖5給出了本發(fā)明記錄裝置的第四實施例。與記錄裝置40一樣，圖5中的記錄裝置50具有第一記錄設備21；存儲設備22；第二記錄設備23；第三記錄設備24；第二缺陷管理信息產生設備41；以及第二記錄控制設備42。記錄裝置50還具有缺陷管理信息獲得設備51。
缺陷管理信息獲得設備51從記錄介質上的臨時缺陷管理區(qū)讀取缺陷管理信息，并且將該信息存儲在存儲設備22中。
在下文中，對記錄裝置50的操作進行說明。例如，如果已將缺陷管理信息記錄在其已插入到記錄裝置50之中的記錄介質的臨時缺陷管理區(qū)中，那么缺陷管理信息獲得設備51從臨時缺陷管理區(qū)讀取缺陷管理信息并且將該信息存儲在存儲設備22中。此后，當?shù)谝挥涗浽O備21將記錄數(shù)據記錄在數(shù)據區(qū)中時，第二缺陷管理信息產生設備41通過缺陷管理信息獲得設備51來對存儲在存儲設備22中的缺陷管理信息進行更新。此后，當缺陷管理信息已更新時，第二記錄控制設備42將該缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。
如上所述，根據記錄裝置50，可根據過去記錄并維持在臨時缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息來更新缺陷管理信息。還可將所更新的缺陷管理信息記錄并保持在臨時缺陷管理區(qū)中。這可將最新形成于數(shù)據區(qū)之中的缺陷反映成缺陷管理信息，并且將該信息保持在記錄介質上的臨時缺陷管理區(qū)中。
(記錄裝置的第五實施例)對本發(fā)明記錄裝置的第五實施例進行說明。圖6給出了本發(fā)明記錄裝置的第五實施例。與記錄裝置20一樣，圖6中的記錄裝置60具有第一記錄設備21；存儲設備22；第二記錄設備23；以及第三記錄設備24。記錄裝置60還具有結束命令設備設備61；以及第三記錄控制設備62。
結束命令設備61發(fā)出其表示結束該記錄介質的一命令。該結束包括在根據在那個階段所記錄的記錄數(shù)據的記錄狀態(tài)而完成將記錄數(shù)據記錄在記錄介質上之后保持或者設置記錄介質上的記錄格式的操作。通常，在可重寫型記錄介質適合于僅重放類型(例如ROM類型)的記錄介質的記錄格式的情況下，執(zhí)行該結束。主要執(zhí)行記錄裝置60上的結束以使一次寫入型記錄介質適合于可重寫型記錄介質或者僅重放類型的記錄介質的記錄格式。
第三記錄控制設備62控制第三記錄設備24以當結束命令設備61發(fā)出了用于表示結束的命令時而將存儲在存儲設備22中的缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中。
在下文中，對記錄裝置60的操作進行說明。例如，當用戶想要利用用于可重寫型記錄介質的重放裝置或者用于僅重放類型的記錄介質的重放裝置來對記錄在記錄介質上的記錄數(shù)據進行重放時，用戶將其用于表示結束的一指令輸入到記錄裝置60中。響應該輸入，結束命令設備61發(fā)出這樣的一命令，該命令表示結束當前插入到記錄裝置60之中的記錄介質。將該實施例構造成如下當記錄裝置60判定出記錄介質的數(shù)據區(qū)充滿著記錄數(shù)據并且不可取的是記錄更多記錄數(shù)據時，記錄裝置60自動執(zhí)行該結束。如果采用了這種結構，那么結束命令設備61發(fā)出用于表示使該記錄介質結束的一命令以響應記錄裝置60的上述判斷。
當結束命令設備61發(fā)出了其表示結束的命令時，第三記錄控制設備62控制第三記錄設備24以將存儲在存儲設備22中的缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中。其結果是，在該記錄介質結束之后，將缺陷管理信息記錄在記錄介質的確定的缺陷管理區(qū)中。這可使一次寫入型記錄介質與可重寫型記錄介質之間相兼容并且可利用用于可重寫型記錄介質的重放裝置來對一次寫入型記錄介質進行重放。
如上所述，根據記錄裝置60，當結束時將缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中，并且這可使一次寫入型記錄介質與可重寫型記錄介質之間相兼容。多數(shù)情況當用戶認為對記錄數(shù)據的記錄已完成時執(zhí)行該結束。因此，通過利用結束以及將缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中的時機，可在與用戶的意圖或者愿望相符的時候建立一次寫入型記錄介質與可重寫型記錄介質之間的兼容性。
(記錄裝置實施例中的各個方面)對記錄裝置實施例中的各個方面進行說明。用于產生缺陷管理信息的第一產生設備31或者用于產生缺陷管理信息的第二產生設備41可包括缺陷檢測設備，用于檢測數(shù)據區(qū)中的缺陷；以及保留設備，該保留設備用于保留或者確保與數(shù)據區(qū)中的缺陷相對應的備用區(qū)。這可形成缺陷列表。
此外，結束命令設備61發(fā)出其表示結束的一命令以響應彈出命令。當用戶想要利用另一重放裝置來對記錄在記錄介質上的記錄數(shù)據進行重放時，用戶從記錄裝置中彈出該記錄介質。因此，最好是將該實施例構造成執(zhí)行該結束以響應當從記錄裝置中彈出記錄介質時所發(fā)出的彈出命令并且此后將缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中。這可與用戶的愿望相符的建立一次寫入型記錄介質與可重寫型記錄介質之間的兼容性。
此外，第二記錄設備23可反復多次將缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)的未記錄區(qū)域中。例如，在記錄操作的一個時機，將具有相同內容的缺陷管理信息反復多次記錄在臨時缺陷管理區(qū)的未記錄區(qū)域中。例如，這可在結束之前安全的保持記錄介質上的缺陷管理信息。
此外，第三記錄設備24可反復多次將缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)的未記錄區(qū)域中。例如，在記錄操作的一個時機，將具有相同內容的缺陷管理信息反復多次記錄在確定的缺陷管理區(qū)的未記錄區(qū)域中。例如，這可在結束之后安全的保持記錄介質上的缺陷管理信息。
此外，第二記錄設備23可冗余的將缺陷管理信息記錄在其位于記錄介質多個位置上的多個臨時缺陷管理區(qū)中。也就是說，在其即就是記錄裝置的記錄對象的記錄介質上存在有多個臨時缺陷管理區(qū)的情況下，例如在該區(qū)域位于盤片內圓周側和外圓周側的情況下或者在該區(qū)域位于雙層盤片的相對層上的情況下，將其具有相同內容的缺陷管理信息冗余的記錄在多個臨時缺陷管理區(qū)的每一個中。例如，這可在結束之前安全的保持記錄介質上的缺陷管理信息。
此外，第三記錄設備24可冗余的將缺陷管理信息記錄在其位于記錄介質多個位置上的多個確定的缺陷管理區(qū)中。例如，這可在結束之后安全的保持記錄介質上的缺陷管理信息。
