姿勢檢測和識別的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及姿勢檢測和識別。描述了在傳感器的視場中追蹤和識別所執(zhí)行的姿勢的技術(shù)。在一個或多個實施方式中，該技術(shù)可以被實施在電子設(shè)備中，該電子設(shè)備被配置為響應(yīng)于傳感器檢測到在傳感器視場中發(fā)生的姿勢，從傳感器接收信號。透鏡位于傳感器上方，以準(zhǔn)直入射在透鏡上的光，并將準(zhǔn)直光傳遞到傳感器。該電子設(shè)備被配置為基于該信號生成一個或多個光強度比。該電子設(shè)備接著被配置為基于一個或多個光強度比，確定所執(zhí)行的姿勢類型。
【專利說明】姿勢檢測和識別
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及姿勢檢測和識別。
【背景技術(shù)】
[0002]姿勢檢測和識別可以被用于為電子設(shè)備提供新穎的且更加直觀的人機接口(HMI)。姿勢識別的目標(biāo)是通過數(shù)學(xué)算法解釋人類姿勢。通常來說，姿勢可以來源于任意的身體移動或狀態(tài)，但是更通常是來自用戶的面部或手部，例如，采取手勢的方式。姿勢識別通?？瓷先ナ且环N電子設(shè)備開始理解人類身體語言的方式，從而在機器和人類之間提供了一種與基于文本的接口和圖形用戶接口(GUI)相比更加方便和/或直觀的接口，所述電子設(shè)備例如是計算機、手寫板、智能電話等等，基于文本的接口和圖形用戶接口通常將大多數(shù)電子設(shè)備輸入限制為鍵盤、鼠標(biāo)，還有可能是觸摸板或觸摸屏。因此，姿勢檢測和識別可以使人類更加自然地與機器交互，而不需要使用機械輸入設(shè)備。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]描述了在傳感器視場中追蹤和識別執(zhí)行的姿勢的技術(shù)。在一個或多個實施方式中，該技術(shù)可以被實施在電子設(shè)備中，該電子設(shè)備被配置為響應(yīng)于檢測在傳感器視場中發(fā)生的姿勢的傳感器，而處理來自傳感器的信號。透鏡位于傳感器上方，以準(zhǔn)直入射在透鏡上的光，以及將準(zhǔn)直光傳遞到傳感器。電子設(shè)備被配置為基于該信號生成一個或多個光強度比。電子設(shè)備接著被配置為基于一個或多個光強度比，來確定所執(zhí)行的姿勢的類型。
[0004]提供本
【發(fā)明內(nèi)容】
部分僅僅是弓I入主題，該主題在【具體實施方式】部分和附圖中進(jìn)行了完全地描述。因此，
【發(fā)明內(nèi)容】
部分不應(yīng)被認(rèn)為描述基本特征，或者被用于確定權(quán)利要求的范圍。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0005]參考附圖描述【具體實施方式】部分。在附圖中，附圖標(biāo)記的最左邊的數(shù)字確定了該附圖標(biāo)記首次出現(xiàn)的附圖。在說明書和附圖中的不同實例中可以使用相同的附圖標(biāo)記表示類似或相同的項目。
[0006]圖1A是根據(jù)本公開內(nèi)容的示例性實施方式的以2X2光電二極管陣列布置的四個光電二極管的平面圖的示意圖。
[0007]圖1B是圖1中所示的光電二極管陣列的側(cè)視圖的示意圖。
[0008]圖1C是根據(jù)本公開內(nèi)容的示例性實施方式的以4X4光電二極管陣列布置的多個光電二極管陣列的等距視圖的示意圖。
[0009]圖2A是根據(jù)本公開內(nèi)容的示例性實施方式的以2X2光電二極管陣列布置的四個光電二極管的等距視圖的示意圖，其中各種位置被示為鄰近相應(yīng)的光電二極管，以示出在光電二極管陣列的視場中執(zhí)行的圓形姿勢。
