本發(fā)明涉及通信，特別涉及一種支持高頻信號(hào)的調(diào)試總線。

背景技術(shù)：

1、調(diào)試總線（debug?bus）是一組芯片調(diào)試專用的傳輸線路，其工作原理是利用i2c總線配置調(diào)試地址，調(diào)試地址映射到多組調(diào)試數(shù)據(jù)（即芯片內(nèi)部待觀測(cè)的關(guān)鍵信號(hào)），再通過(guò)調(diào)試接口將調(diào)試數(shù)據(jù)傳輸?shù)綔y(cè)試設(shè)備，最后使用測(cè)試設(shè)備對(duì)調(diào)試數(shù)據(jù)進(jìn)行觀測(cè)與分析?，F(xiàn)有調(diào)試總線的整體結(jié)構(gòu)如圖1所示。

2、現(xiàn)有的調(diào)試總線方案在實(shí)際使用中具有以下兩點(diǎn)缺陷：

3、1、調(diào)試接口通常是由芯片管腳接出，而普通芯片管腳的最大工作頻率通常較低（約十兆赫茲量級(jí)）。隨著芯片工作速率不斷增長(zhǎng)，現(xiàn)有的調(diào)試總線無(wú)法對(duì)芯片內(nèi)的高頻信號(hào)進(jìn)行觀測(cè)與分析，這可能會(huì)極大增加芯片測(cè)試的難度與復(fù)雜度；

4、2、現(xiàn)有的調(diào)試總線若想對(duì)芯片內(nèi)的信號(hào)進(jìn)行結(jié)果統(tǒng)計(jì)，就需要在模塊內(nèi)部預(yù)設(shè)統(tǒng)計(jì)功能，再將統(tǒng)計(jì)值作為調(diào)試數(shù)據(jù)輸出。隨著芯片功能愈加復(fù)雜，在測(cè)試時(shí)需要觀測(cè)統(tǒng)計(jì)值的模塊也越來(lái)越多，且難以預(yù)測(cè)每個(gè)模塊需要觀測(cè)的統(tǒng)計(jì)內(nèi)容，所以在設(shè)計(jì)時(shí)也難以針對(duì)所有需要的模塊預(yù)設(shè)好相應(yīng)的統(tǒng)計(jì)功能，而對(duì)所有模塊都預(yù)設(shè)全部的統(tǒng)計(jì)功能則會(huì)消耗大量硬件資源。因此現(xiàn)有調(diào)試總線的統(tǒng)計(jì)功能在設(shè)計(jì)時(shí)較為復(fù)雜，在使用時(shí)不夠靈活。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于提供一種支持高頻信號(hào)的調(diào)試總線，以解決背景技術(shù)中的問(wèn)題。

2、為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種支持高頻信號(hào)的調(diào)試總線，基于傳統(tǒng)芯片調(diào)試總線，所述傳統(tǒng)芯片調(diào)試總線包括多路復(fù)用器、芯片管腳、若干個(gè)模塊；若干個(gè)模塊與多路復(fù)用器連接，多路復(fù)用器與芯片管腳連接；

3、所述支持高頻信號(hào)的調(diào)試總線還包括全局的統(tǒng)計(jì)模塊；所述統(tǒng)計(jì)模塊位于所述多路復(fù)用器和所述芯片管腳之間；

4、芯片內(nèi)部數(shù)據(jù)及其所屬的時(shí)鐘共同輸入所述統(tǒng)計(jì)模塊，所述統(tǒng)計(jì)模塊實(shí)現(xiàn)對(duì)高頻信號(hào)的檢測(cè)，滿足對(duì)全部模塊的統(tǒng)計(jì)需求。

5、在一種實(shí)施方式中，所述統(tǒng)計(jì)模塊包含邊沿檢測(cè)/電平檢測(cè)、計(jì)數(shù)器、存儲(chǔ)器、判斷模塊以及異步fifo；所述統(tǒng)計(jì)模塊中，同一個(gè)模塊的高頻時(shí)鐘與高頻數(shù)據(jù)同源，利用高頻時(shí)鐘對(duì)高頻數(shù)據(jù)進(jìn)行邊沿檢測(cè)或電平檢測(cè)，對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行計(jì)數(shù)或者根據(jù)檢測(cè)結(jié)果對(duì)高頻數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)，通過(guò)判斷模塊得到處于穩(wěn)態(tài)的低頻統(tǒng)計(jì)值，利用異步fifo將統(tǒng)計(jì)值切換到芯片管腳所在時(shí)鐘域，并作為調(diào)試總線的調(diào)試數(shù)據(jù)輸出至測(cè)試設(shè)備，以此完成對(duì)高頻信號(hào)的觀測(cè)與分析。

