專利名稱：傾斜修正裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及在諸如光盤等光記錄介質(zhì)的信息記錄設(shè)備和信息再現(xiàn)設(shè)備中的傾斜修正。
背景技術(shù)：
當(dāng)信息在光盤上記錄和信息從光盤再現(xiàn)時(shí)，傾斜修正就要執(zhí)行。傾斜修正是要糾正光束相對(duì)光盤的信息記錄表面的傾角(此后稱之為“盤傾斜”)。在執(zhí)行適當(dāng)?shù)膬A斜修正的情況下，光束垂直于光盤的信息記錄表面照射在光盤上。
這樣的對(duì)盤傾斜的檢測(cè)過去由專用的傾斜傳感器實(shí)現(xiàn)。該傾斜傳感器被配置成把來自光源的專門用于盤傾斜檢測(cè)的光照射到光盤的信息記錄表面并且通過接收從該光盤反射的光來檢測(cè)盤傾斜量。
采用這樣的專用傾斜傳感器中的一個(gè)問題是，因?yàn)閷Ｓ脙A斜傳感器自身在物理上很大，因此作為一個(gè)邏輯結(jié)果，具有傾斜傳感器的拾取裝置的尺寸也很大。因此，這樣一個(gè)傾斜傳感器不能安裝在便攜式個(gè)人計(jì)算機(jī)等采用的超薄型(slim-type)盤驅(qū)動(dòng)裝置中。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述問題而實(shí)現(xiàn)本發(fā)明。本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種傾斜修正裝置，它能修正盤傾斜而不需要專用的傾斜傳感器。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，為其上形成有預(yù)坑(prepit)的盤提供了一種傾斜修正裝置，它包括預(yù)坑信號(hào)產(chǎn)生單元，它將光束照射到該盤上，并基于從該盤返回的光產(chǎn)生指示該預(yù)坑是否存在的預(yù)坑信號(hào)；修正量確定單元，它基于該預(yù)坑信號(hào)確定最優(yōu)傾斜修正量；和傾斜修正單元，它基于最優(yōu)傾斜修正量執(zhí)行傾斜修正。
在其上已經(jīng)事先形成有預(yù)坑的盤上記錄信息或者從該盤上再現(xiàn)信息時(shí)，預(yù)坑信號(hào)和盤傾斜量之間有相關(guān)性。在上面的傾斜修正裝置中，產(chǎn)生指示該預(yù)坑是否存在的預(yù)坑信號(hào)，并且該傾斜修正量基于該預(yù)坑信號(hào)而確定。因此，該傾斜修正能夠在不利用專用傾斜傳感器等的情況下執(zhí)行。
修正量確定單元可以基于預(yù)坑信號(hào)的振幅電平確定最優(yōu)傾斜修正量。在優(yōu)選實(shí)施例中，該修正量確定單元包括振幅電平檢測(cè)單元，它為多個(gè)傾斜修正量檢測(cè)該預(yù)坑信號(hào)的振幅電平；和確定單元，它將振幅電平對(duì)其變?yōu)樽畲蟮膬A斜修正量確定為最優(yōu)傾斜修正量。
此外，該振幅電平檢測(cè)單元可以為多個(gè)傾斜量在盤上的同一位置處檢測(cè)振幅電平。因此，該傾斜修正量能夠穩(wěn)定地確定。特別地，該振幅電平檢測(cè)單元可以在盤上的非記錄區(qū)域檢測(cè)振幅電平。并且，在再現(xiàn)盤上的已記錄區(qū)域或記錄到盤上時(shí)，該振幅電平檢測(cè)單元也可以在記錄信息的間隔部分檢測(cè)振幅電平。
在一個(gè)實(shí)例中，該振幅電平檢測(cè)單元可以包括電平保持電路，它檢測(cè)該預(yù)坑的峰值電平和/或谷底電平(bottom level)。
該傾斜修正裝置還可以包括存儲(chǔ)單元，該存儲(chǔ)單元為盤上的多個(gè)區(qū)域中的每一個(gè)區(qū)域存儲(chǔ)最優(yōu)傾斜修正量，其中，該傾斜修正單元基于存儲(chǔ)在該存儲(chǔ)單元上的最優(yōu)傾斜修正量執(zhí)行傾斜修正。