此外，記錄裝置20至60的任何一個進一步具有區(qū)域設置設備，該設備用于設置臨時缺陷管理區(qū)的區(qū)域(例如區(qū)域大小)并且根據所設置的臨時缺陷管理區(qū)的區(qū)域來設置數(shù)據區(qū)的位置。例如，如果將臨時缺陷管理區(qū)設置成很大，那么可將更多的缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。也就是說，在這種情況下，多次將缺陷管理信息記錄在未記錄區(qū)域的一排中，以便即使多次執(zhí)行更新，也可記錄并保持每個缺陷管理信息。因此，即使當記錄介質用在經常出現(xiàn)缺陷這樣的不好的環(huán)境中時，也可保持或者增加對記錄數(shù)據進行錄放的可靠性。此外，如果將臨時缺陷管理區(qū)設置成很大，那么可增加所反復或冗余記錄的其具有相同內容的缺陷管理信息的數(shù)目。因此，可增加記錄與保持缺陷管理信息的穩(wěn)定性和必然性。另一方面，如果將臨時缺陷管理區(qū)設置成很小或者很窄，那么可僅僅確保數(shù)據區(qū)非常大。因此，可增加記錄介質的實際記錄容量。如果委托用戶來通過區(qū)域設置設備來設置臨時缺陷管理區(qū)的范圍，那么可根據記錄介質的用戶使用方面來適當?shù)脑O置臨時缺陷管理區(qū)。
(重放裝置的第一實施例)對本發(fā)明重放裝置的第一實施例進行說明。圖7給出了本發(fā)明重放裝置的第一實施例。圖7中的重放裝置70是用于對記錄在本發(fā)明實施例的上述一次寫入型記錄介質上的記錄數(shù)據進行重放的重放裝置。例如，重放裝置70對記錄在上述10上的記錄數(shù)據進行重放。
如圖7所示，重放裝置70具有存儲設備71；第一讀取設備72；以及重放設備73。
第一讀取設備72讀取記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息并且將該信息存儲在存儲設備22中。例如，如果記錄介質是光學類型的，那么第一讀取設備72具有光學拾取器以及用于對該光學拾取器進行控制的控制器。
重放設備73根據存儲在存儲設備71中的缺陷管理信息來對記錄在數(shù)據區(qū)中的記錄數(shù)據進行重放。例如，如果記錄數(shù)據是圖像數(shù)據，那么重放設備73具有用于將圖像數(shù)據轉換成顯示器可顯示的圖像信號的一解碼器。
在下文中，對重放裝置70的操作進行說明。例如，與記錄介質10一樣，當將其即就是重放裝置70的重放對象的一次寫入型記錄介質插入或加載到重放裝置70上時，第一讀取設備72讀取記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息并且將該信息存儲在存儲設備71中。當記錄時，對記錄數(shù)據進行記錄以便避免記錄介質數(shù)據區(qū)中的缺陷。因此，為了對按照這種方式所記錄的記錄數(shù)據進行重放，必須當重放時識別數(shù)據區(qū)中的缺陷位置。當對記錄數(shù)據進行重放時，重放設備73參考包含在缺陷管理信息之中的缺陷列表并且根據該缺陷列表來識別數(shù)據區(qū)中的缺陷位置。還可對所記錄的記錄數(shù)據的記錄位置進行識別以便避免該缺陷并且對該記錄數(shù)據進行重放。
如上所述，根據重放裝置70，可安全的對記錄在記錄介質上的記錄數(shù)據進行重放，同時利用記錄在其位于控制信息記錄區(qū)與數(shù)據區(qū)之間的臨時缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息來執(zhí)行缺陷管理。
同時，缺陷管理信息包括缺陷列表，該缺陷列表至少包括其用于表示缺陷在記錄介質上的數(shù)據區(qū)中的位置。然而，不僅其用于表示缺陷在數(shù)據區(qū)中的位置的信息而且下述信息也包含在缺陷管理信息之中。也就是說，下述缺陷列表包含在缺陷管理信息之中，所述缺陷列表包括(a)定義信息，用于表示數(shù)據區(qū)的位置；(b)缺陷位置信息，用于表示缺陷在數(shù)據區(qū)中的位置；以及(c)備用區(qū)位置信息，用于表示將要記錄在缺陷位置上的記錄數(shù)據所備擇記錄的備用區(qū)的位置。
(重放裝置的第二實施例)對本發(fā)明重放裝置的第二實施例進行說明。圖8給出了本發(fā)明重放裝置的第二實施例。與重放裝置70一樣，圖8中的重放裝置80具有存儲設備71；第一讀取設備72；以及重放設備73。重放裝置80還具有結束檢測設備81；第二讀取設備82；以及讀取控制設備83。
結束檢測設備81檢測記錄介質是否已結束。例如，通過對記錄在記錄介質的控制信息記錄區(qū)中的控制信息進行檢查來判斷是否已結束。
第二讀取設備82讀取記錄在確定的缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息并且將該信息存儲在存儲設備71中。例如，如果記錄介質是光學類型，那么第二讀取設備82具有光學拾取器以及用于對該光學拾取器進行控制的控制器。
讀取控制設備83使用第二讀取設備82以讀取記錄在確定的缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息并且當根據結束檢測設備81的檢測結果而檢測到記錄介質已結束時，將該信息存儲在存儲設備71中。讀取控制設備83使用第一讀取設備72以讀取記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息并且當檢測到記錄介質仍未結束時，將該信息存儲在存儲設備71中。
在下文中，對重放裝置80的操作進行說明。重放裝置80讀取記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息或者記錄在確定的缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息、將該信息存儲在存儲設備71中、并且對該記錄數(shù)據進行重放，同時根據存儲在存儲設備71中的缺陷管理信息來執(zhí)行缺陷管理。
根據記錄介質是否已結束來判斷所讀取的缺陷管理信息是記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息還是記錄在確定的缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息。為了實現(xiàn)該判斷，首先，結束檢測設備81檢測記錄介質是否已結束。此后，根據該檢測結果，當檢測到記錄介質已結束時，讀取控制設備83使用第二讀取設備82以讀取記錄在確定的缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息并且將該信息存儲在存儲設備71中。另一方面，當檢測到記錄介質仍未結束時，讀取控制設備83使用第一讀取設備72以讀取記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息并且將該信息存儲在存儲設備71中。
如上所述，在記錄介質結束之前，將缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。因此，如果其即就是重放對象的記錄介質仍未結束，那么從臨時管理區(qū)中讀取缺陷管理信息，并且該信息用于缺陷管理以及重放裝置80上的對記錄數(shù)據的重放。另一方面，在記錄介質結束之后，將缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中。因此，如果其即就是重放對象的記錄介質已結束，那么從確定的管理區(qū)中讀取缺陷管理信息，并且該信息用于缺陷管理以及重放裝置80上的對記錄數(shù)據的重放。
