本發(fā)明涉及區(qū)分兩點觸摸的真實點坐標(biāo)的方法。

背景技術(shù)：

紅外觸摸屏具有耐高低溫、抗爆性強、透光率高、可靠性高等優(yōu)點，逐漸被廣泛應(yīng)用在各個領(lǐng)域，特別是環(huán)境苛刻的領(lǐng)域。目前，單點紅外觸摸屏技術(shù)穩(wěn)定性、可靠性日趨成熟。隨著計算機技術(shù)進步，對多點觸摸，特別是兩點觸摸的需求越來越多。

為解決多點觸摸問題，業(yè)界作了許多有益的設(shè)計，如通過增加攝像頭區(qū)分多點，設(shè)計復(fù)雜的電路來判斷多點等。這些設(shè)計無疑增加需要改變紅外屏原有的設(shè)計，增加了設(shè)計成本。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是提供一種區(qū)分兩點觸摸的真實點坐標(biāo)的方法，該區(qū)分兩點觸摸的真實點坐標(biāo)的方法克服了現(xiàn)有技術(shù)中解決多點觸摸需要通過改變紅外屏原有的設(shè)計增加了成本低額問題，實現(xiàn)了無需改變原始結(jié)構(gòu)就可以實現(xiàn)區(qū)分兩點觸摸的真實點坐標(biāo)。

為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種區(qū)分兩點觸摸的真實點坐標(biāo)的方法，該區(qū)分兩點觸摸的真實點坐標(biāo)的方法包括：

步驟1，將紅外發(fā)射燈和紅外接收燈一一相對應(yīng)設(shè)置，在X軸上設(shè)置紅外發(fā)射燈和紅外接收燈，且在Y軸上設(shè)置紅外發(fā)射燈和紅外接收燈，執(zhí)行紅外觸摸掃描，記錄紅外發(fā)射燈和紅外接收燈之間的電壓AD值，判斷遮擋點個數(shù)；

步驟2，在X軸上遮擋點個數(shù)或Y軸上遮擋點個數(shù)都為兩個的情況下，直接計算出可能存在的四點坐標(biāo)(r1，r2，r3，r4)，其中，有兩個實點和兩個虛點；

步驟3，根據(jù)紅外發(fā)射燈和紅外接收燈的散射角度，確定斜掃描偏角，分別啟動X軸和Y軸的正偏斜掃描和負偏斜掃描，得到斜掃描記錄；

步驟4，根據(jù)斜掃描記錄，計算X軸正偏點、X軸負偏點、Y軸正偏點和Y軸負偏點；

步驟5，根據(jù)斜掃描偏角，計算四點坐標(biāo)對應(yīng)在X軸的坐標(biāo)和四點坐標(biāo)對應(yīng)在Y軸的坐標(biāo)；

步驟6，分別計算四點坐標(biāo)的正負偏最小距離，得出每個點的平均最小距離；

步驟7，將四點坐標(biāo)兩兩對角一組分為第一點坐標(biāo)組和第二點坐標(biāo)組并進行如下判斷：

在所述第一點坐標(biāo)組中的兩個點坐標(biāo)的平均最小距離小于所述第二點坐標(biāo)組中的兩個點坐標(biāo)的平均最小距離的情況下，所述第一點坐標(biāo)組中的兩個坐標(biāo)點為實點，返回實點坐標(biāo)；

在所述第一點坐標(biāo)組中的兩個點坐標(biāo)的平均最小距離大于所述第二點坐標(biāo)組中的兩個點坐標(biāo)的平均最小距離的情況下，所述第二點坐標(biāo)組中的兩個坐標(biāo)點為實點，返回實點坐標(biāo)。