根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)方面，為其上形成有預(yù)坑的盤提供了一種傾斜修正方法，它包括將光束照射到盤上的過程；基于從該盤返回的光產(chǎn)生指示該預(yù)坑是否存在的預(yù)坑信號(hào)的過程；基于該預(yù)坑信號(hào)確定最優(yōu)傾斜修正量的過程；和基于最優(yōu)傾斜修正量執(zhí)行傾斜修正的過程。
通過這種方法，該傾斜修正能夠在不需要專用傾斜傳感器的情況下精確地完成。
通過結(jié)合下面簡要描述的附圖，閱讀后面關(guān)于本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的詳細(xì)描述，本發(fā)明的性質(zhì)、效用以及進(jìn)一步的特點(diǎn)將更明顯。


圖1是解釋盤上形成的平面預(yù)坑(land prepit)以及如何產(chǎn)生LPP信號(hào)的圖；圖2顯示了盤傾斜量與抖動(dòng)、RF信號(hào)的振幅電平以及LPP信號(hào)的振幅電平之間的相互關(guān)系的圖；圖3是顯示根據(jù)優(yōu)選實(shí)施例的傾斜修正裝置的配置的塊圖；圖4是顯示了采用本發(fā)明實(shí)施例的一個(gè)實(shí)例的信息記錄和再現(xiàn)設(shè)備的示意配置的塊圖；圖5A到圖5C分別顯示了在尚未記錄的盤區(qū)域中、已經(jīng)完成記錄的盤區(qū)域中和正在進(jìn)行記錄的盤區(qū)域中的LPP信號(hào)波形的實(shí)例；圖6是修正輪廓準(zhǔn)備處理的流程圖；和圖7是顯示傾斜修正過程的流程圖。
具體實(shí)施例方式
現(xiàn)在，將參照附圖解釋本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。在諸如DVD-R和DVD-RW等其上形成有預(yù)坑的光盤的情況下，預(yù)坑信號(hào)的振幅電平和盤傾斜量之間有相關(guān)性。為此，在這個(gè)實(shí)施例中，盤傾斜量檢測(cè)和傾斜修正通過利用預(yù)坑信號(hào)來執(zhí)行。
圖1中示意性地顯示了其上形成有預(yù)坑的盤和預(yù)坑信號(hào)之間的關(guān)系。盤1例如是DVD-R或者DVD-RW，并且在盤1的徑向上凹槽(groove)Gr和平面(land)Ld在記錄表面上交替地、呈螺旋形地形成。凹槽Gr用作記錄信息的記錄軌跡，而平面Ld在相鄰的凹槽Gr之間形成。在平面Ld上，平面預(yù)坑(此后稱為“LPP”)根據(jù)指定的規(guī)則形成。該平面預(yù)坑LPP包括盤1上的地址信息。具體地，指示盤1上確定的凹槽Gr的地址的地址信息被記錄為在該確定的凹槽Gr之外的平面Ld上形成的LPP。
該LPP能夠由圖1所示的四重光學(xué)檢測(cè)儀PD來檢測(cè)。該四重光學(xué)檢測(cè)儀有四個(gè)檢測(cè)元件A到D，它們輸出檢測(cè)信號(hào)Sa到Sd，這些信號(hào)通過來自盤1的光接收量的光電轉(zhuǎn)換而獲得。從檢測(cè)元件A到D輸出的檢測(cè)信號(hào)Sa到Sd由3個(gè)加法器41到43進(jìn)行運(yùn)算，并且LPP信號(hào)被產(chǎn)生。該LPP信號(hào)由下列等式給出LPP信號(hào)＝(Sa+Sd)-(Sb+Sc) (1)該四重光電檢測(cè)儀安裝在信號(hào)記錄設(shè)備或者信號(hào)再現(xiàn)設(shè)備的拾取器中。該LPP信號(hào)是指示LPP的存在的預(yù)坑信號(hào)，它通過在下面的情況下使用檢測(cè)信號(hào)Sa到Sd、完成根據(jù)等式(1)的運(yùn)算而獲得，即四重光電檢測(cè)儀PD的檢測(cè)元件A，D和元件B，C之間的邊界通過信息記錄設(shè)備或者信息再現(xiàn)設(shè)備中提供的跟蹤伺服裝置而跟隨該記錄軌跡(凹槽)Gr的中心。
該LPP存在于記錄軌跡Gr之內(nèi)和之外的平面上。根據(jù)等式(1)，位于記錄軌跡Gr之外的LPP被檢測(cè)為負(fù)的檢測(cè)信號(hào)，而位于記錄軌跡Gr之內(nèi)的LPP被檢測(cè)為正的檢測(cè)信號(hào)。