如上所述，根據重放裝置80，根據記錄介質是否已結束，確定所使用的信息是記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息還是記錄在確定的缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息。因此，根據記錄介質的情況，可執(zhí)行缺陷管理并且通過使用最新的缺陷管理信息可對記錄數(shù)據進行重放。如上所述，也就是說因為通過結束而記錄在確定的缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息是在結束時或者緊接在結束之前所形成的或者所更新的最新缺陷管理信息。因此，可增加對記錄數(shù)據進行重放的可靠性。
順便說一下，可利用硬件作為專用裝置而以一體形式實現(xiàn)上述記錄裝置和重放裝置的實施例，或者通過使計算機讀取一程序而實現(xiàn)。
(記錄方法的實施例)對本發(fā)明記錄方法的實施例進行說明。本發(fā)明的記錄方法是用于將記錄數(shù)據記錄在本發(fā)明實施例的上述一次寫入型記錄介質上的記錄方法，該記錄方法具有第一記錄處理，用于將記錄數(shù)據記錄在數(shù)據區(qū)；缺陷管理信息產生處理，用于產生或者更新缺陷管理信息；第二記錄處理，用于將在缺陷管理信息產生處理中所產生的或者所更新的缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中；結束命令處理，用于發(fā)出其表示結束記錄介質的一命令；以及第三記錄處理，用于在結束命令處理發(fā)出了其表示結束的命令的情況下，將在缺陷管理信息產生處理中所產生的或者所更新的缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中。
在該實施例的記錄方法中，在結束記錄介質之前的階段，在第二記錄處理中將缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。臨時缺陷管理區(qū)位于控制信息記錄區(qū)與數(shù)據區(qū)之間并且相對很大。因此，即使多次更新缺陷管理信息，也可每次將所更新的缺陷管理信息記錄并保持在記錄介質中。當記錄介質結束時，在第三記錄處理中將缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中。確定的缺陷管理區(qū)位于控制信息記錄區(qū)中，并且就此而言在這點上與可重寫型記錄介質一樣。因此，用于可重寫型記錄介質的重放裝置可對記錄在確定的缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息進行重放。
如上所述，根據該實施例中的記錄方法，可實現(xiàn)一次寫入型記錄介質與可重寫型記錄介質之間的兼容性。
(重放方法的實施例)對本發(fā)明重放方法的實施例進行說明。該重放方法是對記錄在本發(fā)明實施例的上述一次寫入型記錄介質上的記錄數(shù)據進行重放，該重放方法具有檢測處理，該檢測處理檢測記錄介質是否已結束；第一讀取處理，在記錄介質未結束的情況下，該第一讀取處理讀取記錄在臨時缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息并且將該信息存儲在存儲設備中；第二讀取處理，在記錄介質已結束的情況下，該第二讀取處理讀取記錄在確定的缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息并且將該信息存儲在存儲設備中；以及重放處理，該重放處理根據存儲在存儲設備中的缺陷管理信息來對記錄在數(shù)據區(qū)中的記錄數(shù)據進行重放。
在上述記錄方法中，在記錄介質結束之前，將缺陷管理信息記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。另一方面，如果記錄介質已結束，將缺陷管理信息記錄在確定的缺陷管理區(qū)中。在對記錄介質進行重放的重放方法中，如果記錄介質仍未結束，那么在第一讀取處理中從臨時缺陷管理區(qū)中讀取缺陷管理信息。另一方面，如果記錄介質已結束，那么在第二讀取處理中從確定的缺陷管理區(qū)中讀取缺陷管理信息。在重放處理中，根據在任何一個讀取處理所讀取的并且存儲在存儲設備中的缺陷管理信息，利用所執(zhí)行的缺陷管理來對記錄數(shù)據進行重放。
如上所述，根據本發(fā)明實施例中的重放方法，通過利用最新的缺陷管理信息來執(zhí)行缺陷管理并對記錄數(shù)據進行重放。
(示例)參考附圖，在下文中對本發(fā)明的示例進行說明。下面的示例示出了將本發(fā)明的一次寫入型記錄介質應用到一次寫入型光盤上并且將本發(fā)明的記錄裝置和重放裝置應用到用于一次寫入型光盤的記錄/重放裝置上。
(記錄介質的示例)首先，對本發(fā)明示例中的一次寫入型光盤的記錄結構以及記錄在光盤上的信息和數(shù)據進行說明。圖9給出了其即就是本發(fā)明示例的一次寫入型記錄介質。順便說一下，圖9左側是一次寫入型光盤100的內圓周側，并且圖9右側是光盤100的外圓周側。
如圖9所示，內圓周側上存在有其即就是控制信息記錄區(qū)的導入區(qū)101，導入區(qū)101的外圓周側上存在有數(shù)據區(qū)102，并且光盤100記錄面上的數(shù)據區(qū)102的外圓周側存在有其即就是控制信息記錄區(qū)的導出區(qū)103。第一臨時缺陷管理區(qū)104位于導入區(qū)101與數(shù)據區(qū)102之間。第二臨時缺陷管理區(qū)105位于數(shù)據區(qū)102與導出區(qū)103之間。
在導入區(qū)101和導出區(qū)103中，記錄有用于控制的控制信息以及用于對將信息或數(shù)據記錄在光盤100上或讀取其進行管理的管理信息。導入區(qū)101具有確定的缺陷管理區(qū)106。導出區(qū)103具有確定的缺陷管理區(qū)107。在缺陷管理區(qū)106和107中，記錄有缺陷管理信息120(參考圖10)。
數(shù)據區(qū)102與圖1所示的上述數(shù)據區(qū)11相對應。數(shù)據區(qū)102具有用戶數(shù)據區(qū)108；以及分別位于用戶數(shù)據區(qū)108內和外圓周側上的備用區(qū)109和110。用戶數(shù)據區(qū)108是用于記錄諸如圖像數(shù)據、音頻數(shù)據、以及內容數(shù)據這樣的“記錄數(shù)據”的主要區(qū)域。備用區(qū)109和110用于從用戶數(shù)據區(qū)108的缺陷中撤離出記錄數(shù)據。也就是說，當用戶數(shù)據區(qū)108中存在缺陷時，將要記錄在或者已記錄在缺陷位置上的記錄數(shù)據備擇的記錄在備用區(qū)109或者110中。