優(yōu)選地，所述步驟3包括：

根據(jù)紅外燈的散射角度，確定斜掃描偏角，啟動X軸的正偏斜掃描和負偏斜掃描；并啟動Y軸的正偏斜掃描和負偏斜掃描；

記錄X軸正偏遮擋記錄，其中，Xps[i]為遮擋記錄的遮擋點起始位置，Xpe[i]為遮擋記錄的終止位置，i為X軸正偏第i個遮擋記錄；

記錄X軸負偏遮擋記錄，其中，Xns[i]為遮擋記錄的遮擋點起始位置，Xne[i]為遮擋記錄的終止位置，i為X軸負偏第i個遮擋記錄；

記錄Y軸正偏遮擋記錄，其中，Yps[i]為遮擋記錄的遮擋點起始位置，Ype[i]為遮擋記錄的終止位置，i為Y軸正偏第i個遮擋記錄；

記錄Y軸負偏遮擋記錄，其中，Yns[i]遮擋記錄的遮擋點起始位置，Yne[i]為遮擋記錄的終止位置，i為Y軸負偏第i個遮擋記錄。

優(yōu)選地，在步驟4中，根據(jù)斜掃描記錄，計算X軸正偏點Xp[i]、X軸負偏點Xn[i]、Y軸正偏點Yp[i]和Y軸負偏點Yn[i]的方法包括：

通過如下公式，計算X軸正偏點：

Xp[i]＝(Xps[i]+Xpe[i])/2，其中，i為X軸正偏第i個遮擋記錄；

通過如下公式，計算X軸負偏點：

Xn[i]＝(Xns[i]+Xne[i])/2，其中，i為X軸負偏第i個遮擋記錄；

通過如下公式，計算Y軸正偏點：

Yp[i]＝(Yps[i]+Ype[i])/2，其中，i為Y軸正偏第i個遮擋記錄；

通過如下公式，計算Y軸負偏點：

Yn[i]＝(Yns[i]+Yne[i])/2，其中，i為Y軸負偏第i個遮擋記錄。

優(yōu)選地，在步驟6中，根據(jù)斜掃描偏角，計算四點坐標(biāo)對應(yīng)在X軸的坐標(biāo)和四點坐標(biāo)對應(yīng)在Y軸的坐標(biāo)的方法包括：

通過如下公式計算各個坐標(biāo)點X軸正偏的最小距離XMinp[j]：

XMinp[j]＝min(|Xpr[j]-Xp[i]|)；

通過如下公式計算各個坐標(biāo)點X軸負偏的最小距離XMinn[j]：

XMinn[j]＝min(|Xnr[j]-Xn[i]|)；

通過如下公式計算各個坐標(biāo)點Y軸正偏的最小距離YMinp[j]：

YMinp[j]＝min(|Ypr[j]-Yp[i]|)；

通過如下公式計算各個坐標(biāo)點Y軸負偏的最小距離YMinn[j]：

YMinn[j]＝min(|Ynr[j]-Yn[i]|)。

優(yōu)選地，在步驟6中，得出每個點的平均最小距離的方法包括：

每個點平均最小距離Min[j](j＝1，2，3，4)，為X軸正偏XMinp[j]、X軸負偏XMinn[j]、Y軸正偏YMinp[j]和Y軸負偏YMinn[j]的最小距離的均值；

通過如下公式得到：

Min[j]＝(XMinp[j]+XMinn[j]+YMinp[j]+YMinn[j])/4。

優(yōu)選地，在步驟1中，判斷遮擋點個數(shù)的方法包括：

步驟a，根據(jù)紅外發(fā)射燈的電壓AD值和紅外接收燈之間的電壓AD值，判斷觸摸屏是否有遮擋點，在沒有遮擋點的情況下，判定未觸摸，返回執(zhí)行步驟1；否則，執(zhí)行步驟b；

步驟b，在X軸上有一個遮擋點，且在Y軸上有一個遮擋點，則判定有一個觸摸點，執(zhí)行步驟c；否則執(zhí)行步驟d；

步驟c，根據(jù)X軸上的遮擋點的坐標(biāo)和Y軸上的遮擋點的坐標(biāo)，計算出觸點的坐標(biāo)，將觸點的坐標(biāo)發(fā)送至系統(tǒng)，返回執(zhí)行步驟1；

步驟d，判斷X軸上的遮擋點個數(shù)或Y軸上的遮擋點個數(shù)是否大于兩個；

在X軸上的遮擋點個數(shù)或Y軸上的遮擋點個數(shù)大于兩個的情況下，判定觸點個數(shù)大于兩個，執(zhí)行步驟e；

在X軸上的遮擋點個數(shù)或Y軸上的遮擋點個數(shù)都不大于兩個的情況下，判定觸點個數(shù)為兩個，執(zhí)行步驟f；

步驟e，向系統(tǒng)報告觸點個數(shù)大于兩個的信息報告，返回執(zhí)行步驟1，執(zhí)行下一次掃描；

步驟f，判斷X軸上的遮擋點個數(shù)或Y軸上的遮擋點個數(shù)為一個的情況下，執(zhí)行步驟g；否則，判定X軸上的遮擋點個數(shù)和Y軸上的遮擋點個數(shù)都為兩個，執(zhí)行步驟2；

