專利名稱：使用可更新的缺陷管理區(qū)域管理磁盤缺陷的方法和裝置以及磁盤的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種磁盤缺陷管理，更具體地講，涉及一種通過使用可被更新的缺陷管理區(qū)域(DAM)管理磁盤缺陷的方法和裝置，以及磁盤。
背景技術(shù)：
缺陷管理是將存儲在有缺陷的盤的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中的數(shù)據(jù)重寫的處理。數(shù)據(jù)被重寫到磁盤的數(shù)據(jù)區(qū)域的新的部分，從而，補償由于缺陷導(dǎo)致的數(shù)據(jù)損失。通常，通過使用線性替換(linear replacement)或滑動替換(slippingreplacement)來執(zhí)行缺陷管理。在線性替換中，使用沒有缺陷的備用數(shù)據(jù)區(qū)域替換缺陷存在于其中的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域。在滑動替換中，具有缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域被滑過，使用下一個沒有缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域。
線性替換和滑動替換兩者僅適用于如DVD-RAM/RW的盤，在其上數(shù)據(jù)可被重復(fù)地記錄并且可使用隨機存取方法執(zhí)行記錄。換句話說，線性替換和滑動替換難于應(yīng)用到只允許一次記錄的一次寫入盤。通常，通過將數(shù)據(jù)記錄到盤上并且確認數(shù)據(jù)是否已經(jīng)被正確地記錄到盤上來檢測盤中的缺陷的存在。然而，一旦數(shù)據(jù)被記錄在一次寫入盤上，不可能再寫過多的新數(shù)據(jù)并且管理其中的缺陷。
在CD-R和DVD-R開發(fā)之后，引入了具有幾十GB記錄容量的高密度一次寫入盤。由于其價格不貴并且允許快速讀取操作的隨機存取，所以這種類型的盤可被用作備份盤。然而，缺陷管理不適用于一次寫入盤。因此，當在備份操作過程中檢測到缺陷區(qū)域，即缺陷存在的區(qū)域時，備份操作被中止。通常，當系統(tǒng)不頻繁使用時，如當系統(tǒng)管理器不運行系統(tǒng)的夜間，執(zhí)行備份操作。在這種情況下，當由于一次寫入盤的缺陷區(qū)域被檢測到便停止備份操作時，很可能保持中止的備份操作。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明在于提供一種能夠被應(yīng)用于一次寫入盤的缺陷管理方法和裝置，和一次寫入盤。
本發(fā)明還提供即使當在記錄操作過程中檢測到缺陷時也能夠管理盤缺陷并使得記錄操作不中止的缺陷管理方法和裝置，和一次寫入盤。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種一次寫入盤，該盤是其中順序放置導(dǎo)入?yún)^(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、和導(dǎo)出區(qū)域的單記錄層盤，該盤包括在導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域中至少出現(xiàn)一次的缺陷管理區(qū)域(DMA)，其中，根據(jù)記錄操作，缺陷信息和缺陷管理信息被重復(fù)記錄在DMA中。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種作為雙記錄層盤的一次寫入盤，該盤是具有第一記錄層，導(dǎo)入?yún)^(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、和外部區(qū)域順序地位于其中；和第二記錄層，外部區(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、和導(dǎo)出區(qū)域順序地位于其中，該盤包括在導(dǎo)入?yún)^(qū)域、導(dǎo)出區(qū)域、和外部區(qū)域中至少出現(xiàn)一次的DMA，其中，根據(jù)記錄操作，缺陷信息和缺陷管理信息被重復(fù)記錄在DMA中。
優(yōu)選地，缺陷信息和缺陷管理信息被連續(xù)地更新和記錄，直到DMA沒有用于記錄的空間。
優(yōu)選地，最近(most recently)分別被記錄在記錄層的用戶區(qū)域和備用區(qū)域中的數(shù)據(jù)和替換的地址被記錄在DMA中。此外，優(yōu)選地，指出缺陷信息位置的指針被記錄在DMA中。優(yōu)選地，與經(jīng)每個記錄操作記錄的缺陷信息相應(yīng)的缺陷管理信息被記錄在DMA中。
優(yōu)選地，缺陷信息包括關(guān)于缺陷的狀態(tài)信息、指出缺陷的位置的指針、和指出用于缺陷的替換的位置的指針。
優(yōu)選地，狀態(tài)信息指示缺陷是連續(xù)缺陷塊還是單個缺陷塊。更優(yōu)選地，狀態(tài)信息指定缺陷是連續(xù)缺陷塊，并且用于缺陷和替換的相應(yīng)指針分別指出缺陷和替換的起始端，或者指定缺陷是連續(xù)缺陷塊，并且用于缺陷和替換的相應(yīng)指針分別指出缺陷和替換的結(jié)束端。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種用于管理盤中的盤缺陷的方法，包括將關(guān)于根據(jù)第一記錄操作記錄在盤的數(shù)據(jù)區(qū)域中的數(shù)據(jù)的缺陷信息作為多個第一缺陷信息記錄在在盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域中出現(xiàn)至少一次的DMA中；將用于管理第一缺陷信息的管理信息作為第一缺陷管理信息記錄在DMA中；和當將指定給記錄操作、缺陷信息、和缺陷管理信息的索引增加1時，將第一缺陷信息的記錄和第一缺陷管理信息的記錄重復(fù)至少一次。
優(yōu)選地，重復(fù)執(zhí)行第一缺陷信息的記錄和第一缺陷管理信息的記錄，直到DMA沒有用于記錄的空間。