[0010]圖2B是示出了當(dāng)光電二極管陣列檢測到圓形姿勢時，圖2A中示出的四個光電二極管的生成的陣列響應(yīng)。
[0011]圖2C是示出了關(guān)于圖2A中所示的光電二極管陣列的中央的位置信息的圓形。
[0012]圖2D是示出了當(dāng)對角揮擊姿勢被光電二極管陣列檢測到時，圖1中所示的四個光電二極管的響應(yīng)的曲線圖，其中對角揮擊姿勢通常從光電二極管“A”對角執(zhí)行到光電二極管 “D”。
[0013]圖2E是示出了當(dāng)對角揮擊姿勢被光電二極管陣列檢測到時，圖1中所示的四個光電二極管的響應(yīng)的曲線圖，其中對角揮擊姿勢通常從光電二極管“B”對角執(zhí)行到光電二極管 “C”。
[0014]圖3是示出了根據(jù)本公開內(nèi)容的示例性實施方式的可以被配置為追蹤和識別姿勢的電子設(shè)備的框圖。
[0015]圖4是示出了根據(jù)本公開內(nèi)容的示例性實施方式的用于識別姿勢的方法的流程圖。
【具體實施方式】
[0016]概述
[0017]姿勢檢測越來越多地被電子設(shè)備用來檢測用戶輸入，以用于與電子設(shè)備相關(guān)的各種應(yīng)用。這種電子設(shè)備通常具有傳感器配置，所述傳感器配置采用大量光電二極管來改善姿勢檢測的范圍和操作(例如，降噪)。這些傳感器配置還可以提供對復(fù)雜姿勢的有限追蹤和檢測(例如，圓形姿勢、對角揮擊姿勢，等等)。
[0018]因此，描述了一種用于在傳感器的視場中追蹤和識別所執(zhí)行姿勢的技術(shù)。在一個或多個實施方式中，所述技術(shù)可以被實施在電子設(shè)備中，該電子設(shè)備被配置為響應(yīng)于傳感器檢測到在傳感器視場中發(fā)生的姿勢，而處理來自傳感器的信息。透鏡位于傳感器上方，以準(zhǔn)直入射在透鏡上的光，并且將準(zhǔn)直光傳遞到傳感器。與不采用透鏡的電子設(shè)備相比，該透鏡可以提高傳感器(例如，電子設(shè)備)的靈敏度。在實施例中，傳感器可以包括光電檢測器的陣列，該透鏡可以與光電檢測器的陣列集成。該電子設(shè)備被配置為基于該信號生成一個或多個光強度比。該電子設(shè)備接著被配置為基于一個或多個光強度比，來確定所執(zhí)行的姿勢的類型。
[0019]示例性光電二極管陣列
[0020]圖1A到IC示出了光電檢測器陣列100，其被配置為感測姿勢，并提供代表該姿勢的一個或多個電子信號。如圖1A所示，光電檢測器陣列100可以利用包括多個光電檢測器(例如所示例子中示出的四個光電檢測器102、104、106、108)的光電檢測器陣列100來實現(xiàn)。在實施方式中，光電檢測器102、104、106、108可以包括光電二極管電荷耦合裝置(CXD)或者光電晶體管。然而可以預(yù)期，光電檢測器可以采用能夠感測或檢測光或其它電磁輻射的其它設(shè)備。
[0021]光電檢測器陣列100包括透鏡110，該透鏡至少部分位于光電二極管陣列100上方，以聚焦并傳送入射其上的光(例如，從多個角度入射在透鏡110上的光)。在實施方式中，透鏡110可以與光電檢測器陣列100集成。例如，透鏡110可以被配置為至少基本上準(zhǔn)直入射在透鏡120上的光，以便與不采用透鏡的類似光電檢測器陣列相比，提高光電檢測器陣列100的靈敏度。如圖所示，透鏡110可以直接位于光電檢測器陣列100的上方，以允許形成準(zhǔn)直光到光電檢測器102、104、106、108的通路。在實施方式中，透鏡110可以包括微透鏡陣列結(jié)構(gòu)，該微透鏡陣列結(jié)構(gòu)可以與光電檢測器陣列100集成。在這樣的實施方式中，透鏡110可以包括球形凸起表面，以折射入射其上的光(見圖1A到1C)。然而，可以預(yù)期，可以采用各種其它方式配置透鏡110。例如，透鏡110可以是玻璃透鏡、塑料透鏡，等等，而且可以與光電檢測器陣列分離。類似的，透鏡110可以是非球面透鏡、菲涅爾透鏡， 等等。