6、在一種實(shí)施方式中，所述判斷模塊中預(yù)設(shè)多種判斷模式以供測(cè)試中靈活使用，包含但不局限于以下六種：

7、（1）發(fā)生過(guò)n次事件a，n為大于0的整數(shù)；

8、應(yīng)用場(chǎng)景為：檢測(cè)高頻數(shù)據(jù)a是否發(fā)生過(guò)n次脈沖；

9、實(shí)作方法為：高頻時(shí)鐘每檢測(cè)到一次高頻數(shù)據(jù)a的脈沖信號(hào)的上升沿或下降沿就進(jìn)行一次計(jì)數(shù)，當(dāng)計(jì)數(shù)值大于等于n時(shí)將統(tǒng)計(jì)值置位，當(dāng)計(jì)數(shù)值小于n時(shí)統(tǒng)計(jì)值保持不變；

10、（2）同時(shí)發(fā)生過(guò)事件a和事件b；

11、應(yīng)用場(chǎng)景為：檢測(cè)高頻數(shù)據(jù)a和高頻數(shù)據(jù)b是否在同一時(shí)鐘周期內(nèi)發(fā)生過(guò)脈沖；

12、實(shí)作方法為：利用高頻時(shí)鐘對(duì)高頻數(shù)據(jù)a和高頻數(shù)據(jù)b的上升沿或下降沿進(jìn)行檢測(cè)，當(dāng)某個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)同時(shí)檢測(cè)到高頻數(shù)據(jù)a和高頻數(shù)據(jù)b的脈沖信號(hào)時(shí)將統(tǒng)計(jì)值置位，若非同時(shí)檢測(cè)到所述脈沖信號(hào)則統(tǒng)計(jì)值保持不變；

13、（3）發(fā)生了事件a之后，又發(fā)生過(guò)n次事件b；

14、應(yīng)用場(chǎng)景為：檢測(cè)高頻數(shù)據(jù)b是否在高頻數(shù)據(jù)a發(fā)生脈沖之后發(fā)生了n次脈沖；

15、實(shí)作方法為：利用高頻時(shí)鐘對(duì)高頻數(shù)據(jù)a和高頻數(shù)據(jù)b的上升沿或下降沿進(jìn)行檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)到高頻數(shù)據(jù)a的脈沖后才對(duì)高頻數(shù)據(jù)b的脈沖信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)，計(jì)數(shù)值大于等于n時(shí)將統(tǒng)計(jì)值置位，若未發(fā)生高頻數(shù)據(jù)a的脈沖或高頻數(shù)據(jù)b的脈沖計(jì)數(shù)小于n則統(tǒng)計(jì)值保持不變；

16、（4）在發(fā)生事件b之前，事件a發(fā)生過(guò)多少次；

17、應(yīng)用場(chǎng)景為：檢測(cè)高頻數(shù)據(jù)a在高頻數(shù)據(jù)b發(fā)生脈沖之前已經(jīng)發(fā)生過(guò)多少次脈沖；

18、實(shí)作方法為：利用高頻時(shí)鐘對(duì)高頻數(shù)據(jù)a和高頻數(shù)據(jù)b的上升沿或下降沿進(jìn)行檢測(cè)，一直對(duì)高頻數(shù)據(jù)a的脈沖信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)，直到檢測(cè)到高頻數(shù)據(jù)b的脈沖就停止計(jì)數(shù)，計(jì)數(shù)值即為統(tǒng)計(jì)結(jié)果，若高頻數(shù)據(jù)b未發(fā)生脈沖則統(tǒng)計(jì)值保持0；

19、（5）發(fā)生了事件a之后，觀測(cè)事件b的數(shù)據(jù)；

20、應(yīng)用場(chǎng)景為：期望在高頻數(shù)據(jù)a發(fā)生脈沖之后對(duì)一定量的高頻數(shù)據(jù)b進(jìn)行觀測(cè)；

21、實(shí)作方法為：利用高頻時(shí)鐘對(duì)高頻數(shù)據(jù)a和高頻數(shù)據(jù)b的上升沿或下降沿進(jìn)行檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)到高頻數(shù)據(jù)a的脈沖后開始對(duì)高頻數(shù)據(jù)b進(jìn)行存儲(chǔ)，達(dá)到存儲(chǔ)量上限后停止存儲(chǔ)，存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)即為統(tǒng)計(jì)結(jié)果；