優(yōu)選地，在第一缺陷信息的記錄過程中，從缺陷信息區(qū)域的起始端開始向著其結(jié)束端，將缺陷信息順序地記錄在包括在DMA中的缺陷信息區(qū)域中，并且在第一缺陷管理信息的記錄過程中，從缺陷信息管理區(qū)域的起始端開始向著其結(jié)束端，將缺陷管理信息順序地記錄在包括在DMA中的缺陷信息管理區(qū)域中。另一方面，在第一缺陷信息的記錄過程中，可從缺陷信息區(qū)域的結(jié)束端開始向著其起始端，將缺陷信息順序地記錄在包括在DMA中的缺陷信息區(qū)域中，并且在第一缺陷管理信息的記錄過程中，從缺陷信息管理區(qū)域的結(jié)束端開始向著其起始端，將缺陷管理信息順序地記錄在包括在DMA中的缺陷信息管理區(qū)域中。另一方面，在第一缺陷信息的記錄和第一缺陷管理信息的記錄過程中，可從缺陷管理區(qū)域的起始端開始，順序地記錄相應(yīng)的缺陷信息和缺陷管理信息以在缺陷管理區(qū)域中形成對，并且在第一缺陷信息的記錄和第一缺陷管理信息的記錄過程中，從缺陷管理區(qū)域的結(jié)束端開始，順序地記錄相應(yīng)的缺陷信息和缺陷管理信息，以在缺陷管理區(qū)域中形成對。
優(yōu)選地，在第一缺陷信息的記錄過程中包括以預(yù)定單元記錄數(shù)據(jù)；檢驗記錄的數(shù)據(jù)，以檢測盤的具有缺陷的區(qū)域；將將具有缺陷的區(qū)域指定為缺陷區(qū)域的信息和指定作為用于缺陷區(qū)域的替換的替換區(qū)域的信息作為第一缺陷信息存儲在存儲器中；將數(shù)據(jù)的記錄，檢驗記錄的數(shù)據(jù)、和第一缺陷信息的存儲至少重復(fù)一次；和從存儲器中讀取第一缺陷信息并將讀取的信息作為第一缺陷信息存儲在DMA中。
優(yōu)選地，用于缺陷區(qū)域的替換區(qū)域被分配到盤的備用區(qū)域。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種記錄裝置，包括記錄/讀取單元，用于將數(shù)據(jù)記錄在盤上或從盤上讀取數(shù)據(jù)；和控制器，用于控制記錄/讀取單元，以將關(guān)于經(jīng)記錄操作記錄在盤的數(shù)據(jù)區(qū)域中的數(shù)據(jù)的缺陷信息作為缺陷信息記錄在在盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域中至少出現(xiàn)一次的DMA中，并將用于管理缺陷信息的管理信息作為缺陷管理信息記錄在DMA中。
優(yōu)選地，控制器控制記錄/讀取單元，以通過記錄操作將缺陷信息和缺陷管理信息記錄在DMA中，直到DMA沒有用于記錄的空間，并且當DMA沒有用于記錄的空間時通知用戶不能再執(zhí)行盤缺陷管理。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種記錄裝置，包括記錄/讀取單元，用于將數(shù)據(jù)記錄在盤上或從盤上讀取數(shù)據(jù)；和控制器，控制記錄/讀取單元，以將關(guān)于根據(jù)第一記錄操作記錄在盤的數(shù)據(jù)區(qū)域中的數(shù)據(jù)的缺陷信息作為多個第一缺陷信息記錄在在盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域中至少出現(xiàn)一次的DMA中，將用于管理第一缺陷信息的管理信息作為第一缺陷管理信息記錄在DMA中，將關(guān)于根據(jù)第二記錄操作記錄在數(shù)據(jù)區(qū)域中的數(shù)據(jù)的缺陷信息作為多個第二缺陷信息記錄在DMA中，并且將用于管理第二缺陷信息的管理信息作為第二缺陷管理信息記錄在DMA中。
優(yōu)選地，控制器控制記錄/讀取單元，以當同時將指定給記錄操作、缺陷信息、和缺陷管理信息的索引增加1時，將數(shù)據(jù)記錄在數(shù)據(jù)區(qū)域中，直到DMA沒有用于記錄的空間，并且當DMA沒有用于記錄的空間時，通知用戶不能再執(zhí)行盤缺陷管理。


通過參照附圖對本發(fā)明實施例的詳細描述，本發(fā)明的上述和/或其他方面和優(yōu)點將會變得清楚，其中圖1是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的記錄裝置的框圖；圖2A和圖2B示出根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的盤的結(jié)構(gòu)；圖3A示出根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的圖2A和2B的盤的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖3B示出具有圖3A所示的缺陷管理區(qū)域的盤的例子；圖4A至圖4D示出根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的缺陷管理區(qū)域(DMA)的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖5示出根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的缺陷管理信息DDS#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖6示出根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的缺陷信息DFL#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖7示出解釋根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域A和備用區(qū)域B中記錄數(shù)據(jù)的示圖；圖8示出根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)區(qū)域的有效使用的示圖；圖9示出根據(jù)圖7中示出的數(shù)據(jù)的記錄被記錄的缺陷信息DFL#1和DFL#2的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖10示出關(guān)于缺陷#i的信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖11是示出根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的缺陷管理方法的流程圖；和圖12是示出根據(jù)本發(fā)明另一實施例的缺陷管理方法的流程圖。
具體實施例方式