步驟g，直接計算兩個所述遮擋點的坐標(biāo)，將兩觸點坐標(biāo)發(fā)送至系統(tǒng)，返回步驟1，執(zhí)行下一次掃描。

通過上述的實施方式，基于紅外燈的固有散射角特性，使用了斜掃描的方法。當(dāng)紅外觸摸屏有兩點觸摸時，通過記錄斜掃描時被遮擋位置，計算真實點坐標(biāo)位置。本發(fā)明的兩點觸摸方法實現(xiàn)方法簡單，可靠且易于推廣，無需額外硬件設(shè)計。

本發(fā)明的其他特征和優(yōu)點將在隨后的具體實施方式部分予以詳細說明。

附圖說明

附圖是用來提供對本發(fā)明的進一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與下面的具體實施方式一起用于解釋本發(fā)明，但并不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。在附圖中：

圖1是說明本發(fā)明的一種紅外發(fā)射燈和紅外接收燈的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是說明本發(fā)明的一種優(yōu)選實施方式的流程圖；

圖3是說明本發(fā)明的實施例中兩點斜掃描結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是說明本發(fā)明的一種區(qū)分兩點觸摸的真實點坐標(biāo)的方法的流程圖。

具體實施方式

以下結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施方式進行詳細說明。應(yīng)當(dāng)理解的是，此處所描述的具體實施方式僅用于說明和解釋本發(fā)明，并不用于限制本發(fā)明。

本發(fā)明提供一種區(qū)分兩點觸摸的真實點坐標(biāo)的方法，該區(qū)分兩點觸摸的真實點坐標(biāo)的方法包括：

步驟1，將紅外發(fā)射燈和紅外接收燈一一相對應(yīng)設(shè)置，在X軸上設(shè)置紅外發(fā)射燈和紅外接收燈，且在Y軸上設(shè)置紅外發(fā)射燈和紅外接收燈，執(zhí)行紅外觸摸掃描，記錄紅外發(fā)射燈和紅外接收燈之間的電壓AD值，判斷遮擋點個數(shù)；

步驟2，在X軸上遮擋點個數(shù)或Y軸上遮擋點個數(shù)都為兩個的情況下，直接計算出可能存在的四點坐標(biāo)(r1，r2，r3，r4)，其中，有兩個實點和兩個虛點；

步驟3，根據(jù)紅外發(fā)射燈和紅外接收燈的散射角度，確定斜掃描偏角，分別啟動X軸和Y軸的正偏斜掃描和負偏斜掃描，得到斜掃描記錄；

步驟4，根據(jù)斜掃描記錄，計算X軸正偏點、X軸負偏點、Y軸正偏點和Y軸負偏點；

步驟5，根據(jù)斜掃描偏角，計算四點坐標(biāo)對應(yīng)在X軸的坐標(biāo)和四點坐標(biāo)對應(yīng)在Y軸的坐標(biāo)；

步驟6，分別計算四點坐標(biāo)的正負偏最小距離，得出每個點的平均最小距離；

步驟7，將四點坐標(biāo)兩兩對角一組分為第一點坐標(biāo)組和第二點坐標(biāo)組并進行如下判斷：

在所述第一點坐標(biāo)組中的兩個點坐標(biāo)的平均最小距離小于所述第二點坐標(biāo)組中的兩個點坐標(biāo)的平均最小距離的情況下，所述第一點坐標(biāo)組中的兩個坐標(biāo)點為實點，返回實點坐標(biāo)；

在所述第一點坐標(biāo)組中的兩個點坐標(biāo)的平均最小距離大于所述第二點坐標(biāo)組中的兩個點坐標(biāo)的平均最小距離的情況下，所述第二點坐標(biāo)組中的兩個坐標(biāo)點為實點，返回實點坐標(biāo)。