在臨時缺陷管理區(qū)104和105中，臨時記錄缺陷管理信息120。順便說一下，還將缺陷管理信息120記錄在確定的缺陷管理區(qū)106和107中。隨后對確定的缺陷管理區(qū)106和107與臨時缺陷管理區(qū)104和105之間的差異進行描述。
接下來，對缺陷管理信息120進行說明。缺陷管理信息120用于記錄/重放裝置200(參考圖14)所執(zhí)行的缺陷管理。當將記錄數(shù)據記錄在光盤100上時或者當從光盤100中重放出記錄數(shù)據時，記錄/重放裝置200執(zhí)行缺陷管理。在該示例中，缺陷管理主要如下。當光盤100的用戶數(shù)據區(qū)上存在有諸如劃痕、粉塵、或者磨損這樣的缺陷時，對記錄數(shù)據進行記錄以遠離缺陷的位置。同時，將最初所記錄在或者已記錄在缺陷位置上的記錄數(shù)據記錄在備用區(qū)109或者110中。此外，還執(zhí)行以下操作以作為缺陷管理的一部分當對記錄在用戶數(shù)據區(qū)108中的記錄數(shù)據進行重放時識別缺陷位置的一操作；以及從備用區(qū)109或者110中讀取最初記錄在或者已記錄在缺陷位置上的記錄數(shù)據的一操作。為了執(zhí)行這種缺陷管理，記錄/重放裝置200必須識別缺陷在用戶數(shù)據區(qū)108中的位置。缺陷管理信息120主要用于記錄/重放裝置200以識別缺陷的位置。
圖10給出了缺陷管理信息120的內容。如圖10所示，設置信息121和缺陷列表122包含在缺陷管理信息120之中。
如圖10所示，設置信息121包括用戶數(shù)據區(qū)108的開始地址；用戶數(shù)據區(qū)108的結束地址；內部備用區(qū)109的大??；外部備用區(qū)110的大小；以及其他信息。
圖11給出了缺陷列表122的內容。如圖11所示，在缺陷列表122上，記錄有其用于表示缺陷在用戶數(shù)據區(qū)108中的位置的一地址(在以下簡稱為“缺陷地址”)、其用于表示將要記錄在或者已記錄在缺陷位置上的記錄數(shù)據在備用區(qū)109或110中的記錄位置的一地址(以下簡稱為“備用地址”)；及其他信息。當用戶數(shù)據區(qū)108中存在多個缺陷時，將多個缺陷地址和其與該缺陷相對應的備用區(qū)記錄在缺陷列表122上。
順便說一下，不僅對光盤100上的用戶數(shù)據區(qū)108而且還對光盤100的整個記錄面執(zhí)行缺陷管理。
接下來，對其與記錄缺陷管理信息120有關的方面進行說明。光盤100上的臨時缺陷管理區(qū)104和105以及確定的缺陷管理區(qū)106和107用于將缺陷管理信息120記錄在其中。然而，光盤100上的臨時缺陷管理區(qū)104和105與確定的缺陷管理區(qū)106和107在其位置、大小、以及使用目的方面不同。在下文中，對其差異進行明確的說明。
圖12給出了將缺陷管理信息120記錄在臨時缺陷管理區(qū)104或105中的情況的一個示例。臨時缺陷管理區(qū)104和105用于臨時記錄缺陷管理信息120，直到光盤100結束。缺陷管理信息120是缺陷管理所必需的。對于每個光盤而言，缺陷的存在性或者不存在以及其位置不同，以便必須將缺陷管理信息120記錄并保持在每個光盤上。在該示例中，在結束之前的階段，將缺陷管理信息120記錄并維持在光盤100上的臨時缺陷管理區(qū)104或105中。
在該示例中，如圖12所示，反復兩次將缺陷管理信息120記錄在臨時缺陷管理區(qū)104或105的未記錄區(qū)域中。順便說一下，圖12給出了總共四個缺陷管理信息120，因為在未記錄區(qū)域中執(zhí)行兩次反復記錄缺陷管理信息120的處理。這可安全的記錄缺陷管理信息120并對其進行重放。
直到光盤100結束之前，在某些情況下對缺陷管理信息120更新若干次。例如，如果在第一記錄與第二記錄之間(例如附加的或者附錄記錄)灰塵附著于光盤100上，那么當?shù)诙涗洉r對缺陷(或灰塵)進行檢測。根據該檢測，對缺陷列表122進行更新。當缺陷列表122已更新時，將其包括有已更新缺陷列表122的缺陷管理信息120記錄在臨時缺陷管理區(qū)104或105中。光盤100是一次寫入型記錄介質，而不是可重寫型記錄介質，從而不可覆蓋現(xiàn)有缺陷管理信息120上的已更新缺陷管理信息120。因此，如圖12所示，將所更新的缺陷管理信息120連續(xù)的記錄在現(xiàn)有缺陷管理信息120之后。
為了實現(xiàn)該重復以及對缺陷管理信息120的連續(xù)記錄，臨時缺陷管理區(qū)104和105大于確定的缺陷管理區(qū)106和107。
圖13給出了將缺陷管理信息120記錄在確定的缺陷管理區(qū)106或107中的情況的一個示例。當光盤100已結束時，確定的缺陷管理區(qū)106和107用于確定的記錄缺陷管理信息120。也就是說，在結束之前的階段，確定的缺陷管理區(qū)106和107是未記錄的(或空白的)。當光盤100已結束時，將缺陷管理信息120記錄在確定的缺陷管理區(qū)106和107中，并且隨后繼續(xù)該記錄情況。
在該示例中，如圖13所示，兩次將缺陷管理信息120記錄在確定的缺陷管理區(qū)106或107的未記錄區(qū)域中的一排中。這可安全的記錄缺陷管理信息120并對其進行重放。
根據該示例中的光盤100，臨時缺陷管理區(qū)(104，105)位于控制信息記錄區(qū)(導入區(qū)101或導出區(qū)103)之間，這可使一次寫入型光盤100與一般可重寫光盤之間相兼容。為了實現(xiàn)與一般可重寫型光盤的兼容性，一次寫入型光盤100必須具有導入區(qū)、數(shù)據區(qū)、以及導出區(qū)，并且必須保持諸如這些區(qū)域的順序、位置、以及大小(區(qū))這樣的基本記錄結構。雖然光盤100具有臨時缺陷管理區(qū)104和105，但是也保持這種基本記錄結構，這可使得相兼容。也就是說，如果臨時缺陷管理區(qū)104處于導入區(qū)101中，那么如上所述因為臨時缺陷管理區(qū)104相對很大，因此只好選擇使導入區(qū)101的大小延伸，這是不利的。然而，在該示例中，未出現(xiàn)這種缺點，因為臨時缺陷管理區(qū)104位于導入區(qū)101之外。此外，如果臨時缺陷管理區(qū)104處于數(shù)據區(qū)102之中，那么其具有控制信息特性的缺陷管理信息120包含在下述數(shù)據區(qū)102之中，所述數(shù)據區(qū)102是其內應該記錄有記錄數(shù)據的一區(qū)域，這會造成控制信息與下述記錄數(shù)據間雜在數(shù)據區(qū)102中，所述記錄數(shù)據是其具有與控制信息不同特性的信息。然而，在該示例中，不會出現(xiàn)這種缺點，因為臨時缺陷管理區(qū)104位于數(shù)據區(qū)102之外。對于缺陷管理區(qū)105而言同樣如此。
用戶區(qū)108的開始地址和結束地址以及備用區(qū)109和110的大小信息包含在缺陷管理信息120的設置信息121之中(參考圖10)。該設置信息121是由記錄/重放裝置200來設置的。也就是說，如果它們被明確的示為設置信息121，那么可改變用戶區(qū)108的開始地址和結束地址以及備用區(qū)109和110的大小。即使它們已變化，也可保持與一般可重寫型記錄介質的兼容性。因此，通過使用戶數(shù)據區(qū)108的開始地址向后移動(向外圓周側)可確保導入區(qū)101與數(shù)據區(qū)102之間的間隔，并且可使臨時缺陷管理區(qū)104位于在該間隔中。根據怎樣設置用戶數(shù)據區(qū)108的開始地址，可保留或者確保相對寬的(大尺寸)的臨時缺陷管理區(qū)104。對于臨時缺陷管理區(qū)105而言同樣如此。
