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斜掃的紅外線陣探測器目標(biāo)響應(yīng)分析方法與流程

文檔序號:11135283閱讀:652來源:國知局
斜掃的紅外線陣探測器目標(biāo)響應(yīng)分析方法與制造工藝

本發(fā)明屬于天基紅外線陣掃描成像系統(tǒng)設(shè)計(jì)領(lǐng)域,涉及一種斜掃的紅外線陣探測器目標(biāo)響應(yīng)分析方法,用于當(dāng)掃描方向與紅外探測器線列方向非垂直并采用雙向過采樣體制時,對探測器像元所獲取的目標(biāo)能量進(jìn)行定量分析。



背景技術(shù):

在天基紅外線陣掃描成像系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,通常采用紅外探測器線列方向與掃描方向垂直的一維掃描方式,即一維推掃或一維擺掃。二維掃描是在有限的紅外探測器規(guī)模條件下擴(kuò)大覆蓋范圍的有效方法。

二維指向鏡的工作原理如下:指向鏡的方位軸、俯仰軸是正交的,交點(diǎn)位于指向鏡鏡面的中心。驅(qū)動方位軸、俯仰軸可改變視軸的二維指向。當(dāng)指向鏡繞兩軸轉(zhuǎn)動時,物體反射像也隨著指向鏡的轉(zhuǎn)動產(chǎn)生像旋。這是因?yàn)?,?dāng)指向鏡法線矢量N繞兩軸旋轉(zhuǎn)時,物矢量未旋轉(zhuǎn),但是物矢量與N構(gòu)成的入射面是空間旋轉(zhuǎn)的。由于鏡面反射的像矢量在入射面內(nèi),像矢量將隨同入射面一起旋轉(zhuǎn)。因此,指向鏡轉(zhuǎn)動時,入射面旋轉(zhuǎn),像矢量不僅是指向改變,相互之間還有相對旋轉(zhuǎn)。

對于線列或面陣探測器的光學(xué)系統(tǒng),像旋既影響對掃描空間覆蓋的均勻性,也影響視線信息的獲取。當(dāng)空間像產(chǎn)生旋轉(zhuǎn)時,同步旋轉(zhuǎn)探測器可以抵消像旋,但消旋結(jié)構(gòu)復(fù)雜,極少采用。采用轉(zhuǎn)像棱鏡(可見光)或K鏡(紅外及可見光)等光學(xué)方法也可消像旋,但對波長、視場均有一定限制。若不采用消像旋的方法,二維指向鏡在方位、俯仰兩個方向轉(zhuǎn)動后,探測器線列方向與掃描方向不再垂直,逐漸形成非垂直的夾角。在此傾斜角度掃描情況下定量分析目標(biāo)響應(yīng),對光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)中采用的二維掃描模式是否需要消像旋具有重要的參考意義。

在已知傾斜角度情況下,分析探測器像元掃描成像的目標(biāo)響應(yīng)與常規(guī)的一維垂直掃描方式有所不同。雙向過采樣是適于點(diǎn)目標(biāo)能量收集的新型采樣體制,又與常規(guī)采樣體制收集的點(diǎn)目標(biāo)能量分析方法不同。

在國外,SPIE Vol.2743發(fā)表了The Aerospace Corporation的Edward J.Casey等人撰寫的文章,給出了用于系統(tǒng)優(yōu)化設(shè)計(jì)的紅外探測器建模方法。該文章僅適用于垂直掃描的紅外探測器像元收集目標(biāo)能量的分析,且采用了簡單的頻域表達(dá)式,無法適用于復(fù)雜的探測器拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。

2013年,中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所的饒鵬等人在紅外雜志上發(fā)表了《常規(guī)采樣與過采樣點(diǎn)目標(biāo)檢測性能比較分析》一文,針對雙向過采樣和常規(guī)采樣收集的目標(biāo)能量進(jìn)行了比較。

因此,急需一種方案,能夠針對傾斜角度掃描的雙向過采樣體制,對紅外線陣探測器目標(biāo)響應(yīng)進(jìn)行一般性分析。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