本發(fā)明的兩點識別方法使用的斜掃描的方法基于紅外燈的固有散射角特性，可以基于原有硬件設(shè)計，無疑節(jié)約了研發(fā)時間和成本。本發(fā)明通過掃描分別記錄實點X軸和Y軸的正偏掃描和負偏掃描的位置信息，同時使用上述信息進行運算，增加了識別兩點的可靠性。本發(fā)明的兩點識別方法簡單易于實現(xiàn)。

在本發(fā)明的一種具體實施方式中，所述步驟3包括：

根據(jù)紅外燈的散射角度，確定斜掃描偏角，啟動X軸的正偏斜掃描和負偏斜掃描；并啟動Y軸的正偏斜掃描和負偏斜掃描；

記錄X軸正偏遮擋記錄，其中，Xps[i]為遮擋記錄的遮擋點起始位置，Xpe[i]為遮擋記錄的終止位置，i為X軸正偏第i個遮擋記錄；

記錄X軸負偏遮擋記錄，其中，Xns[i]為遮擋記錄的遮擋點起始位置，Xne[i]為遮擋記錄的終止位置，i為X軸負偏第i個遮擋記錄；

記錄Y軸正偏遮擋記錄，其中，Yps[i]為遮擋記錄的遮擋點起始位置，Ype[i]為遮擋記錄的終止位置，i為Y軸正偏第i個遮擋記錄；

記錄Y軸負偏遮擋記錄，其中，Yns[i]遮擋記錄的遮擋點起始位置，Yne[i]為遮擋記錄的終止位置，i為Y軸負偏第i個遮擋記錄。

在本發(fā)明的一種具體實施方式中，在步驟4中，根據(jù)斜掃描記錄，計算X軸正偏點Xp[i]、X軸負偏點Xn[i]、Y軸正偏點Yp[i]和Y軸負偏點Yn[i]的方法包括：

通過如下公式，計算X軸正偏點：

Xp[i]＝(Xps[i]+Xpe[i])/2，其中，i為X軸正偏第i個遮擋記錄；

通過如下公式，計算X軸負偏點：

Xn[i]＝(Xns[i]+Xne[i])/2，其中，i為X軸負偏第i個遮擋記錄；

通過如下公式，計算Y軸正偏點：

Yp[i]＝(Yps[i]+Ype[i])/2，其中，i為Y軸正偏第i個遮擋記錄；

通過如下公式，計算Y軸負偏點：

Yn[i]＝(Yns[i]+Yne[i])/2，其中，i為Y軸負偏第i個遮擋記錄。

在本發(fā)明的一種具體實施方式中，在步驟6中，根據(jù)斜掃描偏角，計算四點坐標(biāo)對應(yīng)在X軸的坐標(biāo)和四點坐標(biāo)對應(yīng)在Y軸的坐標(biāo)的方法包括：

通過如下公式計算各個坐標(biāo)點X軸正偏的最小距離XMinp[j]：

XMinp[j]＝min(|Xpr[j]-Xp[i]|)；

通過如下公式計算各個坐標(biāo)點X軸負偏的最小距離XMinn[j]：

XMinn[j]＝min(|Xnr[j]-Xn[i]|)；

通過如下公式計算各個坐標(biāo)點Y軸正偏的最小距離YMinp[j]：

YMinp[j]＝min(|Ypr[j]-Yp[i]|)；

通過如下公式計算各個坐標(biāo)點Y軸負偏的最小距離YMinn[j]：

YMinn[j]＝min(|Ynr[j]-Yn[i]|)。

在本發(fā)明的一種具體實施方式中，在步驟6中，得出每個點的平均最小距離的方法包括：

每個點平均最小距離Min[j](j＝1，2，3，4)，為X軸正偏XMinp[j]、X軸負偏XMinn[j]、Y軸正偏YMinp[j]和Y軸負偏YMinn[j]的最小距離的均值；

通過如下公式得到：

Min[j]＝(XMinp[j]+XMinn[j]+YMinp[j]+YMinn[j])/4。

在本發(fā)明的一種具體實施方式中，在步驟1中，判斷遮擋點個數(shù)的方法包括：步驟a，根據(jù)紅外發(fā)射燈的電壓AD值和紅外接收燈之間的電壓AD值，判斷觸摸屏是否有遮擋點，在沒有遮擋點的情況下，判定未觸摸，返回執(zhí)行步驟1；否則，執(zhí)行步驟b；

