專(zhuān)利名稱(chēng)：片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)及保存調(diào)試信息的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種集成電路領(lǐng)域，特別是涉及一種片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)及保存調(diào)試信息的方法。
背景技術(shù)：
片上系統(tǒng)芯片(即SoC芯片)是一種包含處理器或DSP、存儲(chǔ)器等系統(tǒng)芯片，外部可以對(duì)該系統(tǒng)芯片進(jìn)行編程以實(shí)現(xiàn)復(fù)雜系統(tǒng)功能。由于SoC可以有效地降低電子/信息系統(tǒng)產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)成本，縮短開(kāi)發(fā)周期，提高產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力，因此其將逐步成為工業(yè)界采用的最主要的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)方式。為了確保SoC芯片的質(zhì)量，通常，研發(fā)人員或芯片生產(chǎn)商需要對(duì)自己設(shè)計(jì)或生產(chǎn)的SoC芯片所包含的電路進(jìn)行調(diào)試，并將所獲得的諸如總線讀寫(xiě)數(shù)據(jù)、芯片內(nèi)部狀態(tài)，程序改變流程的跳轉(zhuǎn)地址等調(diào)試信息，通過(guò)外部仿真器等來(lái)提供給調(diào)試人員，以便分析之用?，F(xiàn)在的調(diào)試技術(shù)主要有兩種:一種是在SoC芯片中設(shè)置獨(dú)立的存儲(chǔ)單元，由芯片內(nèi)的調(diào)試模塊將所采集的芯片的調(diào)試信息寫(xiě)入該獨(dú)立的存儲(chǔ)單元；另一種是使用外部存儲(chǔ)器，由芯片內(nèi)的調(diào)試模塊將所采集的芯片的調(diào)試信息寫(xiě)入該外部存儲(chǔ)器。然而，在現(xiàn)有該兩種方式中，前一種方式會(huì)占用大量芯片面積，增加生產(chǎn)成本，后一種方式會(huì)額外增加芯片引腳數(shù)量，而且調(diào)試速度也會(huì)受到限制。因此，極有必要對(duì)現(xiàn)有SoC芯片的調(diào)試技術(shù)進(jìn)行改進(jìn)。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本發(fā)明的目的在于提供一種芯片面積小的片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)。`本發(fā)明的另一目的在于提供一種保存調(diào)試信息的方法，以便不需要單獨(dú)的存儲(chǔ)器來(lái)存儲(chǔ)調(diào)試信息。為實(shí)現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的，本發(fā)明提供的片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)，其至少包括:處理單元；與所述處理單元連接的存儲(chǔ)單元；用于記錄調(diào)試信息的記錄單元；以及與所述存儲(chǔ)單元及記錄單元相連接的讀寫(xiě)單元,用于當(dāng)所述處理單元不對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀或?qū)懖僮鲿r(shí)，將所述記錄單元所記錄的調(diào)試信息寫(xiě)入所述存儲(chǔ)單元的預(yù)定子單元中或?qū)⑺鲱A(yù)定子單元中的調(diào)試信息讀出。優(yōu)選地，所述記錄單元還包括:第一信號(hào)輸出電路，其用于當(dāng)自身所屬的記錄單元所包含的暫存單元已存滿調(diào)試信息時(shí)輸出第一告知信號(hào)至讀寫(xiě)單元。優(yōu)選地，所述讀寫(xiě)單元還包括:第二信號(hào)輸出電路，其用于輸出第二告知信號(hào)至所述處理單元，以便使所述處理單元暫停對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀或?qū)懖僮?。本發(fā)明提供的保存調(diào)試信息的方法，用于前述的片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)，其包括以下步驟:-在所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)包含的存儲(chǔ)單元中指定部分子單元用于存儲(chǔ)調(diào)試信息；-在所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)中的處理單元執(zhí)行調(diào)試作業(yè)的過(guò)程中，所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)中的記錄單元記錄自身所屬片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)的調(diào)試信息；以及-所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)中的讀寫(xiě)單元在所述處理單元不對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀或?qū)懖僮鲿r(shí)，將所述記錄單元所記錄的調(diào)試信息寫(xiě)入所述部分子單元。