一種數(shù)據(jù)校驗方法
【專利摘要】一種數(shù)據(jù)校驗方法，屬于計算機【技術領域】，步驟1、將數(shù)據(jù)按照時域或者頻域等方法繪制成曲線；步驟2、將步驟1的曲線近似模擬成線性函數(shù)，或者多段簡單函數(shù)或者低維函數(shù)；步驟3、將步驟2的函數(shù)編程；步驟4、將步驟1的數(shù)據(jù)帶入函數(shù)校驗；步驟5、校驗成功則結束，校驗不成功返回步驟1重新選擇繪制函數(shù)方法。本發(fā)明的優(yōu)點：簡單，方便，可操作性高。
【專利說明】一種數(shù)據(jù)校驗方法
[0001]【技術領域】:
本發(fā)明屬于計算機【技術領域】，特別涉及一種數(shù)據(jù)校驗方法。
[0002]【背景技術】:
目前，大多數(shù)數(shù)據(jù)校驗方法復雜，函數(shù)過于復雜，程序編制困難，多停留在理論階段。
[0003]
【發(fā)明內容】
:
本發(fā)明針對現(xiàn)有技術的不足，提供一種數(shù)據(jù)校驗方法。
[0004]包括如下步驟:
步驟1、將數(shù)據(jù)按照時域或者頻域等方法繪制成曲線(可以是多維曲線);
步驟2、將步驟I的曲線近似模擬成線性函數(shù)，或者多段簡單函數(shù)或者低維函數(shù)； 步驟3、將步驟2的函數(shù)編程；
步驟4、將步驟I的數(shù)據(jù)帶入函數(shù)校驗；
步驟5、校驗成功則結束，校驗不成功返回步驟I重新選擇繪制函數(shù)方法。
[0005]本發(fā)明的優(yōu)點:簡單，方便，可操作性高。
[0006]【具體實施方式】:
本發(fā)明通過以下實施例進行說明:
一種數(shù)據(jù)校驗方法，包括如下步驟:
步驟1、將數(shù)據(jù)按照時域或者頻域等方法繪制成曲線(可以是多維曲線);
步驟2、將步驟I的曲線近似模擬成線性函數(shù)，或者多段簡單函數(shù)或者低維函數(shù)； 步驟3、將步驟2的函數(shù)編程；
步驟4、將步驟I的數(shù)據(jù)帶入函數(shù)校驗；
步驟5、校驗成功則結束，校驗不成功返回步驟I重新選擇繪制函數(shù)方法。
【權利要求】
1.一種數(shù)據(jù)校驗方法，其特征在于:包括如下步驟:步驟1、將數(shù)據(jù)按照時域或者頻域等方法繪制成曲線；步驟2、將步驟I的曲線近似模擬成線性函數(shù)，或者多段簡單函數(shù)或者低維函數(shù)；步驟3、將步驟2的函數(shù)編程；步驟4、將步驟I的數(shù)據(jù)帶入函數(shù)校驗；步驟5、校驗成功則結束，校驗不成功返回步驟I重新選擇繪制函數(shù)方法。
【文檔編號】G06F11/00GK103544070SQ201310429135
【公開日】2014年1月29日 申請日期:2013年9月22日 優(yōu)先權日:2013年9月22日
【發(fā)明者】侯豐花 申請人:侯豐花