步驟b，在X軸上有一個遮擋點，且在Y軸上有一個遮擋點，則判定有一個觸摸點，執(zhí)行步驟c；否則執(zhí)行步驟d；

步驟c，根據(jù)X軸上的遮擋點的坐標(biāo)和Y軸上的遮擋點的坐標(biāo)，計算出觸點的坐標(biāo)，將觸點的坐標(biāo)發(fā)送至系統(tǒng)，返回執(zhí)行步驟1；

步驟d，判斷X軸上的遮擋點個數(shù)或Y軸上的遮擋點個數(shù)是否大于兩個；

在X軸上的遮擋點個數(shù)或Y軸上的遮擋點個數(shù)大于兩個的情況下，判定觸點個數(shù)大于兩個，執(zhí)行步驟e；

在X軸上的遮擋點個數(shù)或Y軸上的遮擋點個數(shù)都不大于兩個的情況下，判定觸點個數(shù)為兩個，執(zhí)行步驟f；

步驟e，向系統(tǒng)報告觸點個數(shù)大于兩個的信息報告，返回執(zhí)行步驟1，執(zhí)行下一次掃描；

步驟f，判斷X軸上的遮擋點個數(shù)或Y軸上的遮擋點個數(shù)為一個的情況下，執(zhí)行步驟g；否則，判定X軸上的遮擋點個數(shù)和Y軸上的遮擋點個數(shù)都為兩個，執(zhí)行步驟2；

步驟g，直接計算兩個所述遮擋點的坐標(biāo)，將兩觸點坐標(biāo)發(fā)送至系統(tǒng)，返回步驟1，執(zhí)行下一次掃描。

在本發(fā)明的一種最優(yōu)選的實施例中，本發(fā)明提供了一種紅外觸摸屏及其兩點觸摸方法，能夠有效區(qū)分兩點觸摸的真實點坐標(biāo)。

該方法需要紅外屏本體及紅外觸摸燈板。紅外觸摸燈板設(shè)有在X軸和Y軸設(shè)有發(fā)射燈和接收燈，其發(fā)射燈和接收燈一一對應(yīng)，如圖1所示。

如圖2所示，紅外觸摸屏系統(tǒng)控制流程圖，微控芯片MCU啟動紅外觸摸掃描，按順序驅(qū)動紅外燈板的X軸和Y軸所有紅外發(fā)射燈和接收燈，記錄每對紅外燈經(jīng)過光電轉(zhuǎn)換的電壓AD值，進入步驟2’。

根據(jù)X軸和Y軸的紅外燈AD值，與設(shè)定的紅外燈AD閾值比較，判讀觸摸屏X軸和Y軸可能的遮擋點個數(shù)。如果X軸或Y軸沒有遮擋點，判斷沒有觸摸，返回步驟1’；如果X軸和Y軸都有遮擋點，判斷有觸摸點，進入步驟3’。

如果X軸和Y軸都有一個遮擋點，判斷有一個觸摸點，進入步驟4’；如果X軸和Y軸有遮擋點并且有一軸的遮擋點個數(shù)大于一個，則判斷有兩個或兩點以上觸摸點，進入步驟5’。

根據(jù)X軸和Y軸遮擋點的坐標(biāo)，計算出觸點的坐標(biāo)，將觸點坐標(biāo)發(fā)送給系統(tǒng)，然后返回步驟1’，進行下一次掃描。

當(dāng)有兩個以上觸點時，判斷X軸或Y軸遮擋點個數(shù)是否大于兩個。如果X軸或Y軸的遮擋點個數(shù)大于兩個，則判斷觸點個數(shù)大于兩個，進入步驟6’；如果X軸和Y軸遮擋點個數(shù)都不大于兩個，則判斷觸點個數(shù)為兩個，進入步驟7。

向系統(tǒng)發(fā)送觸點個數(shù)大于兩個的信息報告，回步驟1’，進行下一次掃描；

當(dāng)有判斷為兩個觸點時，如果X軸或Y軸的遮擋點個數(shù)有一軸為一個，則進入步驟8’；否則，可以確定X軸和Y軸遮擋點個數(shù)都為兩個，進入步驟9’，使用斜掃描進行兩點識別方法。