優(yōu)選地，所述保存調(diào)試信息的方法還包括所述記錄單元包含的暫存單元已存滿調(diào)試信息時(shí)輸出第一告知信號(hào)至讀寫(xiě)單元的步驟。優(yōu)選地，所述保存調(diào)試信息的方法還包括所述讀寫(xiě)單元輸出第二告知信號(hào)至所述處理單元，以便所述處理單元暫停對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀或?qū)懖僮鞯牟襟E。如上所述，本發(fā)明的片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)及保存調(diào)試信息的方法，具有以下有益效果:芯片中沒(méi)有單獨(dú)的存儲(chǔ)器來(lái)存儲(chǔ)調(diào)試信息，由此可以有效節(jié)約芯片面積，降低成本；此夕卜，芯片也沒(méi)有設(shè) 置與外部存儲(chǔ)器連接的引腳，故有效降低芯片的引腳數(shù)量，進(jìn)而降低了芯片的制備成本。


圖1顯示為本發(fā)明的片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2顯示為本發(fā)明的片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)的一種優(yōu)選結(jié)構(gòu)示意圖。圖3顯示為本發(fā)明的片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)的另一種優(yōu)選結(jié)構(gòu)示意圖。圖4顯示為本發(fā)明的保存調(diào)試信息的方法的流程圖。元件標(biāo)號(hào)說(shuō)明I片上系統(tǒng)心片結(jié)構(gòu)11處理單元12存儲(chǔ)單元13記錄單元131第一信號(hào)輸出電路14讀寫(xiě)單元141第二信號(hào)輸出電路
具體實(shí)施例方式以下通過(guò)特定的具體實(shí)例說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可由本說(shuō)明書(shū)所揭露的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點(diǎn)與功效。本發(fā)明還可以通過(guò)另外不同的具體實(shí)施方式
加以實(shí)施或應(yīng)用，本說(shuō)明書(shū)中的各項(xiàng)細(xì)節(jié)也可以基于不同觀點(diǎn)與應(yīng)用，在沒(méi)有背離本發(fā)明的精神下進(jìn)行各種修飾或改變。請(qǐng)參閱圖1至圖4。需要說(shuō)明的是，本實(shí)施例中所提供的圖示僅以示意方式說(shuō)明本發(fā)明的基本構(gòu)想，遂圖式中僅顯示與本發(fā)明中有關(guān)的組件而非按照實(shí)際實(shí)施時(shí)的組件數(shù)目、形狀及尺寸繪制，其實(shí)際實(shí)施時(shí)各組件的型態(tài)、數(shù)量及比例可為一種隨意的改變，且其組件布局型態(tài)也可能更為復(fù)雜。如圖所示，本發(fā)明提供一種片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)，所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)I至少包括:處理單元U、存儲(chǔ)單元12、記錄單元13及讀寫(xiě)單元14。
所述處理單元11作為片上系統(tǒng)芯片的核心單元，其包含的電路結(jié)構(gòu)基于片上系統(tǒng)芯片所要完成的功能來(lái)確定，優(yōu)選地，其包括包含處理器的電路單元，例如，包含CPU、MCU, DSP中的一種或多種的電路單元。更詳細(xì)言之，例如，所述處理單元11包括CPU、MCU、DSP中的一種或多種、時(shí)鐘電路、定時(shí)器、中斷控制器、串并行接口、其它外圍設(shè)備、I/o端口以及用于各種IP核之間的粘
合邏輯等等。所述存儲(chǔ)單元12與所述處理單元11相連接，用于存儲(chǔ)信息。優(yōu)選地，所述處理單元11通過(guò)總線來(lái)對(duì)所述存儲(chǔ)單元12進(jìn)行讀或?qū)懖僮?。?yōu)選地，所述存儲(chǔ)單元12包括各種易失、非易失或Cache等存儲(chǔ)器。所述記錄單元13用于記錄調(diào)試信息。其中，所述調(diào)試信息包括在對(duì)所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)I進(jìn)行調(diào)試作業(yè)時(shí)其內(nèi)部電路所產(chǎn)生的各種數(shù)據(jù)信息，優(yōu)選地，包括但不限于:總線讀寫(xiě)的數(shù)據(jù)、芯片內(nèi)部狀態(tài)信息、程序改變流程的跳轉(zhuǎn)地址等。優(yōu)選地，所述記錄單元13包括暫存單元，所述暫存單元可采用易失、非易失或Cache等存儲(chǔ)器來(lái)實(shí)現(xiàn)，也可采用寄存器等來(lái)實(shí)現(xiàn)。需要說(shuō)明的是，為了減小芯片面積，所述記錄單元13包含的暫存單元的存儲(chǔ)容量盡可能小，優(yōu)選為8至16個(gè)字節(jié)等。