在示例性實施方式中，透鏡110可以具有至少大約20微米(20 pm)到至少大約500 微米(500i!m)的直徑。在還有另一個實施方式中，透鏡110可以是至少大約百分之九十五 (95% )到至少大約百分之五十(50% )的透鏡陣列100的表面面積。此外，透鏡110的曲率可以變化。例如，透鏡110可以是凹面的。在另一個例子中，透鏡110可以是凸面的。然而可以理解，可以利用其它類型的透鏡。例如，透鏡110可以是雙凸的、平凸的、正彎月的、 負(fù)彎月的、平凹的、雙凹的，等等。透鏡110可以具有至少大約十分之十三(1.3)到至少大約二(2)的折射率。然而可以理解，透鏡110的規(guī)格可以根據(jù)光電檢測器陣列100的各種設(shè)計確認(rèn)而改變。
[0022]如圖1B所示，透鏡110可以位于鈍化層112上方、屏蔽層114之中。鈍化層112 至少部分封裝或者包圍光電檢測器102、104、106、108。在實施方式中，鈍化層112可以包括至少實際上允許光從透鏡110傳送到光電檢測器102、104、106、108的聚合物材料。例如， 鈍化層112可以由苯并環(huán)丁烯(BCB)聚合物材料制成。然而應(yīng)該預(yù)期，其它緩沖材料也是可以使用的。
[0023]屏蔽層114位于鈍化層112的上方，且被配置為至少實際上防止光(例如紅外光和/或可見光)傳送到光電檢測器102、104、106、108。例如，屏蔽層114可以被配置為至少實際上防止特定波長光譜中的光(例如，紅外波長光譜、藍(lán)波長光譜，等等)的傳送。在實施方式中，屏蔽層114可以由金屬材料(例如銅，等等)構(gòu)成。
[0024]應(yīng)該注意，圖1A和IB中所示的光電檢測器陣列100僅僅是以舉例的方式描述的， 而并不意味著對本公開內(nèi)容構(gòu)成限制。因此，可以采用其它傳感器配置。例如，如圖1C所示，光電檢測器陣列100可以擴展為包括光電二極管的四乘四(4X4)陣列。陣列100的每個象限可以由光電二極管的二乘二(2X2)陣列構(gòu)成，并且可以包括設(shè)置于光電二極管的二乘二(2X2)陣列上方的透鏡110。
[0025]圖2A和2C示出了通過圖1A和IB所示的光電檢測器陣列100的姿勢檢測(例如， 通常為圓形姿勢)。作為對象，例如用戶的手指和/或手，從位置I到位置4穿過光電檢測器陣列100的視場，如圖2A所示，隨著時間生成的光電檢測器陣列響應(yīng)可以通過由圖2B所示的圖形表示。在本例的環(huán)境下，光電檢測器的響應(yīng)指示出該對象進(jìn)入光電檢測器104(光電檢測器“B”)的上方的光電檢測器陣列100的視場，分別進(jìn)行到光電檢測器102(光電檢測器“A”)、光電 檢測器106(光電檢測器“C”)、光電檢測器108(光電檢測器“D”)的上方 (例如在它們的視場中)，并且大約在姿勢進(jìn)入光電檢測器陣列100的視場的最初位置結(jié)束 (例如，以圓形姿勢的方式)。
[0026]圖2C示出了單位圓200，其對應(yīng)于圖1A和2A中所示的光電檢測器陣列100的布局配置。因此，單位圓200的第一象限202通常對應(yīng)于光電二極管104，單位圓200的第二象限204通常對應(yīng)于光電檢測器102，單位圓200的第三象限206通常對應(yīng)于光電二極管 106，單位圓200的第四象限208通常對應(yīng)于光電二極管108。另外，單位圓200的中央通常對應(yīng)于光電二極管陣列100的中央210 (見圖2A)。因此，當(dāng)在光電二極管陣列100的上方執(zhí)行圓形姿勢時，單位圓200可以被用來代表相應(yīng)光電檢測器102、104、106、108上方的圓形姿勢的位置，以確定姿勢的方向，這將在下面進(jìn)行更加詳細(xì)的描述。