從等式(1)可以認(rèn)識(shí)到，該LPP信號(hào)通過在四重光電檢測(cè)儀PD的半徑方向的推挽信號(hào)(即徑向的推挽信號(hào))而獲得。邏輯上有這樣一種相關(guān)性，即當(dāng)來自拾取器的光束的照射方向與盤的記錄表面之間的角度遠(yuǎn)離正常情況時(shí)，也就是當(dāng)盤傾斜量變得更大時(shí)，LPP信號(hào)的振幅電平變得更小。并且，當(dāng)盤傾斜量變得更小時(shí)，LPP信號(hào)的振幅電平變得更大。
這樣的傾斜量和LPP信號(hào)的振幅電平之間相互關(guān)系的測(cè)量結(jié)果在圖2中顯示。如圖2所示，振幅電平越大，盤傾斜量越小，并且在LPP信號(hào)的振幅電平最大的位置，盤傾斜量幾乎為零。注意，偏移ΔF被包括在這個(gè)實(shí)驗(yàn)的結(jié)果中。由于盤傾斜量和LPP信號(hào)的振幅電平之間有這樣的相互關(guān)系時(shí)，所以當(dāng)然，LPP信號(hào)的振幅電平應(yīng)該保持最大，以便保持盤傾斜量為零。注意，圖2中的偏移ΔF依賴于實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，因此，在實(shí)際修正中，如果傾斜修正量被調(diào)整以消除偏移量的話，則該偏移量是無關(guān)緊要的。
圖2還顯示了盤傾斜量相對(duì)于從盤獲得的RF信號(hào)的振幅電平以及抖動(dòng)量之間的關(guān)系。從圖2可以理解，RF信號(hào)和盤傾斜量之間的相關(guān)性幾乎與LPP信號(hào)和盤傾斜量之間的相關(guān)性相同。至于抖動(dòng)量，當(dāng)然盤傾斜量變得越小，該抖動(dòng)量就變得越小。
在這個(gè)實(shí)施例中，基于盤傾斜量和LPP信號(hào)的振幅電平之間的相關(guān)性，該盤傾斜量被檢測(cè)并且傾斜修正被執(zhí)行。傾斜修正裝置的示意配置在圖3中顯示。
在圖3中，盤1由主軸馬達(dá)6以預(yù)定的線速度旋轉(zhuǎn)。為了記錄和/或再現(xiàn)，拾取器2將光束照射到盤1上并且接收返回光。拾取器2包括圖1所示的四重光電檢測(cè)儀PD，它還將從各個(gè)檢測(cè)元件A到D輸出的檢測(cè)信號(hào)Sa到Sd提供給LPP信號(hào)產(chǎn)生單元3。
包括圖1所示加法器41到43的LPP信號(hào)產(chǎn)生單元3根據(jù)等式(1)產(chǎn)生LPP信號(hào)，并且將LPP信號(hào)提供給傾斜修正量確定單元4。傾斜修正量確定單元4通過電平保持電路等來檢測(cè)LPP信號(hào)的振幅電平。利用該盤傾斜量和LPP信號(hào)的振幅電平之間的相關(guān)性，該傾斜修正量確定單元4確定使盤傾斜量為零所需的最優(yōu)傾斜修正量。然后，該傾斜修正量確定單元4將這樣確定的最優(yōu)傾斜修正量提供給拾取器2中的傾斜修正單元2a。
通過根據(jù)這樣輸入的最優(yōu)傾斜修正量來調(diào)整光束的照射方向，該傾斜修正單元2a執(zhí)行傾斜修正。因此，通過利用LPP信號(hào)，盤傾斜量的檢測(cè)以及傾斜修正就可以被執(zhí)行。
實(shí)施例現(xiàn)在將解釋上面實(shí)施例的優(yōu)選實(shí)例。
(1)信息記錄和再現(xiàn)設(shè)備圖4是顯示根據(jù)本發(fā)明的信息記錄和再現(xiàn)設(shè)備的示意配置的塊圖。如圖4所示，盤1由主軸馬達(dá)6以恒定的線速度旋轉(zhuǎn)。在圖4中，信息記錄和再現(xiàn)設(shè)備100具有將記錄數(shù)據(jù)記錄到盤1上的記錄系統(tǒng)30、再現(xiàn)盤1上的被記錄數(shù)據(jù)的再現(xiàn)系統(tǒng)32和執(zhí)行傾斜修正的傾斜修正裝置50。該記錄系統(tǒng)30和再現(xiàn)系統(tǒng)32可以以本領(lǐng)域公知的方式配置，所以，在此省略了對(duì)它們的解釋。
