專利名稱：用于檢查貨物真實(shí)性的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于檢查貨物真實(shí)性的方法。
背景技術(shù)：
商標(biāo)盜用是對(duì)商標(biāo)制造商在市場上標(biāo)識(shí)其產(chǎn)品的符號(hào)、名字、標(biāo)志(商 標(biāo))和商業(yè)名稱的非法使用。產(chǎn)品盜用是對(duì)具有合法制造商的專利權(quán)、設(shè) 計(jì)權(quán)或版權(quán)的貨物的被禁止的拷貝和復(fù)制。商標(biāo)和產(chǎn)品盜用未經(jīng)許可獲得 技術(shù)知識(shí)，所述技術(shù)知識(shí)是/〉司多年來通過辛勤工作和巨大金融手段獲得 的，以便將其用于自己的產(chǎn)品。商標(biāo)和產(chǎn)品盜用《吏用已由商標(biāo)生產(chǎn)商基于 其質(zhì)量產(chǎn)品獲得的商標(biāo)的知識(shí)，使得消費(fèi)者關(guān)于所述貨物和質(zhì)量的實(shí)際起 源產(chǎn)生迷惑。
產(chǎn)品盜用已變成工業(yè)和商業(yè)界最嚴(yán)重的問J^之一。信息共同體中的技 術(shù)情報(bào)、現(xiàn)代生產(chǎn)技術(shù)和世界范圍的貨物交換的日益增長的重要性4吏得現(xiàn) 在易于拷貝幾乎相同的有利可圖的產(chǎn)品，并且在國內(nèi)外將其引入有利可圖 的市場.尤其是化學(xué)工業(yè)、制藥工業(yè)、化妝品工業(yè)、石油工業(yè)、車輛建造 和供應(yīng)工業(yè)、紡織、鞋和服裝工業(yè)、玩具工業(yè)、賴^食工業(yè)、電氣工業(yè)、包 括軟件、電影和音樂的數(shù)字媒體的產(chǎn)品以及銀行和國家的產(chǎn)品被影響.
可以通過提供被稱為防偽技術(shù)的技術(shù)進(jìn)行補(bǔ)救，所述防偽技術(shù)允許檢 查貨物的真實(shí)性。這些技術(shù)必須滿足關(guān)于防偽安全性、耐久性、抵抗性、 成本有效性、與分配和消費(fèi)者友好的兼容性的一系列要求。
用于標(biāo)識(shí)和檢查真實(shí)性的現(xiàn)有技術(shù)是首先被稱為"開放技術(shù)"的技術(shù)，
即通過檢查真實(shí)性的可見標(biāo)記操作的技術(shù)；其次是"隱藏技術(shù)"，即通過 不可見標(biāo)記^Mt的那些4支術(shù)。開放4支術(shù)的例子如"光學(xué)變色油墨"(OVI)
(即根據(jù)觀察角度改變其顏色的印刷油墨)、花紋印刷(行印刷)、凹雕 印刷(輪廓印刷)、全息和水印。隱藏技術(shù)的例子如熒光油墨、與摩擦起 反應(yīng)的"硬幣反應(yīng)油墨"、熱反應(yīng)油墨、被稱為"標(biāo)記物"的生物、化學(xué) 或分光可檢測單元、微文本、光柵文本和數(shù)字水印。另外，存在例如經(jīng)由 無線電波發(fā)送數(shù)據(jù)的芯片和磁系統(tǒng)的機(jī)器可讀技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種用于檢查貨物真實(shí)性的方法。本發(fā)明的目的 特別是提供這樣一種技術(shù)，該技術(shù)是防偽的、永久的、經(jīng)濟(jì)的和對(duì)用戶友 好的。
該目的通過一種用于檢查貨物真實(shí)性的方法來實(shí)現(xiàn)，所述方法包括對(duì) 貨物的標(biāo)記和鑒定，其中