圖1是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的記錄裝置的框圖。參照圖1，該記錄裝置包括記錄/讀取單元1、控制器2、和存儲器3。記錄/讀取單元1將數(shù)據(jù)記錄在作為根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的信息存儲介質(zhì)的盤100上，并且從盤100讀回該數(shù)據(jù)以檢驗被記錄的數(shù)據(jù)的準確性。根據(jù)本發(fā)明控制器2執(zhí)行缺陷管理。在此實施例中，控制器2使用寫后檢驗(verify-after-write)方法，在該方法中，以數(shù)據(jù)的預(yù)定單位將數(shù)據(jù)記錄在盤上，并且檢驗被記錄的數(shù)據(jù)的準確性以檢測數(shù)據(jù)中的缺陷。換句話說，控制器2以記錄操作為單為將用戶數(shù)據(jù)記錄在盤100上，并且檢驗被記錄的用戶數(shù)據(jù)以檢測盤100的缺陷所存在的區(qū)域。然后，控制器2創(chuàng)建指示具有缺陷的區(qū)域的位置的信息，并將創(chuàng)建的信息存儲在存儲器3中。每當這種信息被創(chuàng)建時，控制器2將其存儲在存儲器3中。如果存儲的信息量達到預(yù)定水平，則控制器2將存儲的信息作為缺陷信息記錄到盤100上。
這里，記錄操作是根據(jù)用戶的意圖確定的工作單位或者是將被執(zhí)行的記錄工作。根據(jù)此實施例，記錄操作指示其中盤100被裝載到記錄裝置中，數(shù)據(jù)被記錄到盤100上，并且盤100被從記錄裝置中取出的處理。在記錄操作期間，數(shù)據(jù)至少被記錄并被檢驗一次；通常，數(shù)據(jù)被記錄并被檢驗多次。使用寫后檢驗方法獲得的缺陷信息被臨時存儲在存儲器3中。
當記錄數(shù)據(jù)后用戶按下記錄裝置的彈出按鈕(未顯示)以將盤100移出時，控制器2期望記錄操作終止。接下來，控制器2從存儲器3讀取信息，并將該信息提供到記錄/讀取單元1中，并且控制記錄/讀取單元1將其記錄到盤100上。
記錄/讀取單元1將由控制器2提供的信息作為缺陷信息記錄在盤100的缺陷管理區(qū)域中，并且還在缺陷管理區(qū)域中記錄被用于管理缺陷信息的管理信息。
圖2A和2B示出根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的圖1的盤100的結(jié)構(gòu)。圖2A詳細示出具有記錄層L0的盤100的單記錄層盤的表示。盤100包括導(dǎo)入?yún)^(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、和導(dǎo)出區(qū)域。導(dǎo)入?yún)^(qū)域位于盤100的內(nèi)側(cè)部分并且導(dǎo)出區(qū)域位于盤100的外側(cè)部分。數(shù)據(jù)區(qū)域位于導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域之間，并且被分為用戶數(shù)據(jù)區(qū)域和備用區(qū)域。
用戶數(shù)據(jù)區(qū)域是記錄用戶數(shù)據(jù)的區(qū)域，并且備用區(qū)域是用于具有缺陷的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的替換區(qū)域，用于補償由于缺陷引起的記錄區(qū)域中的損失。在假定缺陷可能出現(xiàn)在盤100中的情況下，最好是，備用區(qū)域占盤100的整個數(shù)據(jù)容量的5％，從而更多的數(shù)據(jù)可被記錄在盤100上。
圖2B示出具有兩個記錄層L0和L1的盤100的雙記錄層盤的表示。導(dǎo)入?yún)^(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、和外部區(qū)域從第一記錄層L0的內(nèi)側(cè)部分到其外側(cè)部分順序地形成。此外，外部區(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、和導(dǎo)出區(qū)域從第二記錄層L1的外側(cè)部分到其內(nèi)側(cè)部分順序地形成。不像圖2A的單記錄層盤，導(dǎo)出區(qū)域存在于圖2B的盤100的內(nèi)側(cè)部分。即，圖2B的盤100具有其中從第一記錄層L0的導(dǎo)入?yún)^(qū)域開始向著外部區(qū)域，并繼續(xù)從第二記錄層L1的外部區(qū)域到導(dǎo)出區(qū)域記錄數(shù)據(jù)的逆光道路徑(OTP)。備用區(qū)域被分配給記錄層L0和L1的每一個。
在此實施例中，備用區(qū)域位于用戶數(shù)據(jù)區(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域之間以及用戶數(shù)據(jù)區(qū)域和外部區(qū)域之間。如果需要的話，用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的一部分可被用作另外的備用區(qū)域，即，多于一個的備用區(qū)域可出現(xiàn)在導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域之間。
圖3A示出根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的盤100的詳細結(jié)構(gòu)。參照圖3A，如果盤100是單記錄層盤，則缺陷管理區(qū)域(DMA)在導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域中至少出現(xiàn)一次。如果盤100是雙記錄層盤，則DMA在導(dǎo)入?yún)^(qū)域、導(dǎo)出區(qū)域、和外部區(qū)域中至少出現(xiàn)一次。在圖2B所示的雙記錄層盤的情況下，DMA最好分別形成在位于盤100的內(nèi)側(cè)部分的導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域中。
通常，與管理盤100中的缺陷相關(guān)的信息被記錄在DMA中。這種信息包括用于缺陷管理的盤100的結(jié)構(gòu)、缺陷信息的位置、缺陷管理是否被執(zhí)行、和備用區(qū)域的位置和大小。在一次寫入盤的情況下，當先前記錄的數(shù)據(jù)改變時，新數(shù)據(jù)被記錄在先前記錄的數(shù)據(jù)之后。