該傾斜修正裝置50包括拾取器2、LPP信號(hào)產(chǎn)生單元3、谷底保持電路11、微型計(jì)算機(jī)12、用于傾斜修正單元的驅(qū)動(dòng)器13和在拾取器2上形成的傾斜修正單元2a。傾斜修正單元2a可以由各種傾斜修正裝置構(gòu)成，例如機(jī)械地調(diào)整照射到盤上的光束的光軸的機(jī)制、利用液晶元件的裝置或者激勵(lì)器。用于存儲(chǔ)修正輪廓的存儲(chǔ)器12a在微型計(jì)算機(jī)12中提供。
(2)傾斜修正裝置下面將描述傾斜修正裝置50的操作。該拾取器2具有圖1所示的四重光電檢測(cè)儀PD，并將從各個(gè)檢測(cè)元件A到D輸出的檢測(cè)信號(hào)Sa到Sd提供給LPP信號(hào)產(chǎn)生單元3。該LPP信號(hào)產(chǎn)生單元3包括圖1所示的加法器41到43，并且還根據(jù)等式(1)產(chǎn)生LPP信號(hào)并將LPP信號(hào)提供給谷底保持電路11。
谷底保持電路11保持LPP信號(hào)的谷底電平并將該電平提供給微型計(jì)算機(jī)12。微型計(jì)算機(jī)12利用這樣輸入的電平執(zhí)行傾斜修正。
在LPP信號(hào)被穩(wěn)定檢測(cè)到的位置，谷底保持電路11保持LPP信號(hào)的電平。具體地，該位置是(a)盤的非記錄區(qū)域，或(b)盤記錄區(qū)域的間隔部分，或(c)在數(shù)據(jù)記錄到盤期間記錄數(shù)據(jù)的間隔部分。圖5A到圖5C顯示了從盤獲得的LPP信號(hào)波形的實(shí)例。圖5A顯示了在再現(xiàn)盤的非記錄區(qū)域期間獲得的LPP信號(hào)波形，圖5B顯示了在再現(xiàn)盤的記錄區(qū)域期間獲得的LPP信號(hào)波形，以及圖5C顯示了在盤上記錄信息期間獲得的LPP信號(hào)波形。圖5C中指示LPP信號(hào)的振幅電平的垂直軸的刻度按圖5A和圖5B中的10倍顯示。
如圖5A所示，在盤的非記錄區(qū)域，因?yàn)橛涗洏?biāo)記(預(yù)坑)還沒有在記錄軌跡(凹槽)Gr上形成，所以檢測(cè)信號(hào)僅僅包括相應(yīng)于LPP的振幅電平的變化。
另一方面，在盤的記錄區(qū)域，記錄標(biāo)記已經(jīng)在記錄軌跡Gr上形成，使得該LPP信號(hào)受該記錄標(biāo)記影響。結(jié)果，如圖5B所示，LPP信號(hào)的振幅電平變得更小，并且與圖5A中所示的波形相比，該波形本身已變形。簡而言之，該LPP信號(hào)在記錄區(qū)域是不穩(wěn)定的，因?yàn)橛涗洈?shù)據(jù)的RF信號(hào)成分包括在LPP信號(hào)中。
在把信息記錄到盤上時(shí)，與再現(xiàn)(其中照射恒定功率的讀取光束)情況不同，照射到盤上的光束由記錄脈沖序列調(diào)制，該序列包括根據(jù)用于記錄的寫策略的脈沖序列。由于這個(gè)原因，基于從盤返回的光通量產(chǎn)生的LPP信號(hào)的振幅電平受記錄脈沖序列的電平變化的影響，并如圖5C所示變得不穩(wěn)定。在圖5C中，因?yàn)檩^大功率的光束由記錄脈沖序列中的頂脈沖(top-pulse)照射，所以返回光通量也變得更大，并且LPP信號(hào)的振幅電平大約為如圖5A所示的非記錄區(qū)域的情況下的十倍(因此，圖5C中的垂直軸顯示為圖5A和圖5B中刻度的十倍)。即，LPP信號(hào)波形在記錄期間也是不穩(wěn)定的。
因此，在這個(gè)實(shí)施例中，如上面所指出的，谷底保持電路11為了保持LPP信號(hào)的振幅電平而形成，并且(a)在盤的非記錄區(qū)域、(b)在盤記錄區(qū)域的間隔部分和(c)在向盤記錄期間的間隔部分，谷底電路11將該振幅電平用于傾斜修正。這樣，因?yàn)長PP信號(hào)可以獲得，并且傾斜修正可以僅僅在LPP信號(hào)的電平穩(wěn)定時(shí)基于該LPP信號(hào)執(zhí)行，所以可以執(zhí)行適當(dāng)?shù)膬A斜修正。
注意，圖5A到圖5C顯示了LPP信號(hào)的極性在LPP部分內(nèi)變?yōu)樨?fù)極性的情況。在這些情況下，LPP信號(hào)的振幅電平的絕對(duì)值對(duì)其變?yōu)樽畲蟮膬A斜修正量被確定為最優(yōu)傾斜修正量。