根據光盤100，確定的缺陷管理區(qū)106和107分別處于導入區(qū)101和導出區(qū)103中，這可使一次寫入型光盤100與一般可重寫光盤之間相兼容。也就是說，一般可重寫光盤具有用于記錄缺陷管理信息的區(qū)域，所述區(qū)域處于導入區(qū)和導出區(qū)之中。光盤100還具有其分別位于導入區(qū)101和導出區(qū)103中的確定的缺陷管理區(qū)106和107。就此，其記錄結構相同。因此，可確保一次寫入型光盤100與一般可重寫型光盤之間的兼容性。
(記錄/重放裝置的示例)對本發(fā)明該示例中的記錄/重放裝置的結構進行說明。圖14給出了其即就是本發(fā)明一示例的記錄/重放裝置200。該記錄/重放裝置200具有用于將記錄數(shù)據記錄在光盤100上的功能；以及用于對記錄在光盤100上的記錄數(shù)據進行重放的功能。
記錄/重放裝置200具有一盤片驅動器300；以及一后端400。
圖15給出了盤片驅動器300的內部結構。該盤片驅動器300將信息記錄在光盤100上并且讀取記錄在光盤100上的信息。
如圖15所示，盤片驅動器300具有一主軸電機351；一光學拾取器352；一射頻(RF)放大器353；以及一伺服電路354。
該主軸電機351是用于使光盤100旋轉的一電機。
光學拾取器352通過利用一光束來照射記錄面而將記錄數(shù)據等等記錄在光盤100的記錄面上并且通過接收該光束的反射光來讀取記錄在記錄面上的記錄數(shù)據等等。光學拾取器352輸出其與該光束的反射光相對應的一RF信號。
RF放大器353對光學拾取器352所輸出的RF信號進行放大并且將其輸出到編碼器/解碼器(CODEC)355。此外，RF放大器353從RF信號中形成擺頻信號WF、軌道錯誤信號TE、以及聚焦錯誤信號FE，并將其輸出。
伺服電路354是根據磁道錯誤信號TE、聚焦錯誤信號FE、及其他伺服控制信號而對光學拾取器352和主軸電機351的驅動進行控制的一伺服控制電路。
如圖15所示，盤片驅動器300具有CODEC 355；一緩沖器356；一接口357；以及一光束驅動設備358。
CODEC 355是這樣的一電路，該電路具有當讀取時對記錄數(shù)據執(zhí)行錯誤校正的一功能；以及當記錄時將誤差校正碼或標記附加在記錄數(shù)據上以便對該記錄數(shù)據進行解調與解碼的一功能。具體地說，當讀取時，CODEC 355對RF放大器353所輸出的RF信號進行解調與解碼、對所解碼的RF信號執(zhí)行錯誤校正、并且此后將其輸出到緩沖器356。此外，如果由于對所解碼的RF信號進行錯誤校正而使錯誤校正不可能，那么CODEC 355產生用于表示其的一錯誤校正不可能信號，并且將該信息輸出到缺陷檢測器359。當記錄時，CODEC 355將誤差校正碼附加在緩沖器356所輸出的記錄數(shù)據上、對該數(shù)據進行解調與解碼以使其具有適合于光盤100光學特性等等的代碼、并且此后將所解碼的記錄數(shù)據輸出到光束驅動設備358。
緩沖器356是用于臨時存儲記錄數(shù)據的一存儲電路。
接口357是用于對盤片驅動器300與后端400之間的輸入/輸出或其之間的記錄數(shù)據的傳送等等進行控制的一電路。具體地說，當重放時，接口357響應來自后端400的請求命令，并且將緩沖器356所輸出的記錄數(shù)據(例如從光盤100所讀取的記錄數(shù)據)輸出到后端400。當記錄時，接口357接收從后端400輸入到盤片驅動器300的記錄數(shù)據，并且將該數(shù)據輸出到緩沖器356。接口357響應來自后端400的請求命令并且將保持在用于產生缺陷管理信息(DMI產生器360)的產生器360之中的所有缺陷列表或其一部分輸出到后端400。
當記錄時，光束驅動設備358產生了與CODEC 355所輸出的記錄數(shù)據相對應的光束驅動信號，并且將該信號輸出到光學拾取器352。光學拾取器352根據光束驅動信號來對光束進行調制，并且使其照射在光盤100的記錄面上。這可將記錄數(shù)據等等記錄在記錄面上。
如圖15所示，盤片驅動器300具有缺陷檢測器359；以及DMI產生器360。
缺陷檢測器359是用于對光盤100上的缺陷進行檢測的一電路。缺陷檢測器359產生了用于表示存在或不存在缺陷的一缺陷檢測信號，并且輸出該信號。當讀取信息時(當核對或重放時)，缺陷檢測器359根據對記錄數(shù)據進行錯誤校正的結果來對一缺陷進行檢測。如上所述，如果由于對所解碼的RF信號執(zhí)行錯誤校正而使錯誤校正不可能，那么CODEC 355產生了用于表示該事實的錯誤校正不可能信號，并且將該信號輸出到缺陷檢測器359。當接收到該錯誤校正不可能信號時，缺陷檢測器359輸出其用于表示存在缺陷的缺陷檢測信號。
DMI產生器360是用于根據缺陷檢測器359所輸出的缺陷檢測信號來產生或更新缺陷管理信息120的一電路。將缺陷管理信息120可重寫的存儲在其位于DMI產生器360之中的存儲電路中。DMI產生器360響應來自后端400的請求命令并且通過接口357而將該缺陷管理信息120輸出到后端400。
如圖15所示，盤片驅動器300具有中央處理單元(CPU)361。CPU 361對盤片驅動器300進行整體控制，并且對上述盤片驅動器300中的元件當中的信息交換進行控制。CPU 361還對記錄數(shù)據和缺陷管理信息120的記錄操作和讀取操作進行控制。CPU 361響應從后端400傳送而來的控制命令或請求命令并且控制盤片驅動器300與后端400之間的數(shù)據交換。
圖16給出了后端400的內部結構。后端400是這樣的裝置，該裝置利用盤片驅動器300來對從光盤100中所讀取的記錄數(shù)據進行重放、接收外部所提供的記錄數(shù)據以便將其記錄在光盤100上、對該記錄數(shù)據進行壓縮和編碼、并且將其傳送到盤片驅動器300。
后端400具有一驅動控制器471；一視頻解碼器472；一音頻解碼器473；一視頻編碼器474；一音頻編碼器475；一系統(tǒng)控制器476；以及一缺陷管理設備477。
驅動控制器471是用于對盤片驅動器300的讀取處理和記錄處理進行控制的一電路。后端400和盤片驅動器300協(xié)作并執(zhí)行從光盤100中讀取記錄數(shù)據并對其進行重放這樣的操作以及接收來自外部的記錄數(shù)據并將其記錄在光盤100上這樣的操作。驅動控制器471通過對盤片驅動器300的讀取處理和記錄處理進行控制而實現(xiàn)了后端400與盤片驅動器300的協(xié)作。具體地說，驅動控制器471將其與讀取、記錄、輸出來自緩沖器356的記錄數(shù)據、輸出來自DMI產生器360的缺陷管理信息120等等有關的請求命令輸出到盤片驅動器300。驅動控制器471還對記錄數(shù)據、缺陷管理信息120、及其他各種信息的輸入和輸出進行控制。
視頻解碼器472和音頻解碼器473是這樣的電路，該電路用于對盤片驅動器300從光盤100中所讀取的且是通過驅動控制器471所提供的記錄數(shù)據進行解碼并且將記錄數(shù)據轉換為顯示器、揚聲器等等可重放的。
