一種電子芯片調(diào)試器的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電子芯片調(diào)試器，包括調(diào)試板，調(diào)試板上設(shè)有芯片安裝殼，調(diào)試板上設(shè)有若干固定桿，固定桿的一端扣在調(diào)試板上，固定桿的另一端套裝有套管；套管的橫截面為正六面型形狀。本發(fā)明可以將待處理的電子芯片插接在芯片安裝殼內(nèi)，通過調(diào)試板方便對電子芯片進(jìn)行調(diào)試，且通過調(diào)試器可以方便對電子芯片進(jìn)行高效調(diào)試，調(diào)試效率大大提高。
【專利說明】
一種電子芯片調(diào)試器
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種調(diào)試器，特別涉及一種電子芯片調(diào)試器。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的電子芯片種類繁多，質(zhì)量不一，一般都是要通過檢測后，方可放心使用;現(xiàn)有的調(diào)試器不方便對電子芯片進(jìn)行調(diào)試，調(diào)試速度慢，調(diào)試不方便，調(diào)試效率低。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明主要是解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的技術(shù)問題，從而提供一種可以將待處理的電子芯片插接在芯片安裝殼內(nèi)，通過調(diào)試板方便對電子芯片進(jìn)行調(diào)試，且通過調(diào)試器可以方便對電子芯片進(jìn)行高效調(diào)試，調(diào)試效率大大提高的電子芯片調(diào)試器。
[0004]本發(fā)明的上述技術(shù)問題主要是通過下述技術(shù)方案得以解決的:
一種電子芯片調(diào)試器，包括調(diào)試板，調(diào)試板上設(shè)有芯片安裝殼，調(diào)試板上設(shè)有若干固定桿，固定桿的一端扣在調(diào)試板上，固定桿的另一端套裝有套管;套管的橫截面為正六面型形狀。
[0005]進(jìn)一步的，所述調(diào)試板設(shè)有開殼。
[0006]進(jìn)一步的，所述調(diào)試板的側(cè)壁設(shè)有若干排針。
[0007]采用上述技術(shù)方案的電子芯片調(diào)試器，可以將待處理的電子芯片插接在芯片安裝殼內(nèi)，通過調(diào)試板方便對電子芯片進(jìn)行調(diào)試，且通過調(diào)試器可以方便對電子芯片進(jìn)行高效調(diào)試，調(diào)試效率大大提高。
[0008]
【附圖說明】
[0009]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0010]圖1為本發(fā)明電子芯片調(diào)試器的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2為本發(fā)明電子芯片調(diào)試器的部件分解圖。
[0011]
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)闡述，以使本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對本發(fā)明的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。
[0013]如圖1與圖2所示，一種電子芯片調(diào)試器，包括調(diào)試板I，調(diào)試板I上設(shè)有芯片安裝殼2，調(diào)試板I上設(shè)有若干固定桿3，固定桿3的一端扣在調(diào)試板I上，固定桿3的另一端套裝有套管4;套管4的橫截面為正六面型形狀;調(diào)試板I設(shè)有開殼5，調(diào)試板I的側(cè)壁設(shè)有若干排針6。
[0014]本發(fā)明電子芯片調(diào)試器，可以將待處理的電子芯片插接在芯片安裝殼2內(nèi)，通過調(diào)試板I方便對電子芯片進(jìn)行調(diào)試，且通過調(diào)試器可以方便對電子芯片進(jìn)行高效調(diào)試，調(diào)試效率大大提尚。
[0015]其中，調(diào)試板I設(shè)有開殼5，方便安裝。
[0016]其中，調(diào)試板I的側(cè)壁設(shè)有若干排針6，所以方便插接芯片。
[0017]以上所述，僅為本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何不經(jīng)過創(chuàng)造性勞動(dòng)想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求書所限定的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電子芯片調(diào)試器，包括調(diào)試板，其特征在于:調(diào)試板上設(shè)有芯片安裝殼，調(diào)試板上設(shè)有若干固定桿，固定桿的一端扣在調(diào)試板上，固定桿的另一端套裝有套管;套管的橫截面為正六面型形狀。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子芯片調(diào)試器，其特征在于:調(diào)試板設(shè)有開殼。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子芯片調(diào)試器，其特征在于:調(diào)試板的側(cè)壁設(shè)有若干排針。
【文檔編號】G06F11/273GK105975371SQ201610295226
【公開日】2016年9月28日
【申請日】2016年5月6日
【發(fā)明人】張廣山
【申請人】張廣山