(i) 在標(biāo)記步驟中，具有圖案函數(shù)M(x， y)的圖案形式的標(biāo)記被 施加于貨物表面，所述標(biāo)記區(qū)域中的所述貨物表面的物理可測屬性的局部 改變由所述標(biāo)記導(dǎo)致，并且所述標(biāo)記是由肉眼不可察覺的；
(ii) 在鑒定步猓中，所述貨物表面附近的分析輻射(analytical radiation)的發(fā)射、反射或散射根據(jù)所述分析輻射的局部坐標(biāo)(x， y) 和波長入^U險(xiǎn)測；并且這樣確定響應(yīng)函數(shù)A (x, y，入)，該響應(yīng)函數(shù)根 據(jù)所述局部坐標(biāo)(x， y)和波長入再現(xiàn)所述M射、^Jlt和^t射的^^析輻 射的強(qiáng)度；以及，借助于相關(guān)性分析，確定所述響應(yīng)函數(shù)A(x, y，入) 與已知圖案函數(shù)M(x， y)的相關(guān)性，所迷標(biāo)記可以借助于所^t目關(guān)性來 檢測。
在標(biāo)記步驟(i)中，圖案形式的標(biāo)記被施加于貨物表面。所述標(biāo)記存 在于通過肉眼不可察覺的貨物的物理可測表面屬性的類圖案的改變。這可 以通過使將被標(biāo)記的貨物表面暴露于適于改變其物理可測屬性的任意期望 的外部作用來完成，其中，所述外部作用遵循圖案，所述外部作用將被在
下文中被稱為環(huán)境影響。外部作用(環(huán)境影響)包括所^面上的光、或 一般輻射、機(jī)械壓力、化學(xué)、氣體、微生物、放射性輻射、聲(例如超聲)
或熱作用。所述環(huán)境影響可以例如借助于照射或借助于對(duì)貨物表面的化學(xué) 藥品的應(yīng)用來施加，其中，"化學(xué)藥品"是指能夠與其表面或與包含在后
者中的物質(zhì)起反應(yīng)的所有物質(zhì)或物質(zhì)的混合。
表面的屬性如果可以通過與M射到該表面上的分析輻射通過交互作
用來記錄則在本發(fā)明的意義上是物理可測的。分析輻射可以是能夠與所述 表面交互的任意期望的輻射，并且可以被后者發(fā)射、反射或散射。例子如
電子輻射、微粒輻射(中子、放射性alpha或beta射線)或聲學(xué)輻射(例 如超聲)。
適于改變表面的物理可測屬性的所述環(huán)境影響以特定的、已知的、依 賴于位置的強(qiáng)度分布I (x， y)在所&面上起作用是很重要的。換句話 說所述環(huán)境影響在表面上的作用不是均勻的，而是具有強(qiáng)度圖案。該強(qiáng) 度圖案可以是例如帶狀圖案或棋盤圖案的簡單幾何圖案。然而，所述強(qiáng)度 圖案還可以是完全不規(guī)則的。例如，強(qiáng)度圖案可以對(duì)應(yīng)于商標(biāo)。
如果在表面上起作用的所述環(huán)境影響是具有特定波長或具有特定頻鐠
分布的光，則所述強(qiáng)度可以用輻射強(qiáng)度換算，其中，所述輻射強(qiáng)度是以W/cm2 度量的。如果所述作用環(huán)境影響是例如由襯底表面遭受噴沙引起的W^ 力，則該環(huán)境影響的強(qiáng)度可以用每單位時(shí)間和單位面積撞擊所述襯底表面 的沙粒的數(shù)量來換算。如果所述作用環(huán)境影響是化學(xué)藥品或氣體的作用，
換算.、'〃 P 、' 、
所述圖案優(yōu)選地通過允許環(huán)境影響通過一個(gè)或更多^M^作用在所a
面上來產(chǎn)生，其中，所述掩模具有特定的依賴于位置的傳輸函數(shù)T (x, y) (傳輸圖案)，并且這樣，獲得對(duì)應(yīng)于依賴于位置的傳輸函數(shù)的環(huán)境影響 的依賴于位置的強(qiáng)度分布I (x， y)，其根據(jù)貨物表面上的掩模的圖像產(chǎn) 生圖案。在此情況下，所述圖案所基于的圖案函數(shù)M (x, y)對(duì)應(yīng)于所述 掩模的傳輸函數(shù)T (x， y)。