視頻編碼器474和音頻編碼器475是這樣的電路，該電路用于接收從外部所輸入的視頻信號、音頻信號等等以便將其記錄在光盤100上、通過活動圖像專家組(MPEG)壓縮和編碼方法等等來對其進行壓縮和編碼、并且通過驅動控制器471而將其提供給盤片驅動器300。
系統(tǒng)控制器476是這樣的電路，該電路用于控制驅動控制器471、視頻解碼器472、音頻解碼器473、以及缺陷管理設備477，并且與這些設備相協(xié)作的對記錄數(shù)據進行重放。當記錄時，系統(tǒng)控制器476控制驅動控制器471、視頻編碼器474、音頻編碼器475、以及缺陷管理設備477，由此與這些設備相協(xié)作的對記錄數(shù)據進行記錄。當重放和記錄時，系統(tǒng)控制器476利用驅動控制器471來控制盤片驅動器300(例如控制各個請求命令的產生和傳輸，應答信號的接收等等)以便實現(xiàn)盤片驅動器300與后端400的協(xié)作。
缺陷管理設備477具有位于其中的存儲電路并且具有接收并保持由盤片驅動器300中的DMI產生器360所產生的或者所更新的全部缺陷管理信息120或其一部分這樣的功能。缺陷管理設備477利用系統(tǒng)控制器476來執(zhí)行缺陷管理。
接下來，對記錄/重放裝置200的初始設置操作進行說明。圖17給出了記錄/重放裝置200的初始設置操作。記錄/重放裝置200執(zhí)行(i)當將光盤100插入或者加載到驅動裝置300中時與(ii)當對記錄數(shù)據進行記錄或者重放時之間的初始設置。對初始設置進行處理以為對記錄數(shù)據進行記錄或者重放作準備，并且該初始設置包括各種處理。下面對在該處理當中的初始化光盤100、產生缺陷管理信息120、將缺陷管理信息120傳送到后端400等等進行說明。該處理主要是在驅動單元300的CPU 361的控制之下執(zhí)行的。
如圖17所示，當將光盤100插入或者加載到驅動單元300中時，驅動單元300的CPU 361判斷光盤100是否是未記錄盤片，也就是說是否是空白盤片(步驟S11)。
當光盤100是空白盤片時(步驟S11是)，CPU 361對光盤100進行初始化(步驟S12)。在該初始化中，DMI產生器360產生了缺陷管理信息120(步驟S13)。具體地說，獲得了在初始化過程中所設置的用戶數(shù)據區(qū)108的開始地址和結束地址以及備用區(qū)109和110的大小，并且產生了設置信息121。此外，產生了缺陷列表122。此時所產生的缺陷列表122僅僅具有外形，而不具有任何內容。也就是說，既未將缺陷地址記錄在其中，也未將特定備用地址記錄在其中。僅僅記錄了頭部、標識信息等等。將所產生的缺陷管理信息120存儲并保持在DMI產生器360中。
此后，CPU 361將存儲在DMI產生器360中的缺陷管理信息120傳送到后端400(步驟S14)。將缺陷管理信息120存儲在后端400的缺陷管理設備477中。
此后，CPU 361將存儲在DMI產生器360中的缺陷管理信息120反復兩次記錄在光盤100的臨時缺陷管理區(qū)104或105的未記錄區(qū)域中(步驟S15)。
另一方面，當光盤100不是空白盤片時(步驟S11否)，CPU 361判斷光盤100是否已結束(步驟S16)。進行該結束處理以設置記錄格式以便可由用于一般可重寫型光盤的重放裝置以及用于僅重放類型的一般光盤的重放裝置來對光盤100進行重放。通過參考記錄在導入區(qū)中的控制信息等等可識別光盤100是否已結束。
當光盤100仍未結束時(步驟S16否)，那么CPU 361從光盤100的臨時缺陷管理區(qū)104或105中讀取缺陷管理信息120(步驟S17)。也就是說，當光盤100不是空白盤片時，因為過去已產生的缺陷管理信息120記錄在臨時缺陷管理區(qū)104或105中，因此在該步驟讀取該信息。
此外，如果將多個缺陷管理信息120記錄在臨時缺陷管理區(qū)104或105中，那么CPU 361選擇并讀取它們當中最新的缺陷管理信息120(步驟S18)。也就是說，在結束之前的階段，每當對其進行更新時，則將缺陷管理信息120記錄在臨時缺陷管理區(qū)104或105中。按照更新順序而順次排列多個缺陷管理信息120。因此，位于末端的缺陷管理信息是臨時缺陷管理區(qū)104或105中的最新的缺陷管理信息。CPU 361選擇并讀取位于末端的缺陷管理信息。
為了指定位于末端的缺陷管理信息120(或最后的缺陷管理信息120)，該示例采用以下方法。也就是說，在已將多個缺陷管理信息120順序的記錄在臨時缺陷管理區(qū)104或105的一排中的情況下，記錄自臨時缺陷管理區(qū)104或105的開始地址至下述區(qū)域的結束地址的信息，所述區(qū)域內記錄有最后的缺陷管理信息120，并且隨后區(qū)域是未記錄的或空白。CPU 361對光學拾取器352進行控制并且自開始地址起掃視臨時缺陷管理區(qū)104或105。此后，對自開始了空白狀態(tài)的一位置進行檢測并且自該位置起向后掃視該臨時缺陷管理區(qū)104或105。這就是怎樣指定最后缺陷管理信息120。通過這類方法，無需利用指針等等即可很容易的指定最后或最新的缺陷管理信息120。
CPU 361將所讀取的最后缺陷管理信息120存儲在DMI產生器360中并且將該信息傳送到后端400(步驟S19)。將最后的缺陷管理信息120存儲在后端400的缺陷管理設備477中。
另一方面，當光盤100不是空白盤片但是已結束時(步驟S16是)，CPU 361從確定的缺陷管理區(qū)106或107中讀取缺陷管理信息120(步驟S20)，并且將該信息傳送到后端400(步驟S21)。將缺陷管理信息120存儲在后端400的缺陷管理設備477中。
如上所述，產生了缺陷管理信息120，或者其是從臨時缺陷管理區(qū)104或105中有選擇的讀取的，或者其是從確定的缺陷管理區(qū)106或107中讀取的。此后，將其記錄在DMI產生器360中并且將其記錄在后端400的缺陷管理設備477中。這完成了缺陷管理的預處理并且結束初始設置。
接下來，對記錄/重放裝置200的記錄操作進行說明。圖18主要給出了記錄/重放裝置200的記錄操作。記錄/重放裝置200執(zhí)行將記錄數(shù)據記錄在光盤100的用戶數(shù)據區(qū)108中。記錄/重放裝置200執(zhí)行記錄操作，同時執(zhí)行缺陷管理。記錄/重放裝置200在記錄操作的過程中執(zhí)行核對并且根據該核對來更新缺陷列表122。通過盤片驅動器300的CPU 361與后端400的系統(tǒng)控制器376的協(xié)作而實現(xiàn)了記錄操作。
如圖18所示，在判斷發(fā)出了彈出、結束、或者從光盤100中重放出記錄數(shù)據的一命令之后(步驟S31、S32、以及S33)，當用戶輸入了開始記錄的一指令時(步驟S34是)，記錄/重放裝置200響應此并且對記錄數(shù)據進行記錄(步驟S35)。將記錄數(shù)據記錄在每個預定塊中。記錄/重放裝置200參考存儲在后端400的缺陷管理設備477中的缺陷管理信息并且對記錄數(shù)據進行記錄，同時根據該信息來執(zhí)行缺陷管理記錄。