通常，當盤被裝入記錄/讀取裝置中時，該裝置從盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域讀取數(shù)據(jù)以確定怎樣管理盤、怎樣將數(shù)據(jù)記錄到盤上或怎樣從盤上讀取數(shù)據(jù)。然而，如果記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)域/導(dǎo)出區(qū)域中的數(shù)據(jù)量增加，則在裝入盤之后大量的時間被花費在準備數(shù)據(jù)的記錄或再現(xiàn)上。為了解決這個問題，在本實施例中，DMA被確定為可在其中更新記錄的信息的區(qū)域。即，在每個記錄操作過程中，缺陷信息和缺陷管理信息被更新并被記錄在DMA中。更新缺陷管理信息和缺陷信息減少了記錄/讀取單元用于記錄/再現(xiàn)操作所需要的信息量。
由于使用線性替換執(zhí)行缺陷管理，缺陷信息包括指示具有缺陷的盤100的區(qū)域的位置的信息和指示用于具有缺陷的區(qū)域的替換的盤100的區(qū)域的位置的信息。最好是，缺陷管理信息還包括指示具有缺陷的區(qū)域是單個缺陷塊還是其中存在物理地連續(xù)的缺陷的連續(xù)缺陷塊的信息。缺陷管理信息被用于管理缺陷信息并且包括指示缺陷信息被記錄在其中的盤100的點。更具體地講，缺陷管理信息還包括指示最近被記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中的用戶數(shù)據(jù)的位置和最近形成在備用區(qū)域中的替換區(qū)域的信息。將在下面解釋缺陷信息和缺陷管理信息的詳細的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
每當記錄操作結(jié)束時記錄缺陷信息和缺陷管理信息。在DMA中，關(guān)于出現(xiàn)在第一記錄操作過程中記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息和關(guān)于替換區(qū)域的信息被記錄為缺陷信息#1，以及關(guān)于出現(xiàn)在第二記錄操作過程中記錄的數(shù)據(jù)中的缺陷的信息和關(guān)于替換區(qū)域的信息被記錄為缺陷信息#2。此外，用于管理缺陷信息#1、#2、...的信息作為缺陷管理信息#1、#2、...被記錄在DMA中。
在此實施例中，除了缺陷信息#i之外，缺陷信息#i還包含先前記錄的缺陷信息#1、#2、#3、...、和#i-1。因此，記錄/讀取單元可僅通過從DMA讀取最近記錄的臨時缺陷信息#i和缺陷管理信息#i來容易地獲得缺陷信息。
在具有幾十GB的記錄容量的高密度盤的情況下，期望的是簇被分配到缺陷管理信息#i被記錄在其中的區(qū)域中，并且4～8個簇被分配到缺陷信息#i被記錄在其中的區(qū)域中。這是因為當記錄的最小物理單位是簇時，盡管缺陷信息#i的大小只是幾KB，最好以簇為單位記錄新信息以更新信息。盤中允許的缺陷總量最好是大約盤記錄容量的5％。例如，考慮到關(guān)于缺陷的信息大約是8字節(jié)長并且簇的大小是64KB長，大約需要4～8個簇來記錄缺陷信息#i。
可對缺陷信息#i和缺陷管理信息#i執(zhí)行寫后檢驗方法。當檢測到缺陷時，記錄在具有缺陷的盤區(qū)中的信息可通過使用線性替換被記錄在備用中，或者是通過使用滑動替換被記錄在與具有缺陷的區(qū)域相鄰的區(qū)域中。
圖3B示出具有圖3A的缺陷管理區(qū)域(DMA)的盤的例子。如果盤是如圖2A所示的單記錄層盤，則DMA在盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域中至少出現(xiàn)一次。如果盤是圖2B所示的雙記錄層盤，則DMA在盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)域、導(dǎo)出區(qū)域、和外部區(qū)域中至少出現(xiàn)一次，最好是，DMA出現(xiàn)在導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域中。
參照圖3B，形成兩個DMA以增加缺陷管理信息和缺陷信息的強壯性。詳細地說，測試區(qū)域是用于測量數(shù)據(jù)的記錄條件的區(qū)域。驅(qū)動和盤信息區(qū)域包含關(guān)于在記錄和/或再現(xiàn)操作過程中使用的驅(qū)動器的信息和指示盤是單記錄層盤還是雙記錄層盤的盤信息。第一緩沖區(qū)、第二緩沖區(qū)、和第三緩沖區(qū)用作緩沖器，即，他們成為其他區(qū)域之間的邊界。
圖4A至圖4D示出根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的DMA的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
參照圖4A，DMA被邏輯地分為缺陷信息區(qū)域DFL和缺陷管理信息區(qū)域DDS。在缺陷信息區(qū)域DFL中，缺陷信息列表DFL#1、DFL#2、DFL#3、...從缺陷信息區(qū)域DFL的起始端開始向其結(jié)束端被順序地記錄。缺陷信息列表DFL#1、DFL#2、DFL#3、...被重復(fù)地記錄多次以增加信息的強壯性。參照圖4A，缺陷信息DFL#2被記錄P次。此外，在缺陷管理信息區(qū)域DDS中，缺陷管理信息DDS#1、DDS#2、DDS#3、...從缺陷管理信息區(qū)域DDS的起始端開始被順序地記錄。缺陷管理信息DDS#1、DDS#2、和DDS#3分別與缺陷信息列表DFL#1、DFL#2、DFL#3相應(yīng)。
參照圖4B，與圖4A相比，DMA被邏輯地分為缺陷信息區(qū)域DFL和缺陷管理信息區(qū)域DDS，但是記錄信息的順序不同。更具體地講，在缺陷信息DFL中，缺陷信息DFL#1、DFL#2、DFL#3、...從缺陷信息區(qū)域的結(jié)束端開始向著其起始端被順序地記錄。在缺陷管理信息區(qū)域DDS中，缺陷管理信息DDS#1、DDS#2、DDS#3、...從缺陷管理信息區(qū)域DDS的結(jié)束端開始被順序地記錄。這里，缺陷管理信息DDS#1、DDS#2、DDS#3分別與缺陷信息DFL#1、DFL#2、DFL#3相應(yīng)。相似地，缺陷信息DFL#1、DFL#2、DFL#3被記錄多次以增加信息的強壯性。參照圖4B，缺陷信息DFL#2被記錄P次。
參照圖4C，相應(yīng)的缺陷信息和缺陷管理信息被記錄以在DMA中形成對。在DMA中，管理信息DMA#1、DMA#2、DMA#3、...從DMA的起始端開始被順序地記錄。管理信息DMA#1包含一對缺陷管理信息DDS#1和缺陷信息DFL#1，管理信息DMA#2包含一對缺陷管理信息DDS#2和缺陷信息DFL#2，并且DMA#3包含一對缺陷管理信息DDS#3和缺陷信息DFL#3。同樣，缺陷信息DFL#1、DFL#2、DFL#3、...被重復(fù)多次地記錄以增加信息的強壯性。圖4C示出重復(fù)記錄缺陷信息DFL#1P次。