所述讀寫(xiě)單元14與所述存儲(chǔ)單元12及記錄單元13相連接，用于當(dāng)所述處理單元11不對(duì)所述存儲(chǔ)單元12進(jìn)行讀或?qū)懖僮鲿r(shí)，將所述記錄單元13所記錄的調(diào)試信息寫(xiě)入所述存儲(chǔ)單元13的預(yù)定子單元中。其中，所述預(yù)定子單元為預(yù)先指定的用于存儲(chǔ)調(diào)試信息的子單元，優(yōu)選地，其為連續(xù)單元，例如，將所述存儲(chǔ)單元12中地址“1234”至地址“3FFF”的存儲(chǔ)單元用于存儲(chǔ)調(diào)試信息。具體地，所述讀寫(xiě)單元14通過(guò)監(jiān)測(cè)所述處理單元11與所述存儲(chǔ)單元12之間的讀數(shù)據(jù)線及寫(xiě)數(shù)據(jù)線是否均空閑來(lái)確定所述處理單元11是否在對(duì)所述存儲(chǔ)單元12進(jìn)行讀或?qū)懖僮?，并?dāng)當(dāng)所述處理單元11不對(duì)所述存儲(chǔ)單元12進(jìn)行讀或?qū)懖僮鲿r(shí)，將所述記錄單元13所記錄的調(diào)試信息寫(xiě)入所述存儲(chǔ)單元13的預(yù)定子單元中。本領(lǐng)域技術(shù)人員基于前述說(shuō)明應(yīng)該理解讀寫(xiě)單元的電路結(jié)構(gòu)，故在此不再詳述。作為本發(fā)明的一種優(yōu)選，前述記錄單元13包括第一信號(hào)輸出電路131，如圖2所
/Jn ο所述第一信號(hào)輸出電路131用于當(dāng)自身所屬的記錄單元13所包含的暫存單元已存滿調(diào)試信息時(shí)輸出第一告知信號(hào)至讀寫(xiě)單元14，以便所述讀寫(xiě)單元14及時(shí)將所述暫存單元所存儲(chǔ)的調(diào)試信息寫(xiě)入所述存儲(chǔ)單元12的預(yù)定子單元中。其中，第一告知信號(hào)包括任何一種能表明記錄單元13所包含的暫存單元已存滿調(diào)試信息的信號(hào)，優(yōu)選地，包括但不限于:低電平信號(hào)、高電平信號(hào)等。具體地，所述第一信號(hào)輸出電路131可基于待記錄的調(diào)試信息的字節(jié)數(shù)或地址信息與所述暫存單元的字節(jié)數(shù)或最大地址信息的比較來(lái)輸出第一告知信息。優(yōu)選地，所述第一信號(hào)輸出電路131可采用比較電路等來(lái)實(shí)現(xiàn)。

作為本發(fā)明的一種優(yōu)選，前述讀寫(xiě)單元14還包括第二信號(hào)輸出電路141，如圖3所
/Jn ο
所述第二信號(hào)輸出電路141用于輸出第二告知信號(hào)至所述處理單元11，以便使所述處理單元11暫停對(duì)所述存儲(chǔ)單元12進(jìn)行讀或?qū)懖僮?，由此便于所述讀寫(xiě)14將調(diào)試信息寫(xiě)入所述存儲(chǔ)單元12的預(yù)定子單元中。其中，第二告知信號(hào)包括任何一種能使所述處理單元11暫停對(duì)所述存儲(chǔ)單元12進(jìn)行讀或?qū)懖僮鞯男盘?hào)，優(yōu)選地，包括但不限于:低電平信號(hào)、高電平信號(hào)等。具體地，當(dāng)所述讀寫(xiě)單元14接收到來(lái)自第一信號(hào)輸出電路131輸出的第一告知信號(hào)或者因?yàn)槠渌虻龋鲎x寫(xiě)單元14需要將所述記錄單元13所記錄的調(diào)試信息寫(xiě)入所述存儲(chǔ)單元12的預(yù)定子單元時(shí)，若所述處理單元11正在對(duì)所述存儲(chǔ)單元12進(jìn)行讀或?qū)懖僮?，則所述第二信號(hào)輸出電路141輸出一諸如高電平等的第二告知信號(hào)至所述處理單元11，以便所述處理單元11暫停對(duì)所述存儲(chǔ)單元12的讀或?qū)懖僮鳌１绢I(lǐng)域技術(shù)人員基于前述說(shuō)明應(yīng)該理解第一信號(hào)輸出電路的電路結(jié)構(gòu)，故在此不再詳述。此外，還需要說(shuō)明的是，所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)I還可基于用戶的需要包含其他功能模塊單元，例如，包括ADC/DAC的模擬前端模塊、電源提供和功耗管理模塊、射頻前端模塊、用戶定義邏輯及微電子機(jī)械模塊等，在此不再一一詳述。基于前述圖1至圖3任意一種片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)1，本發(fā)明提供一種保存調(diào)試信息的方法，如圖4所示。在步驟SI中，在前述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)I包含的存儲(chǔ)單元12中指定部分子單元用于存儲(chǔ)調(diào)試信息。具體地，在調(diào)試階段，先在所述存儲(chǔ)單元12中分配一子單元作為調(diào)試內(nèi)存，用來(lái)保存調(diào)試信息，所述存儲(chǔ)單元12中除了調(diào)試內(nèi)存之外的單元作為共享內(nèi)存，此時(shí)所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)I包含的處理單元11或其他功能模塊要避免使用調(diào)試內(nèi)存，而能被所述處理單元11或所述片上系統(tǒng) 芯片結(jié)構(gòu)I中的其他功能模塊所使用的共享內(nèi)存的使能信號(hào)和調(diào)試內(nèi)存分配的起始地址可以保存在記錄單元14的寄存器中。在步驟S2中，在所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)I中的處理單元11執(zhí)行調(diào)試作業(yè)的過(guò)程中，所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)中的記錄單元14記錄自身所屬片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)I的調(diào)試信