在每次記錄一個模塊時，記錄/重放裝置200執(zhí)行核對(步驟S36)，并且根據核對結果來更新缺陷管理信息120。順便說一下，所更新的缺陷管理信息120是存儲在驅動單元300的DMI產生器360中的缺陷管理信息。具體地說，當由于核對而識別到記錄數(shù)據未被記錄時(步驟S37是)，盤片驅動器300的CPU 361將其沒有被記錄的記錄數(shù)據記錄在備用區(qū)109或110中(步驟S38)。此后，CPU 361估計在其上應該記錄有記錄數(shù)據的位置存在缺陷，并且將用于表示該位置的缺陷地址以及相應備用地址記錄在缺陷列表122上(步驟S39)。
當就此時所記錄的一系列模塊的記錄數(shù)據而言已結束了上述步驟S35至S39時，CPU 361將所更新的缺陷管理信息120反復兩次記錄在光盤100的臨時缺陷管理區(qū)104或105的未記錄區(qū)域中(步驟S41)。順便說一下，記錄在臨時缺陷管理區(qū)104或105中的缺陷管理信息120是存儲在DMI產生器360中的缺陷管理信息。此后，結束記錄操作。
接下來，對記錄/重放裝置200的結束操作進行說明。圖19給出了記錄/重放裝置200的結束操作。例如，當用戶輸入了表示結束的一指令時(圖18中的步驟S32是)，如圖19所示，記錄/重放裝置200確認光盤100仍未結束(步驟S51否)并且結束光盤100(步驟S52)。當結束時，記錄/重放裝置200反復兩次將缺陷管理信息120記錄在光盤100上的確定的缺陷管理區(qū)106或107的未記錄區(qū)域中(步驟S53)。順便說一下，記錄在確定的缺陷管理區(qū)106或107中的缺陷管理信息120是存儲在DMI產生器360中的缺陷管理信息。此后，結束過程完成。
接下來，當用戶輸入了用于從記錄/重放裝置200中彈出光盤100的一指令時(圖18中的步驟S31是)，如圖20所示，記錄/重放裝置200立刻彈出光盤100(步驟S61)。
接下來，對記錄/重放裝置200的重放操作進行說明。圖21給出了記錄/重放裝置200的重放操作。
當用戶輸入了開始重放的一指令時(圖18中的步驟S33是)，如圖21所示，記錄/重放裝置200確認光盤100不是空白盤片(步驟S71否)，并且對記錄在光盤100上的用戶數(shù)據區(qū)108中的記錄數(shù)據進行重放(步驟S72)。記錄/重放裝置200對記錄數(shù)據進行重放，同時根據存儲在后端400的缺陷管理設備477中的缺陷管理信息120來執(zhí)行缺陷管理。
如上所述，根據記錄/重放裝置200，在結束光盤100之前，將缺陷管理信息120記錄在光盤100上的臨時缺陷管理區(qū)104或105中，并且當結束光盤100時，將缺陷管理信息120記錄在光盤100的確定的缺陷管理區(qū)106或107中。就其仍未結束的光盤100而言，記錄/重放裝置200從光盤100的臨時缺陷管理區(qū)104或105中讀取缺陷管理信息120。就已結束的光盤100而言，記錄/重放裝置200從光盤100的確定的缺陷管理區(qū)106或107中讀取缺陷管理信息120。這可實現(xiàn)對記錄數(shù)據的記錄或者重放，同時對其仍未結束的光盤100以及已結束的光盤100執(zhí)行適當?shù)娜毕莨芾怼?br> 根據該示例中的記錄/重放裝置200，將其構造成當結束時將缺陷管理信息120記錄在光盤100的確定的缺陷管理區(qū)106或107中。因此，可建立一次寫入型光盤100與一般可重寫光盤之間的兼容性。
在上述示例中，將本發(fā)明的一次寫入型記錄介質應用到一層光盤這樣一種情況作為示例。然而，本發(fā)明不局限于該示例并且可將其應用到兩層或多層光盤上。圖22給出了將本發(fā)明的一次寫入型記錄介質應用到兩層光盤150上的另一示例。與光盤100一樣，圖22中的兩層光盤150的第一層(圖22的上部)具有一導入區(qū)151；一數(shù)據區(qū)152；以及一導出區(qū)153，臨時缺陷管理區(qū)154位于導入區(qū)151與數(shù)據區(qū)152之間，并且臨時缺陷管理區(qū)155位于數(shù)據區(qū)152與導出區(qū)153之間。導入區(qū)151和導出區(qū)153分別具有確定的缺陷管理區(qū)156和157。數(shù)據區(qū)152具有一用戶數(shù)據區(qū)158；一備用區(qū)159；以及一備用區(qū)160。與光盤100一樣，第二層具有一導入區(qū)171；一數(shù)據區(qū)172；以及一導出區(qū)173，臨時缺陷管理區(qū)174位于導入區(qū)171與數(shù)據區(qū)172之間，并且臨時缺陷管理區(qū)175位于數(shù)據區(qū)172與導出區(qū)173之間。導入區(qū)171和導出區(qū)173分別具有確定的缺陷管理區(qū)176和177。數(shù)據區(qū)172具有一用戶數(shù)據區(qū)178；一備用區(qū)179；以及一備用區(qū)180。
在不脫離從權利要求和整個說明書中所讀取的本發(fā)明的范圍或精神的情況下，如果希望，可使本發(fā)明變化。伴隨這種變化的一次寫入型記錄介質、記錄裝置、重放裝置、記錄方法、重放方法、以及其可實現(xiàn)這些功能的計算機程序也在本發(fā)明的技術范圍之內。
工業(yè)實用性可將一次寫入型記錄介質、用于一次寫入型記錄介質的記錄裝置和記錄方法、用于一次寫入型記錄介質的重放裝置和重放方法、以及其可實現(xiàn)與本發(fā)明有關的這些功能的計算機程序應用到諸如光盤、磁盤、磁光盤這樣的高密度記錄介質上。此外，可將其應用到例如裝配在各種計算機設備上的或者與計算機設備相連的記錄介質、記錄/重放裝置等等上。
權利要求
1.一種一次寫入型記錄介質，包括多個記錄層，所述多個記錄層的每一層包括數(shù)據區(qū)，該數(shù)據區(qū)用于將記錄數(shù)據記錄在其中；位于所述數(shù)據區(qū)的內圓周側的第一控制信息記錄區(qū)，該第一控制信息記錄區(qū)將用于對所述數(shù)據區(qū)中的記錄和/或讀取操作進行控制的信息記錄在其中，所述控制信息記錄區(qū)包括用于將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中的確定的缺陷管理區(qū)；位于所述數(shù)據區(qū)的外圓周側的第二控制信息記錄區(qū)，該第二控制信息記錄區(qū)將用于對所述數(shù)據區(qū)中的記錄和/或讀取操作進行控制的信息記錄在其中，所述控制信息記錄區(qū)包括用于將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中的確定的缺陷管理區(qū)；第一臨時缺陷管理區(qū)，該第一臨時缺陷管理區(qū)用于臨時將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中，所述臨時缺陷管理區(qū)位于所述第一控制信息記錄區(qū)與所述數(shù)據區(qū)之間；以及第二臨時缺陷管理區(qū)，該第二臨時缺陷管理區(qū)用于臨時將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中，所述臨時缺陷管理區(qū)位于所述第二控制信息記錄區(qū)與所述數(shù)據區(qū)之間。