傳輸函數(shù)T (x， y)描述了掩模對(duì)于所述環(huán)境影響的依賴于位置的透 明度。如果作用環(huán)境影響是光，則所述掩模可以例如包括膠片，該膠片對(duì)
于所述光基本透明并且包含印刷在上面的圖案，其中，印刷的區(qū)域具有對(duì) 于特定波長或特定波長范圍的光的較低傳輸性，或是基本不透明的。該膠 片可以枕故置在表面上，以便在照射期間在所W面上產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的強(qiáng)度圖 案。如果作用環(huán)境影響是由噴沙實(shí)現(xiàn)的在表面上的W^作用，則所述掩模
可以是具有剪切塊的型板(stencil)，通過所述剪切塊所述噴沙可以作 用在表面，但其另 一方面覆蓋所述表面并且保護(hù)其免于所述噴沙的作用。 如果作用環(huán)境變量是化學(xué)藥品、氣體或微生物的作用，則所述掩模可以同 樣是具有剪切塊的型板。在化學(xué)藥品或微生物的情況下，包含這些的配方 可以被繪制在所述型板上。被所述型板覆蓋的表面的區(qū)域被因而保護(hù)使免 于所述配方的作用，而表面得以在所述型板的剪切塊中與所述配方接觸。
然而，還可以在不使用掩模的情況下對(duì)表面應(yīng)用強(qiáng)度圖案。例如，在 光作用于樣本上的情況下，所述強(qiáng)度分布I (x, y)可以被作為該表面上 的衍射圖案產(chǎn)生。
在根據(jù)本發(fā)明的方法的優(yōu)選實(shí)施例中，所迷標(biāo)記通過例如凸版印刷、 凹版印刷、平版印刷和噴墨印刷的傳統(tǒng)印刷過程被印刷到貨物表面上。在 此情況下，具有最小著色劑內(nèi)容的印刷油墨4!t使用，其導(dǎo)致通過肉眼不可 察覺的標(biāo)記，偏好被給予具有高耐光性的顏色印刷油墨，適合的顏料例如 是例如一氮霉素顏料、二氮化合物顏料、蒽嵌蒽載顏料、蒽醍顏料、蒽素 嘧咬顏料、喹吖啶酮顏料、喹酞酮顏料、二惡嚷顏料、黃蒽酮顏料、陰丹 酮顏料、異吲哚啉顏料、異吲哚啉酮顏料、異蒽酮紫顏料、金屬合成顏料、 紫環(huán)酮顏料、二萘嵌苯顏料、酞菁顏料、皮蒽酮顏料、硫散顏料、三芳基 甲烷顏料的有機(jī)和無機(jī)顏料，以及無機(jī)白、黑和有色顏料.具有可溶、不 褪色著色劑的印刷油墨可以也^^吏用。所述的例子如優(yōu)選以例如銅、鋅或 鋁的金屬作為中央原子的酞菁栽色體的可溶派生物。
在根據(jù)本發(fā)明的方法的另一優(yōu)選實(shí)施例中，所述標(biāo)記被用光化學(xué)方法 產(chǎn)生。出于該目的，表面被優(yōu)選以高能光照射，所述物理可測屬性的局部 改變被在該表面上用光化學(xué)方法引入。所述照射優(yōu)選通過包含所迷圖案的 掩模、即通過具有對(duì)應(yīng)于所述圖案函數(shù)的傳輸函數(shù)的掩模來實(shí)現(xiàn)。 在鑒定步驟(ii)中，貨物表面附近的分析輻射的發(fā)射、反射或散射 根據(jù)局部坐標(biāo)(x， y)、以及適當(dāng)情況下的分析輻射的波長入來檢測。
分析輻射可以具有例如位于5.8pm (對(duì)應(yīng)于1720 cm—1) CO帶的波長 的離散波長，否則包括例如從400到800 nm的整個(gè)可見頻鐠范圍的波長 范圍。經(jīng)由表面的所述分析波長的發(fā)射、反射或散射一般取決于該分析輻 射的波長。響應(yīng)函數(shù)A(x， y,人)被因此獲得，其根據(jù)局部坐標(biāo)(x， y) 和波長入再現(xiàn)所U射、反射或散射的分析光的強(qiáng)度。該響應(yīng)函數(shù)可以針 對(duì)離散波長入或針對(duì)一個(gè)或更多波長范圍A入(例如針對(duì)可見光的紅、綠 和藍(lán)區(qū)域)確定。