肩、O其中，所述處理單元11執(zhí)行的調(diào)試作業(yè)已為本領(lǐng)域技術(shù)人員所知悉，故在此不再詳述。具體地，在所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)I中的處理單元11執(zhí)行調(diào)試作業(yè)的過(guò)程中，所述記錄單元14記錄所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)I中的連接所述存儲(chǔ)單元12的連接線(如讀/寫(xiě)總線)的讀寫(xiě)數(shù)據(jù)、芯片內(nèi)部狀態(tài)數(shù)據(jù)、處理單元11改變?nèi)蝿?wù)時(shí)的跳轉(zhuǎn)地址等數(shù)據(jù)。在步驟S3中，所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)I中的讀寫(xiě)單元14在所述處理單元11不對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀或?qū)懖僮鲿r(shí)，將所述記錄單元13所記錄的調(diào)試信息寫(xiě)入所述部分子單元(即調(diào)試內(nèi)存)。具體地，所述讀寫(xiě)單元14檢測(cè)到所述處理單元11與所述存儲(chǔ)單元12之間的讀/寫(xiě)數(shù)據(jù)線空閑時(shí)，將所述記錄單元13所記錄的調(diào)試信息寫(xiě)入調(diào)試內(nèi)存中。如果所述處理單元11與所述存儲(chǔ)單元12之間的讀/寫(xiě)數(shù)據(jù)線繁忙，導(dǎo)致所述記錄單元13所包含的暫存單元已存滿調(diào)試信息，則所述記錄單元13所包含的第一信號(hào)輸出電路131輸出第一告知信號(hào)至所述讀寫(xiě)單元14，以便所述讀寫(xiě)單元14及時(shí)將所述記錄單元13所記錄的調(diào)試信息寫(xiě)入調(diào)試內(nèi)存中。此外，當(dāng)所述讀寫(xiě)單元14準(zhǔn)備向所述存儲(chǔ)單元12寫(xiě)入調(diào)試信息時(shí)，若所述處理單元11在對(duì)所述存儲(chǔ)單元12進(jìn)行讀或?qū)懖僮?，則所述讀寫(xiě)單元14包含的第二信號(hào)輸出電路141輸出第二告知信號(hào)至所述處理單元11，以便所述處理單元11釋放所述存儲(chǔ)單元12的讀/寫(xiě)數(shù)據(jù)線，隨后，所述讀寫(xiě)單元14可以利用所述存儲(chǔ)單元12的讀/寫(xiě)數(shù)據(jù)線把調(diào)試信息移動(dòng)到調(diào)試內(nèi)存中，然后所述處理單元11再恢復(fù)正常工作。再有，當(dāng)調(diào)試內(nèi)存中存儲(chǔ)調(diào)試信息后，可以通過(guò)外部在線調(diào)試仿真器來(lái)讀取所述調(diào)試內(nèi)存中的調(diào)試信息，并對(duì)該調(diào)試信息進(jìn)行分析等。綜上所述，本發(fā)明的片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)及保存調(diào)試信息的方法基于讀寫(xiě)單元可將記錄單元所記錄的調(diào)試信息寫(xiě)入存儲(chǔ)單元(即系統(tǒng)內(nèi)存中)，由于芯片中沒(méi)有單獨(dú)的存儲(chǔ)器來(lái)存儲(chǔ)調(diào)試信息，故可以有效節(jié)約芯片面積，降低成本；此外，芯片也沒(méi)有設(shè)置與外部存儲(chǔ)器連接的引腳，故有效降低芯片的引腳數(shù)量，進(jìn)而降低了芯片的制備成本。所以，本發(fā)明有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點(diǎn)而具高度產(chǎn)業(yè)利用價(jià)值。上述實(shí)施例僅例示性說(shuō)明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限制本發(fā)明。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下，對(duì)上述實(shí)施例進(jìn)行修飾或改變。因此，舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者在未脫離本發(fā)明所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變，·仍應(yīng)由本發(fā)明的權(quán)利要求所涵蓋。
權(quán)利要求