參照圖4D，與圖4C的DMA相比，相應(yīng)的缺陷信息和缺陷管理信息被記錄以在DMA中形成對，但是記錄信息的順序不同。更具體地講，在DMA中，管理信息DMA#1、DMA#2、DMA#3、...從DMA的結(jié)束端開始被順序地記錄。管理信息DMA#1包含一對缺陷管理信息DDS#1和缺陷信息DFL#1，管理信息DMA#2包含一對缺陷管理信息DDS#2和缺陷信息DFL#2，并且管理信息DMA#3包含一對缺陷管理信息DDS#3和缺陷信息DFL#3。相似地，缺陷信息DFL#1、DFL#2、DFL#3、...被重復(fù)地記錄多次以增加信息的強壯性。具體地講，圖4D示出重復(fù)記錄缺陷信息DFL#1P次。
圖5A示出記錄在單記錄層盤上的缺陷管理信息DDS#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。參照圖5A，缺陷管理信息DDS#i包含其標識符和指示相應(yīng)缺陷信息DFL#i的位置的信息。如上面參照圖4A至圖4D所提到的，根據(jù)本發(fā)明的缺陷信息DFL#i被重復(fù)地記錄多次，因此，指示缺陷信息DFL#i的位置的信息包括指出被重復(fù)地記錄的缺陷信息DFL#i的位置的指針。參照圖5A，由于缺陷信息DFL#i被記錄P次，所以缺陷管理信息DDS#i包括P個指出缺陷信息DFL#i的位置的指針。
此外，被記錄在單記錄層盤中的缺陷管理信息DDS#i包含最近被記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中的記錄層L0的地址，和最近被記錄在備用區(qū)域中的用于記錄層L0的替換的地址。這樣，再現(xiàn)裝置能夠僅僅通過參照最近記錄的信息而容易地再現(xiàn)盤。下面將詳細地描述這些。
圖5B示出記錄在雙記錄層盤上的缺陷管理信息DDS#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。缺陷管理信息DDS#i包括其標識符和關(guān)于相應(yīng)缺陷信息DFL#i的位置的信息。如上面參照圖4A至圖4D所提到的，根據(jù)本發(fā)明的缺陷信息DFL#i被重復(fù)地記錄多次，因此，關(guān)于缺陷信息DFL#i的位置的信息包含指出被重復(fù)記錄的缺陷信息DFL#i的位置的指針。參照圖5B，由于缺陷信息DFL#i被記錄P次，所以P個指針被包括在缺陷管理信息DDS#i中。
此外，被記錄在雙記錄層盤中的缺陷管理信息DDS#i包含最近被記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中的第一記錄層L0的地址、最近被記錄在備用區(qū)域中的用于第一記錄層L0的替換的地址、最近被記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中的第二記錄層L1的地址、和最近被記錄在備用區(qū)域中的用于第二記錄層L1的替換的地址。這樣，再現(xiàn)裝置可僅通過參照最近被記錄的信息來容易地再現(xiàn)盤。下面將詳細地說明其描述。
圖6示出缺陷信息DFL#i的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。參照圖6B，缺陷信息DFL#i包含其標識符、和關(guān)于缺陷#1、缺陷#2、...和缺陷#K(K是整數(shù))的信息。關(guān)于缺陷#1、缺陷#2、...和缺陷#K的信息的每一個提供指示缺陷的位置、對缺陷的替換的位置、和具有缺陷的區(qū)域是單個缺陷塊還是連續(xù)缺陷塊的狀態(tài)信息。將在下面詳細描述數(shù)據(jù)的結(jié)構(gòu)。
圖7示出根據(jù)本發(fā)明第一實施例的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域A和備用區(qū)域B中的數(shù)據(jù)的記錄。
可以以扇區(qū)或簇為單位處理數(shù)據(jù)。扇區(qū)表示能夠在計算機的文件系統(tǒng)或者應(yīng)用程序中管理的數(shù)據(jù)的最小單位，并且簇表示可一次被物理地記錄在盤上的數(shù)據(jù)的最小單位。通常，一個或多個扇區(qū)構(gòu)成簇。
有兩種類型的扇區(qū)物理扇區(qū)和邏輯扇區(qū)。物理扇區(qū)是數(shù)據(jù)的扇區(qū)將被記錄在其中的盤上的區(qū)域。用于檢測物理扇區(qū)的地址被稱作物理扇區(qū)號(PSN)。邏輯扇區(qū)是可以以其在文件系統(tǒng)或應(yīng)用程序中管理數(shù)據(jù)的單位。用于檢測邏輯扇區(qū)的地址被稱作邏輯扇區(qū)號(LSN)。盤記錄/讀取裝置使用PSN檢測數(shù)據(jù)的記錄位置。當在盤上記錄數(shù)據(jù)時，在計算機或應(yīng)用程序中以LSN為單位管理整個數(shù)據(jù)并且使用LSN檢測數(shù)據(jù)的位置?；诒P是否包括缺陷和記錄數(shù)據(jù)的初始位置，通過記錄/讀取裝置的控制器改變LSN和PSN之間的關(guān)系。
參照圖7，A表示用戶數(shù)據(jù)區(qū)域，B表示在其中PSN以升序被分配給多個扇區(qū)(未顯示)的備用區(qū)域。通常，每個LSN與至少一個PSN相應(yīng)。然而，由于LSN以升序被分配到包括備用區(qū)域B的替換區(qū)域的非缺陷區(qū)域，當具有缺陷區(qū)域時，即使物理扇區(qū)的大小與邏輯扇區(qū)的大小相同，也不能維持PSN和LSN之間的對應(yīng)。
在數(shù)據(jù)區(qū)域A中，區(qū)段①至⑦表示在其中執(zhí)行寫后檢驗方法的數(shù)據(jù)的預(yù)定單元。記錄裝置將用戶數(shù)據(jù)記錄在區(qū)段①中，返回區(qū)段①的起始端，并檢驗是用戶數(shù)據(jù)被適當?shù)赜涗涍€是缺陷存在于區(qū)段①中。如果在區(qū)段①的一部分中檢測到缺陷，則該部分被指定為缺陷#1。記錄在缺陷#1中的用戶數(shù)據(jù)還被重寫到備用區(qū)域B的一部分中。這里，記錄在缺陷#1中的數(shù)據(jù)被重寫到其中的備用區(qū)域B的那部分被稱作替換#1。接下來，記錄裝置將用戶數(shù)據(jù)記錄在區(qū)段②中，返回區(qū)段②的起始端，并檢驗是數(shù)據(jù)被適當?shù)赜涗涍€是缺陷存在于區(qū)段②中。如果在區(qū)段②的一部分中檢測到缺陷，則該部分被指定為缺陷#2。同樣，與缺陷#2相應(yīng)的替換#2形成在備用區(qū)域B中。此外，缺陷#3和替換#3分別在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域A的區(qū)段③中和備用區(qū)域B中被指定。在區(qū)段④中，不存在缺陷，并且不指定缺陷區(qū)域。