為了克服現(xiàn)有技術(shù)中的分析方法適應(yīng)性差的不足,基于紅外線陣探測器一般的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),本發(fā)明給出了一種適用于雙向過采樣體制的時域目標(biāo)響應(yīng)分析方法,適用于一般的紅外線列拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、雙向過采樣、傾斜角度掃描的探測器像元獲取目標(biāo)能量。

本發(fā)明提供了一種斜掃的紅外線陣探測器目標(biāo)響應(yīng)分析方法,用于當(dāng)掃描方向與紅外探測器的線列方向非垂直并采用雙向過采樣機(jī)制時,對紅外探測器的像元所獲取的目標(biāo)能量進(jìn)行定量分析。該方法包括以下步驟:步驟一,根據(jù)光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)參數(shù)和點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù),確定點(diǎn)源目標(biāo)在焦平面的能量分布和能量中心位置;步驟二,基于所設(shè)定的第一級探測器像元的左下角的坐標(biāo)位置并根據(jù)紅外探測器在雙向過采樣機(jī)制下的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),確定奇陣列和偶陣列的探測器像元的左下角的坐標(biāo)位置;步驟三,在當(dāng)前積分級數(shù)為1的情況下,確定在積分時間內(nèi)探測器像元的左下角從初始位置沿掃描方向滑動預(yù)定距離的探測器孔徑函數(shù);步驟四,當(dāng)滑動的預(yù)定距離在預(yù)定區(qū)間變化時,確定探測器像元在滑動過程中積累的能量;步驟五,將當(dāng)前積分級數(shù)從2逐步增加,記錄下每個積分級數(shù)下積累的目標(biāo)能量并進(jìn)行求和運(yùn)算,以獲得奇陣列和偶陣列的探測器像元的目標(biāo)響應(yīng);以及步驟六,對奇陣列和偶陣列的探測器像元的目標(biāo)響應(yīng)進(jìn)行排列組合,從而得到最終的雙向過采樣體制下的紅外線陣探測器的目標(biāo)響應(yīng),其中,點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)滿足二維高斯分布,并且奇陣列與偶陣列在紅外探測器的線列方向左右錯開1/2像元。

具體地,在步驟二中執(zhí)行:基于紅外探測器的像元在積分時間內(nèi)滑過點(diǎn)源目標(biāo)在像平面的能量分布區(qū)域,設(shè)定第一級探測器像元的左下角的坐標(biāo)位置;根據(jù)紅外探測器在雙向過采樣機(jī)制下的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),確定奇陣列的第n級時間延遲積分(Time Delayed Integration,以下簡稱為TDI)探測器像元的左下角的坐標(biāo)位置以及積分起始時刻奇陣列的第n級TDI探測器像元的左下角的坐標(biāo)位置;以及根據(jù)紅外探測器在雙向過采樣機(jī)制下的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),確定與奇陣列在紅外探測器的線列方向左右錯開1/2像元的偶陣列的第n級TDI探測器像元的左下角的坐標(biāo)位置,其中,n為大于2的自然數(shù)。

在步驟二中,奇陣列或偶陣列的第n級TDI探測器像元的左下角的坐標(biāo)位置是通過以下 過程精確確定的:通過紅外探測器的線列方向的尺寸、垂直于線列方向的尺寸、相鄰探測器之間的間隔、以及垂直掃描方向與線列方向的夾角,精確確定奇陣列或偶陣列的第n級探測器像元的左下角的坐標(biāo)位置。

在步驟三中,探測器孔徑函數(shù)為:

tf2cs[x,y|y′0d(n,L)]·tf2s[x,y|x′0d(n,L)]

其中,x和y為第n級探測器像元的左下角的坐標(biāo)位置并且其采用坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換方法獲得,紅外探測器的線列方向及其垂直方向分別為x’軸和y’軸,掃描方向及其垂直掃描方向分別為x軸和y軸,tf1為點(diǎn)源目標(biāo)在焦平面的能量分布,x′0d(1)o,y′0d(1)o為第1級探測器像元的左下角的坐標(biāo)位置,x′0d(n),y′0d(n)為奇陣列的第n級探測器像元的左下角的坐標(biāo)位置,x′0d(n),y′0d(n)為偶陣列的第n級探測器像元的左下角的坐標(biāo)位置,以及L為滑動的預(yù)定距離。