而且，對(duì)于記錄期間的傾斜修正，當(dāng)記錄與LPP同步執(zhí)行時(shí)，谷底保持電路11最好在14T間隔中保持LPP信號(hào)電平。原因是該LPP信號(hào)電平在14T間隔是穩(wěn)定的，因?yàn)?4T間隔的間隔周期長，以及在與LPP同步記錄的情況下具有較高的概率是LPP存在于14T間隔位置處。
(3)傾斜修正微型計(jì)算機(jī)12通過傾斜修正單元的驅(qū)動(dòng)器13去控制傾斜修正單元2a改變傾斜修正量，并因此獲得傾斜修正量，對(duì)于該傾斜修正量，從谷底保持電路11獲得的LPP信號(hào)的振幅電平(絕對(duì)值)變?yōu)樽畲?。也就是說，通過逐漸改變傾斜修正單元2a中的傾斜修正量和從谷底保持電路11獲取LPP信號(hào)的振幅電平，微型計(jì)算機(jī)12獲得由傾斜修正單元2a完成的傾斜修正量和那時(shí)的LPP信號(hào)的振幅電平之間的對(duì)應(yīng)性。如上面參考圖2所指出的，當(dāng)盤傾斜量為零時(shí)，LPP信號(hào)的振幅電平變?yōu)樽畲?。反過來，當(dāng)LPP信號(hào)的振幅電平變?yōu)樽畲髸r(shí)，此時(shí)的傾斜修正量使盤傾斜最小。因此，隨著在傾斜修正單元2a中改變傾斜修正量，微型計(jì)算機(jī)12從谷底保持電路11獲得LPP信號(hào)的振幅電平，當(dāng)LPP信號(hào)的振幅電平變得最大時(shí)獲取傾斜修正量。然后，微型計(jì)算機(jī)12將這樣獲得的傾斜修正量作為最優(yōu)傾斜修正量存儲(chǔ)在修正輪廓存儲(chǔ)器12a中。
微型計(jì)算機(jī)12在盤上的多個(gè)區(qū)域執(zhí)行上述處理，在每個(gè)區(qū)域獲取最優(yōu)傾斜修正量，并且將它存儲(chǔ)在修正輪廓存儲(chǔ)器12a中。為其存儲(chǔ)一個(gè)最優(yōu)傾斜修正量的單位區(qū)域可以通過將盤的整個(gè)記錄區(qū)域按特定方法分成多個(gè)區(qū)域來定義。例如，盤的整個(gè)記錄區(qū)域可以在盤的徑向上從其內(nèi)周到外周分成三個(gè)或四個(gè)部分(例如，通過離開盤中心的距離)，并且可以為每個(gè)區(qū)域確定和存儲(chǔ)最優(yōu)傾斜修正量。
在隨著改變傾斜修正量而獲取LPP信號(hào)的振幅電平來確定最優(yōu)傾斜修正量的時(shí)候，最好利用與同一LPP對(duì)應(yīng)的LPP信號(hào)的振幅電平。至于DVD-R和DVD-RW，雖然在盤的記錄表面形成的預(yù)坑的大小預(yù)先已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化了，但在實(shí)際盤上實(shí)際形成的預(yù)坑的大小經(jīng)?？梢圆煌词顾窃谠摌?biāo)準(zhǔn)內(nèi)。因此，如果使用在預(yù)坑大小不同的位置獲得的LPP信號(hào)，則最優(yōu)傾斜修正量不可能被正確獲取。因此，在最優(yōu)傾斜修正量的確定處理過程中，微型計(jì)算機(jī)12重復(fù)地檢測(cè)與該盤上同一區(qū)域的LPP對(duì)應(yīng)的LPP信號(hào)，并且確定對(duì)其獲得最大振幅電平的最優(yōu)傾斜修正量。
上面指出的盤上同一區(qū)域可以是例如同一記錄軌跡、同一地址或者是同一區(qū)段。也就是說，通過獲取與同一LPP或多個(gè)同樣的LPP對(duì)應(yīng)的LPP信號(hào)的振幅電平，最優(yōu)傾斜修正量被檢測(cè)到。特別地，通過控制拾取器2在同一記錄軌跡上重復(fù)執(zhí)行軌道跳轉(zhuǎn)、或者在同一地址保持暫停狀態(tài)、或者通過重復(fù)讀取預(yù)定長度的同一區(qū)段來總是獲取與同一LPP對(duì)應(yīng)的LPP信號(hào)的振幅電平，微型計(jì)算機(jī)122重復(fù)地讀取同一地址。微型計(jì)算機(jī)能夠?yàn)橥粌A斜修正量多次獲取LPP信號(hào)的振幅電平，并且在確定最優(yōu)傾斜修正量時(shí)可以利用那些振幅電平的平均值。因此，微型計(jì)算機(jī)12可以消除暫時(shí)發(fā)生的噪聲的影響。