分析輻射的波長或其頻鐠成分取決于標(biāo)記的類型。 一般地，它將是在 頻鐠的UV-VIS和/或NIR區(qū)域中的分析光。例如，在用著色劑標(biāo)記的情況 下，它將是UV-VIS區(qū)域的分析光。如果所述標(biāo)記存在于表明其自己在5. 8 jum的CO帶的強(qiáng)度中的類圖案的、光誘發(fā)的塑料老化，則所述分析輻射將 包括該波長。
在根據(jù)本發(fā)明的方法的一個(gè)實(shí)施例中，確定表面附近的分析光的反射， 在此情況下，遠(yuǎn)心測量光學(xué)被優(yōu)選使用。在根據(jù)本發(fā)明的方法的另一實(shí)施 例中，經(jīng)由表面的分析光的散射被檢測。在此情況下，共焦顏色測量系統(tǒng) 被優(yōu)選使用。
根據(jù)局部坐標(biāo)(x， y)和波長入的襯底表面附近的分析輻射的反射或 散射可以還用顏色掃描儀或數(shù)碼相機(jī)來檢測。
放射性或聲輻射(超聲)的檢測可以用從醫(yī)學(xué)診斷可知的成像方法來 實(shí)現(xiàn)。熱紅外輻射可以用熱成^jfe機(jī)來檢測。
響應(yīng)函數(shù)A (x， y，入) 一般根據(jù)用數(shù)字圖像評(píng)估系統(tǒng)檢測的強(qiáng)度值 來確定.
獲得響應(yīng)函數(shù)，其中，該響應(yīng)函數(shù)根據(jù)局部坐標(biāo)(x， y)以及適當(dāng)情 況下的波長人再現(xiàn)#議射、反射或散射的分析輻射的強(qiáng)度。
在另一步驟中，借助于相關(guān)性分析，所迷響應(yīng)函數(shù)A (x， y，入)與 已知圖案函數(shù)M (x， y)的相關(guān)性被確定，這使得所述標(biāo)記可以借助于該
相關(guān)性來檢測，并且以這種方式進(jìn)行貨物的真實(shí)性檢查。
相關(guān)性分析是用于特征圖檢測的本身已知的數(shù)學(xué)方法。相關(guān)性分析方 法已被在文獻(xiàn)中廣泛地描述。所述(測量的)響應(yīng)函數(shù)與比較函數(shù)的相關(guān) 程度被檢查。
出于該目的， 一般化的相關(guān)函數(shù)被計(jì)算
00 00
<formula>formula see original document page 9</formula>a、 P是自由可選的比例參數(shù)，x。、 y。是自由可選的位置參數(shù)。上述 方程將被理解為，積分基于兩個(gè)坐標(biāo)或可能僅基于一個(gè)坐標(biāo)實(shí)現(xiàn)。對(duì)于超 過測量范位的變量，V和A的值被i更為等于零。
該相關(guān)函數(shù)"R供了關(guān)于響應(yīng)函數(shù)A(x， y，入)與比較函數(shù)V( (xx+x0， Py+y。，入)的相關(guān)程度、以及當(dāng)其變量被改變時(shí)該相關(guān)性改變多大即該 相關(guān)性有多重要。
比較函數(shù)可以但不必要與環(huán)境影響的強(qiáng)度分布I (x， y， Xu)或基本 圖案函數(shù)M(x， y，入J或強(qiáng)度分布I(x， y,入u)和圖案函數(shù)M(x， y， 入u)的乘積相同。比較函數(shù)概括描述了由標(biāo)記引起的將被預(yù)期或?qū)ふ业谋?面屬性的改變。然而，期望屬性改變展示所述標(biāo)記或所述環(huán)境影響的強(qiáng)度 分布的特征圖.