奇陣列和偶陣列之間在垂直于紅外探測器的線列方向間隔為dL,而紅外探測器的線列方向間隔為Lcs/2。其中,dL是變量名稱并且是固定值,與探測器的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)有關(guān),Lcs為探測器線列方向的像元尺寸。

在本發(fā)明中,雙向過采樣體制為:奇陣列與偶陣列在紅外探測器的線列方向錯開1/2像元;在線列方向2倍過采樣;以及奇陣列和偶陣列的探測器像元的輸出相應(yīng)在掃描垂直方向上交替排列組合,從而形成最終的目標(biāo)響應(yīng)。

額外地,本發(fā)明的斜掃的紅外線陣探測器目標(biāo)響應(yīng)分析方法還包括:在積分時間內(nèi),使得紅外探測器沿掃描方向移動的距離為Lds/cosθ,從而確保第n級探測器像元在積分過程中與第n-1級探測器像元的重疊面積最大。

因此,采用本發(fā)明的目標(biāo)響應(yīng)分析方法,與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下的有益效果:

1)給出了紅外線陣探測器目標(biāo)響應(yīng)分析的一般方法,即時域表達(dá)式,適用于傾斜角度掃描的紅外線陣TDI探測器的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),而現(xiàn)有技術(shù)的分析方法無法適用;以及

2)雙向過采樣體制的采樣間隔與常規(guī)采樣體制不同,因此將采樣間隔、探測器像元位置與目標(biāo)在像平面的位置等重要參數(shù)作為變量對目標(biāo)響應(yīng)進(jìn)行分析,而現(xiàn)有技術(shù)中的分析方法沒有給出明確的計(jì)算方法。

附圖說明

圖1是為本發(fā)明的斜掃的紅外線陣探測器目標(biāo)響應(yīng)分析方法的仿真實(shí)現(xiàn)流程圖;

圖2是本發(fā)明的雙向過采樣體制的探測器的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)示意圖;

圖3為傾斜角度掃描時探測器線列的x′y′坐標(biāo)系和xy坐標(biāo)系的關(guān)系示意圖;

圖4為傾斜掃描時的tf2cs(x,y|y′0d)·tf2s(x,y|x′0d)的示意圖;

圖5為xy坐標(biāo)系中相鄰TDI探測器之間的相對移動距離的示意圖;

圖6為傾斜掃描時第1級和第2級TDI探測器像元的孔徑函數(shù)的示意圖;以及

圖7為點(diǎn)源目標(biāo)在像平面的能量分布圖。

具體實(shí)施方式

應(yīng)了解,本發(fā)明給出了適用于一般的紅外線列拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、雙向過采樣、傾斜角度掃描的TDI探測器像元獲取目標(biāo)能量的方法。其過程包括:

1)根據(jù)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù),確定點(diǎn)源目標(biāo)在焦平面的能量分布tf1和能量中心位置;

2)假設(shè)掃描開始時雙向過采樣體制奇陣列第1級TDI探測器像元左下角的坐標(biāo)位置x′0d(1)o,y′0d(1)o,計(jì)算奇陣列第n級TDI探測器左下角的坐標(biāo)位置x′0d(n),y′0d(n),并且根據(jù)雙向過采樣探測器的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),確定偶陣列第n級TDI探測器左下角的坐標(biāo)位置x′0d(n),y′0d(n);

3)設(shè)當(dāng)前積分級數(shù)n=1,根據(jù)坐標(biāo)轉(zhuǎn)換關(guān)系,確定積分時間內(nèi)探測器像元左下角從初始位置沿掃描方向滑動距離L的探測器孔徑函數(shù)tf2cs[x,y|y′0d(n,L)]·tf2s[x,y|x′0d(n,L)];

4)滑動距離L在區(qū)間變化,確定在此過程中探測器像元積累的能量,雙向過采樣探測器需要分別計(jì)算點(diǎn)源目標(biāo)對應(yīng)的奇陣列、偶陣列積累的能量;