[0027]在實施方式中，光電檢測器陣列100可以包括光學(xué)隔板116(在圖1C中示出)，光學(xué)隔板116被配置為將光電檢測器陣列100分段為一個或多個陣列部分118、120、122、124。如圖所示，每個陣列部分118、120、122、124包括四(4)個光電檢測器102、104、106、108。然而可以預(yù)期，根據(jù)光電檢測器陣列100的要求，在每個陣列部分中可以采用更多或更少量的光電二極管。光學(xué)隔板116被配置為至少實際上防止在陣列部分118、120、122、124之間的光學(xué)串?dāng)_。在實施方式中，如圖1C所示，光學(xué)隔板116延伸超過光電檢測器102、104、106、108的表面所定義的平面，從而與屏蔽層114相接。光學(xué)隔板116可以采用各種方式配置。例如，如圖2A所示，光學(xué)隔板116可以至少部分位于光電檢測器陣列100中的每個光電檢測器(例如光電檢測器102、104、106、108)之間。光學(xué)隔板116可以包括金屬材料、鑄造金屬脊、模制塑料(molded plastic patrician)、預(yù)制橡膠墊片,等等。
[0028]在實施方式中，光電檢測器陣列100(光電檢測器陣列100和透鏡110)可以被實現(xiàn)用于與電子設(shè)備一起進(jìn)行姿勢檢測和/或識別，所述電子設(shè)備例如平板計算機、移動電話、智能電話、個人計算機(PC)、膝上型計算機、上網(wǎng)本計算機、手持便攜式計算機、個人數(shù)字助理(PDA)、多媒體設(shè)備、游戲設(shè)備、電子書閱讀器設(shè)備(eReader)、智能TV設(shè)備、表面計算設(shè)備(例如桌上型計算機)，等等。在以下論述中，描述了示例性電子設(shè)備。接著描述可以由設(shè)備采用的示例性方法。
[0029]示例性電子設(shè)備
[0030]圖3示出了示例性電子設(shè)備300，用于執(zhí)行這里論述的技術(shù)。如上所述，電子設(shè)備300可以采用各種方式配置。例如，電子設(shè)備300可以被配置為平板計算機、移動電話、智能電話、PC、膝上型計算機、上網(wǎng)本計算機、手持便攜式計算機、PDA、多媒體設(shè)備、游戲設(shè)備、eReader設(shè)備、智能TV設(shè)備、表面計算設(shè)備(例如桌上型計算機)、人機接口設(shè)備(HID)、及其組合等等。然而，這些設(shè)備僅僅是以舉例方式提供，并不意味著對本公開內(nèi)容構(gòu)成限制。因此，電子設(shè)備300可以被配置為各種其它設(shè)備，其它設(shè)備可以包括無需用手的人機接口。
[0031]在圖3中，電子設(shè)備300被示為包括處理器302和存儲器304。處理器302為電子設(shè)備300提供處理功能，且可以包括任意數(shù)量的處理器、微控制器、或其它處理系統(tǒng)，以及用于存儲電子設(shè)備300所訪問或生成的數(shù)據(jù)和其它信息的常駐存儲器或外部存儲器。處理器302可以執(zhí)行一個或多個軟件程序，所述軟件程序?qū)崿F(xiàn)這里所述的技術(shù)和模塊。處理器302并不受形成它的材料或者其中采用的處理機制的限制，正因為如此，可以通過半導(dǎo)體和/或晶體管實現(xiàn)(例如，電子集成電路(IC))，等等。
[0032]存儲器304是提供存儲功能的非瞬時性設(shè)備可讀存儲介質(zhì)的例子，所述存儲功能存儲與電子設(shè)備300的操作相關(guān)的各種數(shù)據(jù)，例如上述軟件程序和代碼段，或者指示電子設(shè)備300的處理器302和其它元件來執(zhí)行這里所述的技術(shù)的其它數(shù)據(jù)。盡管示出了單獨一個處理器304，但是可以采用多種存儲器類型和組合。存儲器304可以與處理器302集成在一起，可以是獨立存儲器，或二者的組合。存儲器可以包括例如可移動存儲器元件和不可移動存儲器元件，例如隨機存取存儲器(RAM)、只讀存儲器(ROM)、閃速存儲器(例如，安全數(shù)字(SD)卡、min1-SD卡、micro-SD卡)、磁存儲器、光存儲器、通用串行總線(USB)存儲設(shè)備，等等。在電子設(shè)備300的實施例中，存儲器304可以包括可移動集成電路卡(ICC)存儲 器，例如由用戶識別模塊(SIM)卡、通用用戶識別模塊(USIM)卡、通用集成電路卡(UICC) 等提供的存儲器。