例如，如果標(biāo)記存在于借助于用光照射實(shí)現(xiàn)的表面反射的改變，則比 較函數(shù)應(yīng)當(dāng)被選為使其x-y關(guān)系對(duì)應(yīng)于已知局部依賴的強(qiáng)度分布I (x， y, 入u)或基本圖案函數(shù)M(x， y，入u)或強(qiáng)度分布I(x, y，入J與圖案函 數(shù)M(x, y, 7u)的乘積的已知x-y關(guān)系，比較函數(shù)不必要具有任意明確 的波長依賴。
相關(guān)函數(shù)僅反映表面中所期望的改變，即由標(biāo)記引起的那些改變，并 且有效抑制例如統(tǒng)計(jì)噪聲、采樣不均一和外部光影響的干涉影響。這導(dǎo)致 非常高的靈敏度。
一般相關(guān)性分析的 一種變型是傅立葉分析。
在根據(jù)本發(fā)明的方法的一個(gè)實(shí)施例中，具有局部頻率為oc的周期性圖
案。該標(biāo)記可以通過借助于傳統(tǒng)印刷過程印刷表面來產(chǎn)生。然而，它還可 以通過表面的爆光或一般照射來產(chǎn)生，其中，啄光或照射用具有局部頻率
oc的對(duì)應(yīng)周期性強(qiáng)度分布I (x， y， X )來實(shí)現(xiàn)。周期性強(qiáng)度分布可以通 過使用具有周期性傳輸函數(shù)T (x， y,人)-M (x， y,入)的掩模來產(chǎn)生。 這可以是例如被稱為條形碼4i模的，例如具有規(guī)則(等分布)排列的、(大 量)不透明條的透明膠片(被稱為黑/白條形碼掩^模)、或具有合適的矩 形剪切塊序列的型板。代務(wù)使用掩模，具有合適圖案函數(shù)M(x， y，入) 的光柵可以也被z投影到表面上。
作為示例，在下文中將描述一種相關(guān)性分析方法，用于確定依賴于位 置的強(qiáng)度分布I (x， y,入)或?qū)?yīng)的標(biāo)記的圖案函數(shù)M (x， y，人)與 響應(yīng)函數(shù)A (x， y，入)之間的相關(guān)性。相關(guān)性分析方法是本身已知的， 并且已被在文獻(xiàn)中廣泛描述。因此，本發(fā)明也不在于提供所述數(shù)學(xué)方法。
結(jié)構(gòu)，則結(jié)果是特別清晰的關(guān)系。例如，如果選擇傳輸函數(shù) T U， y，入u) =1/2 (l+cos ( cx。x))
并且如果貨物表面上的圖案用光化學(xué)方法產(chǎn)生，則由于V(x， y,入)
<formula>formula see original document page 10</formula>因此，所iM目關(guān)函lfcA除常數(shù)之外的響應(yīng)函數(shù)的實(shí)傅立葉變換。ot可 以由此被理解為局部頻率。另外，^W^掩模的固有頻率cx。處，K( a， P，xo， y。，入)展示由照射導(dǎo)致的項(xiàng)。在所有其它局部頻率cc^ a。處，所i^目關(guān) 函數(shù)為零。由此，無窮高局部頻率分辨率ot。/Aa被獲得。
然而，實(shí)際上，有必要考慮這一事實(shí)因?yàn)橛邢薏蓸哟笮阻，所述 積分不能從負(fù)無窮到正無窮被實(shí)現(xiàn)。另外，測量不是連續(xù)進(jìn)行的；相反， 所述響應(yīng)函數(shù)被用有限數(shù)量的參考點(diǎn)數(shù)字化。所述參考點(diǎn)的強(qiáng)度導(dǎo)致可以 仍然被測量的局部頻率的上限。通過對(duì)比，所述有限采樣大小導(dǎo)致由a。/ A a = cc。
x顯給出的有限局部頻率分辨率a。/厶a。
這意味著，由統(tǒng)計(jì)過程(信號(hào)噪聲)導(dǎo)致的干涉被與在無窮高局部頻
率分辨率情況下相比較不怎么有效地^L抑制。然而，實(shí)際上已示出，盡管 有所述限制，根據(jù)本發(fā)明的方法具有比視覺觀察高多于一百倍的靈敏度.
