本申請(qǐng)涉及電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化，尤其涉及一種電路仿真方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、在現(xiàn)代集成電路設(shè)計(jì)中，驗(yàn)證階段是一個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)的串行仿真方法在處理大規(guī)模電路設(shè)計(jì)時(shí)效率較低，難以滿足日益增長(zhǎng)的設(shè)計(jì)復(fù)雜性和快速迭代的需求?，F(xiàn)有的eda工具和仿真技術(shù)主要基于單核處理，導(dǎo)致仿真過(guò)程耗時(shí)較長(zhǎng)且效率低下。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N電路仿真方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，以解決現(xiàn)有電路仿真方法的仿真過(guò)程耗時(shí)較長(zhǎng)、效率低下的問(wèn)題。

2、第一方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N電路仿真方法，所述方法包括：

3、獲取電路網(wǎng)表文件和測(cè)試向量文件，其中，所述電路網(wǎng)表文件包括待仿真電路，所述測(cè)試向量文件包括多個(gè)測(cè)試向量組，每個(gè)測(cè)試向量組包括多個(gè)測(cè)試向量，每個(gè)測(cè)試向量用于模擬一種輸入狀態(tài)；

4、根據(jù)所述待仿真電路的解析結(jié)果，生成故障列表，其中，所述故障列表包括多個(gè)預(yù)測(cè)故障點(diǎn)；

5、按照預(yù)設(shè)排序方案對(duì)所述測(cè)試向量文件中的多個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量組進(jìn)行排序，得到分組排序結(jié)果，其中，目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量組包含所述目標(biāo)測(cè)試向量組，目標(biāo)測(cè)試向量組包括多個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量；

6、利用不同內(nèi)核的多個(gè)線程分別依據(jù)所述分組排序結(jié)果中的目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)所述待仿真電路進(jìn)行邏輯仿真，得到各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的邏輯仿真結(jié)果；

7、利用不同內(nèi)核的多個(gè)線程分別依據(jù)所述分組排序結(jié)果中的目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)所述待仿真電路中的各個(gè)預(yù)測(cè)故障點(diǎn)進(jìn)行故障仿真，得到各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的故障仿真結(jié)果；

8、根據(jù)各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的邏輯仿真結(jié)果和各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的故障仿真結(jié)果，輸出電路仿真結(jié)果。

9、第二方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N電路仿真裝置，所述裝置包括：

10、獲取模塊，用于獲取電路網(wǎng)表文件和測(cè)試向量文件，其中，所述電路網(wǎng)表文件包括待仿真電路，所述測(cè)試向量文件包括多個(gè)測(cè)試向量組，每個(gè)測(cè)試向量組包括多個(gè)測(cè)試向量，每個(gè)測(cè)試向量用于模擬一種輸入狀態(tài)；

11、解析模塊，用于根據(jù)所述待仿真電路的解析結(jié)果，生成故障列表，其中，所述故障列表包括多個(gè)預(yù)測(cè)故障點(diǎn)；

12、排序模塊，用于按照預(yù)設(shè)排序方案對(duì)所述測(cè)試向量文件中的多個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量組進(jìn)行排序，得到分組排序結(jié)果，其中，目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量組包含所述目標(biāo)測(cè)試向量組，目標(biāo)測(cè)試向量組包括多個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量；

13、邏輯仿真模塊，用于利用不同內(nèi)核的多個(gè)線程分別依據(jù)所述分組排序結(jié)果中的目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)所述待仿真電路進(jìn)行邏輯仿真，得到各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的邏輯仿真結(jié)果；

14、故障仿真模塊，用于利用不同內(nèi)核的多個(gè)線程分別依據(jù)所述分組排序結(jié)果中的目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)所述待仿真電路中的各個(gè)預(yù)測(cè)故障點(diǎn)進(jìn)行故障仿真，得到各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的故障仿真結(jié)果；

15、輸出模塊，用于根據(jù)各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的邏輯仿真結(jié)果和各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的故障仿真結(jié)果，輸出電路仿真結(jié)果。

16、第三方面，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)上述電路仿真方法。

17、第四方面，本申請(qǐng)還提供了一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)，存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令，所述計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令用于執(zhí)行上述電路仿真方法。