當在對區(qū)段④的記錄和檢驗之后期望記錄操作#1終止時，即，當用戶按下記錄裝置的彈出按鈕或在記錄操作中分配的用戶數(shù)據(jù)的記錄完成時，記錄裝置將關(guān)于在區(qū)段①至④中被指定的缺陷#1、#2、和#3作為缺陷信息列表DFL#1記錄在DMA中。此外，用于管理缺陷信息列表DFL#1的缺陷管理信息作為缺陷管理信息DDS#1被記錄在DMA中。
當?shù)诙涗洸僮鏖_始時，數(shù)據(jù)被記錄在區(qū)段⑤至⑦中，并且缺陷#4和#5以及替換#4和#5分別形成在DMA中的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域A和備用區(qū)域B中，如在區(qū)段①至④中那樣被執(zhí)行。缺陷#5是缺陷在其中連續(xù)出現(xiàn)的連續(xù)缺陷塊，而缺陷#1、#2、#3、和#4是每個塊中發(fā)生缺陷的單個缺陷塊。替換#5是對缺陷#5替換的連續(xù)替換塊。這里，塊是指以其為單位記錄數(shù)據(jù)的物理或邏輯單元。如果期望第二記錄操作終止，則記錄裝置將關(guān)于缺陷#4和#5的信息記錄為缺陷信息DFL#2，并且再一次記錄包含在缺陷信息DFL#1中的信息。然后，用于管理缺陷信息DFL#2的缺陷管理信息被記錄在DMA中。
圖8是示出根據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)區(qū)域的有效使用的示圖。參照圖8，通過使用最近被記錄在用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中的用戶數(shù)據(jù)的地址和備用區(qū)域中作為對缺陷的替換的數(shù)據(jù)的地址，可以容易地檢測數(shù)據(jù)區(qū)域的可用部分。具體地講，當分別從用戶數(shù)據(jù)區(qū)域的內(nèi)側(cè)部分/外側(cè)部分向著外部/內(nèi)部記錄用戶數(shù)據(jù)，以及從備用區(qū)域的外側(cè)部分/內(nèi)側(cè)部分向著內(nèi)側(cè)部分/外側(cè)部分記錄作為用于缺陷的替換的數(shù)據(jù)時，可更容易地檢測可用部分。換句話說，最好是以相反的記錄方向記錄用戶數(shù)據(jù)和用于替換的數(shù)據(jù)。
當用戶數(shù)據(jù)的物理地址從記錄層L0的內(nèi)側(cè)部分向著外側(cè)部分增加并且從記錄層L1的外側(cè)部分向著內(nèi)側(cè)部分增加時，最近被記錄在記錄層L0和L1的用戶數(shù)據(jù)區(qū)域中的數(shù)據(jù)具有最大號的物理地址。相反，當替換的物理地址在記錄層L0的備用區(qū)域中從外側(cè)部分向著內(nèi)側(cè)部分減小并且在記錄層L1的備用區(qū)域中從內(nèi)側(cè)部分向著外側(cè)部分增加時，最近記錄的替換具有最小號的物理地址。
因此，如上所述，如果最近記錄的數(shù)據(jù)和替換的地址被包括在缺陷管理信息DDS#i中，則可檢測將被新記錄的數(shù)據(jù)和替換的位置，而不必全部讀取缺陷信息DFL#i并計算缺陷的位置。此外，物理地且連續(xù)地放置用戶數(shù)據(jù)區(qū)域和備用區(qū)域的可用部分，從而使得用戶區(qū)域被有效地使用。
圖9示出如參照圖7所解釋的被記錄的缺陷信息DFL#1和DFL#2的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。圖10示出參照圖7解釋的被記錄的關(guān)于缺陷#i的信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
參照圖9，缺陷信息DFL#1包含關(guān)于缺陷#1、#2、和#3的信息。關(guān)于缺陷#1的信息指示缺陷#1所存在的區(qū)域的位置和替換#1記錄在其中的區(qū)域的位置。關(guān)于缺陷#1的信息還可包括指示缺陷#1是連續(xù)缺陷塊還是單個缺陷塊的信息。同樣地，關(guān)于缺陷#2的信息指示缺陷#2是連續(xù)缺陷塊還是單個缺陷塊、缺陷#2所在的區(qū)域的位置、和替換#2被記錄在其中的區(qū)域的位置。關(guān)于缺陷#3的信息指示缺陷#3是連續(xù)缺陷塊還是單個缺陷塊、缺陷#3所存在的區(qū)域的位置、和替換#3被記錄在其中的區(qū)域的位置。
除了包含在缺陷信息DFL#1中的信息外，缺陷信息DFL#2還包括關(guān)于缺陷#4和#5的信息。即，缺陷信息DFL#2包括關(guān)于缺陷#1的信息、關(guān)于缺陷#2的信息、關(guān)于缺陷#3的信息、關(guān)于缺陷#4的信息、和關(guān)于缺陷#5的信息。
參照圖10，關(guān)于缺陷#i的信息包括指示缺陷#i是連續(xù)缺陷塊還是單個缺陷塊的狀態(tài)信息、指出缺陷#i的指針、和指出替換#i的指針。如果狀態(tài)信息指示缺陷#i是否是連續(xù)缺陷塊，則其描述用于缺陷#i的指針是指出連續(xù)缺陷塊的起始端還是其結(jié)束端以及用于替換#i的指針是指出連續(xù)缺陷塊的起始端還是其結(jié)束端。如果狀態(tài)信息將用于缺陷#i的指針描述為連續(xù)缺陷塊的起始，則用于缺陷#i的指針是連續(xù)缺陷塊的起始物理扇區(qū)號(PSN)，并且用于替換#i的指針是替換#i的起始PSN。相反，當狀態(tài)信息將用于缺陷#i的指針描述為連續(xù)缺陷塊的結(jié)束，則用于缺陷#i的指針是連續(xù)缺陷塊的結(jié)束物理扇區(qū)號(PSN)，并且用于替換#i的指針是替換#i的結(jié)束PSN。使用狀態(tài)信息定義連續(xù)缺陷塊，即使以塊為單位記錄關(guān)于缺陷的信息，也使得有效地記錄信息并且節(jié)省記錄空間。
用于缺陷#i的指針指定缺陷#i的起始和/或結(jié)束點。例如，用于缺陷#i的指針包括缺陷#i的起始PSN。用于替換#i的指針指定替換#i的起始和/或結(jié)束點。例如，用于替換#i的指針可包括替換#i的起始PSN。
下面，將參照附圖描述根據(jù)發(fā)明優(yōu)選實施例的盤缺陷管理方法。