直接計算出兩點坐標(biāo)，向系統(tǒng)發(fā)送觸點兩數(shù)觸點坐標(biāo)信息，回步驟1’，進行下一次掃描；

圖3為紅外觸摸屏兩點斜掃描示意圖。圖4紅外觸摸屏兩點識別方法控制流程圖，具體通過以下步驟實施：

步驟S1：根據(jù)X軸和Y軸遮擋點個數(shù)都為兩個，先直接計算出可能存在的四點坐標(biāo)r1，r2，r3，r4，其中有兩個實點和兩個虛點，如圖3所示。

步驟S2：根據(jù)紅外燈的散射角度，確定斜掃描偏角，分別啟動X軸和Y軸的正偏斜掃描和負偏斜掃描，記錄X軸正偏遮擋記錄，遮擋記錄的遮擋點起始和終止位置Xps[i]，Xpe[i]，其中i為X軸正偏第i個遮擋記錄；

記錄X軸負偏遮擋記錄，遮擋記錄的遮擋點起始和終止位置Xns[i]，Xne[i]，其中i為X軸負偏第i個遮擋記錄；

記錄Y軸正偏遮擋記錄，遮擋記錄的遮擋點起始和終止位置Yps[i]，Ype[i]，其中i為Y軸正偏第i個遮擋記錄；

記錄Y軸負偏遮擋記錄，遮擋記錄的遮擋點起始和終止位置Yns[i]，Yne[i]，其中i為Y軸負偏第i個遮擋記錄；如圖3所示。

步驟S3：根據(jù)斜掃描記錄，計算X軸正偏點Xp[i]＝(Xps[i]+Xpe[i])/2，其中i為X軸正偏第i個遮擋記錄；

計算X軸負偏點Xn[i]＝(Xns[i]+Xne[i])/2，其中i為X軸負偏第i個遮擋記錄；

計算Y軸正偏點Yp[i]＝(Yps[i]+Ype[i])/2，其中i為Y軸正偏第i個遮擋記錄；

計算Y軸負偏點Yn[i]＝(Yns[i]+Yne[i])/2，其中i為Y軸負偏第i個遮擋記錄；。

步驟S4：根據(jù)四點坐標(biāo)r1，r2，r3，r4和斜掃描偏角，計算各點對應(yīng)在X軸的坐標(biāo)Xpr[j]，Xnr[j](j＝1，2，3，4)；計算各點對應(yīng)在Y軸的坐標(biāo)Ypr[j]，Ynr[j](j＝1，2，3，4)，如圖3所示。

步驟S5：計算各個坐標(biāo)點X軸正偏的最小距離XMinp[j]＝min(|Xpr[j]-Xp[i]|)；

計算各個坐標(biāo)點X軸負偏的最小距離XMinn[j]＝min(|Xnr[j]-Xn[i]|)；

計算各個坐標(biāo)點Y軸正偏的最小距離YMinp[j]＝min(|Ypr[j]-Yp[i]|)；

計算各個坐標(biāo)點Y軸負偏的最小距離YMinn[j]＝min(|Ynr[j]-Yn[i]|)；

步驟S6：每個點平均最小距離Min[j](j＝1，2，3，4)，為X軸正偏XMinp[j]，X軸負偏XMinn[j]，Y軸正偏YMinp[j]，Y軸負偏YMinn[j]的最小距離的均值，即Min[j]＝(XMinp[j]+XMinn[j]+YMinp[j]+YMinn[j])/4。

步驟S7：判斷(Min[1]+Min[4])和(Min[2]+Min[3])值大小，(Min[1]+Min[4])小于(Min[2]+Min[3])，則r1和r4為實點，否則r2和r3為實點。系統(tǒng)報告實點坐標(biāo)，返回步驟1，進行下一次掃描。

以上結(jié)合附圖詳細描述了本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，但是，本發(fā)明并不限于上述實施方式中的具體細節(jié)，在本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思范圍內(nèi)，可以對本發(fā)明的技術(shù)方案進行多種簡單變型，這些簡單變型均屬于本發(fā)明的保護范圍。

另外需要說明的是，在上述具體實施方式中所描述的各個具體技術(shù)特征，在不矛盾的情況下，可以通過任何合適的方式進行組合，為了避免不必要的重復(fù)，本發(fā)明對各種可能的組合方式不再另行說明。

此外，本發(fā)明的各種不同的實施方式之間也可以進行任意組合，只要其不違背本發(fā)明的思想，其同樣應(yīng)當(dāng)視為本發(fā)明所公開的內(nèi)容。