1.一種片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)至少包括: 處理單元； 與所述處理單元連接的存儲(chǔ)單元； 用于記錄調(diào)試信息的記錄單元； 與所述存儲(chǔ)單元及記錄單元相連接的讀寫(xiě)單元，用于當(dāng)所述處理單元不對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀或?qū)懖僮鲿r(shí)，將所述記錄單元所記錄的調(diào)試信息寫(xiě)入所述存儲(chǔ)單元的預(yù)定子單元中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述記錄單元還包括: 第一信號(hào)輸出電路，用于當(dāng)自身所屬的記錄單元所包含的暫存單元已存滿調(diào)試信息時(shí)輸出第一告知信號(hào)至讀寫(xiě)單元。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)，其特征在于，所述讀寫(xiě)單元還包括: 第二信號(hào)輸出電路，用于輸出第二告知信號(hào)至所述處理單元，以便使所述處理單元暫停對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀或?qū)懖僮鳌?br> 4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述處理單元包括包含處理器的電路單元。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)，其特征在于:所述處理單元包括CPU、MCU, DSP中的一種或多種。
6.一種保存調(diào)試信息的方法，用于權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)，所述保存調(diào)試信息的方法的特征在于包括步驟: -在所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)包含的存儲(chǔ)單元中指定部分子單元用于存儲(chǔ)調(diào)試信息； -在所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)中的處理單元執(zhí)行調(diào)試作業(yè)的過(guò)程中，所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)中的記錄單元記錄自身所屬片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)的調(diào)試信息； -所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)中的讀寫(xiě)單元在所述處理單元不對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀或?qū)懖僮鲿r(shí)，將所述記錄單元所記錄的調(diào)試信息寫(xiě)入所述部分子單元。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的保存調(diào)試信息的方法，其特征在于還包括步驟:所述記錄單元包含的暫存單元已存滿調(diào)試信息時(shí)輸出第一告知信號(hào)至讀寫(xiě)單元。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的保存調(diào)試信息的方法，其特征在于還包括步驟:所述讀寫(xiě)單元輸出第二告知信號(hào)至所述處理單元，以便所述處理單元暫停對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀或?qū)懖僮鳌?br> 9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的保存調(diào)試信息的方法，其特征在于還包括步驟:將所述部分子單元中的調(diào)試信息讀出。
全文摘要
本發(fā)明提供一種片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)及保存調(diào)試信息的方法。根據(jù)本發(fā)明的方法，首先，在所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)包含的存儲(chǔ)單元中指定部分子單元用于存儲(chǔ)調(diào)試信息；隨后，在所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)中的處理單元執(zhí)行調(diào)試作業(yè)的過(guò)程中，所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)中的記錄單元記錄自身所屬片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)的調(diào)試信息；最后，所述片上系統(tǒng)芯片結(jié)構(gòu)中的讀寫(xiě)單元在所述處理單元不對(duì)所述存儲(chǔ)單元進(jìn)行讀或?qū)懖僮鲿r(shí)，將所述記錄單元所記錄的調(diào)試信息寫(xiě)入所述部分子單元。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)包括芯片中沒(méi)有單獨(dú)的存儲(chǔ)器來(lái)存儲(chǔ)調(diào)試信息，也沒(méi)有設(shè)置與外部存儲(chǔ)器連接的引腳，由此可以有效節(jié)約芯片面積，降低成本。
文檔編號(hào)G06F11/22GK103246584SQ20121003274
公開(kāi)日2013年8月14日 申請(qǐng)日期2012年2月14日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月14日
發(fā)明者曾旭 申請(qǐng)人:蘇州瀾起微電子科技有限公司