圖11是示出根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實施例的盤缺陷管理方法的流程圖。參照圖11，在操作1101中，記錄裝置將關(guān)于根據(jù)第一記錄操作記錄的數(shù)據(jù)的缺陷信息作為缺陷信息#1記錄在DMA中，從而管理盤缺陷。在操作1102中，將用于管理缺陷信息#1的管理信息作為缺陷管理信息#1記錄在DMA中。
在操作1103中，檢驗空白是否存在于DMA中。如果在操作1103中確定空白存在，則當在操作1104中將指定給記錄操作、缺陷信息、和缺陷管理信息的索引增加1時，重復(fù)操作1101和1102。然而，如果在操作1103中確定不存在空白，則在操作1105中通知用戶盤缺陷管理不能被進一步執(zhí)行。
圖12是示出根據(jù)本發(fā)明的另一實施例的盤缺陷管理方法的流程圖。參照圖12，在操作1201中，用戶數(shù)據(jù)以數(shù)據(jù)為單位被記錄在盤的數(shù)據(jù)區(qū)域中，以方便于寫后檢驗方法。在操作1202中，檢驗在操作1201中記錄的數(shù)據(jù)以檢測具有缺陷的盤的區(qū)域。在操作1203中，圖1的控制器2將具有缺陷的區(qū)域指定為缺陷區(qū)域，控制記錄/讀取單元1來將記錄在缺陷區(qū)域中的數(shù)據(jù)重寫到備用區(qū)域中，從而創(chuàng)建替換區(qū)域，并且創(chuàng)建指出缺陷區(qū)域和替換區(qū)域的位置的指針信息。在操作1204中，指針信息被存儲為缺陷信息#1。在操作1205中，檢查是否期望第一記錄操作結(jié)束。如果在操作1205中確定不期望第一記錄操作結(jié)束，則重復(fù)操作1201至1204。
在操作1206中，如果在操作1205中確定希望結(jié)束第一記錄操作，即，當通過用戶輸入或者根據(jù)第一記錄操作完成用戶數(shù)據(jù)的記錄時，讀取存儲的缺陷信息#1并且將其作為缺陷信息DFL#1記錄在DMA中。在操作1207中，將用于管理缺陷信息DFL#1的管理信息作為缺陷管理信息DDS#1記錄在DMA中。在操作1208中，檢查空白是否存在于DMA中。如果在操作1208中確定存在空白，則當在操作1209中將指定給記錄操作、缺陷信息DFL、缺陷管理信息DDS的索引增加1時，重復(fù)1201至1207。如果在操作1208中確定不存在空白，則在操作1210中，通知用戶不能進一步執(zhí)行盤缺陷管理。
產(chǎn)業(yè)上的可利用性如上所述，本發(fā)明提供了一種應(yīng)用于一次寫入盤的盤缺陷管理方法。根據(jù)本發(fā)明，執(zhí)行盤缺陷管理，從而在缺陷管理區(qū)域(DMA)中更新并記錄缺陷信息和用于管理缺陷信息的管理信息，由此使得有效地使用DMA。因此，當管理盤中的盤缺陷時，即使在一次寫入盤上也能記錄用戶數(shù)據(jù)，從而更穩(wěn)定地執(zhí)行備份操作而不中止。
盡管已經(jīng)參照本發(fā)明的優(yōu)選實施例詳細表示和描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該理解，在不脫離由所附權(quán)利要求限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以作出各種形式和細節(jié)的改變。
權(quán)利要求
1.一種一次寫入盤，該盤是單記錄層盤，其中，導(dǎo)入?yún)^(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、和導(dǎo)出區(qū)域被順序地放置，該盤包括在導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域中出現(xiàn)至少一次的缺陷管理區(qū)域(DMA)，其中，根據(jù)記錄操作缺陷信息和缺陷管理信息被重復(fù)記錄在DMA中。
2.如權(quán)利要求1所述的盤，其中，多個DMA形成在一個區(qū)域中。
3.如權(quán)利要求1所述的盤，其中，缺陷信息和缺陷管理信息被連續(xù)地更新和記錄直到DMA沒有用于記錄的空間。
4.如權(quán)利要求1所述的盤，其中，最近被記錄在記錄層的用戶區(qū)域中的數(shù)據(jù)的地址和最近被記錄在記錄層的備用區(qū)域中的替換的地址被記錄在DMA中。
5.如權(quán)利要求1所述的盤，其中，指出缺陷信息的位置的指針被記錄在DMA中。
6.如權(quán)利要求1所述的盤，其中，與經(jīng)記錄操作記錄的缺陷信息相應(yīng)的缺陷管理信息被記錄在DMA中。
7.如權(quán)利要求1所述的盤，其中，缺陷信息包含指定缺陷狀態(tài)的狀態(tài)信息、指出缺陷的位置的指針、和指出用于缺陷的替換的位置的指針。
8.如權(quán)利要求7所述的盤，其中，狀態(tài)信息指示缺陷是連續(xù)缺陷塊還是單個缺陷塊。
9.如權(quán)利要求7所述的盤，其中，狀態(tài)信息指示缺陷是連續(xù)缺陷塊，并且用于缺陷和替換的相應(yīng)指針分別指出缺陷和替換的起始端。
10.如權(quán)利要求7所述的盤，其中，狀態(tài)信息指示缺陷是連續(xù)缺陷塊，并且用于缺陷和替換的相應(yīng)指針分別指出缺陷和替換的結(jié)束端。
11.一種一次寫入盤，該盤是具有導(dǎo)入?yún)^(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、和外部區(qū)域順序地位于其中的第一記錄層和外部區(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、以及導(dǎo)出區(qū)域順序地位于其中的第二記錄層的雙記錄層盤，該盤包括在導(dǎo)入?yún)^(qū)域、導(dǎo)出區(qū)域、和外部區(qū)域中出現(xiàn)至少一次的DMA，其中，根據(jù)記錄操作缺陷信息和缺陷管理信息被重復(fù)記錄在DMA中。
12.如權(quán)利要求11所述的盤，其中，在一個區(qū)域中出現(xiàn)多個DMA。
13.如權(quán)利要求11所述的盤，其中，缺陷信息和缺陷管理信息被連續(xù)地更新和記錄，直到DMA沒有用于記錄的空間。
14.如權(quán)利要求11所述的盤，其中，最近分別被記錄在記錄層的用戶區(qū)域和備用區(qū)域中的數(shù)據(jù)和替換的地址被記錄在DMA中。
15.如權(quán)利要求11所述的盤，其中，指出缺陷信息的位置的指針被記錄在DMA中。