5)增加當(dāng)前積分級數(shù)n從2到Ntdi,重復(fù)步驟(4),并記錄下每個積分級數(shù)下積累的目標(biāo)能量,求其總和作為奇、偶陣列TDI探測器像元獲得的目標(biāo)響應(yīng)s奇0,s奇1,s偶1,s偶2;

6)對奇、偶陣列TDI探測器像元的目標(biāo)響應(yīng)進(jìn)行排列組合,得到最終的雙向過采樣體制紅外線陣TDI探測器的目標(biāo)響應(yīng)。

下面結(jié)合附圖1-7及具體實(shí)施方式對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說明。如圖1所示,本發(fā)明的目標(biāo)響應(yīng)分析方法主要包括以下過程圖。

1、探測器線列方向與掃描方向垂直時目標(biāo)響應(yīng)時域分析方法

1)根據(jù)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù),確定點(diǎn)源目標(biāo)在焦平面的能量分布tf1和能量中心位置

一般的,認(rèn)為光學(xué)系統(tǒng)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)滿足均值為0,方差分別為、的二維高斯分布,理想點(diǎn)源目標(biāo)δ(x0t,y0t)經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)后在焦平面的能量分布tf1的表達(dá)式如下:

式中:

x,y分別是垂直于探測器線列方向和探測器線列方向的位置,單位μm;

x0t,y0t分別是目標(biāo)映射到探測器像元的位置(能量中心位置),單位μm;

分別是x,y方向的方差,單位μm。

2)確定雙向過采樣TDI探測器像元左下角的坐標(biāo)位置,為線列方向和垂直于線列方向探測器像元孔徑函數(shù)做準(zhǔn)備

線列方向探測器像元孔徑函數(shù)tf2cs可用矩形窗函數(shù)表征,其表達(dá)式如下:

式中:

rect(...)是矩形窗函數(shù),窗口大小為Lcs,其數(shù)學(xué)含義定義為

y0d是探測器像元左下角在探測器線列方向的位置,單位μm;

Lcs是探測器線列方向的像元尺寸,單位μm,其示意圖如圖2所示。

垂直于線列方向探測器像元孔徑函數(shù)tf2s同樣用矩形窗函數(shù)表征,其表達(dá)式如下:

式中:

x0d是探測器像元左下角在垂直于探測器線列方向的位置,單位μm;

Ls是垂直于探測器線列方向的像元尺寸,單位μm,其示意圖見圖2。

3)確定掃描過程的時間孔徑函數(shù)tf3

掃描成像過程中垂直于線列方向探測器像元孔徑函數(shù)tf2s(x)逐漸滑動,其表達(dá)式如下:

tf3(x,L)=tf2s(x-L)

式中:L是某一積分時刻探測器像元在掃描方向移動的距離。

4)確定掃描成像過程中探測器像元積累的能量

若不考慮TDI,根據(jù)前面所述的孔徑函數(shù),積分時間對應(yīng)的移動距離為Lds時探測器像元積累的能量可用下式得到:

式中:Lds是探測器像元在積分時間內(nèi)移動的距離。

5)確定TDI掃描成像過程中探測器像元積累的能量

TDI探測器在掃描過程中多級累積目標(biāo)能量,因此其表達(dá)式如下:

式中:

n是當(dāng)前的TDI級數(shù);

Ntdi是探測器的總TDI級數(shù)。

2、探測器線列方向與掃描方向不垂直時目標(biāo)響應(yīng)時域分析方法

當(dāng)探測器線列方向與掃描方向不垂直時,上述目標(biāo)響應(yīng)時域分析方法不再適用,需要對探測器像元孔徑函數(shù)進(jìn)行修正。本發(fā)明將坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換引入到探測器像元孔徑函數(shù)的修正中。修正后的目標(biāo)響應(yīng)時域分析方法如下:

1)利用旋轉(zhuǎn)坐標(biāo)系之間的坐標(biāo)轉(zhuǎn)換關(guān)系,修正傾斜角度掃描時探測器像元孔徑函數(shù)

如圖3所示,當(dāng)探測器線列與垂直掃描方向存在一定的偏角θ時,探測器孔徑時域函數(shù)應(yīng)修正為tf2(x′,y′)。其中,

上式中:x′,y′是x,y在xy直角坐標(biāo)系順時針旋轉(zhuǎn)θ后的坐標(biāo)系坐標(biāo)。當(dāng)θ=0°時x′=x,y′=y(tǒng)。