借助于相關(guān)性分析的圖案識(shí)別導(dǎo)致貨物表面上的標(biāo)i嫌測的非常高的 靈敏度。由此可以以高靈敏度檢測不能被視覺察覺到的標(biāo)記，并且這樣可 以允許貨物的真實(shí)性檢查。
將被標(biāo)記的表面可以由任意期望的材料構(gòu)成，例如金屬、塑料、木材、 顏料、紙或板的表面。如果貨物本身適于標(biāo)記的應(yīng)用，則標(biāo)記可以被施加 于貨物本身，或者施加于其包裝。本發(fā)明意義上的術(shù)語"貨物"因此還包 括貨物的包裝。將被標(biāo)記的貨物可以來源于任意期望的部門。例子如化學(xué) 和制藥工業(yè)、石油工業(yè)、車輛建造和供應(yīng)工業(yè)、紡織和服裝工業(yè)、玩具工 業(yè)、糧食、飲料和半奢侈消費(fèi)品工業(yè)、電氣工業(yè)、化妝品和健身工業(yè)的產(chǎn)
品，機(jī)械和工廠建造、軟件、數(shù)字媒體和娛樂電子的產(chǎn)品a 通過下面的例子詳細(xì)描述>^發(fā)明。 示例 例1
借助于膝光裝置，條形碼信息的不可見條目被寫入到由松木制成的木
板中，如下面在

圖1中所示。由于此目的，具有周期長度1咖的條形碼 圖案借助于來自Pr印ress公司的類型Pantherpro/46的曝光裝置產(chǎn)生在 AGFA膠片類型(類型3ZESP)的膠片上.尺寸為8 x 8cm的所i^J歐片在四 個(gè)角上被用圖釘固定在所^^木上，其中，該膠片的柵格被定向?yàn)榕c所述 木材的紋理成直角(見圖1)。注意到，該膠片盡可能平地放置在平滑的 木質(zhì)表面上，以及，該膠片在照射期間不可以移動(dòng)。這樣準(zhǔn)備的;MM^ 露于陽光30分鐘，其中，陽光近似垂直地落在樣本表面上。
在膝光之后，所述膠片柵格去除，并且所述木材的表面被視覺地評(píng)估。 沒有任何視覺可察覺的所述樣本表面的改變可以被肉目險(xiǎn)測到(沒有任何 柵格可以被檢測到)。
照射之后，所述柵格膠片被移除。柵格膠片和木質(zhì)面板(向下的曝光
面)救故置在HP SCANJET 550 C型掃描儀的對(duì)象壓盤上，并且被在下面 的條件下掃描
真色度(16,7百萬色)
分辨率1200 dpi
對(duì)比度中度
顏色自動(dòng)
曝光自動(dòng)
來自被照射木材表面的RGB信號(hào)被然后經(jīng)歷一維傅立葉變換。使由所 述掃描儀測量的強(qiáng)度被指定為Sj (k， m)。在此情況下，下標(biāo)j指定RGB 顏色(紅、綠和藍(lán))。通過對(duì)比，變量k和m指示強(qiáng)度被測量的位置。由 k或m指示的方向?qū)⒈恢付橄旅嫖谋局械膱D《象行或圖像列。借助于數(shù)學(xué) 運(yùn)算
5 , w) = l[ J" & (A:, m). sin(2. ;r. A:'.".說〗2 (A:， m). cos(2' ;r. A:'*) 丑]2
其功率譜Pj(k，， m)針對(duì)每個(gè)圖像^計(jì)算，這樣對(duì)于每個(gè)圖像行獲 得的功率鐠被在所有圖像列上平均
在所示的例子中，在每種情況下，平均功率鐠，被相對(duì)于局部頻率
k，畫出。由于在由所i^片柵格確定的局部頻率處顯著增長的平均功率鐠 強(qiáng)度被建立，光化學(xué)信號(hào)可以被在R、 G、 B信道中清晰i^測到。各個(gè)信 道中該強(qiáng)度的高;tA視覺不可察覺條形碼信息的度量。在圖l和2中被畫 在X軸和Y軸上的變量正比于局部頻率和平均功率i瞽的強(qiáng)度。
一維傅立葉變換的結(jié)果被示在圖1中。
柵格膠片的FT功率鐠被示在圖2中.