16.如權(quán)利要求11所述的盤，其中，與經(jīng)記錄操作記錄的缺陷信息相應(yīng)的缺陷管理信息被記錄在DMA中。
17.如權(quán)利要求11所述的盤，其中，缺陷信息包括關(guān)于缺陷的狀態(tài)信息、指出缺陷的位置的指針、和指出用于缺陷的替換的位置的指針。
18.如權(quán)利要求17所述的盤，其中，狀態(tài)信息指示缺陷是連續(xù)缺陷塊還是單個缺陷塊。
19.如權(quán)利要求17所述的盤，其中，狀態(tài)信息指定缺陷是連續(xù)缺陷塊，并且用于缺陷和替換的相應(yīng)指針分別指出缺陷和替換的起始端。
20.如權(quán)利要求17所述的盤，其中，狀態(tài)信息指定缺陷是連續(xù)缺陷塊，并且用于缺陷和替換的相應(yīng)指針分別指出缺陷和替換的結(jié)束端。
21.一種管理盤中的盤缺陷的方法，包括將關(guān)于根據(jù)第一記錄操作被記錄在盤的數(shù)據(jù)區(qū)域中的數(shù)據(jù)的缺陷信息作為多個第一缺陷信息記錄在在盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域中出現(xiàn)至少一次的DMA中；將用于管理第一缺陷信息的管理信息作為第一缺陷管理信息記錄在DMA中；和當將指定給記錄操作、缺陷信息、和缺陷管理信息的索引增加1時第一缺陷信息的記錄和第一缺陷管理信息的記錄重復(fù)至少一次。
22.如權(quán)利要求21所述的方法，其中，重復(fù)執(zhí)行第一缺陷信息的記錄和第一缺陷管理信息的記錄，直到DMA沒有用于記錄的空間。
23.如權(quán)利要求21所述的方法，其中，在第一缺陷信息的記錄過程中，從缺陷信息區(qū)域的起始端開始向著其結(jié)束端，將缺陷信息順序地記錄在包括在DMA中的缺陷信息區(qū)域中。
24.如權(quán)利要求21所述的方法，其中，在第一缺陷管理信息的記錄過程中，從缺陷信息管理區(qū)域的起始端開始向著其結(jié)束端，將缺陷管理信息順序地記錄在包括在DMA中的缺陷信息管理區(qū)域中。
25.如權(quán)利要求21所述的方法，其中，在第一缺陷信息的記錄過程中，從缺陷信息區(qū)域的結(jié)束端開始向著其起始端，將缺陷信息順序地記錄在包括在DMA中的缺陷信息區(qū)域中。
26.如權(quán)利要求21所述的方法，其中，在第一缺陷管理信息的記錄過程中，從缺陷信息管理區(qū)域的結(jié)束端開始向著其起始端，將缺陷管理信息順序地記錄在包括在DMA中的缺陷信息管理區(qū)域中。
27.如權(quán)利要求21所述的方法，其中，在第一缺陷信息的記錄和第一缺陷管理信息的記錄過程中，從缺陷管理區(qū)域的起始端開始，順序地記錄相應(yīng)的缺陷信息和缺陷管理信息以在缺陷管理區(qū)域中形成對。
28.如權(quán)利要求21所述的方法，其中，在第一缺陷信息的記錄和第一缺陷管理信息的記錄過程中，從缺陷管理區(qū)域的結(jié)束端開始，順序地記錄相應(yīng)的缺陷信息和缺陷管理信息以在缺陷管理區(qū)域中形成對。
29.如權(quán)利要求21所述的方法，其中在第一缺陷信息的記錄過程中，包括以預(yù)定單元記錄數(shù)據(jù)；檢驗記錄的數(shù)據(jù)，以檢測盤的具有缺陷的區(qū)域；將指定具有缺陷的區(qū)域為缺陷區(qū)域的信息，和指定作為用于缺陷區(qū)域的替換的替換區(qū)域的信息作為第一缺陷信息存儲在存儲器中；將數(shù)據(jù)的記錄、檢驗被記錄的數(shù)據(jù)、和第一缺陷信息的存儲重復(fù)至少一次；以及從存儲器中讀取第一缺陷信息并將讀取的信息作為第一缺陷信息記錄在DMA中。
30.一種記錄裝置，包括記錄/讀取單元，用于將數(shù)據(jù)記錄在盤上或者從盤中讀取數(shù)據(jù)；和控制器，用于控制記錄/讀取單元以重復(fù)地將關(guān)于經(jīng)記錄操作記錄在盤的數(shù)據(jù)區(qū)域中的數(shù)據(jù)的缺陷信息作為缺陷信息記錄在在盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域中出現(xiàn)至少一次的DMA中，并將用于管理缺陷信息的管理信息作為缺陷管理信息記錄在DMA中。
31.如權(quán)利要求30所述的記錄裝置，其中，控制器控制記錄/讀取單元以通過記錄操作將缺陷信息和缺陷管理信息記錄在DMA中，直到DMA沒有用于記錄的空間，并且當DMA沒有用于記錄的空間時通知用戶不能進一步執(zhí)行盤缺陷管理。
32.一種記錄裝置，包括記錄/讀取單元，用于將數(shù)據(jù)記錄在盤上或從盤上讀取數(shù)據(jù)；和控制器，用于控制記錄/讀取單元以將關(guān)于根據(jù)第一記錄操作記錄在盤的數(shù)據(jù)區(qū)域中的數(shù)據(jù)的缺陷信息作為多個第一缺陷信息記錄在在盤的導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)中出現(xiàn)至少一次的DMA中，將用于管理第一缺陷信息的管理信息作為第一缺陷管理信息記錄在DMA中，將關(guān)于根據(jù)第二記錄操作記錄在數(shù)據(jù)區(qū)域中的數(shù)據(jù)的缺陷信息作為多個第二缺陷信息記錄在DMA中，并將用于管理第二缺陷信息的管理信息作為第二缺陷管理信息記錄在DMA中。
33.如權(quán)利要求32所述的記錄裝置，其中，控制器控制記錄/讀取單元，以當將指定給記錄操作、缺陷信息、和缺陷管理信息的索引增加1時將數(shù)據(jù)記錄在數(shù)據(jù)區(qū)域中，直到DMA沒有用于記錄的空間，并且當DMA沒有用于記錄的空間時，通知用戶不能進一步執(zhí)行盤缺陷管理。
全文摘要
提供了一種使用可被更新的缺陷管理區(qū)域的盤缺陷管理方法和裝置，和一次寫入盤。該一次寫入盤是導(dǎo)入?yún)^(qū)域、數(shù)據(jù)區(qū)域、和導(dǎo)出區(qū)域被順序地置于其中的單記錄層盤，該盤包括在導(dǎo)入?yún)^(qū)域和導(dǎo)出區(qū)域中至少出現(xiàn)一次的缺陷管理區(qū)域(DMA)，其中根據(jù)記錄操作缺陷信息和缺陷管理信息被重復(fù)地記錄在DMA中。因此，盤缺陷管理方法和裝置可應(yīng)用于一次寫入盤并且能夠有效地使用缺陷管理區(qū)域。
文檔編號G11B20/18GK1705983SQ200380101600
公開日2005年12月7日 申請日期2003年10月14日 優(yōu)先權(quán)日2002年10月18日
發(fā)明者黃盛凞, 高禎完, 李坰根 申請人:三星電子株式會社