因此,探測器像元在探測器線列方向的孔徑函數(shù)在xy坐標(biāo)系為:

探測器像元在垂直于線列方向的孔徑函數(shù)在xy坐標(biāo)系為:

式中,

x′0d,y′0d分別是探測器像元左下角在x′y′坐標(biāo)系中的位置。

傾斜角度掃描時,探測器像元孔徑函數(shù)在xy坐標(biāo)系中的仿真結(jié)果如圖4所示。

2)確定積分起始時刻每級TDI探測器像元孔徑函數(shù)

目標(biāo)在像平面的運(yùn)動速度較小,在積分過程中可忽略目標(biāo)在像平面的移動,因此假設(shè)在 積分過程中目標(biāo)在像平面的位置保持不變。

為了確保第n級TDI探測器像元在積分過程中與第n-1級TDI探測器像元重疊最大面積,積分起始時刻,第n級TDI探測器在xy坐標(biāo)系的掃描方向相對第1級TDI探測器移動距離為

(Ls+ΔLs)(n-1)/cosθ

即,在xy坐標(biāo)系下沿x軸方向移動(Ls+ΔLs)(n-1)/cosθ。其示意圖如圖5所示,ΔLs是相鄰的兩級TDI探測器像元之間的間距。

在滑動過程中,第n級TDI探測器在x′y′坐標(biāo)系下,探測器像元左下角坐標(biāo)位置可計(jì)算如下:

上式中,

x0d′(n),y0d′(n)分別是第n級TDI探測器開始積分時刻,第n級TDI探測器像元的左下角坐標(biāo)位置;

x0d′(n)o,y0d′(n)o分別是第1級TDI探測器開始積分時刻,第n級TDI探測器像元的左下角坐標(biāo)位置。

x0d′(1)o,y0d′(1)o是第1級TDI探測器像元在積分起始時刻左下角坐標(biāo)位置。根據(jù)探測器的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),存在如下關(guān)系式:

x0d′(n)o=x0d′(1)o-(n-1)(Ls+ΔLs)

y0d′(n)o=y0d′(1)o

將上面的關(guān)系式代入可得,

因此,第n級TDI探測器的孔徑函數(shù)數(shù)學(xué)模型修正為:

tf2cs[x,y|y′0d(1)o,n]

tf2s[x,y|x′0d(1)o,n]

傾斜角度掃描時,第1級和第2級TDI探測器像元孔徑函數(shù)在xy坐標(biāo)系中的仿真結(jié)果如圖6所示。

3)根據(jù)坐標(biāo)轉(zhuǎn)換關(guān)系,確定滑動積分過程中第1級TDI探測器像元的左下角坐標(biāo)位置。

當(dāng)?shù)?級TDI探測器沿x軸方向滑動距離為L時,探測器像元左下角坐標(biāo)位置 [x′0d(1,L),y′0d(1,L)]為

4)依此確定雙向過采樣體制奇偶陣列第n級TDI探測器像元在滑動積分過程中的左下角坐標(biāo)位置

如圖2所示雙向過采樣體制探測器中,奇陣列的第n級TDI探測器像元在沿x軸方向滑動距離為L時,探測器像元左下角坐標(biāo)位置[x′0d(n,L),y′0d(n,L)]奇陣列

采用雙向過采樣體制的探測器拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)上,偶陣列與奇陣列在線列方向上錯開1/2像元。因此,與奇陣列像元左右錯開1/2像元的偶陣列第n級TDI探測器像元在沿x軸方向滑動距離為L時,探測器像元左下角坐標(biāo)位置[x′0d(n,L),y′0d(n,L)]偶陣列

5)分別計(jì)算傾斜角度掃描時雙向過采樣體制奇偶陣列探測器像元在TDI掃描成像過程中積累的能量

積分時間對應(yīng)的探測器沿x軸方向移動距離L為Lds/cosθ,在此過程中積累的能量s為:

以奇陣列為例,上式中:

6)對雙向過采樣體制探測器像元輸出數(shù)據(jù)進(jìn)行排列組合

根據(jù)上式,以及雙向過采樣探測器的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),對沿線列方向輸出的目標(biāo)響應(yīng)進(jìn)行如下排列:

[s奇0,s偶1,s奇1,s偶2,s奇2,...]