[0033]如圖3所示，電子設(shè)備300包括傳感器，例如由圖1A到IC所示的光電傳感器/光 電檢測器陣列(光電檢測器陣列100)構(gòu)成的傳感器。光電檢測器陣列306可以采用各種 方式配置。例如，光電檢測器陣列306可以包括光電傳感器二極管(例如光電二極管)、光 電晶體管等(例如光電檢測器陣列100)的陣列。在實施方式中，光電檢測器陣列306能夠 檢測光，并且響應(yīng)于此而提供信號。因此，通過根據(jù)檢測到的光的強度，將光轉(zhuǎn)化為電流和/ 或電壓，光電檢測器陣列306可以提供對應(yīng)于入射到陣列中每個光電檢測器上的光強度的 信號(例如生成用于如圖2B所示的每個光電檢測器的四個信號)。例如，當(dāng)光電檢測器陣 列306被暴露于光時,可以生成多個自由電子,從而產(chǎn)生由電流構(gòu)成的信號。該信號可以對 應(yīng)于檢測到的光的一個或多個特性。例如，所述特性可以對應(yīng)于但不必限于:檢測到的光相 對于光電檢測器陣列306的位置、入射到光電檢測器陣列306上的光的強度(例如輻照度 等)、光入射在光電檢測器陣列306上的時長、入射到光電檢測器陣列306上的光的方向，等
坐 寸o
[0034]光電檢測器陣列306可以被配置為檢測可見光光譜和近紅外光光譜中的光。如這 里所用，術(shù)語“光”被用來指代發(fā)生在可見光光譜和/或近紅外光光譜中的電磁輻射。例如， 如這里提及的，可見光光譜(可見光)包括發(fā)生在波長從大約三百九十納米(390nm)到大 約七百五十納米(750nm)范圍中的電磁輻射。類似地，如這里提及的，近紅外光光譜(紅外 光)包括范圍在波長從大約七百納米(700nm)到三微米(3pm)的電磁輻射。在實施方式 中，互補型金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)制造技術(shù)可以被用來形成光電檢測器陣列306。
[0035]在實施方式中，光電檢測器陣列306被配置為檢測相對于光電檢測器陣列306的 取向的多個取向上的姿勢(例如，右到左、左到右、頂?shù)降住⒌椎巾?、對角穿過光電檢測器 等)。因此，光電檢測器陣列306可以是分段式光電檢測器，包括在一個封裝中提供的單獨 的光電檢測器的陣列(見圖1A到1C)。如以上針對光電檢測器陣列100描述的，光電檢測 器陣列306包括透鏡，所述透鏡被配置為聚焦并傳送入射其上的光。例如，當(dāng)對象(例如 手)通過分段式光電檢測器陣列306的視場時，該對象反射光，且該透鏡被配置為準(zhǔn)直入射 在透鏡上的光。準(zhǔn)直光接著被提供給光電檢測器，其中每個單獨的光電檢測器陣列可以提 供信號，該信號與在對象通過相應(yīng)的單獨的光電檢測器時分段式光電檢測器陣列306的其 它光電檢測器是異相的。
[0036]盡管已經(jīng)利用某些特征描述了光電檢測器陣列306包括布置為陣列的多個光電 二極管(例如，如圖1A和IC所示)，這些配置僅僅通過舉例的方式提供，而并不意味著限 制本公開內(nèi)容。因此，光電檢測器陣列306可以包括但不必限于:有源象素傳感器(例如， 包括象素傳感器陣列的圖像傳感器，其中每個象素傳感器由光傳感器和有源放大器構(gòu)成)； 電荷耦合裝置(CCD);反向偏置的光發(fā)射二極管(LED)，其充當(dāng)光電二極管；響應(yīng)于入射輻 射的熱效應(yīng)的光檢測器，例如熱電檢測器、紅外線指示器(Golay cell)、熱電偶、和/或熱 敏電阻器；光電導(dǎo)管/光敏電阻器(LDR);光伏電池；光電二極管(例如，在光伏模式或光電 導(dǎo)模式下操作)；光電倍增管；光電管；光電晶體管；等等。此外，光電檢測器陣列306僅僅 采用舉例方式提供，其它傳感器也可以被用來檢測姿勢移動，包括發(fā)射電磁輻射波束(例如紅外光)的鄰近傳感器、觸摸板、照相機，等等。例如，一個或多個照相機可以被用來檢測姿勢，例如深度關(guān)注(depth-aware)照相機、立體照相機,等等。