根據(jù)上面描述的處理過程，對(duì)于事先在盤上定義的多個(gè)區(qū)域中的每一個(gè)，使LPP信號(hào)的振幅電平最大(即使盤傾斜量最小(零))的最優(yōu)傾斜修正量被存儲(chǔ)在微型計(jì)算機(jī)12中的修正輪廓存儲(chǔ)器12a中。此后，在盤的記錄和/或再現(xiàn)期間，微型計(jì)算機(jī)12根據(jù)存儲(chǔ)在修正輪廓存儲(chǔ)器12a中的最優(yōu)傾斜修正量來控制該傾斜修正單元2a執(zhí)行傾斜修正。
(4)修正輪廓準(zhǔn)備處理過程接下來參考圖6說明修正輪廓準(zhǔn)備處理的過程。圖6是修正輪廓準(zhǔn)備處理的流程圖。圖6中顯示的修正輪廓準(zhǔn)備處理依照微型計(jì)算機(jī)12的控制完成，例如當(dāng)盤放置到信息記錄和再現(xiàn)設(shè)備100時(shí)。
首先，微型計(jì)算機(jī)12確定是否有盤放置到信息記錄和再現(xiàn)設(shè)備100(步驟S1)。這個(gè)步驟例如由微型計(jì)算機(jī)12執(zhí)行，微型計(jì)算機(jī)12從盤的檢測(cè)機(jī)制獲取信號(hào)。
當(dāng)盤被放置好時(shí)，微型計(jì)算機(jī)12控制拾取器2并從盤上預(yù)定的位置獲取LPP信號(hào)(步驟S2)。如上面所指出的，該預(yù)定的位置在盤的記錄區(qū)域被分為幾個(gè)區(qū)域的情況下是多個(gè)區(qū)域中的一個(gè)。然后，隨著傾斜修正量的變化，該微型計(jì)算機(jī)12重復(fù)地獲取那個(gè)位置的LPP信號(hào)的振幅電平，并且確定LPP信號(hào)的振幅電平變?yōu)樽畲髸r(shí)的傾斜修正量，即最優(yōu)傾斜修正量(步驟S3)。然后，微型計(jì)算機(jī)12把這樣獲得的最優(yōu)傾斜修正量連同位置信息存儲(chǔ)到修正輪廓存儲(chǔ)器12a中(步驟S4)。
接下來，微型計(jì)算機(jī)12確定是不是在盤上所有的預(yù)定區(qū)域中已經(jīng)獲得最優(yōu)傾斜修正量(步驟S5)。如果在所有的區(qū)域都已經(jīng)獲得最優(yōu)傾斜修正量，則該處理過程結(jié)束。另一方面，如果最優(yōu)傾斜修正量不是在所有的區(qū)域獲得，該處理過程回到步驟S2從而重復(fù)S2到S4的步驟，并且微型計(jì)算機(jī)12在下一個(gè)預(yù)定的區(qū)域獲取最優(yōu)傾斜修正量并存儲(chǔ)它。這樣，當(dāng)對(duì)于事先確定的盤上的所有預(yù)定區(qū)域都已經(jīng)獲得最優(yōu)傾斜修正量時(shí)，該處理過程結(jié)束。
(5)傾斜修正處理接下來，利用上述修正輪廓準(zhǔn)備處理獲得的修正輪廓來執(zhí)行的傾斜修正處理將參考圖7進(jìn)行解釋。圖7是顯示傾斜修正處理過程的流程圖。該傾斜修正處理由微型計(jì)算機(jī)12執(zhí)行，該微型計(jì)算機(jī)12控制用于傾斜修正的驅(qū)動(dòng)器13和傾斜修正單元2a。
首先，微型計(jì)算機(jī)12確定向盤記錄信息或者從盤再現(xiàn)信息的指令是否由用戶作出(步驟S11)。如果記錄或再現(xiàn)的指令已經(jīng)作出，微型計(jì)算機(jī)12就通過利用LPP等獲得記錄或再現(xiàn)的目標(biāo)位置的地址(步驟S12)，并且從修正輪廓存儲(chǔ)器獲取對(duì)應(yīng)于該地址的最優(yōu)傾斜修正量(步驟S13)。此外，微型計(jì)算機(jī)12控制用于傾斜修正單元的驅(qū)動(dòng)器13并根據(jù)這樣獲得的最優(yōu)傾斜修正量執(zhí)行傾斜修正(步驟S14)。注意，步驟S12到S14在記錄或再現(xiàn)過程中執(zhí)行。
隨后，微型計(jì)算機(jī)12確定用戶是否作出結(jié)束記錄或再現(xiàn)的結(jié)束指令(步驟S15)。步驟S12到S14重復(fù)進(jìn)行，直到輸入該結(jié)束指令。當(dāng)結(jié)束指令輸入時(shí)，該處理過程結(jié)束。