7)雙向過采樣體制探測器掃描方向的過采樣數(shù)據(jù)排列

雙向過采樣體制探測器像元垂直于線列方向的尺寸為Ls,相鄰的兩級TDI探測器像元之間的間距為ΔLs,掃描方向的過采樣就是在TDI探測器像元移動距離Ls+ΔLs內(nèi)以采樣間隔Lds多次采樣。一般的,Ls+ΔLs是Lds的整數(shù)倍。當(dāng)倍數(shù)關(guān)系為2倍時,稱為掃描方向的2倍過采樣。掃描方向2倍過采樣為例,兩次采樣時奇陣列第1級TDI探測器像元左下角位置分別為[x′0d(1)o,y′0d(1)o]和[x′0d(1)o-Lds,y′0d(1)o]。

上式中,s奇1(sample1)是指奇陣列第一個像元在掃描方向第一次采樣時的輸出,目標(biāo)響應(yīng)分布矩陣中的其它元素依此類推。

一般的,掃描方向M倍過采樣、線列方向N倍過采樣時,目標(biāo)響應(yīng)分布集中在(M+1)×(N+1)的像元區(qū)域。2倍過采樣為例,目標(biāo)響應(yīng)集中在3×3的區(qū)域,因此,只需計(jì)算:

實(shí)施例1

點(diǎn)源目標(biāo)經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)后在焦平面的能量分布tf1的σx,σy分別為7.19、7.19,其二維能量分布如圖7所示,總能量的約70%集中在20*20的區(qū)域。

目標(biāo)在像平面坐標(biāo)系的坐標(biāo)

垂直于探測器線列方向的像元尺寸Ls=25;

探測器線列方向的像元尺寸Lcs=46;

垂直于探測器線列方向TDI探測元之間的間距ΔLs=15;

雙向過采樣探測器奇陣列最后一級TDI探測元和偶陣列第一級TDI探測元的垂直間距dL=100;

掃描方向的采樣間距Lds=20,探測器線列方向的采樣間距為Ldcs=23;

TDI級數(shù)Ntdi=7;

目標(biāo)映射在奇陣列第1級TDI探測器像元左下角在滑動距離為0時刻的坐標(biāo)位置

探測器線列方向與垂直掃描方向的夾角θ=0°。

最終以該TDI探測器所能獲取的探測器最大能量進(jìn)行歸一化,則雙向過采樣體制探測器 的目標(biāo)響應(yīng)集中在如下3×3像元:

實(shí)施例2

目標(biāo)映射在奇陣列第1級TDI探測器像元左下角在滑動距離為0時刻的坐標(biāo)位置

其它參數(shù)與實(shí)施例1相同。

歸一化后雙向過采樣體制探測器的目標(biāo)響應(yīng)集中在如下3×3像元:

實(shí)施例3

探測器線列方向與垂直掃描方向的夾角θ=5°;

其它參數(shù)與實(shí)施例1相同。

歸一化后雙向過采樣體制探測器的目標(biāo)響應(yīng)集中在如下3×3像元:

實(shí)施例4

探測器線列方向與垂直掃描方向的夾角θ=5°;

其它參數(shù)與實(shí)施例2相同。

歸一化后雙向過采樣體制探測器的目標(biāo)響應(yīng)集中在如下3×3像元:

綜上所述,通過本發(fā)明,可定量分析復(fù)雜拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的紅外線陣掃描TDI探測器在任意方向掃描時的目標(biāo)響應(yīng),并且能夠以用戶感興趣的參數(shù)作為變量進(jìn)行典型目標(biāo)響應(yīng)的分析,作為優(yōu)化紅外線陣探測器拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、紅外相機(jī)掃描系統(tǒng)設(shè)計(jì)的重要依據(jù)。

本發(fā)明中未說明部分屬于本領(lǐng)域的公知技術(shù)。

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