1.一種檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，當(dāng)所述待檢測(cè)標(biāo)識(shí)為空心標(biāo)識(shí)，所述利用所述檢測(cè)方式對(duì)所述待檢測(cè)圖像進(jìn)行檢測(cè)，得到所述待檢測(cè)標(biāo)識(shí)的檢測(cè)結(jié)果，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，當(dāng)所述待檢測(cè)標(biāo)識(shí)為旋轉(zhuǎn)標(biāo)識(shí)，所述利用所述檢測(cè)方式對(duì)所述待檢測(cè)圖像進(jìn)行檢測(cè)，得到所述待檢測(cè)標(biāo)識(shí)的檢測(cè)結(jié)果，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，當(dāng)所述待檢測(cè)圖像包括非變量的待檢測(cè)標(biāo)識(shí)和變量的待檢測(cè)標(biāo)識(shí)，所述利用所述檢測(cè)方式對(duì)所述待檢測(cè)圖像進(jìn)行檢測(cè)，得到所述待檢測(cè)標(biāo)識(shí)的檢測(cè)結(jié)果，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在利用所述檢測(cè)方式對(duì)所述待檢測(cè)圖像進(jìn)行檢測(cè)之前，所述方法還包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任意一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，在根據(jù)所述待檢測(cè)文件確定所述待檢測(cè)標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的檢測(cè)方式之前，所述方法還包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，若待檢測(cè)圖像包含標(biāo)注，在對(duì)所述第一待檢測(cè)圖像進(jìn)行閾值化處理之前，所述方法還包括：
8.一種檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括：
9.一種檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括：
10.一種檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括：
11.一種標(biāo)識(shí)定位方法，其特征在于，所述方法包括：
12.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：處理器和存儲(chǔ)器；其中，在所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序，所述一個(gè)或多個(gè)計(jì)算機(jī)程序包括指令；當(dāng)所述指令被所述處理器執(zhí)行時(shí)，使得所述電子設(shè)備執(zhí)如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的檢測(cè)方法，或者執(zhí)行如權(quán)利要求8所述的檢測(cè)方法，或者執(zhí)行如權(quán)利要求9所述的檢測(cè)方法，或者執(zhí)行如權(quán)利要求10所述的檢測(cè)方法，或者執(zhí)行如權(quán)利要求11所述的標(biāo)識(shí)定位方法。
13.一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，包括計(jì)算機(jī)指令，當(dāng)所述計(jì)算機(jī)指令在電子設(shè)備上運(yùn)行時(shí)，所述電子設(shè)備執(zhí)行如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的檢測(cè)方法，或者執(zhí)行如權(quán)利要求8所述的檢測(cè)方法，或者執(zhí)行如權(quán)利要求9所述的檢測(cè)方法，或者執(zhí)行如權(quán)利要求10所述的檢測(cè)方法，或者執(zhí)行如權(quán)利要求11所述的標(biāo)識(shí)定位方法。