修正在上面的實(shí)施例中，解釋了修正輪廓由圖6所示的修正輪廓準(zhǔn)備處理來事先準(zhǔn)備和存儲(chǔ)，還解釋了在盤的記錄或再現(xiàn)期間利用修正輪廓執(zhí)行傾斜修正。然而，即使沒有準(zhǔn)備修正輪廓，LPP信號(hào)的振幅電平也可以在記錄或再現(xiàn)盤期間基于實(shí)時(shí)地獲取，并且，傾斜修正可被執(zhí)行從而使得這樣獲得的振幅電平最大。在這樣的情況下，在記錄過程中，LPP信號(hào)的振幅電平在記錄數(shù)據(jù)的間隔期間獲得，優(yōu)選地是在14T間隔期間。在再現(xiàn)過程中，LPP信號(hào)的振幅電平在非記錄區(qū)域或者在記錄區(qū)域的間隔部分獲得。
在上面的實(shí)施例中，LPP信號(hào)的振幅電平由谷底保持電路11檢測(cè)。在那種情況下，記錄軌跡Gr之外的LPP信號(hào)的振幅電平由圖1所示的四重光電檢測(cè)儀PD檢測(cè)?？蛇x地，傾斜修正量也可以通過提供峰值保持電路而不是谷底保持電路11以及檢測(cè)記錄軌跡Gr之內(nèi)的LPP信號(hào)的振幅電平來確定。而且，記錄軌跡Gr內(nèi)外的LPP信號(hào)的振幅電平也能夠通過既提供峰值保持電路又提供谷底保持電路來獲得。
在上述修正輪廓準(zhǔn)備處理過程中，最優(yōu)傾斜修正量利用盤上所有區(qū)域中的LPP信號(hào)來計(jì)算。也就是說，LPP信號(hào)的振幅電平被檢測(cè)并且振幅電平變?yōu)樽畲髸r(shí)的傾斜修正量被確定為最優(yōu)修正量?？蛇x地，既然RF信號(hào)可以在如DVD-R的預(yù)寫區(qū)域、DVD-RW的可讀凸出區(qū)域和已經(jīng)進(jìn)行記錄的區(qū)域等這樣的區(qū)域中獲得，那么利用RF信號(hào)的振幅電平而不是LPP信號(hào)的振幅電平，也可以確定最優(yōu)傾斜修正量。如圖2所示，關(guān)于RF信號(hào)和盤傾斜量，也有這樣一個(gè)相互關(guān)系，即當(dāng)盤傾斜量為零時(shí)，RF信號(hào)的振幅電平變?yōu)樽畲?。因此，在上面指出的可以獲得RF信號(hào)的區(qū)域中，通過檢測(cè)隨傾斜修正量改變的RF信號(hào)的振幅電平，RF信號(hào)的振幅電平變?yōu)樽畲髸r(shí)的傾斜修正量能夠被確定為最優(yōu)傾斜修正量。
如上所述，在這個(gè)實(shí)施例中，根據(jù)在盤上事先記錄的LPP檢測(cè)信號(hào)(即LPP信號(hào))的振幅電平，執(zhí)行傾斜修正從而使振幅電平變?yōu)樽畲?。因此，傾斜修正能夠在沒有大尺寸的專用傾斜傳感器的情況下被執(zhí)行。
而且，在本實(shí)施例中，因?yàn)長PP信號(hào)被用來檢測(cè)盤傾斜量，所以通過執(zhí)行跟蹤伺服可以獲得盤傾斜量。因此，有利的是盤傾斜量不僅能夠通過準(zhǔn)備修正輪廓來檢測(cè)，而且在記錄過程中、再現(xiàn)過程中、甚至是在暫停狀態(tài)也可以檢測(cè)。
此外，在本實(shí)施例中，不使用專門用來檢測(cè)盤傾斜量的檢測(cè)光，后者通常使用在利用專用傾斜傳感器的情況下。當(dāng)利用這樣的專用傾斜傳感器時(shí)，在專用傾斜檢測(cè)光和記錄/再現(xiàn)光之間的并行性中可能有差錯(cuò)。鑒于此情況，在上面的實(shí)施例中，利用LPP信號(hào)來檢測(cè)盤傾斜，該LPP信號(hào)是基于為信息記錄和/或再現(xiàn)而照射到盤上的光的返回光獲得的。因此，與采用專用傾斜傳感器的情況不同，由于上面指出的由于并行性而引起的差錯(cuò)不會(huì)發(fā)生，所以盤傾斜的檢測(cè)精度增加了。
本發(fā)明可以在不偏離其精神或本質(zhì)特征的情況下按其它形式實(shí)施。因此，本實(shí)施例無論從哪方面看都被認(rèn)為是示例而不是限制的，本發(fā)明的范圍由所附的權(quán)利要求指示，而不是由前述說明指示，并且因而所有在權(quán)利要求的等價(jià)范圍內(nèi)的所有變化都包含在其中。