圖2中，柵格的為44的無量綱局部頻率可以^L檢測到。在該局部頻 率處，在圖2中，非常高的信號(hào)峰值被在藍(lán)信道中觀測到，中等信號(hào)峰值 在綠信道中，以及較小信號(hào)峰值在藍(lán)信道中。這對(duì)應(yīng)于遠(yuǎn)在可見極限之下 的棕色中的條形碼，所述信號(hào)的峰值高度被以對(duì)數(shù)畫出，以便使例如噪聲 等的小效應(yīng)更好地可見。所述光化學(xué)方法產(chǎn)生的信息在統(tǒng)一曝光于日光一 個(gè)月后，可以仍然借助于上面描述的評(píng)估方法來讀出。
例2
重復(fù)示例1，但照射使用5秒具有3倍于日光強(qiáng)度的輻射強(qiáng)度的人工 膝光裝置來實(shí)現(xiàn)。獲得與示例1中獲得那些類似的結(jié)果， 例3
借助于HP 2000 C型噴墨打印機(jī)，通過使用PowerPoint程序，視覺 不可察覺圖案被以下列設(shè)置打印在藍(lán)色背景上(尺寸為9 x 11 cm的EPSON
專用紙)
紅53 色調(diào) 170 藍(lán)53 飽和度153 綠205亮度129
所述柵格的周期是1/cm。柵格信息被與噴墨打印機(jī)的打印行成直角的 方式打印.
這樣產(chǎn)生的打印按照如示例1中描述的那樣掃描.借助于例1中描述 的評(píng)估方法，獲得的結(jié)果在圖3中示出.
圖3展現(xiàn)了不可見條形碼圖案的基頻和2個(gè)諧波配音。所述效果被特 別在藍(lán)色打印的吸收范圍中、即在紅色信道中清楚地宣告。紅色信道中的 基頻和兩個(gè)諧波的幅度(以任意單位)為420: 170: 80。
權(quán)利要求
1.一種用于檢查貨物真實(shí)性的方法，包括貨物的標(biāo)記和鑒定，其中(i)在標(biāo)記步驟中，具有圖案函數(shù)M(x，y)的圖案形式的標(biāo)記被施加于所述貨物表面，所述標(biāo)記的區(qū)域中的所述貨物表面的物理可測屬性的局部改變由所述標(biāo)記導(dǎo)致，并且所述標(biāo)記是肉眼不可察覺的，(ii)在鑒定步驟中，根據(jù)所述貨物表面附近的分析輻射的局部坐標(biāo)(x，y)和波長λ檢測所述分析輻射的發(fā)射、反射或散射并且這樣確定響應(yīng)函數(shù)A(x，y，λ)，所述響應(yīng)函數(shù)根據(jù)所述局部坐標(biāo)(x，y)和所述波長λ再現(xiàn)被發(fā)射、反射或散射的所述分析輻射的強(qiáng)度，并且借助于相關(guān)性分析，確定所述響應(yīng)函數(shù)A(x，y，λ)與所述已知圖案函數(shù)M(x，y)的相關(guān)性，所述標(biāo)記借助于所述相關(guān)性被檢測。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述標(biāo)記被印刷在所述貨物 表面上，具有最小著色劑內(nèi)容的印刷油墨被使用，其導(dǎo)致肉眼不可察覺的 標(biāo)記。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，產(chǎn)生所述貨物表面上的標(biāo)記， 以使得允許環(huán)境影響作用在所ii^面上，所述環(huán)境影響適合于改變所^ 面的物理可測屬性并且具有對(duì)應(yīng)于圖案函數(shù)M (x， y)的特定、依賴于位 置的強(qiáng)度分布I (x, y),
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其中，所述環(huán)境影響是所i4^面上 的輻射作用。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其中，所述標(biāo)記用光化學(xué)方法產(chǎn)生。