2.根據權利要求1的一次寫入型記錄介質，其中所述數(shù)據區(qū)包括用戶數(shù)據區(qū)，該用戶數(shù)據區(qū)用于將記錄數(shù)據記錄在其中；以及位于所述數(shù)據區(qū)的內圓周側和外圓周側的備用區(qū)，用于記錄從缺陷中撤離出的記錄數(shù)據。
3.一種用于將記錄數(shù)據記錄在下述一次寫入型記錄介質上的記錄裝置，所述記錄介質包括多個記錄層，所述多個記錄層的每一層包括(i)數(shù)據區(qū)，該數(shù)據區(qū)用于將記錄數(shù)據記錄在其中；(ii)位于所述數(shù)據區(qū)的內圓周側的第一控制信息記錄區(qū)，該第一控制信息記錄區(qū)將用于對所述數(shù)據區(qū)中的記錄和/或讀取操作進行控制的信息記錄在其中，所述控制信息記錄區(qū)包括用于將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中的確定的缺陷管理區(qū)；(iii)位于所述數(shù)據區(qū)的外圓周側的第二控制信息記錄區(qū)，該第二控制信息記錄區(qū)將用于對所述數(shù)據區(qū)中的記錄和/或讀取操作進行控制的信息記錄在其中，所述控制信息記錄區(qū)包括用于將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中的確定的缺陷管理區(qū)；(iv)第一臨時缺陷管理區(qū)，該第一臨時缺陷管理區(qū)用于臨時將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中，所述臨時缺陷管理區(qū)位于所述第一控制信息記錄區(qū)與所述數(shù)據區(qū)之間；以及(v)第二臨時缺陷管理區(qū)，該第二臨時缺陷管理區(qū)用于臨時將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中，所述臨時缺陷管理區(qū)位于所述第二控制信息記錄區(qū)與所述數(shù)據區(qū)之間，所述記錄裝置包括第一記錄設備，該第一記錄設備將記錄數(shù)據記錄在所述數(shù)據區(qū)中；產生設備，該產生設備用于產生缺陷管理信息；第二記錄設備，該第二記錄設備將由所述產生設備產生的缺陷管理信息記錄在所述第一或第二臨時缺陷管理區(qū)中；以及第三記錄設備，該第三記錄設備用于將缺陷管理信息記錄在所述確定的缺陷管理區(qū)中。
4.一種用于對記錄在下述一次寫入型記錄介質上的記錄數(shù)據進行重放的重放裝置，所述記錄介質包括多個記錄層，所述多個記錄層的每一層包括(i)數(shù)據區(qū)，該數(shù)據區(qū)用于將記錄數(shù)據記錄在其中；(ii)位于所述數(shù)據區(qū)的內圓周側的第一控制信息記錄區(qū)，該第一控制信息記錄區(qū)將用于對所述數(shù)據區(qū)中的記錄和/或讀取操作進行控制的信息記錄在其中，所述控制信息記錄區(qū)包括用于將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中的確定的缺陷管理區(qū)；(iii)位于所述數(shù)據區(qū)的外圓周側的第二控制信息記錄區(qū)，該第二控制信息記錄區(qū)將用于對所述數(shù)據區(qū)中的記錄和/或讀取操作進行控制的信息記錄在其中，所述控制信息記錄區(qū)包括用于將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中的確定的缺陷管理區(qū)；(iv)第一臨時缺陷管理區(qū)，該第一臨時缺陷管理區(qū)用于臨時將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中，所述臨時缺陷管理區(qū)位于所述第一控制信息記錄區(qū)與所述數(shù)據區(qū)之間；以及(v)第二臨時缺陷管理區(qū)，該第二臨時缺陷管理區(qū)用于臨時將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中，所述臨時缺陷管理區(qū)位于所述第二控制信息記錄區(qū)與所述數(shù)據區(qū)之間，所述重放裝置包括讀取設備，該讀取設備用于讀取記錄在所述第一或第二臨時缺陷管理區(qū)中的缺陷管理信息；以及重放設備，該重放設備用于根據由所述讀取設備讀取的缺陷管理信息來對記錄在所述數(shù)據區(qū)中的記錄數(shù)據進行重放。
5.一種用于將記錄數(shù)據記錄在下述一次寫入型記錄介質上的記錄方法，所述記錄介質包括多個記錄層，所述多個記錄層的每一層包括(i)數(shù)據區(qū)，該數(shù)據區(qū)用于將記錄數(shù)據記錄在其中；(ii)位于所述數(shù)據區(qū)的內圓周側的第一控制信息記錄區(qū)，該第一控制信息記錄區(qū)將用于對所述數(shù)據區(qū)中的記錄和/或讀取操作進行控制的信息記錄在其中，所述控制信息記錄區(qū)包括用于將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中的確定的缺陷管理區(qū)；(iii)位于所述數(shù)據區(qū)的外圓周側的第二控制信息記錄區(qū)，該第二控制信息記錄區(qū)將用于對所述數(shù)據區(qū)中的記錄和/或讀取操作進行控制的信息記錄在其中，所述控制信息記錄區(qū)包括用于將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中的確定的缺陷管理區(qū)；(iv)第一臨時缺陷管理區(qū)，該第一臨時缺陷管理區(qū)用于臨時將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中，所述臨時缺陷管理區(qū)位于所述第一控制信息記錄區(qū)與所述數(shù)據區(qū)之間，以及(v)第二臨時缺陷管理區(qū)，該第二臨時缺陷管理區(qū)用于臨時將所述數(shù)據區(qū)的缺陷管理信息記錄在其中，所述臨時缺陷管理區(qū)位于所述第二控制信息記錄區(qū)與所述數(shù)據區(qū)之間，所述記錄方法包括第一記錄處理，該第一記錄處理將記錄數(shù)據記錄在所述數(shù)據區(qū)中；產生處理，該產生處理產生缺陷管理信息；第二記錄處理，該第二記錄處理將在所述產生處理中產生的缺陷管理信息記錄在所述第一或第二臨時缺陷管理區(qū)中；以及第三記錄處理，該第三記錄處理用于將缺陷管理信息記錄在所述確定的缺陷管理區(qū)中。
全文摘要
臨時缺陷管理區(qū)(14)位于控制信息記錄區(qū)(12)與數(shù)據區(qū)(11)之間。在記錄介質(10)結束之前，將缺陷管理信息臨時記錄在臨時缺陷管理區(qū)中。當結束時，將缺陷管理信息記錄在其位于控制信息記錄區(qū)之中的確定的缺陷管理區(qū)(13)中。
文檔編號G11B20/12GK101025982SQ200710085699
公開日2007年8月29日 申請日期2004年2月27日 優(yōu)先權日2003年2月28日
發(fā)明者吉田昌義, 幸田健志 申請人:日本先鋒公司