[0037]電子設(shè)備300可以包括照明源308，其被配置為生成有限波長光譜中的光(例如，接近紅外光和/或可見光)。照明源308可以被用來照亮接近電子設(shè)備300的對象，例如操作者的手，從而允許光電檢測器陣列306更加容易地和/或精確地檢測該對象。在實施方式中，光電檢測器陣列306可以被配置為檢測從照明源308生成和發(fā)射的光(例如，來自接近于設(shè)備300的對象的反射光)。因此，光電檢測器陣列306可以被配置為檢測在有限波長光譜中的光。例如，照明源308可以生成發(fā)生在第一波長光譜中的光，并且光電檢測器陣列306可以被配置為檢測僅僅發(fā)生在第一波長光譜中的光。在實施方式中，照明源308可以包括發(fā)光二極管、激光二極管、或其它類型的光源。
[0038]如圖3所示，電子設(shè)備300可以包括姿勢識別模塊310，其可以存儲在存儲器304中，并且可以由處理器302執(zhí)行。姿勢識別模塊310代表追蹤和識別在光電檢測器陣列306的視場中執(zhí)行的姿勢的功能。姿勢識別模塊310被配置為通過轉(zhuǎn)變光電檢測器陣列306上方的光強度來追蹤姿勢。例如，如圖2B所示，生成的陣列響應(yīng)示出了信號，所述信號代表入射在該對象的每個離散位置的每個光電檢測器上的光的強度。姿勢識別模塊310被配置為基于代表當(dāng)姿勢在光電檢測器陣列306上方轉(zhuǎn)變時每個光電檢測器上的光強度的各種信號來追蹤該姿勢。在實施方式中，姿勢設(shè)別模塊310被配置為識別基于但不限于以下內(nèi)容執(zhí)行的姿勢類型:光電檢測器陣列306檢測的光強度、在離散時間的每個光電檢測器(光電檢測器102、104、106、108)之間的光強度比、光強度比隨時間的斜率變化，等等。
[0039]姿勢識別模塊310還被配置為通過在光電檢測器陣列中每個光電檢測器之間的光強度比，來識別所執(zhí)行的姿勢的類型。結(jié)合圖2C，列表(exhibit) I示出了識別(確定)所執(zhí)行的姿勢的類型的方法的例子。
[0040]位置I位置2`[0041]
【權(quán)利要求】
1.一種電子設(shè)備,包括: 傳感器，其被配置為檢測姿勢，并響應(yīng)于所述姿勢提供信號； 透鏡，其設(shè)置在所述傳感器上方，以準(zhǔn)直入射在所述透鏡上的光并將準(zhǔn)直光傳遞到所述傳感器； 存儲器，用于存儲一個或多個模塊；以及 處理器，用于執(zhí)行所述一個或多個模塊，以便: 生成對應(yīng)于所述姿勢的一個或多個位置的一個或多個光強度比； 基于所述一個或多個光強度比，來確定姿勢的類型。
2.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，還包括照明源，該照明源被配置為發(fā)射有限波長光譜中的光，其中所述傳感器被配置為檢測從所述照明源發(fā)射的有限波長光譜中的反射光，用以檢測所述姿勢。
3.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中所述傳感器包括光電檢測器的陣列。
4.如權(quán)利要求3所述的電子設(shè)備，其中所述一個或多個光強度比包括:入射在所述光電檢測器的陣列中的至少一個光電檢測器上的光強度與入射在所述光電檢測器的陣列中的其它光電檢測器上的光強度相比的比值。
