本發(fā)明涉及芯片設(shè)計(jì)，特別是涉及測(cè)量時(shí)鐘信號(hào)之間相位差的方法、電子設(shè)備及其存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、在硬件仿真平臺(tái)系統(tǒng)中，多個(gè)全局時(shí)鐘信號(hào)通常由一個(gè)或多個(gè)鎖相環(huán)(pll)產(chǎn)生，并分發(fā)至不同的fpga。這些全局時(shí)鐘信號(hào)對(duì)系統(tǒng)的整體同步至關(guān)重要，尤其是在復(fù)雜的多fpga系統(tǒng)中。然而，由于系統(tǒng)的可變性和可擴(kuò)展性，不同的時(shí)鐘信號(hào)到達(dá)各個(gè)fpga時(shí)可能會(huì)經(jīng)歷不同的延遲。這種延遲的不確定性增加了時(shí)序分析的難度，特別是在同步時(shí)鐘源輸出的場(chǎng)景下。為了實(shí)現(xiàn)更加精確的時(shí)序分析，必須對(duì)這些同步時(shí)鐘源輸出的時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行深入研究和處理。具體而言，時(shí)鐘信號(hào)間的相位差直接影響到系統(tǒng)的時(shí)序裕量以及數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃?。如果不能?zhǔn)確獲取和處理這些相位差信息，將可能導(dǎo)致系統(tǒng)運(yùn)行過(guò)程中出現(xiàn)難以預(yù)測(cè)的時(shí)序問(wèn)題，進(jìn)而影響到仿真平臺(tái)的整體性能。

2、目前獲取相位差的相關(guān)技術(shù)是通過(guò)示波器進(jìn)行測(cè)量，示波器測(cè)量相位差的缺陷包括：

3、第一，示波器測(cè)量通常是一個(gè)手動(dòng)過(guò)程，每次測(cè)量都需要人工干預(yù)，增加了操作的復(fù)雜性。

4、第二，示波器最多只能測(cè)量到芯片的管腳位置，這些信號(hào)已經(jīng)經(jīng)過(guò)了芯片的封裝引腳，并可能受到封裝材料、引腳布局、引腳間耦合等因素的影響，導(dǎo)致測(cè)量精度低。

5、第三，示波器能夠測(cè)量的端口有限，無(wú)法擴(kuò)展。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、針對(duì)上述第一和第二個(gè)技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為：測(cè)量時(shí)鐘信號(hào)之間相位差的方法，所述方法包括：

2、s100，獲取采樣時(shí)鐘信號(hào)refclk。

3、s200，通過(guò)refclk對(duì)相位不同但頻率為同頻或者倍頻關(guān)系的兩個(gè)時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行同步采樣，分別生成第一電平信號(hào)和第二電平信號(hào)。

4、s300，當(dāng)所述第一電平信號(hào)有效時(shí)，開始計(jì)數(shù)；當(dāng)?shù)诙娖叫盘?hào)有效時(shí)，結(jié)束計(jì)數(shù)，得到有效計(jì)數(shù)值cdiff。

5、s400，根據(jù)cdiff、refclk的時(shí)鐘周期ps、所述兩個(gè)時(shí)鐘信號(hào)的時(shí)鐘周期p0計(jì)算得到所述兩個(gè)時(shí)鐘信號(hào)之間的相位差shift。

6、本發(fā)明至少具有以下有益效果：

7、本發(fā)明提供的測(cè)量時(shí)鐘信號(hào)之間相位差的方法、電子設(shè)備及其存儲(chǔ)介質(zhì)，其通過(guò)refclk對(duì)相位不同但頻率為同頻或者倍頻關(guān)系的兩個(gè)時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行同步采樣，分別生成第一電平信號(hào)和第二電平信號(hào)，并通過(guò)第一電平信號(hào)和第二電平信號(hào)的有效沿之間的有效計(jì)數(shù)值計(jì)算得到兩者之間的相位差shift。相對(duì)比現(xiàn)有技術(shù)中通過(guò)示波器測(cè)量相位差的方式，該系統(tǒng)能夠通過(guò)采樣時(shí)鐘信號(hào)對(duì)被采樣的兩個(gè)時(shí)鐘信號(hào)同時(shí)進(jìn)行采樣，利用采樣時(shí)鐘信號(hào)和被采樣時(shí)鐘中之間的差值來(lái)計(jì)算相位差，該方式能夠直接通過(guò)芯片內(nèi)部的時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行測(cè)量，使得采樣的結(jié)果更加精準(zhǔn)且不依賴于人工操作。

技術(shù)特征：

1.測(cè)量時(shí)鐘信號(hào)之間相位差的方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，s200還包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，s200還包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，s300還包括：通過(guò)第一電平檢測(cè)模塊和第二電平檢測(cè)模塊配合計(jì)數(shù)器實(shí)現(xiàn)計(jì)數(shù)，所述第一電平檢測(cè)模塊用于識(shí)別第一電平信號(hào)的有效沿，當(dāng)有效沿到達(dá)時(shí)，觸發(fā)計(jì)數(shù)器進(jìn)行開始計(jì)數(shù)；所述第二電平檢測(cè)模塊用于識(shí)別第二電平信號(hào)的有效沿，當(dāng)有效沿到達(dá)時(shí)，觸發(fā)所述計(jì)數(shù)器結(jié)束計(jì)數(shù)，得到有效計(jì)數(shù)值cdiff。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述計(jì)數(shù)器的驅(qū)動(dòng)時(shí)鐘為所述refclk。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，s300還包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述cdiff、ps、p0與shift之間的關(guān)系滿足：

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述兩個(gè)時(shí)鐘信號(hào)中的最低頻率為refclk的整數(shù)倍。

9.一種非瞬時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有至少一條指令或至少一段程序，其特征在于，所述至少一條指令或所述至少一段程序由處理器加載并執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-8中任意一項(xiàng)的所述方法。

10.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括處理器和權(quán)利要求9中所述的非瞬時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及芯片設(shè)計(jì)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及測(cè)量時(shí)鐘信號(hào)之間相位差的方法、電子設(shè)備及其存儲(chǔ)介質(zhì)，其通過(guò)refclk對(duì)相位不同但頻率為同頻或者倍頻關(guān)系的兩個(gè)時(shí)鐘信號(hào)進(jìn)行同步采樣，分別生成第一電平信號(hào)和第二電平信號(hào)；當(dāng)所述第一電平信號(hào)有效時(shí)，開始計(jì)數(shù)；當(dāng)?shù)诙娖叫盘?hào)有效時(shí)，結(jié)束計(jì)數(shù)，得到有效計(jì)數(shù)值；根據(jù)有效計(jì)數(shù)值、refclk的時(shí)鐘周期、所述兩個(gè)時(shí)鐘信號(hào)的時(shí)鐘周期計(jì)算得到所述兩個(gè)時(shí)鐘信號(hào)之間的相位差。相對(duì)比現(xiàn)有技術(shù)中通過(guò)示波器測(cè)量相位差的方式，該系統(tǒng)能夠不依賴于人工操作且精準(zhǔn)的獲取相位差。

技術(shù)研發(fā)人員：于承軒,李旭
受保護(hù)的技術(shù)使用者：上海合見工業(yè)軟件集團(tuán)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6