6. 根據(jù)權(quán)利要求3到5之一所述的方法，其中，所述強(qiáng)度分布I(x， y)由被允許作用在所^面上的所述環(huán)境影響通過^^模產(chǎn)生，所述掩模 具有對(duì)應(yīng)于所述強(qiáng)度分布I (x， y)的傳輸函數(shù)T (x， y)。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1到6之一所述的方法，其中，所述圖案是不規(guī)則 圖案。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1到6之一所述的方法，其中，所述圖案是具有局 部頻率OC的規(guī)則圖案。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其中，所述相關(guān)性分析是傅立葉分析。
10. 根據(jù)權(quán)利要求l到9之一所述的方法，其中，所述分析光的反射 被檢測。
11. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其中，遠(yuǎn)心測量光學(xué)被用于所述 檢領(lǐng)'J中。
12. 根據(jù)權(quán)利l到9之一所述的方法，其中，所述分析光的散射被檢測。
13. 根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其中，共焦顏色測量系統(tǒng)被用于 所述測量中.
14. 根據(jù)權(quán)利要求1到13之一所述的方法，其中，所述響應(yīng)函數(shù)A (x， y，入)^^用數(shù)字圖《象評(píng)估電子來確定。
15. —種用于標(biāo)記貨物的方法，包括根據(jù)權(quán)利要求1到8之一的標(biāo)記 步驟(i)。
16. —種用于鑒定貨物的方法，包括根據(jù)權(quán)利要求9到14之一的鑒 定步驟(ii)。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于檢查貨物真實(shí)性的方法，包括貨物的標(biāo)記和鑒定，根據(jù)本發(fā)明的方法(i)在標(biāo)記步驟中，具有圖案函數(shù)M(x，y)的圖案形式的標(biāo)記被施加于所述貨物表面，所述標(biāo)記的區(qū)域中的所述貨物表面的物理可測屬性的局部改變由所述標(biāo)記導(dǎo)致，并且所述標(biāo)記是肉眼不可察覺的；(ii)在鑒定步驟中，所述貨物表面附近的分析輻射的發(fā)射、反射或散射根據(jù)所述分析輻射的局部坐標(biāo)(x，y)和波長λ來檢測，并且用這樣的方法確定響應(yīng)函數(shù)A(x，y，λ)，該響應(yīng)函數(shù)根據(jù)所述局部坐標(biāo)(x，y)和波長λ重現(xiàn)所述被發(fā)射、反射或散射的分析輻射的強(qiáng)度，并且，借助于相關(guān)性分析確定響應(yīng)函數(shù)A(x，y，λ)與已知圖案函數(shù)M(x，y)的相關(guān)性，所述標(biāo)記借助于所述相關(guān)性來檢測。
文檔編號(hào)G07D7/00GK101099177SQ200580046458
公開日2008年1月2日 申請日期2005年12月14日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月15日
發(fā)明者E·蒂爾, R·森斯 申請人:巴斯福股份公司