5.如權(quán)利要求3所述的電子設(shè)備，其中所述處理器還用于執(zhí)行所述一個或多個模塊，以便基于對在所述光電檢測器的陣列中的至少一個光電檢測器上方的光強度的轉(zhuǎn)變，來追蹤所述姿勢。
6.如權(quán)利要求1所述的`電子設(shè)備，其中所述處理器還用于執(zhí)行所述一個或多個模塊，以便基于入射在光電檢測器上的光強度，來確定在執(zhí)行所述姿勢的對象和所述傳感器之間的距離。
7.如權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中所述透鏡是所述傳感器的表面面積的至少大約95%到至少大約50%。
8.—種電子設(shè)備,包括: 照明源，其被配置為發(fā)射有限波長光譜中的光； 光電檢測器的陣列，其被配置為檢測從所述照明源發(fā)射的有限波長光譜中的反射光，以便檢測姿勢并響應(yīng)于所述姿勢提供信號； 存儲器，其用于存儲一個或多個模塊；以及 處理器，其用于執(zhí)行所述一個或多個模塊，以便: 生成對應(yīng)于所述姿勢的一個或多個位置的一個或多個光強度比； 基于所述一個或多個光強度比，來確定姿勢的類型。
9.如權(quán)利要求8所述的電子設(shè)備，其中所述處理器還用于執(zhí)行所述一個或多個模塊，以便基于對在所述光電檢測器的陣列中的至少一個光電檢測器上方的光強度的轉(zhuǎn)變，來追蹤所述姿勢。
10.如權(quán)利要求8所述的電子設(shè)備，其中所述一個或多個光強度比包括:入射在所述光電檢測器的陣列中的至少一個光電檢測器上的光強度與入射在所述光電檢測器的陣列中的其它光電檢測器上的光強度相比的比值。
11.如權(quán)利要求8所述的電子設(shè)備，其中所述處理器還用于執(zhí)行所述一個或多個模塊，以便基于對在所述光電檢測器的陣列中的至少一個光電檢測器上方的光強度的轉(zhuǎn)變，來追蹤所述姿勢。
12.如權(quán)利要求8所述的電子設(shè)備，其中所述處理器還用于執(zhí)行所述一個或多個模塊， 以便基于入射在所述光電檢測器的陣列中的至少一個光電檢測器上的光強度，來確定在執(zhí)行所述姿勢的對象和所述光電檢測器之間的距離。
13.如權(quán)利要求8所示的電子設(shè)備，其中所述有限波長光譜對應(yīng)于紅外光波長光譜。
14.如權(quán)利要求8所述的電子設(shè)備，其中所述透鏡是所述光電檢測器的陣列的表面面積的至少大約95%到至少大約50%。
15.一種方法，包括:響應(yīng)于傳感器檢測到所述傳感器的視場中發(fā)生的姿勢，從所述傳感器接收信號，所述傳感器具有設(shè)置在所述傳感器上方的透鏡，該透鏡被配置為準(zhǔn)直入射在所述透鏡上的光， 并將準(zhǔn)直光傳遞到所述傳感器；基于所述信號，來生成一個或多個光強度比；基于所述一個或多個光強度比，來確定所執(zhí)行的姿勢的類型。
16.如權(quán)利要求15所述的方法，其中所述傳感器包括光電檢測器的陣列。
17.如權(quán)利要求16所述的方法,其中所述一個或多個光強度比包括:入射在所述光電檢測器的陣列中的至少一個光電檢測器上的光強度與入射在所述光電檢測器的陣列中的其它光電檢測器上的光強度相比的比值。
18.如權(quán)利要求16所述的方法，其中所述光電檢測器的陣列包括光電二極管的陣列或者光電晶體管的陣列中的至少之一。
19.如權(quán)利要求15所述的方法，其中所述透鏡是所述光電檢測器的陣列的表面面積的至少大約95%到至少大約50%。
20.如權(quán)利要求15所述的方法，其中所述透鏡具有至少大約1.3到至少大約2的折射率。
【文檔編號】G06F3/01GK103529936SQ201310353524
【公開日】2014年1月22日 申請日期:2013年6月9日 優(yōu)先權(quán)日:2012年6月13日
【發(fā)明者】S-H·溫 申請人:馬克西姆綜合產(chǎn)品公司