在2002年6月19日提交的申請(qǐng)?zhí)枮?002-178529的日本專利申請(qǐng)的整個(gè)公開文本，包括說明書、權(quán)利要求、附圖和摘要，都被在此引入作為參考。
權(quán)利要求
1.一種用于其上形成有預(yù)坑的盤的傾斜修正裝置，所述傾斜修正裝置包括預(yù)坑信號(hào)產(chǎn)生單元，它將光束照射到該盤上并且基于從該盤返回的光產(chǎn)生一個(gè)指示該預(yù)坑是否存在的預(yù)坑信號(hào)；修正量確定單元，它基于所述預(yù)坑信號(hào)確定最優(yōu)傾斜修正量；和傾斜修正單元，它基于所述最優(yōu)傾斜修正量執(zhí)行傾斜修正。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的傾斜修正裝置，其特征在于，所述修正量確定單元基于所述預(yù)坑信號(hào)的振幅電平確定最優(yōu)傾斜修正量。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的傾斜修正裝置，其特征在于，所述修正量確定單元包括振幅電平檢測(cè)單元，它為多個(gè)傾斜修正量檢測(cè)該預(yù)坑信號(hào)的振幅電平；和確定單元，它將振幅電平對(duì)其變?yōu)樽畲蟮膬A斜修正量確定為最優(yōu)傾斜修正量。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的傾斜修正裝置，其特征在于，所述振幅電平檢測(cè)單元為多個(gè)傾斜量檢測(cè)盤上的同一位置處的振幅電平。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4的傾斜修正裝置，其特征在于，所述振幅電平檢測(cè)單元在盤上的非記錄區(qū)域檢測(cè)該振幅電平。
6.根據(jù)權(quán)利要求3或4的傾斜修正裝置，其特征在于，在再現(xiàn)盤上的記錄區(qū)域和記錄到盤上時(shí)，所述振幅電平檢測(cè)單元在記錄信息的間隔部分檢測(cè)該振幅電平。
7.根據(jù)權(quán)利要求3到6中任何一項(xiàng)的傾斜修正裝置，其特征在于，所述振幅電平檢測(cè)單元包括電平保持電路，所述電平保持電路檢測(cè)該預(yù)坑的峰值電平和/或谷底電平。
8.根據(jù)權(quán)利要求1到7中任何一項(xiàng)的傾斜修正裝置，還包括，為盤上多個(gè)區(qū)域中的每一個(gè)區(qū)域存儲(chǔ)最優(yōu)傾斜修正量的存儲(chǔ)單元，其特征在于，所述傾斜修正單元基于存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)單元中的最優(yōu)傾斜修正量執(zhí)行傾斜修正。
9.一種用于其上形成有預(yù)坑的盤的傾斜修正方法，所述修正方法包括將光束照射到盤上的過程；基于從該盤返回的光產(chǎn)生指示該預(yù)坑是否存在的預(yù)坑信號(hào)的過程；基于所述預(yù)坑信號(hào)確定最優(yōu)傾斜修正量的過程；和基于所述最優(yōu)傾斜修正量執(zhí)行傾斜修正的過程。
全文摘要
一種不需要專用傾斜傳感器的傾斜檢測(cè)裝置檢測(cè)和修正盤傾斜。在其上事先形成有預(yù)坑的盤上、在預(yù)坑檢測(cè)信號(hào)的振幅電平和盤傾斜量之間有相關(guān)性。也就是說，當(dāng)盤傾斜量為零時(shí)，該預(yù)坑信號(hào)的振幅電平變?yōu)樽畲蟆Ｒ虼?，通過控制傾斜修正量使得預(yù)坑檢測(cè)信號(hào)的振幅電平變?yōu)樽畲螅瑥亩軌蛟诓徊捎脤Ｓ脙A斜傳感器等的情況下執(zhí)行傾斜修正。
文檔編號(hào)G11B7/005GK1472733SQ0314903
公開日2004年2月4日 申請(qǐng)日期2003年6月19日 優(yōu)先權(quán)日2002年6月19日
發(fā)明者佐佐木儀央, 田中久生, 藤木慎一, 一, 生 申請(qǐng)人:日本先鋒公司