18、本申請(qǐng)實(shí)施例提供的上述技術(shù)方案與現(xiàn)有技術(shù)相比具有如下優(yōu)點(diǎn)：本申請(qǐng)實(shí)施例提供的該方法，獲取電路網(wǎng)表文件和測(cè)試向量文件，其中，所述電路網(wǎng)表文件包括待仿真電路，所述測(cè)試向量文件包括多個(gè)測(cè)試向量組，每個(gè)測(cè)試向量組包括多個(gè)測(cè)試向量，每個(gè)測(cè)試向量用于模擬一種輸入狀態(tài)；根據(jù)所述待仿真電路的解析結(jié)果，生成故障列表，其中，所述故障列表包括多個(gè)預(yù)測(cè)故障點(diǎn)；按照預(yù)設(shè)排序方案對(duì)所述測(cè)試向量文件中的多個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量組進(jìn)行排序，得到分組排序結(jié)果，其中，目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)應(yīng)的測(cè)試向量組包含所述目標(biāo)測(cè)試向量組，目標(biāo)測(cè)試向量組包括多個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量；利用不同內(nèi)核的多個(gè)線程分別依據(jù)所述分組排序結(jié)果中的目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)所述待仿真電路進(jìn)行邏輯仿真，得到各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的邏輯仿真結(jié)果；利用不同內(nèi)核的多個(gè)線程分別依據(jù)所述分組排序結(jié)果中的目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)所述待仿真電路中的各個(gè)預(yù)測(cè)故障點(diǎn)進(jìn)行故障仿真，得到各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的故障仿真結(jié)果；根據(jù)各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的邏輯仿真結(jié)果和各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的故障仿真結(jié)果，輸出電路仿真結(jié)果。

19、基于上述方法，利用不同內(nèi)核的多個(gè)線程分別利用不同的目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)待仿真電路進(jìn)行邏輯仿真或故障仿真，可以提高電路仿真效率，以此縮短仿真耗時(shí)，從而解決現(xiàn)有電路仿真方法的仿真過(guò)程耗時(shí)較長(zhǎng)、效率低下的問(wèn)題。

技術(shù)特征：

1.一種電路仿真方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述按照預(yù)設(shè)排序方案對(duì)所述測(cè)試向量文件中的多個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量組進(jìn)行排序，得到分組排序結(jié)果之前，所述方法還包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述按照預(yù)設(shè)排序方案對(duì)所述測(cè)試向量文件中的多個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量組進(jìn)行排序，得到分組排序結(jié)果，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，按照各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量組的特性分析結(jié)果和各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量組內(nèi)的不同目標(biāo)測(cè)試向量之間的差異度，對(duì)各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量組進(jìn)行排序，得到分組排序結(jié)果，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)同一目標(biāo)測(cè)試向量組內(nèi)各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量之間的差異度，對(duì)同一目標(biāo)測(cè)試向量組內(nèi)的各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量進(jìn)行排序，得到各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)應(yīng)的排序向量組，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，利用不同內(nèi)核的多個(gè)線程分別依據(jù)所述分組排序結(jié)果中的目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)所述待仿真電路進(jìn)行邏輯仿真的過(guò)程中，或利用不同內(nèi)核的多個(gè)線程分別依據(jù)所述分組排序結(jié)果中的目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)所述待仿真電路中的各個(gè)預(yù)測(cè)故障點(diǎn)進(jìn)行故障仿真的過(guò)程中，所述方法還包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，利用不同內(nèi)核的多個(gè)線程分別依據(jù)所述分組排序結(jié)果中的目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)所述待仿真電路進(jìn)行邏輯仿真的過(guò)程中，或利用不同內(nèi)核的多個(gè)線程分別依據(jù)所述分組排序結(jié)果中的目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)所述待仿真電路中的各個(gè)預(yù)測(cè)故障點(diǎn)進(jìn)行故障仿真的過(guò)程中，所述方法還包括：

8.一種電路仿真裝置，其特征在于，所述裝置包括：

9.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的方法。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及一種電路仿真方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)。方法包括：獲取電路網(wǎng)表文件和測(cè)試向量文件；根據(jù)待仿真電路的解析結(jié)果，生成故障列表；按照預(yù)設(shè)排序方案對(duì)測(cè)試向量文件中的多個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量組進(jìn)行排序，得到分組排序結(jié)果；利用不同內(nèi)核的多個(gè)線程分別依據(jù)分組排序結(jié)果中的目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)待仿真電路進(jìn)行邏輯仿真或故障仿真，得到各個(gè)目標(biāo)測(cè)試向量對(duì)應(yīng)的邏輯仿真結(jié)果和故障仿真結(jié)果；根據(jù)邏輯仿真結(jié)果和故障仿真結(jié)果，輸出電路仿真結(jié)果。利用不同內(nèi)核的多個(gè)線程分別利用不同的目標(biāo)測(cè)試向量組對(duì)待仿真電路進(jìn)行邏輯仿真或故障仿真，從而解決現(xiàn)有電路仿真方法的仿真過(guò)程耗時(shí)較長(zhǎng)、效率低下的問(wèn)題。

技術(shù)研發(fā)人員：王銘珺,王輝,谷豐,高俊,葉靖
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中科鑒芯（北京）科技有限責(zé)任公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/9