22、（6）觀測(cè)發(fā)生事件b之前的事件a數(shù)據(jù)；

23、應(yīng)用場(chǎng)景為：期望觀測(cè)到高頻數(shù)據(jù)b發(fā)生脈沖之前的高頻數(shù)據(jù)a；

24、實(shí)作方法為：利用高頻時(shí)鐘對(duì)高頻數(shù)據(jù)a和高頻數(shù)據(jù)b的上升沿或下降沿進(jìn)行檢測(cè)，一直對(duì)高頻數(shù)據(jù)a的脈沖信號(hào)進(jìn)行存儲(chǔ)，達(dá)到存儲(chǔ)量上限后丟棄最早存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)并存儲(chǔ)最新數(shù)據(jù)，檢測(cè)到高頻數(shù)據(jù)b的脈沖就停止存儲(chǔ)，存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)即為統(tǒng)計(jì)結(jié)果。

25、本發(fā)明提供的一種支持高頻信號(hào)的調(diào)試總線，能夠支持高頻信號(hào)，可以靈活的對(duì)全部模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，同時(shí)消耗較少的硬件資源。在現(xiàn)有的芯片調(diào)試總線基礎(chǔ)上，加入一個(gè)全局的統(tǒng)計(jì)模塊，并額外將數(shù)據(jù)所屬的時(shí)鐘一起輸入該統(tǒng)計(jì)模塊。在統(tǒng)計(jì)模塊中，利用同源的高頻時(shí)鐘對(duì)高頻數(shù)據(jù)進(jìn)行多種判斷模式的統(tǒng)計(jì)，最后便可將處于穩(wěn)態(tài)的低頻統(tǒng)計(jì)結(jié)果作為調(diào)試總線的調(diào)試數(shù)據(jù)傳輸?shù)綔y(cè)試設(shè)備，從而實(shí)現(xiàn)調(diào)試總線對(duì)芯片內(nèi)高頻信號(hào)的觀測(cè)以及對(duì)全部模塊的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)。

技術(shù)特征：

1.一種支持高頻信號(hào)的調(diào)試總線，基于傳統(tǒng)芯片調(diào)試總線，

2.如權(quán)利要求1所述的支持高頻信號(hào)的調(diào)試總線，其特征在于，所述統(tǒng)計(jì)模塊包含邊沿檢測(cè)/電平檢測(cè)、計(jì)數(shù)器、存儲(chǔ)器、判斷模塊以及異步fifo；所述統(tǒng)計(jì)模塊中，同一個(gè)模塊的高頻時(shí)鐘與高頻數(shù)據(jù)同源，利用高頻時(shí)鐘對(duì)高頻數(shù)據(jù)進(jìn)行邊沿檢測(cè)或電平檢測(cè)，對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行計(jì)數(shù)或者根據(jù)檢測(cè)結(jié)果對(duì)高頻數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)，通過(guò)判斷模塊得到處于穩(wěn)態(tài)的低頻統(tǒng)計(jì)值，利用異步fifo將統(tǒng)計(jì)值切換到芯片管腳所在時(shí)鐘域，并作為調(diào)試總線的調(diào)試數(shù)據(jù)輸出至測(cè)試設(shè)備，以此完成對(duì)高頻信號(hào)的觀測(cè)與分析。

3.如權(quán)利要求2所述的支持高頻信號(hào)的調(diào)試總線，其特征在于，所述判斷模塊中預(yù)設(shè)多種判斷模式以供測(cè)試中靈活使用，包含但不局限于以下六種：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開一種支持高頻信號(hào)的調(diào)試總線，屬于通信領(lǐng)域?；趥鹘y(tǒng)芯片調(diào)試總線，所述傳統(tǒng)芯片調(diào)試總線包括多路復(fù)用器、芯片管腳、若干個(gè)模塊；若干個(gè)模塊與多路復(fù)用器連接，多路復(fù)用器與芯片管腳連接；所述支持高頻信號(hào)的調(diào)試總線還包括全局的統(tǒng)計(jì)模塊；所述統(tǒng)計(jì)模塊位于所述多路復(fù)用器和所述芯片管腳之間；芯片內(nèi)部數(shù)據(jù)及其所屬的時(shí)鐘共同輸入所述統(tǒng)計(jì)模塊，所述統(tǒng)計(jì)模塊實(shí)現(xiàn)對(duì)高頻信號(hào)的檢測(cè)，滿足對(duì)全部模塊的統(tǒng)計(jì)需求。本發(fā)明能夠支持高頻信號(hào)，可以靈活的對(duì)全部模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，同時(shí)消耗較少的硬件資源。

技術(shù)研發(fā)人員：吳艷,徐植,程劍平
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海芯熾科技集團(tuán)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/9